标准解读

《GB/T 19501-2013 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则》相比于其前版《GB/T 19501-2004 电子背散射衍射分析方法通则》,主要在以下几个方面进行了更新和调整:

  1. 范围扩展:2013版标准在适用范围上可能有所拓展,不仅涵盖了更广泛的样品类型和分析需求,还可能纳入了近年来技术进步带来的新应用领域。

  2. 术语和定义更新:随着科学技术的发展,相关专业术语和定义可能有所变化或新增,以更准确地反映当前的理论和技术状态。这有助于统一行业内的沟通和理解。

  3. 技术内容细化:新版标准可能对电子背散射衍射(EBSD)的实验条件、数据采集、处理和分析方法给出了更为详细和具体的规定,包括但不限于探测器技术、成像分辨率、数据分析软件的使用指南等,以提高分析结果的准确性和可重复性。

  4. 质量控制与校准:为了确保测试结果的可靠性和准确性,2013版标准可能加强了对仪器校准、系统性能验证及数据分析过程中的质量控制要求,包括引入新的校准标准或程序。

  5. 数据解释和报告:针对如何解释EBSD图谱、晶粒度测定、织构分析等,新版标准可能提供了更加详尽的指导原则,并对测试报告的格式和内容提出了更具体的要求,便于信息的交流和比较。

  6. 安全与环境考量:考虑到实验室操作的安全性和环境保护的重要性,2013版标准可能增添了关于实验操作安全规范、样品处理及废弃物处置的相关指导。

这些变更旨在适应科技进步,提升分析工作的标准化、规范化水平,促进微束分析技术在材料科学、地质学、生物医学等多个领域的应用与发展。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2013-07-19 颁布
  • 2014-03-01 实施
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GB∕T 19501-2013 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则_第1页
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ICS7104050 G 04 . . 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T195012013 代替 GB/T195012004 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则 MicrobeamanalysisGeneralguideforelectronbackscatterdiffractionanalysis2013-07-19发布 2014-03-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 GB/T195012013 前 言 本标准按照 给出的规则起草 GB/T1.12009 。本标准代替 电子背散射衍射分析方法通则 GB/T195012004 。本标准与 相比 主要内容变化如下 GB/T195012004 , : 增加了规范性引用文件 见第 章 ( 2 ); 增加或修改了部分术语 删除晶粒夹角 见第 章 , ( 3 ); 增加了分析步骤内容 见第 章 ( 4 ); 增加分析结果发布补充内容 见第 章 ( 5 ); 增加了附录 资料性附录 A( ); 修改了测量条件 见第 章 ( 4 ); 删除了原标准中试样的制备 ; 删除了原标准中分析步骤 ; 删除了原标准中测量误差 。本标准由全国微束分析标准化技术委员会 提出并归口 (SAC/TC38) 。本标准起草单位 宝钢集团中央研究院 : 。本标准主要起草人 姚雷 田青超 郑芳 顾佳卿 陈家光 : 、 、 、 、 。本标准所代替标准的历次版本发布情况为 :GB/T195012004。 GB/T195012013 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则 1 范围 本标准规定了电子背散射衍射分析方法 。 本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别 晶体取向 显微织 、 、 构以及晶界特性等方面的分析 。2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的 凡是注日期的引用文件 仅注日期的版本适用于本文 。 , 件 凡是不注日期的引用文件 其最新版本 包括所有的修改单 适用于本文件 。 , ( ) 。 电子探针定量分析方法通则 GB/T15074 检测和校准实验室能力的通用要求 GB/T27025 微束分析 电子背散射衍射取向测定方法通则 ISO24173 (MicrobeamanalysisGuidelinesfororientationmeasurementusingelectronbackscatterdiffraction)3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件 。31 . 电子背散射衍射 electronbackscatterdiffraction EBSD ; 当入射电子束照射到高倾斜的晶体样品时 其背散射电子与原子面发生的衍射 , 。32 . 电子背散射花样 electronbackscatterpattern EBSP ; 由电子背散射衍射产生的具有准线性特征的 并被探测器截获的图案 即菊池带 可将其显示在荧 、 , , 光屏或照相胶片上 。33 . 花样中心 patterncentrePC ; 荧光屏平面上的一点 其垂线过电子束轰击样品点 , 。34 . 试样与荧光屏的距离 specimen-to-screendistanceSSD ; 花样中心与试样表面电子束轰击点之间的距离 。 注 如果试样与荧光屏之间的距离变小 那么 将会向花样中心方向缩小 会观察到更多的菊池带 : , EBSP , 。35 . Hough变换 Houghtransform 能自动探测图像内特殊形状特征的一种图像处理的数学技术 。 注 在 中 线性 变换用于识别菊池带在 中的位置及取向 使得花样指数可以标定 每个菊池带 : EBSD , Hough EBSP , 。 在 空间中被转化为最大值而被识别

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