分光光度计(UVVisible)分析.doc

分光光度計(UV/Visible)分析儀器名稱：分光光度記分析儀器廠牌：Jasco 型號：V-560A. 儀器簡介儀器簡介(附件一)B. 使用前注意事項及操作步驟1. 使用注意事項(附件二)及使用安全守則(附件三)2. 操作步驟(附件四)C. 儀器管理1. 校內使用者請填寫預約使用申請書(附件五)2. 校外使用者請填寫貴儀中心委託檢測單(附件六)3. 管理人員(附件七)附件一 儀器簡介分光光度計及原子吸光光譜儀測試目的：分光光度計及原子吸光光譜儀之化學分析，皆是利用紫外/ 可見光譜學特性 (詳見紫外/ 可見光譜學之基本概念) ，兩種儀器在電路系統上非常相似，所差別僅在於發射部份之光源體，以及吸收光譜的待測物體處在不同之狀態。原理簡介:分光光度計之原理，乃是利用可見光及紫外光之燈管 (Lamp) 做為光源，通過濾光鏡調整色調後，經聚焦後通過單色光分光稜鏡，再經過狹縫選擇波長，使成單一且特定波長之光線，而後射入樣品管中之水樣中，最後射入光電管中將光能轉換為電器訊號，藉由樣本及空白水樣間所吸收之光能量差，與標準液之能量吸收值相比較，便可律定樣本中之待測物濃度。儀器性能V-530V-550V-560V-570波長範圍190-1100nm190-900nm190-900nm190-2500nm光譜帶寬2nm0.1,0.2,0.5,1,2,5,10nm及L2,L5,L10 0.1,0.2,0.5,1,2,5,10nm及L2,L5,L10 0.4,0.8,2,4,8,20,40nm及L8,L20,L40* 波長準度0.5nm 0.3nm0.3nm1.5nm*波長重複性0.1nm 0.1nm0.1nm0.4nm*測光範圍-2-3Abs-2-3Abs-2-5Abs-2-3Abs*雜散光0.04%(T% 220nm)0.015%(T% 220nm)0.0003%(T% 220nm)0.1%(T% 1690nm)*掃瞄速度40,100,200,400,1000,2000,4000nm/min10,20,40,100,200,400,1000,2000,4000nm/min10,20,40,100,200,400,1000,2000,4000 nm/min10,20,40,100,200,400,100,200,4000 nm/min*基線穩定性0.001Abs/hour0.0004Abs/hour0.0004Abs/hour0.0004Abs/hour*基線平直度0.001Abs(200-1050nm)0.001Abs(200-850nm)0.001Abs(200-850nm)0.002Abs(200-2500nm)*V-560光學系統是雙光束、雙分束器、光電倍增管檢測器，其特點是不像類似的儀器使用預單色器和主單色器，V-560使用完全對稱的Czerney-Turner雙單色器，將雜散光減少至低於0.0003%,使得在極低的雜散光而高分辨率下確保在寬的測光範圍內得到精確度的結果,大大改善了測光線性範圍,從而可直接測量高吸收的樣品和有色玻璃濾光片的穿透測量(幾乎0%T的狀況下也可測量).附件二 使用注意事項校內使用者之基本規定:管理者定期對儀器進行維護與校正工作後，方可開放使用。1. 詳讀並完全遵守操作手冊及安全守則。2. 如欲使用本儀器，程序依序為： 先填寫一般首次申請書並給指導教授及管理教授簽名，再繳交給管理者，並開始預約使用時段。爾後使用條件及成份不變時，再行填寫一般非首次申請書。校內各種使用申請書：附件五。3. 使用者必須遵照本儀器設限條件。若需使用其他條件者，必須每次填寫特殊申請書，並由指導教授及儀器管理教授簽名以示負責。4. 使用條件及時間，必須確實填寫於記錄簿。 請務必遵守以上規條，如有使用不當情事一律取消使用資格，若因此而造成儀器損壞，則須擔負修復費用。校外使用者之規定: 若有需要委託測試單位，可先向本校貴儀中心提出委託單 委託測試 測試完成 向貴儀器中心交測試費用 (測試費用以貴儀中心所訂定之標準收取) 領取測試數據。貴儀中心委託檢測單：附件六。(以上使用公告於96年8月30日以後，開始執行)管理老師：黃繼遠 教授管理學生：郭儒謙聯絡電話：02-25925252-3411-101附件三 使用安全手則使用安全守則(操作儀器前請熟讀本守則)1. 使用儀器前應詳閱使用公告及操作手冊，熟悉正確操作步驟及緊急關機步驟，如發生任何緊急狀況請盡快通知管理者。2. 操作儀器，需自行自備磁碟片，切勿將資料放取硬碟當中，請大家多多配合。3. 儀器操作之前，需先暖機10分鐘之後方可開始進行實驗，若未進行暖機動作造成儀器當機者，則取消使用資格。4. 使用後未將防塵套蓋上或螢幕、主機與儀器電源未關掉者，禁用1個月，請大家多多配合。5. 實驗過程中，請放輕動作，避免與椅子桌子碰撞，否則將影響數據的可靠度。6. 如有不當使用情事一律取消使用資格，若因此而造成儀器損壞，則須擔負修復費用。 熟讀以上之安全守則，允諾遵行安全守則，若未依規定而肇事，願完全負責，並於使用記錄表中簽名，以示負責。附件四 操作步驟0.開機V-560之電源開關位於機體右側後方，打開電源後面板上方之電源指示燈會點亮；但此時主機燈源（D2 & WI lamp）尚未點亮。於電腦之 開始 功能表中，選取 程式 JASCO 或 JASCOW32 Spectra Manager 啟動光譜儀控制軟體於Spectra Manager 之功能表中選取 Instruments Start ，啟動電腦與主機的連線，如連線正常，螢幕會顯示 Initializing ，表示主機正在啟動，當 Spectra Manager 左下方顯示 Idle ，表示主機已啟動並完成點燈動作，處於待命狀態。Spectra Manager視窗分為左右二部份，左邊為分析視窗，右邊為測量視窗，具有下列測量功能：Quantitative analysis定量分析Spectrum measurement光譜測量Fixed WL固定波長Time scan時間掃瞄Abs/%T meter吸收/穿透度計Environment硬體環境1. 基線校正於 Spectra Manager 之 Measurement 視窗中選取 Spectrum Measurement ，進入圖譜掃描畫面暖機20分鐘後，於功能表中選取 Measurement Baseline ，樣品槽中不放入任何東西，接著勾選Full Wavelength Measurement，出現以下的畫面, 按 Start鍵開始進行基線校正，基線校正完成後，直接在圖譜測量畫面，作圖譜掃描，在200 850nm之間的基線振幅，需在+/-0.001Abs以內，才算校正完成2. 固定波長測量於 Spectra Manager 之 Measurement 視窗中選取 Fixed Wavelength Measurement ，進入固定波長測定畫面先需設定圖譜掃描之各項參數，於功能表中選取 Measurement Parameters ，即會出現參數設定畫面：各項參數說明如下：Photometric Mode: Abs, %T, %R, SAM, REF測量模式，一般分光光度計選擇AbsResponse: Quick, Fast, Medium, Slow感應速率，建議選擇Fast或MediumBand Width: 2.0nm(V-530)；0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, 10, L2, L5, L10nm (V-550, 560)0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, 10, L2, L5, L10nm (V-570, UV/VIS)0.4, 0.8, 2, 4, 8, 20, 40nm (V-570, NIR)光譜頻寬Wavelength: 1901100nm (V-530) 190900nm (V-550, 560)1902500nmnm ( 570)測量波長，可設定一八個波長進行測量Sample No.: 19999樣品編號，為方便進行多個樣品測量，可對第一個樣品編號，其後每個樣品會自動累進一號No. of Cycle: 1999重覆測量次數Cycle Time: 115000sec.測量間隔時間，二次以上重覆測量才需設定OK: 接受目前參數設定，進行測量畫面Cancel: 取消參數設定功能Open: 開啟以前儲存之參數檔Save: 儲存目前設定之參數成參數檔以利將來使用參數設定完畢後，按 OK 回覆至測量畫面，此時請將2個裝有空白背景液之石英液槽放入樣品槽座中之R (參考樣品)及S (待測樣品)位置，按下 Blank 測量空白背景值，(請注意：特別是多波長測量時，請勿按 Autozero ，必需以測量 Blank 值取代，方能正確地將每一個波長之背景值扣除)；再取出S位置之石英液槽，換入代測樣品後重新放入，按下 Start 即會開始測量。測量所得數據，可以 Data Print 列印或 Data Save As 存成文字檔3. 圖譜掃描於 Spectra Manager 之 Measurement 視窗中選取 Spectrum Measurement ，進入圖譜掃描畫面首先需設定圖譜掃描之各項參數，於功能表中選取 Measurement Parameters 參數內容部份與固定波長測量相同，其他與圖譜掃描相關參數說明如下：Scanning Speed : 40, 100, 200, 400, 1000, 2000, 4000 nm/min (V-530)10, 20, 40, 100, 200, 400, 1000, 2000, 4000 nm/min (V-550/560/570)掃描速度Start : 掃描起點波長 (長波長)End : 掃描終點波長 (短波長)Data Pitch : 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2 nm (V-530)0.025, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2 nm (V-550/560/570)上列掃描速度波長範圍點間隔三者間有相互關聯，若設定錯誤將出現錯誤訊息而無法進入測量畫面，其關聯如下：Data Pitch (nm)0.025*0.05*0.10.20.512510掃描速度 (nm/min)10*20*40100x200xx400xxx1000xxxx2000xxxxx4000xxxxxx*Data pitch of 0.025 and 0.05 nm and scanning Speeds of 10 and 20 nm/min are not available on the V-530.Data Pitch (nm)最大掃描波長範圍 Start End (nm)0.025*400.05*800.11600.23200.58001160022310*Data Pitch of 0.025 and 0.05 nm are not available on model V-530.若欲將掃描後之圖譜直接存檔，可設定 Auto Save 功能，並指定儲存檔名及路徑。所設定之參數亦可以 Save 存成參數檔，下次欲再使用時可以 Load 功能將參數檔取出即可。參數設定完成後，將待測樣品放入主機樣品槽中，按下 Start 即可開始掃描圖譜。掃描完成之圖譜自動會傳送到圖譜分析軟體 Spectra Analysis等待分析。4. 時間掃描功能類似圖譜掃描，但是以固定波長於一定時間內，以固定時間間隔測量樣品的吸收值(或穿透率)，所得之圖譜為吸收值(縱軸)對時間(橫軸)之圖譜。多用於測量樣品的反應速率或進行動力學分析。其參數設定及測量畫面如下：5. 定量分析欲進行未知濃度樣品之定量分析，其流程大致如下：製備已知濃度之標準品至少3組以上進入定量分析功能，設定參數於標準品配製表中輸入各標準品濃度測量各標準品吸收值，製作檢量線測量未知濃度樣品吸收值，自動計算濃度操作步驟如下：A. 於 Spectra Manager 之 Measurement 視窗中選取 Quantitative Analysis ，進入定量分析畫面由 File New 開啟新的檢量線檔，首先出現參數設定畫面參數中之波長設定可以選擇1、2、3個波長，其原理如下圖：B. 參數設定完畢後，按 OK 進入標準品配製表畫面左上部份為選擇檢量線型式及標準品空白背景值，右上部份為標準品濃度吸收值輸入欄，下方為標準品配製表。檢量線型式共有七種：一般選擇Proportional (等比：Conc. = a Abs)或Linear (線性：Conc. = a Abs + b)C. 接著於下方標準品配製表中點選欲輸入之標準品欄位，再由右上方輸入標準品濃度後，按 Append 將數值增加至配製表中，同時選取之欄位會自動移至下一欄；重覆此一步驟至所有待測標準品濃度均已輸入配製表中。按 Start 進入標準品測量畫面若需測標準品空白背景值，則點選 Blank 並將空白樣品分別放入樣品槽座中之R(參考樣品)及S(待測樣品)位置，按下 Start 即可測量標準品空白背景值，並會自動將數值輸入標準品配製表中，左上方之標準品空白背景值欄位中。D. 接著於標準品配製表中點選待測之標準品欄位，並將S(待測樣品)位置之液槽換成相對應之標準品，回至測量畫面，點選 Standard ，按下 Start 即可測量標準品，並會自動將數值輸入標準品配製表中。E. 重覆步驟D. 直至所有標準品均測量完畢，按 Close 關閉測量畫面，回覆至標準品配製表，按 OK 完成標準品測量，程式會自動計算檢量線，並列出檢量線公式，如此即完成檢量線之計算F. 若所得之檢量線不理想(R2值偏離1太多)，可按 Methode Modify 回至標準品配製表，重新測量標準品，或取消某些標準品作用於檢量線之計算：於標準品配製表中點選不理想之標準品，同時右上方輸入欄亦會出現相同數值，此時若將 Enable 取消，再按 Append ，可發現該標準品欄位末端之 Use 字樣消失，表示此點將不列入檢量線計算中，按 OK 程式會重新計算檢量線。G. 計算所得之檢量線應該儲存以方便下次利用，按 Method Save as ，出現檢量線存檔畫面，輸入檔名後，按 OK 儲存檢量線檔；下次需要使用時，按 Method Open 選擇檢量線檔即可。H. 測量未知濃度樣品時，選取 Measurement 進入未知濃度樣品測量畫面 接著於未知濃度樣品表中點選待測之欄位，並將S(待測樣品)位置之液槽換成待測之樣品，回至測量畫面，點選 Sample ，按下 Start 即可測量樣品，並會自動將數值輸入未知濃度樣品表且計算其濃度。6. 吸收/穿透度計此為一模擬指針式光度計之顯示，可立即得知樣品之吸收值及穿透率：其下方功說明如下：Hold ：固定指針及讀值，即使將樣品取出也不會使讀值改變，方便記錄。Auto Zero ：自動歸零。Goto WL ：切換波長。Setting. ：參數設定。About ：程式版本訊息。7. 硬體環境此部份功能因關係儀器之硬體設定，建議由儀器管理人員方可更改，故不在此手冊中說明8. 圖譜分析(部份功能)掃描完成之圖譜自動會傳送到圖譜分析軟體 Spectra Analysisa. 自動尋找波峰於功能表選取 Peak Process Peak Find 設定雜訊值（最小波峰高度）後，按 Execute 自動尋找波峰波峰尋找結果會以預覽的方式列出，若必要可手動增減波峰數目及位置。按 OK 回到圖譜畫面，但此時波峰並未顯示在圖譜上，需選取 View Peak 之選項方可顯示波峰資訊。b. 圖譜重疊若欲重疊兩個以上的圖譜，先選取 File Open 開啟第一個圖譜再選取 File Overlay 選擇第二個圖譜，其餘依此類推即可重疊多個圖譜。c. 圖譜四則運算若欲對圖譜進行加、減、乘、除等四則運算，選取 Processing Arithmetic 對單一圖譜乘以係數所得結果為圖譜之縮放；加減一常數，所得結果為圖譜之平移。於預覽視窗中可隨意變更倍數或常數，上方為原始圖譜，下方為結果圖譜若進行兩個圖譜之四則運算，需先以重疊圖譜方式開啟兩個圖譜，再選取 Processing Arithmetic ，上方為原始重疊圖譜，下方為結圖譜附件五 預約使用申請書材料所光譜實驗室一般首次使用申請書 使用者姓名： 申請日期： 年 月 日 級別： User A User B 無 操作方式： 自行操作 委託操作(操作者： )實 驗 室： 指導教授簽名： 樣品成分(wt% or mol%)： (若含有水分者請先烘乾)實驗方法： 是 否 使用積分球測試粉體樣品是否需要使用KBr：光譜實驗室實驗室提供-KBr 自 備 KBr - KBr 測試目的： 薄膜樣品 測試目的： 液體樣品 測試目的： 光譜實驗室負責教授簽名： 材料所光譜實驗室非首次使用申請書 使用者姓名： 申請日期： 年 月 日 級別： User A User B 無 操作方式： 自行操作 委託操作(操作者： )實 驗 室： 指導教授簽名： 樣品成分(wt% or mol%)： (若含有水分者請先烘乾)實驗方法： 是 否 使用積分球測試粉體樣品是否需要使用KBr：光譜實驗室實驗室提供-KBr 自 備 KBr - KBr 測試目的： 薄膜樣品 測試目的： 液體樣品 測試目的： (不需光譜實驗室負責教授簽名)附件六 貴儀中心委託檢測單大同大學貴重儀器中心分光光度計分析儀系統 (UV/Visible) 委託檢測單 委託操作序號：_ 委託者 (使用者)姓名：申請日期： 年 月 日 單 位：主管簽章： 取件方式： 自取 郵寄 e-mail收件日期： 年 月 日 聯絡電話：手機