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文档简介
集成电路原理与设计,3.1 MOS的阈值电压和电流,2,长沟道MOS器件模型,3.1.1 MOS晶体管阈值电压分析 3.1.2 MOS晶体管电流方程 3.2.1 MOS晶体管的亚阈值电流 3.2.2 MOS晶体管的瞬态特性 3.2.3 MOS交流模型 3.2.4 MOS晶体管的特征频率,3,MOS晶体管的结构,MOS晶体管的结构,4,MOSFET的输入、输出特性曲线,5,Switch Model of NMOS Transistor,Gate,Source (of carriers),Drain (of carriers),| VGS |,| VGS | | VT |,| VGS | | VT |,MOS晶体管阈值电压分析,阈值电压的定义: 使源端半导体表面达到强反型的栅压,是区分MOS器件导通和截止的分界点。 半导体表面达到强反型的栅压- VT,7,1、阈值电压公式(假设NMOS源端和衬底接地),VFB对应半导体平带电压 Vox对应栅氧化层上的压降 对应半导体表面耗尽层上的压降,8,F 是衬底费米势 F =(kT/q)ln(NA/ni) (NMOS) F =-(kT/q)ln(ND/ni) (PMOS),阈值电压:耗尽层压降表面势,9,QBM/Cox对应栅氧化层上的压降(NMOS) QBM= 20SiqNA(2F)1/2 Cox= 0ox /tox,阈值电压:氧化层压降,10,VFB:半导体平带电压,栅材料和硅衬底之间的功函数差 栅氧化层中的可动电荷和固定电荷以及界面态电荷 外加栅压抵消这部分能带弯曲,使得能带恢复平直,称为平带电压,VGS0,Qox0,11,影响阈值电压因素:1、栅电极材料,不同栅电极材料同硅衬底之间的功函数差不同 深亚微米工艺中分别采用n和p硅栅,有利于nmos和pmos器件阈值电压对称,12,影响阈值电压因素:2、栅氧化层的质量和厚度,栅氧化层中的电荷也会影响阈值电压 栅氧化层的厚度增加,阈值电压增加,QBm/Cox对应栅氧化层上的压降 QBm= 20SiqNA(2F)1/2 Cox= 0ox /tox,13,影响阈值电压因素:3、衬底掺杂浓度,本征阈值:理想器件(平带电压为0)的阈值电压 增强型器件要求本征阈值大于平带电压绝对值 提高衬底掺杂浓度可以增加本征阈值,F =(kT/q)ln(NA/ni) (NMOS) F =-(kT/q)ln(ND/ni) (PMOS),14,2、体效应对阈值电压的影响,假设衬底和源端等电位 如果衬底和源端之间有电压,阈值电压会发生变化,也称为衬偏效应,体效应系数,NMOS器件一般加负的衬底偏压,即VBS0,衬底偏压为0时的阈值电压,15,2、体效应对阈值电压的影响,引入体效应因子 带衬偏电压的阈值电压公式 体效应引起的阈值电压变化,16,不同衬底掺杂浓度下,衬底偏压引起阈值电压的变化,F =(kT/q)ln(NA/ni) (NMOS) F =-(kT/q)ln(ND/ni) (PMOS),17,18,体效应的应用,电路中不是所有器件的源和衬底均能够短接,这个时候体效应引起阈值电压的变化,影响电路性能 动态阈值控制电路中,利用衬底偏压调节阈值,满足高速和低功耗不同应用的需要,19,长沟道MOS器件模型,3.1.1 MOS晶体管阈值电压分析 3.1.2 MOS晶体管电流方程 3.2.1 MOS晶体管的亚阈值电流 3.2.2 MOS晶体管的瞬态特性 3.2.3 MOS交流模型 3.2.4 MOS晶体管的特征频率,20,3.1.2 MOS晶体管的电流电压特性,漏电压对MOS特性的影响 简单电流方程,21,N 型半导体,22,P 型半导体,23,PN 结的形成,多数载流子的扩散运动,24,形成 PN 结,25,结加反向电压,PN,(截止),26,1、漏电压对 MOS特性的影响,栅电压高于阈值电压,沟道区形成导电沟道 加上漏电压Vds,形成横向电场,NMOS沟道电子定向运动 线性区,27,漏电压对MOS特性的影响,漏压不断增加,反偏pn结耗尽区不断扩展 漏压达到夹断电压,漏端沟道夹断 饱和区,28,漏电压对沟道电荷的影响,29,没有漏电压时沟道区电荷分布,栅电压高于阈值电压,沟道区形成导电沟道,30,漏电压较小时沟道区电荷分布,加上漏电压Vds,形成横向电场,NMOS沟道电子定向运动,线性区,31,形成 PN 结,32,漏端沟道夹断情况,漏压不断增加,反偏pn结耗尽区不断扩展 漏压达到夹断电压,漏端沟道夹断 饱和区,33,漏电压较大时沟道区电荷分布,34,2 简单电流方程,35,推导电流方程的一些近似处理,缓变沟道近似 对NMOS忽略空穴电流 在强反型区忽略扩散电流 忽略复合与产生,沟道内电流处处相等 假定载流子的表面迁移率是常数 利用薄层电荷近似,36,根据高斯定理:,37,根据欧姆定律:,对电流公式进行积分,其中Vc(y)是漏电压沿沟道方向的电压降 漏压较小的时候,沟道连续(0L), Vc(y)为(0Vds) 得到线性区电流方程,38,在VDS较小时,从源到漏都存在导电沟道, 根据电流连续,两边积分得到线性区电流:,线性区电流:,导电因子,39,饱和区电流,当漏压增大到一定程度,漏端沟道夹断,器件进入饱和区 夹断点处的电压称为漏饱和电压VDsatVGSVT,代入线性区电流公式,得到饱和区电流,40,电流方程:端电压形式,导电因子:K因子 本征导电因子:K 端电压形式的电流方程体现了MOS器件的源漏对称的特点,41
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