LC光纤跳线可靠性试验报告模版.doc

LC/PCLC/PC单模光纤跳线可靠性实验报告单模光纤跳线可靠性实验报告 版本版本:A.0 2009-Sep 试验依据标准试验依据标准IEC 61300/GR326 试验执行者试验执行者 审审 核核 批批 准准 目 录 1 1 样品样品 .1 1.1 跳线1 1.2 适配器1 1.3 外观图示1 2 2 试验项目与结果讨论试验项目与结果讨论 .2 2.1 端面检测 2 2.2 端面几何形状 3D 检测.3 2.2.1 检测条件 .3 2.2.2 端面几何形状 3D 检测结果 4 2.3 插入损耗测试 (IEC 61300-3-4 方法 B)4 2.3.1 测试方法 .5 2.3.2 插入损耗测试结果 .5 2.4 回波损耗(IEC 61300-3-6).7 2.4.1 测试示意图 .7 2.5 机械振动试验(IEC 61300-2-1/GR-326)8 2.5.1 机械振动测试示意图 .8 2.5.2 试验结果 .9 2.6 插拔耐久性(IEC 61300-2-2/GR326)10 2.6.1 测试图 10 2.6.2 试验结果 10 2.7 光缆直拉试验(GR-326).12 2.7.1 试验方法 12 2.7.2 试验结果 12 2.8 耦合机构抗拉强度 (IEC 61300-2-6) .13 2.8.1 试验方法 13 2.8.2 试验结果 14 2.9 机械冲击 (IEC 61300-2-12) 15 2.9.1 试验方法 15 2.9.2 试验结果 16 2.10 扭转试验 (IEC 61300-2-5) .16 2.10.1 试验方法 .16 2.10.2 试验结果 .17 2.11 侧向静负载（侧拉） (IEC 61300-2-42) .18 2.11.1 试验方法 .18 2.11.2 试验结果 .19 2.12 光器件应力缓释抗弯性能实验(IEC 61300-2-44)20 2.12.1 试验方法 .20 2.12.2 试验结果 .21 2.13 温度循环 (IEC 61300-2-22) .22 2.13.1 试验方法 .22 2.13.2 试验结果 .22 2.14 综合高温高湿试验(IEC 61300-2-21)28 2.14.1 试验方法 .28 2.14.2 试验结果 .28 3 3 评价与结论评价与结论 32 1 样品 1.11.1 跳线跳线 样品两个尾端分别包含两个接头。 光纤类型：SMF-28e 插芯类型：UPC陶瓷插芯 接头类型：LC/PC 胶类型： Epotek-353ND 1.21.2 适配器适配器 适配器类型: LC/PC 图图1 LC/PC型适配器型适配器 1.31.3 外观外观图示图示 图图2 LC/PC连接器连接器 2 试验项目与结果讨论 本报告的系列试验是为检查光纤连接器组装性能并且模拟其在使用过程中所受到的应力 而制订的。这些试验项目以IEC 61300系列检验和试验程序为基础，同时兼顾了GR-326- CORE要求的部分试验项目。表1列出了详细的检验和试验项目及其测试条件和要求。 表表1 试验方法与试验要求试验方法与试验要求 序号项目试验依据试验条件技术要求 1端面检测IEC 61300-3-1光学显微镜见本报告表 4 2 端面几何形 状（3D）检 测 IEC 61754-4干涉仪 曲率半径:725mm 顶偏:典型50um；Max70um 光纤高度:+100-100nm; 3插入损耗 IEC 61300-3-4 方法 B 波长:1310nm 回损 45dB 6插拔耐久性 IEC 61300-2-2/ GR-326 500次每25次清洁1次；插损变化值0.2dB 7光缆直拉IEC 61300-2-4 离连接器末端 0.5m 处，用 90N 负载, 5N/s 直拉速度，保 持时间 120s. 试验前后插损变化值0.2dB; 回损 45dB 8 耦合机构抗 拉强度 IEC 61300-2-6 离连接器末端0.2m处，40N 负荷, 5N/s加载，保持时间 15s. 试验前后插损变化值0.2dB; 回损 45dB 9机械冲击IEC 61300-2-121.5m 处冲击 5 次 试验前后插损变化值0.2dB; 回损 45dB 10扭转IEC 61300-2-5 离连接器末端0.2m处，15N负 荷, 扭转角度: 0,-180, 0, +180. 25次. 试验前后插损变化值0.2dB; 回损 45dB 11 侧向静负载 能力 IEC 61300-2-42 离连接器末端 0.5m 处，负荷 1/0.5 N 保持 1 小时. 试验前后插损变化值0.2dB; 回损 45dB 12 光器件应力 缓释抗弯性 能 IEC 61300-2-44 离连接器末端0.2m处，2N负 荷，90转动，循环100次 试验前后插损变化值0.2dB; 回损 45dB 13温度循环IEC 61300-2-22 +70-25, 每分钟温度变化 1, 12 次循环. 试验前后插损变化值0.2dB; 回损 45dB 14 综合高温高 湿 IEC 61300-2-21 +65-10,最高温度时湿度 95%RH，极限温度时恒温 1 小时, 循环10 次 试验前后插损变化值0.2dB; 回损 45dB 2.12.1端面检测端面检测 图三为端面指标图，每个标示区域的标准不一。 图图3 光纤连接器端面的区域划分光纤连接器端面的区域划分 表表2 端面技术标准端面技术标准 区域名称划痕斑点 A区(纤芯区0- 25um) 没有划痕没有斑点 B区（涂覆层区25- 120 um） 厚度为 3um时, 没有划痕 2um,斑点量没有限制 2um 5um之间，可以接受5个斑点 5um,没有斑点 C 区(胶区120-130 um) 厚度为 10um时,没有划痕 10um,没有斑点 D区 (连接区130- 250 um) 划痕数量没有限制 10um,没有斑点 结果：通过结果：通过 2.22.2 端面几何形状端面几何形状3D3D检测检测 2.2.1 检测条件 样品测试仪器见图4: 设备: DORC and NORLAND干涉仪 设备型号: DORC ZX-1 mini: X115FHGZA614 NORLAND NC-300: 2365593 图图4 DORC and NORLAND 干涉仪干涉仪 2.2.2 端面几何形状3D检测结果 表表3 端面几何形状检测结果端面几何形状检测结果 曲率半径 (mm)光纤高度(um) 顶偏 (um) LC/PC 连接器 530-0.1+0.1 70 通过/失败 1#11.51 0.011 32.61 通过 2#11.06 0.014 37.66 通过 3#11.45 0.018 19.19 通过 4#11.25 0.014 17.23 通过 5#12.04 0.001 13.51 通过 6#11.00 0.016 21.73 通过 7#12.13 0.000 7.91 通过 8#14.65 0.014 20.11 通过 9#11.52 0.014 36.74 通过 10#9.10 0.021 30.35 通过 11#11.69 0.007 19.55 通过 12#13.76 0.003 45.38 通过 13#10.57 0.014 41.09 通过 14#12.46 0.015 28.13 通过 15#10.94 0.004 33.44 通过 16#11.09 -0.002 25.99 通过 17#10.63 0.006 21.30 通过 18#11.22 0.016 33.66 通过 19#11.45 0.008 41.34 通过 20#11.72 0.014 60.69 通过 最大值最大值14.65 0.021 60.69 最小值最小值9.10 -0.002 7.91 平均值平均值11.56 0.010 29.38 通过通过 注：批量产品的干涉总合格率不低于 85%。 2.32.3 插入损耗测试插入损耗测试 (IEC 61300-3-4 方法方法B) 2.3.1 测试方法 样品依据图5测试其插损 插入损耗定义： 图图5 插入损耗测试图插入损耗测试图 测试设备：JDSU RM3750B 表表4 标准适配器要求标准适配器要求 条件要求 插入损耗（标准接头）0.1 dB 标准接头用它插拔五次插入损耗变化值0.1 dB 回波损耗（标准接头）55 dB 表表5 标准接头要求标准接头要求 项目要求 插芯凸出直径2.49900.0003mm 插芯同心度0.3 um PC APC 顶偏30 um30 um 曲率半径10-20 mm8-12 mm 光纤高度50 nm50 nm 研磨角度-0.2+0.27.88.2 2.3.2 插入损耗测试结果 光源 光功率计 P1 光源 光功率计 P0 标准线 标准接头 被测试跳线 标准适配器 标准线 表表6 插入损耗结果插入损耗结果 (单位单位:dB) 插入损耗 1310nm1550nm LC/PC 连接器 0.25dB0.25dB 通过或失败 1#0.070.08通过 2#0.10.08通过 3#0.020.04通过 4#0.190.15通过 5#0.040.03通过 6#0.110.09通过 7#0.090.09通过 8#0.210.16通过 9#0.060.06通过 10#0.150.13通过 11#0.090.07通过 12#0.230.18通过 13#0.170.15通过 14#0.10.07通过 15#0.030.05通过 16#0.090.06通过 17#0.060.07通过 18#0.150.12通过 19#0.080.06通过 20#0.150.12通过 最大值最大值0.230.18 最小值最小值0.020.03 平均值平均值0.11 0.09 通过通过 Histogram of IL 0 2 4 6 8 10 12 0-0.050.06-0.100.11-0.150.16-0.200.21-0.25dB Frequency 1310nm 1550nm 图图6 插入损耗直方图插入损耗直方图 结果结果: 通过通过 2.42.4 回波损耗回波损耗(IEC(IEC 61300-3-6)61300-3-6) 2.4.1 测试示意图 图7表示跳线回波损耗测试示意图 图图7 回波损耗测试图回波损耗测试图 测试设备： JDSU RM3750B 2.4.2 回波损耗测试结果 表表7 回波损耗测试结果回波损耗测试结果(单位单位: dB) 回波损耗 1310nm1550nm LC/PC 连接器 45dB45dB 通过或失败 1#55.3 58.7 通过 2#53.5 57.6 通过 3#54.6 58.7 通过 4#53.9 58.1 通过 5#53.7 59.1 通过 6#54.3 56.8 通过 7#55.2 58.8 通过 8#51.6 54.2 通过 9#55.1 57.7 通过 10#54.8 57.4 通过 11#51.9 54.5 通过 12#52.2 54.7 通过 13#49.8 52.5 通过 14#53.5 52.6 通过 15#50.8 51.4 通过 16#53.7 52.8 通过 17#52.5 55.2 通过 18#51.7 54.3 通过 19#54.6 57.3 通过 20#52.4 55.1 通过 最大值最大值55.3 59.1 最小值最小值49.8 51.4 平均值平均值53.26 55.88 通过通过 回损测试仪 标准接头 被测试跳线 标准适配器 标准跳线 Terminate Histogram of RL 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 -5050.1-5252.1-5454.1-5656.1-5858.1-60 dB Frequency 1310nm 1550nm 图图8 回波损耗直方图回波损耗直方图 结果：通过结果：通过 2.52.5 机械振动试验机械振动试验(IEC(IEC 61300-2-1/GR-326)61300-2-1/GR-326) 2.5.1 机械振动测试示意图 机械振动IEC 61300-2-1/ GR-326 频率：1055Hz, 振幅: 0.75mm,分别在3个方向振动 90 min. 试验前后插损变化值小于等于 0.2dB; 回损大于等于45dB 图图9 机械振动测试图机械振动测试图 测试条件: 振动频率: 10 Hz - 55 Hz 振动幅度: 0,75 mm 振动轴数: 3 每轴振动时间: 30 min 每次振动扫描数: 15 测试波长: 1550nm 技术要求: 实验前后插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB 2.5.2 试验结果 表表8 机械振动试验结果（单位：机械振动试验结果（单位：dB) 连接头序号实验前数据 X 轴方向 Y 轴方向 Z 轴方向实验后数据 平均值最大值最小值 插损0.110.10.10.110.090.10 0.110.09 1#回损54.354.254.2545454.14 54.354 插损0.080.080.080.080.090.08 0.090.08 2#回损55.255.255.155.15555.12 55.255 插损0.120.110.120.120.120.12 0.120.11 3#回损52.652.552.552.552.452.50 52.652.4 插损0.070.080.080.080.080.08 0.080.07 4#回损53.753.853.853.653.653.70 53.853.6 插损0.070.080.090.090.080.08 0.090.07 5#回损54.554.354.454.354.354.36 54.554.3 Vibration Test 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 Before During vibration X axes During vibration Y axes During vibration Z axes After IL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# Vibration Test 45 50 55 60 Before During vibration X axes During vibration Y axes During vibration Z axes After RL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# 图图10 机械振动试验数据分析图机械振动试验数据分析图 结果：通过结果：通过 2.62.6 插拔耐久性插拔耐久性(IEC(IEC 61300-2-2/GR326)61300-2-2/GR326) 2.6.1 测试图 插拔耐久性 IEC 61300-2-2/ GR-326 500次 每25次清洁1次；插损变化值 0.2dB 图图11 插拔耐久性测试图插拔耐久性测试图 试验条件: 插拔总次数: 500次 清洁频率：每插拔25次清洁1次 测试波长: 1550nm 插入损耗测试频率: 每插拔25次测试1次 回波损耗测试频率: 每插拔25次测试1次 技术要求: 每次测试插损变化值小于等于 0.2dB; 回损大于等于 45dB 2.6.2 试验结果试验结果 表表9 插拔耐久性试验结果（单位：插拔耐久性试验结果（单位：dB) LC/PC 连接器 次数清洁 插损插损变化值回损 原始值双头0.13 /52.4 24无0.16 0.03 52.2 25单头0.14 0.01 50.6 49无0.14 0.01 51.6 50双头0.10 -0.03 51.7 74无0.14 0.01 51.2 75单头0.11 -0.02 57.6 99无0.11 -0.02 56.0 100双头0.10 -0.03 57.0 124无0.10 -0.03 48.6 125单头0.07 -0.06 55.1 149无0.12 -0.01 52.3 150双头0.10 -0.03 56.2 174无0.13 0.00 56.5 175单头0.10 -0.03 56.0 199无0.10 -0.03 56.0 200双头0.10 -0.03 57.7 224无0.08 -0.05 54.4 225单头0.09 -0.04 55.8 249无0.10 -0.03 56.5 250双头0.11 -0.02 52.4 274无0.10 -0.03 52.3 275单头0.11 -0.02 53.8 299无0.14 0.01 52.5 300双头0.11 -0.02 53.8 324无0.15 0.02 49.7 325单头0.13 0.00 51.7 349无0.14 0.01 51.6 350双头0.16 0.03 53.6 374无0.20 0.07 53.8 375单头0.12 -0.01 55.0 399无0.17 0.04 52.7 400双头0.11 -0.02 51.2 424无0.11 -0.02 54.0 425单头0.12 -0.01 52.3 449无0.12 -0.01 51.1 450双头0.14 0.01 55.4 474无0.13 0.00 58.3 475单头0.10 -0.03 57.4 499无0.11 -0.02 58.2 500双头0.09 -0.04 56.8 最大值最大值0.18 0.12 53.8 最小值最小值0.04 0.20 58.3 平均值平均值0.10 0.07 48.6 Mating durability 0.00 0.05 0.10 0.15 0.20 0.25 Initial 25 50 75 100 125 150 175 200 225 250 275 300 325 350 375 400 425 450 475 500 cycle dB 44.0 46.0 48.0 50.0 52.0 54.0 56.0 58.0 60.0 dB IL RL 图图12 插拔耐久性试验的插损和回损数据分析图插拔耐久性试验的插损和回损数据分析图 结果：通过结果：通过 2.72.7 光缆直拉试验光缆直拉试验(GR-326)(GR-326) 2.7.1 试验方法 光缆直拉IEC 61300-2-4 离连接器末端0.5m处，用90N负载, 5N/s直拉速度，保持时间120s. 试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB 图图13 光缆直拉光缆直拉 试验条件: 光缆外径: 2.0mm LC、MU连接器拉力：90N 负载速度: 5 N/s 最大负载停留时间: 2 min 测试波长: 1550nm 技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB 2.7.2 试验结果 表表10 光缆直拉试验结果（单位：光缆直拉试验结果（单位：dB) 连接头序号损耗实验前0s120s实验后 平均值最大值最小值 插损0.20.190.20.180.19 0.20.18 1#回损57.958.157.957.157.75 58.157.1 插损0.060.060.070.060.06 0.070.06 2#回损57.157.357.35757.18 57.357 插损0.090.110.10.090.10 0.110.09 3#回损60.359.25958.859.33 60.358.8 插损0.140.150.130.130.14 0.150.13 4#回损55.955.95655.655.85 5655.6 插损0.10.110.110.090.10 0.110.09 5#回损58.158.458.157.958.13 58.457.9 负载 0.5 m Cable Retention Test 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 Before0s120sAfter IL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# Cable Retention Test 45 50 55 60 65 Before0s120sAfter RL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# 图图 14 光缆直拉试验数据分析图光缆直拉试验数据分析图 结果：通过结果：通过 2.82.8 耦合机构抗拉强度耦合机构抗拉强度 (IEC(IEC 61300-2-6)61300-2-6) 2.8.1 试验方法 耦合机构抗拉强度IEC 61300-2-6 离连接器末端0.2m处，40N负 荷, 5N/s加载，保持时间15s. 试验前后插损变化值0.2dB; 回损 45dB 图图15 耦合机构抗拉强度耦合机构抗拉强度 试验条件: 光缆外径: 2.0mm LC、MU连接器拉力：40N 负载速度: 5 N/s 最大负载停留时间: 15s 测试波长: 1550nm 技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB 2.8.2 试验结果 表表11 耦合机构抗拉强度试验结果（单位：耦合机构抗拉强度试验结果（单位：dB) 连接器序号损耗实验前实验中实验后 平均值最大值最小值 IL0.130.280.140.18 0.280.13 1# RL56.95655.156.00 56.955.1 IL0.170.180.170.17 0.180.17 2# RL55.55655.255.57 5655.2 IL0.130.130.120.13 0.130.12 3# RL55.65655.555.70 5655.5 IL0.10.10.10.10 0.10.1 4# RL57.659.157.758.13 59.157.6 IL0.150.170.170.16 0.170.15 5# RL57.758.657.157.80 58.657.1 负载 0.2 m Tensile Strenth of Coupling Mechanism 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 BeforeDuringAfter IL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# Tensile Strenth of Coupling Mechanism 45 50 55 60 BeforeDuringAfter RL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# 图图16 耦合机构抗拉强度试验数据分析图耦合机构抗拉强度试验数据分析图 结果：通过结果：通过 2.92.9 机械冲击机械冲击 (IEC(IEC 61300-2-12)61300-2-12) 2.9.1 试验方法 机械冲击IEC 61300-2-121.5m处跌落5次 实验前后插损变化值小于等于 0.2dB; 回损大于等于45dB 图图 17 冲击试验示意图冲击试验示意图 试验条件: 1.5 m 2 m 光缆外径: 2.0mm 下落次数: 5 次 下落高度: 15m 测试波长: 1550nm 技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB 2.9.2 试验结果 表表12 机械冲击试验结果（单位：机械冲击试验结果（单位：dB) 连接头序号.损耗实验前实验后插损变化值 1#插损0.180.17 2#插损0.150.18 3#插损0.010.1 4#插损0.110.12 5#插损0.020.02 0.2 连接头序号.损耗实验前实验后插损变化值 1#回损56.356.1 2#回损57.556.3 3#回损57.456.7 4#回损57.355.5 5#回损57.156.1 45 结果：通过结果：通过 2.102.10 扭转试验扭转试验 (IEC(IEC 61300-2-5)61300-2-5) 2.10.1 试验方法 扭转IEC 61300-2-5 离连接器末端0.2m处，15N负 荷, 扭转角度: 0,-180, 0, +180. 25次. 试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB 图图 18 扭转性能试验图扭转性能试验图 Cable Clamp 负载 0.4 m 试验条件: 光缆外径: 2.0mm 负载加于离连接器0.4m处，负载大小: 15 N 负载释放速度: 1 N/s 扭弯回合: 25次 测试波长: 1550nm 技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB 2.10.2 试验结果 表表13 扭转试验结果（单位扭转试验结果（单位: dB) 连接头序号损耗实验前0 次25 次实验后 平均值最大值最小值 插损0.060.070.070.050.06 0.070.05 1#回损55.955.555.555.555.60 55.955.5 插损0.090.090.090.10.09 0.10.09 2#回损55.75656.156.155.98 56.155.7 插损0.030.040.030.030.03 0.040.03 3#回损5656.256.15656.08 56.256 插损0.030.030.030.030.03 0.030.03 4#回损55.355.355.355.255.28 55.355.2 插损0.020.020.020.040.03 0.040.02 5#回损56.856.956.956.756.83 56.956.7 Torsion Test 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 Before0 cycle25 cycleAfter IL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# Torsion Test 45 50 55 60 Before0 cycle25 cycleAfter RL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# 图图19 扭转性能试验数据分析图扭转性能试验数据分析图 结果：通过结果：通过 2.112.11 侧向静负载（侧拉）侧向静负载（侧拉） (IEC(IEC 61300-2-42)61300-2-42) 2.11.1 试验方法 图图20 侧向静负载（侧拉试验图）侧向静负载（侧拉试验图） 试验条件: 光缆外径: 2.0mm 负载加于离连接器0.2m处 负载大小: 光缆外径3.0mm时1 N；光缆外径2.0mm 时0.5 N 负载停留时间: 60 min 测试波长: 1550nm 侧向静负载能力IEC 61300-2-42 离连接器末端0.5m处，1N/0.5 N 负荷，保持1小时. 实验前后插损变化值小于等于 0.2dB; 回损大于等于45dB Tensile Load 0.2 m Cable Clamp 技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB 2.11.2 试验结果 表表14 侧拉试验结果（单位侧拉试验结果（单位: dB) 插损 连接头序号0 min10 min 20 min 30 min 40 min 50 min 60 min平均值最大值最小值 1#0080.110.060.110.10.120.10.10.120.06 2#0.110.090.090.090.080.080.090.090.110.08 3#0.010.010.020010.010.030.020.0170.030.01 4#0.070.080.070.050.050.060.060.0630.080.05 5#0.130.140.130.130.150.120.130.1330.150.12 回损 连接头序号0 min10 min 20 min 30 min 40 min 50 min 60 min平均值最大值最小值 1#57.356.956.756.256.156.155.956.4657.355.9 2#55.155.355.555.455.555.755.655.4455.755.1 3#53.453.353.453.553.453.553.553.4353.553.3 4#55.255.255.355.555.355.355.255.2955.555.2 5#54.354.354.454.454.254.454.254.3154.454.2 Static Side Load Test 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 Begin102030405060min IL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# Static Side Load Test 45 50 55 60 Begin102030405060min RL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# 图图21 侧拉试验数据分析图侧拉试验数据分析图 结果：通过结果：通过 2.122.12 光器件应力缓释抗弯性能实验光器件应力缓释抗弯性能实验(IEC(IEC 61300-2-44)61300-2-44) 2.12.1 试验方法 光器件应力缓释抗弯性 能 IEC 61300-2- 44 离连接器末端0.2m处，2N 负荷，90转动，循环 100次 试验前后插损变化值 0.2dB; 回损45dB 图图 22 光器件应力缓释抗弯性能试验图光器件应力缓释抗弯性能试验图 试验条件: 光缆外径: 2.0mm 负载加于离连接器0.2m处，负载大小: 2N 循环次数: 100 测试波长: 1550nm 技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB 2.12.2 试验结果 表表15 光器件应力缓释抗弯性能试验结果（单位：光器件应力缓释抗弯性能试验结果（单位：dB) 连接器序号损耗实验前050100实验后 平均值最大值最小值 插损0.210.210.210.210.230.21 0.230.21 1#回损52.652.552.552.552.552.52 52.652.5 插损0.120.110.110.110.110.11 0.120.11 2#回损51.451.151515151.10 51.451 插损0.070.080.090.080.080.08 0.090.07 3#回损53.753.25353.253.253.26 53.753 4#插损0.130.120.090.080.070.10 0.130.07 回损52.852.752.752.752.752.72 52.852.7 插损0.140.140.130.130.140.14 0.140.13 5#回损52.552.352.352.352.352.34 52.552.3 Flexing of the Strain Relief Test 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 Before050100After IL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# Flexing of the Strain Relief Test 45 50 55 60 Before050100After RL(dB) 1# 2# 3# 4# 5# 图图 23 光器件应力缓释抗弯性能试验数据分析图光器件应力缓释抗弯性能试验数据分析图 结果：通过结果：通过 2.132.13 温度循环温度循环 (IEC(IEC 61300-2-22)61300-2-22) 2.13.1 试验方法 温度循环IEC 61300-2-22 +70-25, 每分钟温度变 化1, 12 次循环. 试验前后插损变化值0.2dB; 回损45dB h 70 25 1 -25 2345 678 试验条件: 恒温时间: 1 hour 温度变化率: 1C / min 循环次数: 12 测试波长: 1310nm 回损大于等于45dB 测试设备: 温度循环箱 图图 25 温度循环试验图温度循环试验图 2.13.2 试验结果 表表16 温度循环测试结果分析（单位：温度循环测试结果分析（单位： dB) 插入损耗 时间 (h)1310 nm1550 nm 00.080.11 0.50.10.12 10.090.13 1.50.10.13 20.10.12 2.50.110.13 30.080.12 3.50.060.13 40.070.13 4.50.070.13 50.050.13 5.50.080.12 光源 光功率计 环境试验箱 标准适 配器 60.070.12 6.50.080.11 70.060.11 7.50.070.12 80.060.1 8.50.060.11 90.070.13 9.50.090.11 100.10.12 10.50.070.11 110.050.14 11.50.060.13 120.070.13 12.50.060.14 130.060.13 13.50.070.13 140.060.14 14.50.060.13 150.070.1 15.50.060.13 160.060.12 16.50.060.13 170.070.11 17.50.060.11 180.070.1 18.50.070.12 190.070.11 19.50.080.11 200.060.1 20.50.080.09 210.080.09 21.50.090.08 220.090.12 22.50.080.11 230.050.08 23.50.060.08 240.050.07 24.50.060.07 250.050.07 25.50.090.09 260.10.08 26.50.060.08 270.070.07 27.50.060.08 280.060.07 28.50.050.07 290.050.08 29.50.070.08 300.060.08 30.50.050.07 310.060.06 31.50.060.07 320.070.07 32.50.060.08 330.080.08 33.50.060.09 340.060.09 34.50.060.08 350.070.07 35.50.060.06 360.060.09 36.50.070.09 370.070.11 37.50.070.11 380.080.12 38.50.060.13 390.070.13 39.50.060.12 400.060.11 40.50.060.1 410.050.12 41.50.050.13 420.060.11 42.50.060.12 430.070.12 43.50.060.11 440.070.1 44.50.070.13 450.040.12 45.50.080.12 460.070.11 46.50.070.13 470.060.13 47.50.060.12 480.070.11 48.50.060.11 490.070.12 49.50.080.13 500.060.11 50.50.060.13 510.050.13 51.50.070.13 520.060.15 52.50.050.13 530.060.12 53.50.080.13 540.080.12 54.50.070.15 550.070.14 55.50.060.14 560.070.13 56.50.070.14 570.060.13 57.50.060.13 580.050.12 58.50.050.11 590.050.12 59.50.060.12 600.050.11 60.50.040.11 610.050.13 61.50.050.12 620.060.13 62.50.060.14 630.070.14 63.50.050.15 640.060.13 64.50.060.13 650.070.11 65.50.070.12 660.080.13 66.50.080.13 670.060.13 67.50.080.14 680.090.13 68.50.070.12 690.070.14 69.50.060.11 700.070.11 70.50.080.12 710.080.12 71.50.060.11 720.070.1 72.50.070.1 730.060.09 73.50.070.09 740.070.08 74.50.060.09 750.050.1 75.50.050.1 760.070.09 76.50.060.08 770.060.07 77.50.050.1 780.050.12 78.50.060.13 790.050.12 79.50.060.11 800.070.13 80.50.070.12 810.080.1 81.50.090.11 820.090.11 82.50.080.12 830.090.09 83.50.080.1 840.070.1 84.50.060.12 850.060.12 85.50.050.1 860.060.08 86.50.060.09 870.070.09 87.50.070.1 880.060.13 88.50.060.12 890.060.1 89.50.050.1 900.050.12 90.50.060.13 910.060.1 91.50.050.1 920.070.11 92.50.060.11 930.050.12 93.50.070.1 940.060.11 94.50.080.11 950.080.1 95.50.070.12 960.050.12 96.50.070.11 970.060.12 990.070.1 最大值最大值0.110.15 最小值最小值0.040.06 平均值平均值0.070.11 Change of temperature test 0 0.02 0.04 0.06 0.08 0.1 0.12 0.14 0.16 time 96 hours IL(dB) 1310 1550 图图 26 温度循环试验数据分析图温度循环试验数据分析图 结果：通过结果：通过 2.142.14 综合高温高湿试验综合高温高湿试验(IEC(IEC 61300-2-21)61300-2-21) 2.14.1 试验方法 综合高温高湿IEC 61300-2- 21 +65-10,最高温度及最低 温度时恒温 1小时,10 次循环 实验前后插损变化值小于等 于0.2dB; 回损大于等于 45dB T 70 60 50 40 30 20 10 0 -10 -20 湿度控制 湿度控制 图图 27 高温高湿曲线图高温高湿曲线图 测试条件: 最低温度: -10C 最高温度: +65C 最高温与最低温处恒温时间: 1h 湿度: 95%RH 循环次数: 10 测试波长: 1550nm 技术要求: 每次测试插损变化值小于等于0.2dB; 回损大于等于45dB 试