统计过程控制管理办法

上海达意电工机械有限公司编 号QG-14统计技术管理办法版本修改号A/0页 码第 6 页 共 6 页发 布 日 期2013年8月1日程 序 文 件（依据ISO/TS16949：2002标准）批准审核编制发放范围副董总经理管理者代表综合技术部品质部生产部三 级 文 件（依据ISO/TS16949：2009标准）批准审核编制修改栏页码版本/修改号修改日期修改内容修改人备注一、目的：在相关的过程使用控制图和计算过程能力，确保过程具有能力，从而预防缺陷的产生。二、范围：适用于控制计划中规定使用的控制图的管理。三、权责：3.1项目小组在产品质量先期策划及控制计划中规定统计技术的选用、包括控制图的使用。3.2生产部负责由于控制图异常引起的纠正措施的实施。3.3品质部负责控制图的使用，以及计算PPK值和CPK值及不合格品率，并负责控制图相关使用人员的培训。必要时，指导生产部制定纠正措施。3.4行政部负责控制图使用和过程能力计算的相关人员培训的计划安排及组织。四、定义： 4.1 -R图：均值和极差控制图； 4.2 P图：不合格品率控制图；4.3 PPK：短期过程能力指数； 4.4 CPK：长期过程能力指数4.5 5MIE：人员、机器、材料、方法、环境及测量。五、管理内容：5.1控制图的格式：5.1.1采用外来文件统计过程控制SPC之标准格式。5.1.2当顾客有规定格式时，采用顾客规定的格式。5.2描绘控制图的具体步骤（计量型的-R图）：5.2.1 收集数据 5.2.1.1 选择子组大小、频率和数据a. 子组大小本工厂的-R图的子组大小为5，即每次连续抽5个产品。b. 子组频率每二小时抽一次。c. 子组数的大小一般情况下，为25组。 5.2.1.2 建立控制图及记录原始数据。由控制图使用者将相关的日期/时间/读数/和等记录于附件一中的相关栏位。 5.2.1.3 计算每个子组的均值（）和极差（R），并按下列公式计算，将结果记录于附件一中的相关栏位。R=Xmax-Xmin 5.2.1.4 选择控制图的宽度 X图上的坐标之max-min=2X(max-min)，R图上的坐标之最大刻度值2Rmax 。 5.2.1.5 将均值和极差R画到控制图上。5.2.2 计算控制限5.2.2.1 计算平均极差（）及过程平均值（） K为子组的数量 5.2.2.2 计算控制限UCLR=D4 UCLX=+A2LCLR=D3 LCLX=-A2式中之D4、D3及A2为常数。 5.2.2.3 画控制限在平均值图（）和极差图（R）中用水平虚线将各自的控制限画上去，在初始研究阶段，这些控制限叫试验控制限。5.3过程控制解释 当出现下列情况时，说明控制图有异常。应由品管部竟当时的过程因素（5W1E）进行记录，必要时会同生产部进行原因分析（参见SPC教材），并采购纠正或纠正措施。5.3.1超出控制线的点；5.3.2连续7点上升或下降；5.3.3连续7点在中线之上或之下；5.3.4明显的非随机图形。5.4过程能力解释5.4.1 假设下的过程能力的解释： 过程处于统计稳定状态； 过程的各测量值服从正态分开； 工程及其它规范准确地代表顾客的需求； 设计目标值位于规范的中心。5.4.2一般情况下，将过程输出的分布与工程规范相比，看是否始终满足这些规范。5.4.3如果不知道分布是否是正态分布，则应进行正态性检验使用诸如审查直方图，在正态分布纸上描点。5.4.4计算过程的标准偏差使用平均极差R来估计过程的标准偏差 只要过程的极差和均值两者都处于统计控制状态，则可用估计的过程 标准偏差（）来评价过程的能力。5.4.5计算过程能力5.4.5.1短期过程能力指数：5.4.5.2长期过程能力指数： 样本标准差 式中：USL规范上限LSL规范下限测量的过程均值极差平均值d2常数、见上表5.4.5提高过程能力为了提高过程能力，必须重视减少普通原因，必须将注意力直接集中在系统中，即造成过程变异性的根本因素上，例如：机器性能、输入材料的一致性、过程操作的基本方法、培训方法或工作环境。一般来说，纠正这些造成不可接受的过程能力的系统原因可能会超出操作者或他们的现场管理人员的能力。相反，需要采取管理层介入做一些基本的变化、分配资源，并为改进过程的整个性能进行协调，用短期的局部措施来纠正系统是不会成功的。5.4.5 对修改的过程绘制控制图并分析对过程已采取了系统的措施后，其效果应在控制图上表现出来，控制图更成了验证措施是否有效的一种方式。在对过程实施改变时，应仔细地监视控制图。5.4.6过程能力接受准则 5.4.6.1当客户对