GB-9415.1-1988.pdf

中华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 信息处理 数据存储设备用磁盘盘片 外径1 3 0 m m、 内径q 0 m m、 每道8 3 0 0 0 次磁通翻转 g b 9 4 1 5 . 1 一 8 8 i s o 7 9 2 9 -1 9 8 5 i n f o r ma t i o n p r o c e s s i n g -ma g n e t i c d i s k f o r d a t a s t o r a g e d e v i c e s - 8 3 0 0 0 f l u x t r a n s i t i o n s p e r t r a c k , 1 3 0 mm o u t e r d i a me t e r , 4 0 mm i n n e r d i a me t e r 本标准等同采用国际标准i s o 7 9 2 9 -1 9 8 5 ( e ) 信息处理数据存储设备用磁盘盘片外径1 3 0 m m、 内径4 0 mm、 每道8 3 0 0 0 次磁通翻转 。 1 主题内容与适用范围 本标准对外径为1 3 0 m m、 内径为4 0 m m的磁盘盘片的机械性能、 物理性能和磁性能作出规定。 该磁 盘盘片上涂有润滑剂， 它用于数据存储设备中。 本标准对该盘片的具体要求作出规定， 以便使之能在每道8 3 3 3 2 次磁通翻转时具有良 好的性能 当用于其他密度时， 要获得相同的性能， 可对机械、 磁和电性能作些改变。 2 引用标准 g b 1 1 8 3 形状和位置公差 g b 1 0 3 1 表面粗糙度、 参数及其数值 g b 4 4 5 8 . 5 机械制图尺寸公差与配合注法 3 一致性 与本标准一致的盘片必须满足本标准中的全部要求。 4 一般要求 4 . 1 工作环境和存放环境 为防止损坏数据， 盘片表面周围的杂散磁场强度不应超过4 0 0 0 a / m。 有磁头时， 考虑到磁头铁芯的 集聚效应， 周围环境总的磁场强度还应减小 注: 通常允许的环境磁场强度上限值在3 0 0 2 0 0 0 a / m范围内。 4 . ， . 1 工作环境 盘片周围空气的工作温度应为1 5 - 5 7 0c， 其相对湿度为8 0 0 8 0 %. 湿球温度不应超过2 6 “c。 盘片周 围的空气洁净度应为1 0 0 级 见附录a( 补充件) 。 4 . ，2 存放环境 存放温度应为一4 0 -6 5 c , 其相对湿度为8 %-8 0 %, 湿球温度不应超过3 0 c 。 在任何情况下， 盘片 上不得凝露。 应尽量避免在上述极限条件下存放， 温度变化率不应超过1 0 0c / h o 中华人民共和国电子工业部1 9 8 8 一 0 4 一 2 6 批准1 9 8 8 一 1 2 一 0 1 实施 g b 9 4 1 5 . 1 一 8 8 4 . 2 测试条件 除另有规定外， 应在温度为2 3 士3 c， 相对湿度为4 0 % -6 0 %的条件下进行测试。 测试前应使盘片适 应环境一段时间。 在此期间内， 盘片上不应凝露。 用磁头进行测试时， 应在 艺 气洁净度1 0 0 级条件 下 进行。 4 . 3 材料 只要符合本标准规定的尺寸、 惯量及其他功能要求， 盘片可以用任何合适的材料制成。 4 . 4 热膨胀系数 盘片材料的热膨胀系数应为: al 1 l at l l ， 一 l-_ _ 一 二 - - - - 份 二 二人 一1 4z4z = ( 2 4士 1 ) x 1 0 - k- 试样长度l为: l ,+ l , 牛- 一 2 下 一 式中: 几? 和岛 分别为温度在5 7 和1 5 时的试样长度。 4 . 5 盘面标志 磁头和盘片之间相对运动的方向应符合要求。 作逆时针方向旋转的盘片表面上应有标志。 5 尺寸， ， ( 图1 图3 ) 测量下述诸半径时， 盘片应安装在基准轮毅上( 图1 ) 。 在2 3 士。 . 5 下测得的该轮级的直径应为: d , =3 9 . 9 7 5 - . , , mm 另一外半径为: r , =2 6 . 3 4 士0 . 1 mm 所有半径均以该基准轮毅的对称轴线为基准。 由d , 确定的基准轮毅的圆柱面必须位于半径差为公 差值。 . 0 1 m m的两同轴圆柱面之间( g b 1 1 8 3 ) , 5 . 1 内径 在2 3 士0 . 5 下测得的盘片内 径应为: d , =4 0 + 吕 o s im m 盘片内圆必须位于半径差为公差值。 . 0 2 5 m m的两同心圆之间。 5 . 2 外径 盘片的外径应为: d ， 二1 3 0 士0 . 1 mm 盘片外圆必须位于半径差为公差值。 . 0 2 5 m m的两同心圆之间。 5 . 3 同轴度 盘片处圆柱面的轴线必须位于直径为公差值0 . 0 5 m m， 且与内圆柱面轴线同轴的圆柱面内。 5 . 4 厚度 盘片厚度应为: e二1 . 9 0 5 士0 . 0 2 5 mm 5 . 5 边缘倒角( 图3 ) 盘片应在盘面边缘处倒角。 倒角后， 盘片的轮廓应在两个盘面延伸面之内。 从盘片边缘起， 倒去的距 离为: l 毛0 . 7 6 mm 采用说明: 1 尺寸公差注法按g b 4 4 5 8 . 5 . g b 9 4 1 5 . 1 一 8 8 为避免不平衡， 圆周上所有倒角应完全相同。 5 . 6 紧固区域 盘片两面均有一个没有磁层的紧固区， 它位于内缘圆周和以r , 为半径的圆周之间， 半径r : 为: r 2 2 6 . 5 mm 在r : 与倒角开始处这一范围内， 盘片厚度的变化量不应超过7 . 5 t m. 5 . 了 磁层面的位置 盘片的两个磁层面应从内半径r 。 一直延伸到外半径r , ， 这个区域是磁头的浮动区域。 r 3 镇3 0 mm r , 6 2 mm 6 物理性能 6 门转动惯量 盘片 的 转动 惯量不应超 过0 . 1 4 3 g “ m , 6 2 最高转速 盘片应能承受4 0 0 0 r / m i n 的转速下所产生的应力。 63 偏摆 为测量轴向偏摆、 轴向偏摆速度和轴向偏摆加速度， 应按照6 . 3 . 1 的要求紧固和驱动盘片。 在半径r 3 和r ; 之间这段区域内应满足6 . 3 . 2 , 6 . 3 . 3 和6 . 3 . 4 中的要求。 6 . 3 . 1 测试主轴的要求和紧固条件( 图1 ) 把盘片紧固到基准轮毅上所用的紧固力为: f =1 1 0 0 士1 1 0n 它应均匀地施加到r ， 和， 。 之间的盘片环形表面上。 其中: r , =2 1 . 9 5 mm r 6 =2 6 mm 基准轮毅上用于安装盘片部 位的 表面粗糙度， 其轮廓算术平均偏差应为0 . 4 ja m ( g b 1 0 3 1 ) , 当基准轮毅以任意转速， 但不超过最高转速( 4 0 0 0 r / m i n ) 旋转时， 其轴向偏摆不应超过1 y m o 6 . 3 . 2 轴向偏摆 当盘片以任意转速， 但不超过最高转速( 4 0 0 0 r / m i n ) 旋转时， 轴向偏摆指示器读数不应超过 0 . 0 5 m m。 而且， 盘片每个面的所有点都应位于垂直于基准轮毅轴线的两个相距0 . 1 0 m m的平面之间， 这两个 平面分别与相应盘片表面的紧固面等距离。 6 . 3 . 3 轴向偏摆速度 盘片转速为3 6 0 0 士3 6 r / m i n 时， 记录盘面的轴向偏摆速度不应超过3 1 m m / s , 测量时， 带宽应由低 通滤波器确定。 该滤波器的截止频率为3 . 0 k h z ， 其高频衰减率为一1 8 d b / o c t 。 探头的直径应为 1 . 7 mm, 6 . 3 . 4 轴向偏摆加速度 盘片转速为3 6 0 0 士3 6 r / m i n 时， 轴向偏摆加速度不应超过3 8 . 1 m / s . 测量时， 带宽应由低通滤波 器确定。 该滤波器的截止频率为5 . 0 k h z ， 其高频衰减率为一1 8 d b / o c t , 探头的直径应为1 . 7 m m, 6 . 3 . 5 径向 偏摆 盘片径向偏摆取决于内圆和外圆同轴度( 见5 . 3 ) 和圆度( 见5 . 1 和5 . 2 ) , 以及取决于盘片在设备中的 紧固情况。 因此， 本标准中不予规定。 6 . 4 表面粗糙度 6 . 4 . 1 磁层面 当用半径为2 . 5 k m、 压力为。 . 5 m n的探针， 在最大取样长度7 5 0 k m的范围内测量时， 抛光后的磁 g b 9 4 1 5 . 1 一8 8 层面粗糙度的轮廓算术平均值应小于0 . 0 2 5 p m; 平均值与轮廓最大高度的偏差不应超过。 . 2 5 p m. 当用半径为2 . 5 p m, 压力为。 . 5 m n的探针， 在径向长度4 . 8 m m的范围内， 并在最小取样长度2 5 0 ji m范围内测量时， 抛光后的磁层面轮廓峰- 峰值应小于。 . 巧p m, 6 . 4 . 2 紧固区域 当用半径为2 . 5 gy m , 压力为。 . 5 m n的探针， 在最大取样长度7 5 0 p m的范围内测量时， 抛光后的紧 固区表面粗糙度的轮廓算术平均值应小干。 . 8 p m; 平均值与轮廓最大高度的偏差不应超过2 ii m, 6 ， 5 磁层面的清洗方法 清洗方法由买卖双方共同商定。 6 . 6 磁层面的耐久性 在盘片表面， ， 和r ， 之间的任一部分都应能承受磁头1 0 0 0 0 次起落。 测量方法如下: 6 . 6 . 1 磁头的适应性 使磁头( 型号见7 . 4 ) 在6 . 6 . 2 中所规定的测试区域之外适应性地起落5 0 次。 在磁道上进行写操作前， 都要在该磁道上进行直流抹除( 见7 . 5 . 2 ) 。 6 . 6 . 2 读出幅度 选择两条相距1 2 . 7 m m的基准磁道 a和b 。 在磁道a和b ， 以及在a与b之间不少于2 0 条等间距 的测试磁道上写入2 f信号( 见6 . 9 ) 。 把磁头移到下一条磁道之前， 测量每条磁道的读出幅度。 作磨损测 试前， 这两条基准磁道上的平均读出幅度应为: 。e , + e s f- a v =一不 ), 6 . 6 . 3 磨损试验 将磁头移到磁道 a与b之间， 并使磁头任何部分都不得触及相应的磁头浮动区域， 这个浮动区域 是由磁头极尖在a或b上浮动时确定的。 磁头不移动， 盘片以。 -3 6 0 0 r / m i n 做加、 减速旋转， 使磁头起落1 0 0 0 0 次。 0 - 2 4 0 0 r / m i n 的加速 或减速时间应在6 . 0 士1 6 . 6 . 4 磁头磨损系数 在同一磁道上按6 . . 0 s 以内。 6 . 2 再测试一次。 经磨损试验后 e a ， 在这两条基准磁道上测得的平均读出幅度为: + e e av八 磁头磨损系数为: 君a v e a , 被测磁道的第二组读数应乘以磁头磨损系数。 6 . 6 . 5 耐久性准则 耐久性应符合下列要求: e . 磁头磨损系数不得大于1 . 1 1 ; b ， 每条被测磁道上， 按6 . 6 . 4 修正过的读数与按6 . 6 . 2 测得的值相差不应超过l o %0 6 . 了 磁头与盘片间的滑动要求 当磁头浮动时， 磁头在与半径r : 处的最小浮动高度为0 . 2 5 p tn ， 而在半径r 。 处它按比例增加到 0 . 3 l m . 这时盘片 磁层面 上的 缺陷 应不 致引 起 头 盘相 擦。 6 . 8 磁头与盘片间的动摩擦 在半径r 。 与r ; 之间的区 域内， 动摩擦系数平均值p i 不应大于0 . 2 0 0 。 动摩擦系数变化量的峰一 峰值 o k 不应超过0 . 0 3 5 0 g b 9 4 1 5 . 1 一 8 8 测量方法如附录b ( 补充件) 所述。 6 ， 9 磁头与盘片间的静摩擦 先在4 . 1 . 1 的环境中放置4 8 h以上， 磁头与盘片在半径r , 和r 。 之间的区域内接触平稳后， 测得的静 摩擦系数产 2 不应大于1 . 。 。 测量方法如附录b ( 补充件) 所述。 6 . 1 0 放电通路 盘片应允许电荷从磁层面流到紧固区。 了 磁性能测试 了 . ， 一般条件 7 . 1 . 1 转速 作任何测试时， 其转速应为3 6 0 0 士3 6 r / m i n , 7 . 1 . 2 环境杂散磁场 环境杂散磁场强度不应超过3 0 0 a / m, 7 . 2 磁道和记录条件 7 . 2 . 1 磁道宽度 测试时， 磁道有效宽度应为8 5 士4 ta m , 在附录c ( 补充件) 中推荐一种磁道有效宽度的测量方法。 7 . 2 . 2 道间距 测试时采用的磁道中心线间距应合理安排， 使7 . 2 . 3 中所有区域都能测试到。 7 . 2 . 3 测试区 在磁道中心线以r ， 为半径的最内侧磁道和以r ， 为半径的最外侧磁道之间， 均应进行所有功能测试 和磁道质量测试。 其中: r , =4 2 . 9 3 mm r , =5 9 . 4 4 mm 7 . 2 . 4 存取线的位置 存取线应在径向0 . 2 5 m m的范围之内。 7 . 2 . 5 记录偏角 写人或读出时， 磁通翻转轴线与存取线之间的角度最大可为6 0 0 , 7 . 3 标准基准面 7 . 3 门特征 标准基准面以最内 侧磁道和最外侧磁道( r ， 和r , ) 的特性来表征。 这是用测试磁头( 见7 . 4 ) 测得的。 该磁头校正系数( 见7 . 4 . 9 ) 等于1 , 当用上述测试磁头以i f频率( 见7 . 9 ) 记录时， 测得的磁道平均幅度( 见7 . 8 ) 应为: 在半径r ; 处: 2 . 0 0 m v; 在半 径r 。 处: 3 . 0 0 m v . 当用上述测试磁头以2 f 频率( 见7 - 9 ) 记录时， 测得的磁道平均幅度( 见7 . 8 ) 应为: 在半径r ， 处: 1 . 5 0 m v ; 在半径r ， 处: 2 . 5 5 m v . 当用上述测试磁头在半径r 。 处测量时， 重写率( 见8 . 3 ) 应为。 . 0 1 8 , 7 . 3 . 2 二级标准基准面 二级标准基准面的输出电压与标准基准面的输出电压相关， 其校正系数为c o l ( i f ) , c o z ( 2 f ) ; 重写 校正系数为c m。 g s 9 41 5 1 一 8 8 幅度校正系数为 c d二 标准基准面输出电压 c d , 和c ，应在半径r : 和r : 处测得。 重写校正系数c m为: c d = 标准基准面的重写率 二级标准基准面的重写率 c 、应在半径， 。 处测得。 当用两个频率在两个半径上测量时， 合格的二级标准基准面的校正系数c 。 和c 、 应满足。 . 9 0 g c d (1 . 1 0 , 7 . 4 测试磁头 测试磁头应用标准基准面进行校正， 用它可测量幅度和磁层面。 注: 3 3 5 0 型磁头( 不附放大器) 按下列要求改制， 可用作测试磁头。 7 . 4 . ， 缝隙宽度 记录缝隙的宽度( 用光学方法测量) 应为8 1 . 3 士4 fe m , 7 . 4 . 2 缝隙长度 记录缝隙 长度应为1 . 4 士 。 . 2 f m , 7 . 4 . 3 缝隙偏角 铁氧体铁芯的记录缝隙与磁头相应的安装面之间的夹角最大可为6 0 . 7 . 4 . 4 浮动高度 当 测试磁 头在最内 侧磁 道上 浮动时， 磁头缝隙 处的 浮动 高度应为 0 . 4 8 士 0 . 0 5 fl m . 7 . 4 . 5 电感 频率为1 m h z 时， 在空气中测得的磁头总电感应为1 7 . 0 士0 . 5 州 。 每个绕组的电感应为5 . 。 士 0 . 3 p h, 了 . 4 . 6 谐振频率 磁头整个读写绕组的谐振频率应满足7 . 6 . 1 中的要求。 7 . 4 . 7 分辨率 测试磁头在半径r ， 处的分辨率应为( 7 5 13 ) %: 2 f幅度 在半径r 。 处应为( 8 5 士5 ) %。 分辨率定义为 x 1 0 0 7 . 4 . 8 磁头加载力 磁头的净加载力应使磁头达到7 . 4 . 4 中规定的浮动高度， 它应为。 . 0 9 3 土。0 1 0 n. 7 . 4 . 9 校正系数 测试磁头在i f时的幅度校正系数c h i ， 在2 f时的c h : 以及重写校正系数c 。均应满足0 . 9 0 c h ; 簇1 . 1 w 在标准基准面上测量时， c h ; = 而在二级标准基准面上测量时， c , = 在标准基准面上测量时， c h d = 而在二级标准基准面上测量时， 标准基准面输出电压 实测的磁头输出电压 标准基准面输出电压 ( 实测的磁头输出电压)x c p 标准基准面重写率 实测的重写率 g b 9 4 1 5 . 1 一 8 8 c h . = 标准基准面重写率 ( 实测的重写率) xc 、 了 . 5 测试磁头的工作条件 7 ， 5 门写电流 i f频率的写电流波形应与图4 相符。 在磁头插头处测得的电流幅度如表1 所示。 表 1 半径 写电流 ( i w 、十i w 一 ) 公差 5046 5 9 . 4 4 - 5 1 . 1 8 51 . 1 8 4 2 . 9 3 + 1 士 1 静态写电流正、 负值之差 i w 、 一i , - 应小于2 m a . tn =8 0 士5 n s tf =8 0 士5 n s 过冲量: i w的( 4 . 。 士。 . 5 ) %， 其中i w=i w +i w -。 一 *l _ ，。 、 . ， 二 ，。 t, + t， 二一 一 ， ， 。 两 个 相 邻 的 半 周 期t , , t , 与=2 一 之 差 不 应 大 于 1 % 0 了 . 5 . 2 直流抹除电流 用直流抹除时， 通过两个读写绕组之一的直流抹除电流应如表2 所示。 表 2 半径 抹电流 5 9 . 4 4 - 5 1 . 1 8 5 1 . 1 8 - 4 2 . 9 3 公差% 士 1 士 1 ma一制230 了 . 6 读出通道 7 ， 6 门拾人阻抗 读出通道的差动输入阻抗应为7 5 0 士3 7 0与1 2 士2 . 5 p f并联， 它包括放大器的输入阻抗， 以及在读 放大器输入端测得的所有其他分布阻抗和集中阻抗。 电 路( 包括磁头绕组、 读出通道的输人阻抗以及连接线) 的谐振频率应为9 . 3 士0 . 5 m h z , 7 . 6 . 2 频率和相位特性 当频率在0 . 0 7 5 5 . 0 0 mh z ( 0 . 0 6 - 4 f ) 之间时， 频率响应曲线的平坦度应在士。 . 2 0 d b以内。 一3 d b转折点应在7 . 5 0 mh z ( 6 f ) 处。 频率高于7 . 5 0 mh z 时， 衰减不应小于在7 . 5 0 mh z 处通过。 d b点所作的一条直线给出的衰减范 围， 该直线的斜率为一1 8 d b / o c t o 频率在0 . 0 7 5 5 . 0 0 mh z ( 0 . 0 6 一4 f ) 之间时， 相移应为线性， 其偏差在士5 。 以内。 7 . 6 . 3 传输特性 输入信号峰一 峰值在。 . 2 6 . 0 m v之间时， 读出通道的传箱特性线性度应在士3 %或5 0 ju v以内( 取 大值) 。 7 . 7 自动增益控制( a g c ) 放大器 输人电压峰一 峰值在v ; o ,; =0 . 2 m v到叭 n ,. . =6 . 0 m v之间时， a g c放大器的输出电压v a c c 应恒 定在士1 %以内( 见图5 ) , 输入信号幅度 ( v ) 作阶跃式降低5 0 %时， a g c输出信号幅度 ( v . . ) 恢复到其标称输出幅度9 0 时的响应时间( t , ) 应为1 0 士1 k s , 频率低于l 0 k h : 时， 放大器增益应按6 d b / o c t 的速率衰减。 g b 9 4 1 5 . 1 一 8 8 7 . 8 磁道平均幅度 ( v t a ) v t ; 为盘片旋转一周时测得的信号平均峰一 峰值， 它应在测试磁头的输出端测量， 该磁头的负载应 符合7 . 6 中的规定。 了 . 9 测试信号 记录频率i f和 2 f规定为: i f=( 2 5 0 0 土2 . 5 ) x1 0 翻转/ s 2 f=( 5 0 0 0 士5 ) x1 0 翻转/ s 7 . 1 0 直流抹除 除另有规定外， 在执行所有写操作前， 应进行直流抹除。 8 盘面测试 8 . 1 幅度测试 81， 步骤 以2 f在盘面上的任何部分写入， 读出并测出v t a 。 8 . 1 . 2 结果 测试磁头输出经校正后， 其v i a 最大值在半径r ; 处峰一 峰值应为1 . 9 5 m v。 此后按线性增大， 在半径 r 。 处的峰一 峰值应为3 . 3 2 m v。 其v 丁 、 最小值在半径r 7 处的峰一 峰值应为1 . 0 5 m v 。 此后按线性增大， 在半 径r 。 处的峰一 峰值应为1 . 7 9 m v( 见图6 ) 0 8 . 2 分辨率测试 8 . 2 . 1 步骤 以i f 在盘面上的任何部分写入， 读出并测出v t a o 然后在同一位置上进行直流抹除， 并以2 f写入， 读出并测出v t a 。 所测出的v t a 值应由 相应的磁头校正系数( 见7 . 4 . 9 ) 校正。 8 . 2 . 2 结果 在任何情况下， 其比值: 校正后的 2 f信号的v t a 校正后的i f信号的v t a 应为0 . 8 0 士0 . 1 3 . 8 . 3 重写测试 8 . 3 . 1 步骤 在半径r 。 处以 i f写入， 用选频电压表测出i f信号的平均幅度。 不进行直流抹除， 随后以2 f重写 一次， 再用选频电压表测出剩余的i f 信号的平均幅度。 8 . 3 . 2 结果 在任何情况下， 其比值: 重写后的 i f信号的平均幅度 重写前的 i f信号的平均幅度 x c m 应小子0 . 0 3 5 , 8 . 4 剩余噪音测试 8 . 4 . 1 步骤 用直流抹除5 条磁道宽的环带， 环带的中心磁道在半径r ， 处。 在半径r ; 处以2 了 写入， 读出并用真有 效值电压表测出 有效值( v r m s ) 。 该电 压表一 6 d b 处的带宽为1 0 m h z , 然后用直流至少抹除5 次， 读出并测出有效值 ( v d c r m s ) 。 使磁头退出盘面， 井测出由所有其他噪音 源所引起的噪音有效值( v n r m s ) 。 v n r m ， 不应大于。 . 0 2 5 v r m s 。 8 . 4 . 2 结果 g b 9 4 1 5 . 1 一 8 8 其比值 vv im， m s 一 v n r m s vr m s 应小于0 . 0 5 . 9 磁道质t测试 9 . 1 正调制测试 9 门门步骤 在任何磁道上以2 f 写入， 读出并测出v t a 。 在测得读出脉冲幅度大于0 . 5 v t a 的1 3 0 %后， 延时t d 1 . 5 5 士0 . 1 5 p s ， 井在t _ , = 3 . 1 0 士。 . 1 5 it s 时间内， 测出所有这类脉冲个数( 见图7 ) . 9 . 1 . 2 结果 如测出的这类脉冲个数超过1 1 个时， 则认为存在正幅度调制。 9 ， 2 负调制测试 9 . 2 . 1 步骤 在任何磁道上以2 f写入， 读出并测出v t a 。 在测得读出脉冲幅度小于。 . 5 v t a 的7 0 %后， 延时t , = 1 . 5 5 士0 . 1 5 ja s ， 并在 二 =6 0 - f 1 u s 时间内， 测出所有这类脉冲 个数( 见图7 ) . 9 . 2 . 2 结果 如测出的这类脉冲个数超过2 4 0 个时， 则认为存在负幅度调制。 9 . 3 漏脉冲测试 9 . 3 门步骤 在每条磁道上以z f写入， 并用a g c放大器读出。 9 . 3 . 2 结果 任何读出脉冲幅度小子a g c放大器输出电压 ( v a g c ) 的5 5 写， 即为漏脉冲。 9 . 4 冒脉冲测试 9 . 4 . 1 步骤 在每条磁道上以2 f写入， 读出并测出v t a 。 然后直流抹除一次， 并读出一整周的信号。 9 . 4 . 2 结果 任何读出剩余信号幅度大于。 . 5 v t 人 的3 5 ， 即为冒 脉冲。 1 0 对磁层面的要求 1 0 . 1 盘面要求 合格的盘片应符合第8 章中规定的所有测试要求。 1 0 . 2 磁道质量要求 任何磁道上不应出现9 . 1 和9 . 2 中所述的正幅度调制或负幅度调制。 1 1 磁层面的缺陷 1 1 . ， 单个缺陷 出现一个漏脉冲( 见9 . 3 ) 或一个冒脉冲( 见9 - 4 ) 就称为单个缺陷。 们. 2 验收准则 磁层面缺陷的验收准则由买卖双方共同商定。 g b 9 4 1 5 . 1 一 8 8 图 1 装有盘片的基准轮级剖视图 a3 之 1 、 了乡 叮 ; 图 2 盘片俯视图 图 3 盘片边缘倒角剖视图 cs 9 4 1 5 . 1 一 8 8 tat, 过冲量 沙1次0一 十，1 b a 诊1次ot t,t, v- v- 图 4 写电流波形 ; t -; t - = 二 i vi . ,. v二 二二v. 图 5 a g c放大器特性 1 7 3 gs 9 4 1 5 . 1 一 a s 3 . 3 2 一口9 9月声 卜已v洛 1 . 0 5 r 片 磁道位置 r 夕 r，r 口 们 、 图 6 磁道平均幅度 x1 3 0 % 义1 0 0 7 0 t o t . - 图 7 调制测试 g s 9 4 1 5 . 1 一8 8 附录a 空气洁净度1 0 0 级 ( 补充件) a 1 概述 空气洁净度等级是按单位体积中允许含有规定最小尘粒的最大数以及按尘粒尺寸的统计平均分布 曲线而定。 a 2 定义 1 0 。 级定义如下: 对尺寸大于和等于0 . 5 p m的尘粒， 其总数不应超过3 . 5 颗/ l ( 1 0 0 颗/ ( f t ) ) , 图a 1 为尘粒尺寸统计平均分布曲线。 1 0 。 级是指尺寸为。 . 5 ji m的尘粒， 允许有3 . 5 颖/ l ( 1 0 0 颗/ ( f t ) ) 。 但尺寸为4 . 0 li m的尘粒， 仅允许0 . 0 3 5 颗/ l ( 1 颗/ ( f t ) ) , 应考虑由于局部或暂时的环境等因素， 一次采样分布曲线可能与该曲线偏离。 如尘粒数低于0 . 3 5 颗 / l ， 则 应 大 量 采 样 ， 否 则 测 出 的 尘 粒 熬 是 不 可 靠 的 a 3 测试方法 对尺寸在。 . 5 -5 . 0 j .m内的尘粒， 应使用光散射测试仪测试. 对可控环境中的空气按一定的流速采 样。 采样空气中的尘粒通过仪器光室内的光感区， 每个尘粒的散射光由光检测器接收， 并将光脉冲转换 成电脉冲。 电 子系统将尘粒尺寸转换成相应的脉冲幅度， 并测出脉冲数， 最后将与尘粒尺寸相对应的尘 粒数记录或显示出来。 3 ; 。 。 ) “40)720)3510) l(仪(仪( 飞乞)拟娜翎 0 . 14(4 ) 0. 0 7(2 ) 。、 : 5 i 4 尘粒尺寸 6 r 1 0 图 a 1 空气洁净度1 0 。 级的尘粒尺寸统计平均分布曲线 g b 9 4 1 5 . 1 一8 8 附录b 磁头与盘片间牢擦系数的测t方法 ( 补充件) b 1 应在4 . 2 中规定的环境下进行测量。 被测盘片应清洁无尘， 且无污染物及无指印。 b 2 将7 . 4 中的磁头按如下方法改装: 如图b l 所示， 用一个能绕立轴旋转的低摩擦轴承把磁头架安装到传动机构上。 用力敏元件测量作 用到磁头上的横向力。 该力敏元件可以直接与