标准解读

《GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法》是一项国家标准，旨在规定用于测定电子元器件中结构陶瓷材料平均线膨胀系数的方法。该标准适用于评估在不同温度范围内这些材料随温度变化而发生的体积或长度变化情况，对于确保电子元件在各种环境条件下稳定工作具有重要意义。

根据此标准，测试过程主要包括样品准备、仪器校准、实验条件设定以及数据处理等步骤。首先，需要按照要求制备合适尺寸与形状的试样，并保证其表面平整光滑无缺陷；然后，在特定型号的热膨胀仪上进行测量前，需对设备进行全面检查并完成必要的校正工作；接下来，依据所选温度范围调整加热速率和冷却方式，并记录下整个过程中试样的长度变化值；最后，利用公式计算出给定温区内的平均线膨胀系数，并以一定格式报告结果。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 5594.3-2015
  • 1985-11-27 颁布
  • 1986-12-01 实施
©正版授权
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