数逻实验指导书.doc

数 字 逻 辑 实 验 指 导 书福州大学阳光学院计算机工程系前言本指导书是数字电路与逻辑设计一书的配套实验指导书。该书是针对福州大学阳光学院计算机专业的学生而编写的。全书共分三个部分：第一部分为实验的基本知识，该部分内容是让学生了解实验的有关事项及实验的常识；第二部分是基本实验，这部分安排了三态门和OC门基本功能等实验内容，旨在让学生能够应用数字逻辑电路的基本理论知识，完成各个实验，熟悉逻辑电路工作原理、特性和功能，掌握逻辑电路分析方法、设计方法，培养具有正确运用数字集成电路的能力，培养学生综合知识和分析问题能力，为学习计算机硬件知识打下基础。第三部分是常用元器件的引脚图，在本部分列出一些常用的元器件的引脚图，供学生查找。本书在编写过程中，还参考了相关的实验指导书及教材，在此向这些作者表示感谢。 由于时间仓促和作者水平有限，书中有不妥之处，请批评指正。 游 玲 2010年2月目录第一章 概述- 2 -1.1数字集成电路的分类、特点及注意问题- 2 -1.2集成电路外引线的识别- 5 -1.3数字逻辑电路的测试方法- 6 -1.4数字实验的基本过程- 6 -1.5数字实验中操作规范和常见故障检查方法- 8 -1.6实验要求- 10 -第二部分 基 本 实 验- 12 -实验一 门电路逻辑功能及测试- 12 -实验二 OC/三态门电路逻辑功能测试- 16 -实验三 触发器- 22 -实验四 组合逻辑电路的设计- 25 -实验五 数据选择器及应用- 27 -实验六 译码器及应用- 29 -实验七 字段译码器逻辑功能测试及应用- 31 -实验八 计数器及其应用- 34 -实验九 移位寄存器功能测试及应用- 37 -实验十 脉冲的产生的与整形电路- 40 -实验十一 加法器- 44 -附 录- 47 -第一章 概述随着科学技术的发展，数字电子技术在各个科学领域中都得到了广泛的应用，它是一门实践性很强的技术基础课，实验是数字逻辑电路课程重要的教学环节，通过实验不仅能巩固和加深理解所学的数字电子技术知识，更重要的是在建立科学实证思维方面，在掌握基本的测试手段和方法上，在电平检测、波形测绘和数据处理方面，对培养学生理论联系实际和解决实际问题的能力，树立科学的工作作风，起到很重要的作用。1.1数字集成电路的分类、特点及注意问题当今，数字电子电路几乎已完全集成化了。因此，充分掌握和正确使用数字集成电路，用以构成数字逻辑系统，就成为数字电子技术的核心内容之一。集成电路按集成度可分为小规模、中规模、大规模和超大规模等。小规模集成电路（SSI）是在一块硅片上制成约110个门，通常为逻辑单元电路，如逻辑门、触发器等。中规模集成电路（MSI）的集成度约为10100门/片，通常是逻辑功能电路，如译码器、数据选择器、计数器、寄存器等。大规模集成电路（LSI）的集成度约为100门/片以上，超大规模（VLSI）约为1000门/片以上，通常是一个小的数字逻辑系统。现已制成规模更大的极大规模集成电路。数字集成电路还可分为双极型电路和单极型电路两种。双极型电路中有代表性的是TTL电路；单极型电路中有代表性的是CMOS电路。国产TTL集成电路的标准系列为CT54/74系列或CT0000系列，其功能和外引线排列与国际54/74系列相同。国产CMOS集成电路主要为CC（CH）4000系列，其功能和外引线排列与国际CD4000系列相对应。高速CMOS系列中，74HC和74HCT系列与TTL74系列相对应，74HC4000系列与CC4000系列相对应。必须正确了解集成电路参数的意义和数值，并按规定使用。特别是必须严格遵守极限参数的限定，因为即使瞬间超出，也会使器件遭受损坏。TTL器件的特点：1输入端一般有钳位二极管，减少了反射干扰的影响。2输出电阻低，增强了带容性负载的能力。3有较大的噪声容限。4采用+5V的电源供电。为了正常发挥器件的功能，应使器件在推荐的条件下工作，对CT0000系列（74LS系列）器件，主要有：（1）电源电压应4.755.25V的范围内。（2）环境温度在00C700C之间。（3）高电平输入电压VIH2V，低电平输入电压VSL0.8V。（4）输出电流应小于最大推荐值（查手册）。（5）工作频率不能高，一般的门和触发器的最高工作频率约30MHZ左右。 TTL器件使用注意问题：1电源电压应严格保持在5V10%的范围内，过高易损坏器件，过低则不能正常工作，实验中一般采用稳定性好、内阻小的直流稳压电源。使用时，应特别注意电源与地线不能错接，否则会因过大电流而造成器件损坏。2多余输入端最好不要悬空，虽然悬空相当于高电平，并不能影响与门（与非门）的逻辑功能，但悬空时易受干扰，为此，与门、与非门多余输入端可直接接到Vcc上，或通过一个公用电阻（几千欧）连到Vcc上。若前级驱动能力强，则可将多余输入端与使用端并接；不用的或门、或非门输入端直接接地，与或非门不用的与门输入端至少有一个要直接接地，带有扩展端的门电路，其扩展端不允许直接接电源。若输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处的状态，当R680时，输入端相当于逻辑“0”；当R47K时，输入端相当于逻辑“1”。对于不同系列的器件，要求的阻值不同。3输出端不允许直接接电源或接地，有时为了使后级电路获得较高的输出电平，允许输出端通过电阻R接至Vcc，一般取R35.1 K；不允许直接并联使用（集电极开路门和三态门除外）。4应考虑电路的负载能力（即扇出系数），要留有余地，以免影响电路的正常工作。扇出系数可通过查阅器件手册或计算获得。5在高频工作时，应通过缩短引线、屏蔽干扰源等措施，抑制电流的尖峰干扰。CMOS数字集成电路的特点1静态功耗低：电源电压VDD=5V的中规模电路的静态功耗小于100W，从而有利于提高集成度和封装密度，降低成本，减小电源功耗。2电源电压范围宽：4000系列CMOS电路的电源电压范围为318V，从而使选择电源的余地大，电源设计要求低。3输入阻抗高：正常工作的CMOS集成电路，其输入端保护二极管处于反偏状态，直流输入阻抗可大于100M，在工作频率较高时，应考虑输入电容的影响。4 扇出能力强：在低频工作时，一个输出端可驱动50个以上的CMOS器件的输入端，这主要因为CMOS器件的输入电阻高的缘故。5抗干扰能力强：CMOS集成电路的电压噪声容限可达电源电压的45%，而且高电平和低电平的噪声容限值基本相等。6逻辑摆幅大：空载时，输出高电平VOH（VDD-0.05V）,输出低电平VOL（VSS+0.05V）。CMOS集成电路还有较好的温度稳定性和较强的抗辐射能力。不足之处是，一般CMOS器件的工作速度比TTL集成电路低，功耗随工作频率的升高而显著增大。CMOS器件的输入端和VSS之间接有保护二极管，除了电平变换器等一些接口电路外，输入端和正电源VDD之间也接有保护二极管，因此，在正常运转和焊接CMOS器件时，一般不会因感应电荷而损坏器件。但是，在使用CMOS数字集成电路时，输入信号的低电平不能低于（VSS-0.5V），除某些接口电路外，输入信号的高电平不得高于（VDD+0.5V），否则可能引起保护二极管导通，甚至损坏进而可能使输入级损坏。CMOS器件使用注意事项：1电源连接和选择：VDD端接电源正极，VSS端接电源负极（地）。绝对不许接错，否则器件因电流过大而损坏。对于电源电压范围为3V18V系列器件。如CC4000系列，实验中VDD通常接+5V电源。VDD电压选在电源变化范围的中间值，例如电源电压在812V之间变化，则选择VDD=10V较恰当。CMOS器件在不同的VDD值下工作时，其输出阻抗、工作速度和功耗等参数都有所变化，设计中须考虑。2输入端处理：多余输入端不能悬空。应按逻辑要求接VDD或接VSS，以免受干扰造成逻辑混乱，甚至还会损坏器件。对于工作速度要求不高，而要求增加带负载能力时，可把输入端并联使用。对于安装在印刷电路板上的CMOS器件，为了避免输入端悬空，在电路板的输入端应接入限流电阻RP和保护电阻R，当VDD=+5V时，RP取5.1K，R一般取100K1M。3输出端处理：输出端不允许直接接VDD或VSS，否则将导致器件损坏，除三态（TS）器件外，不允许两个不同芯片输出端并联使用，但有时为了增加驱动能力，同一芯片上的输出端可以并联。4对输入信号VI的要求：VI的高电平VIHVDD，VIL的低电平VIL小于电路系统允许的低电压；当器件VDD端未接通电源时，不允许信号输入，否则将使输入端保护电路中的二极管损坏。1.2集成电路外引线的识别使用集成电路前，必须认真查对识别集成电路的引脚，确认电源、地、输入、输出、控制等端的引脚号，以免因接错而损坏器件。引脚排列的一般规律为：圆形集成电路：识别是，面向引脚正视，从定位销顺时针方向依次为1.2.3如图B1.1（a）。圆形多用于集成运放等电路。扁平和双列直插型集成电路：识别时，将文字，符号标记正放（一般集成电路上有一圆点或有一缺口，将圆点或缺口置于左方），由顶部俯视，从左下脚起，按逆时针方向数，依次1.2.3如图B1.1（b）。在标准形TTL集成电路中，电源端Vcc般排列在左上端，接地端GND一般排在右下端，如74LS00为14脚芯片，14脚为Vcc，7脚为GND。若集成电路芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。扁平型多用于数字集成电路，双列直插型广泛用于模拟和数字集成电路。图B1.1(a)(b) 集成电路外引线的识别1.3数字逻辑电路的测试方法1. 组合逻辑电路的测试组合逻辑电路测试的目的是验证其逻辑功能是否符合设计要求，也就是验证其输出与输入的关系是否与真值表相符。(1). 静态测试。静态测试是在电路静止状态下测试输出与输入的关系。将输入端分别接到逻辑电平开关上，用电平显示灯分别显示各输入和输出端的状态。按真值表将输入信号一组一组地依次送入被测电路，测出相应的输出状态，与真值表相比较，借以判断此组合逻辑电路静态工作是否正常。(2). 动态测试动态测试是测量组合逻辑电路的频率响应。在输入端加上周期性信号，用示波器观察输入、输出波形。测出与真值表相符的最高输入脉冲频率。2. 时序逻辑电路的测试时序逻辑电路测试的目的是验证其状态的转换是否与状态图或时序图相符合。可用电平显示灯、数码管或示波器等观察输出状态的变化。常用的测试方法有两种，一种是单拍工作方式：以单脉冲源作为时钟脉冲，逐拍进行观测，来判断输出状态的转换是否与状态图相符。另一种是连续工作方式：以连续脉冲源作为时钟脉冲，用示波器观察波形，来判断输出波形是否与时序图相符。1.4数字实验的基本过程实验的基本过程，应包括：确定实验内容、选定最佳的实验方法和实验线路、拟出较好的实验步骤、合理选择仪器设备和元器件、进行连接安装和调试、最后写出完整的实验报告。在进行数字电路实验时，充分掌握和正确利用集成器件及其构成的数字电路独有的特点和规律，可以收到事半功倍的效果，对于完成每一个实验，应做好实验预习、实验记录和实验报告等环节。实验预习:认真预习是做好实验的关键。预习好坏，不仅关系到实验能否顺利进行，而且直接影响实验效果。预习应按本教材的实验预习要求进行，在每次实验前首先要认真复习有关实验的基本原理，掌握有关器件使用方法，对如何着手实验做到心中有数，以保证所预习设计的内容正确，这样不但可拓宽设计思路，也可大大节省实际在实验室操作的时间和排错的时间，提高实验效率。通过预习还应做好实验前的准备，写出一份预习报告，其内容包括：1.绘出设计好的实验电路图，该图应该是逻辑图和连线图的混合，既便于连接线，又反映电路原理，并在图上标出器件型号、使用的引脚号及元件数值，必要时还须用文字说明。2.拟定实验方法和步骤。3.拟好记录实验数据的表格，并记录预习的理论值。4.列出元器件清单。实验记录是实验过程中获得的第一手资料。测试过程中所测试的数据和波形必须和理论基本一致，所以记录必须清楚、合理、正确，若不正确，则要现场及时重复测试，找出原因。实验记录应包括如下内容：1.实验任务、名称及内容。2.实验数据以及实验中出现的现象，从记录中应能初步判断实验的正确性。3.实验中实际使用的仪器型号和编号以及元器件使用情况。实验报告是培养学生科学实验的总结能力和分析思维能力的有效手段，也是一项重要的基本功训练，它能很好地巩固实验成果，加深对基本理论的认识和理解，从而进一步扩大知识面。实验报告是一份技术总结，要求文字简洁，内容清楚，图表工整。报告内容应包括实验目的、实验内容和结果、实验使用仪器和元器件以及分析讨论等，其中实验内容和结果是报告的主要部分，它应包括实际完成的全部实验，并且要按实验任务逐个书写，每个实验任务应有如下内容：1.实验课题的方框图、逻辑图（或测试电路）、状态图，真值表以及文字说明等，对于设计性课题，还应有整个设计过程和关键的设计技巧说明。2.实验记录和经过整理的数据、表格、曲线和图，其中表格、曲线和图应充分利用专用实验报告纸，并且三角板、曲线板等工具描绘，力求画得准确，不得随手示意画出。3.实验结果分析、讨论及结论，对讨论的范围，没有严格要求，一般应对重要的实验现象、结论加以讨论，以便进一步加深理解，此外，对实验中的异常现象，可作一些简要说明，实验中有何收获，可谈一些心得体会。1.5数字实验中操作规范和常见故障检查方法实验中操作的正确与否对实验结果影响甚大。因此，实验者需要注意按以下规程进行。1.搭接实验电路前，应对仪器设备进行必要的检查校准，对导线是否导通，用万用表进行测量，对所用集成电路是否好坏，搭接简单电路进行功能测试。2.搭接电路时，应遵循正确的布线原则和操作步骤（即要按照先接线后通电，做完后，先断电再拆线的步骤）。3.掌握科学的调试方法，有效地分析并检查故障，以确保电路工作稳定可靠。4.仔细观察实验现象，完整准确地记录实验数据并与理论值进行比较分析。5.实验完毕，经指导教师同意后，可关断电源拆除连线，整理好放在实验箱内，并将实验台清理干净、摆放整洁。实验操作的布线原则和故障检查。布线原则：应便于检查、排除故障和更换器件。在数字电路实验中，有错误布线引起的故障，常占很大比例。布线错误不仅会引起电路故障，严重时甚至会损坏器件，因此，注意布线的合理性和科学性是十分必要的，正确的布线原则大致有以下几点：1.接插集成电路芯片时，先校准两排引脚，使之与实验底板上的插孔对应，轻轻用力将芯片插上，然后在确定引脚与插孔完全吻合后，再稍用力将其插紧，以免集成电路的引脚弯曲，折断或者接触不良。2.不允许将集成电路芯片方向插反，一般IC的方向是缺口（或标记）朝左，引脚序号从左下方的第一个引脚开始，按逆时钟方向依次递增至左上方的第一个引脚。3.布线时，最好采用各种色线以区别不同用途，如电源线用红色，地线用黑色。4.布线应有秩序地进行，随意乱接容易造成漏接错接，较好的方法是首先接好固定电平点，如电源线、地线、门电路闲置输入端、触发器异步置位复位端等，其次，在按信号源的顺序从输入到输出依次布线。5.连线应避免过长，避免从集成器件上方跨接，避免过多的重叠交错，以利于布线、更换元器件以及故障检查和排除。6.当实验电路的规模较大时，应注意集成元器件的合理布局，以便得到最佳布线，布线时，顺便对单个集成器件进行功能测试。这是一种良好的习惯，实际上这样做不会增加布线工作量。7.应当指出，布线和调试工作是不能截然分开的，往往需要交替进行，对大型实验元器件很多的，可将总电路按其功能划分为若干相对独立的部分，逐个布线、调试（分调），然后将各部分连接起来（联调）。故障检查：实验中，如果电路不能完成预定的逻辑功能时，就称电路有故障，产生故障的原因大致可以归纳以下四个方面：1.操作不当（如布线错误等）2.设计不当（如电路出现险象等）3.元器件使用不当或功能不正常4.仪器（主要指数字电路实验箱）和集成器件本身出现故障。因此，上述四点应作为检查故障的主要线索，以下介绍几种常见的故障检查方法：1.查线法。由于在实验中大部分故障都是由于布线错误引起的，因此，在故障发生时，复查电路连线为排除故障的有效方法。应着重注意：导线是否导通，有无漏线、错线，导线与插孔接触是否可靠，集成电路是否插牢、集成电路是否插反、是否完好等。2.观察法。用万用表直接测量各集成块的Vcc端是否加上电源电压；输入信号、时钟脉冲等是否加到实验电路上，观察输出端有无反应。重复测试观察故障现象，然后对某一故障状态，用万用表测试各输入/输出端的直流电平，从而判断出是否是插座板、集成块引脚连接线等原因造成的故障。3.信号注入法。在电路的每一级输入端加上特定信号，观察该级输出响应，从而确定该级是否有故障，必要时可以切断周围连线，避免相互影响。4.信号寻迹法。在电路的输入端加上特定信号，按照信号流向逐级检查是否有响应和是否正确，必要时可多次输入不同信号。5.替换法。对于多输入端器件，如有多余端则可调换另一输入端试用。必要时可更换器件，以检查器件功能不正常所引起的故障。6.动态逐线跟踪检查法。对于时序电路，可输入时钟信号按信号流向依次检查各级波形，直到找出故障点为止。7.断开反馈线检查法。对于含有反馈线的闭合电路，应该设法断开反馈线进行检查，或进行状态预置后再进行检查。以上检查故障的方法，是指在仪器工作正常的前提下进行的，如果实验时电路功能测不出来，则应首先检查供电情况，若电源电压已加上，便可把有关输出端直接接到01显示器上检查，若逻辑开关无输出，或单次CP无输出，则是开关接触不好或是内部电路坏了，一般就是集成器件坏了。需要强调指出，实验经验对于故障检查是大有帮助的，但只要充分预习，掌握基本理论和实验原理，就不难用逻辑思维的方法较好地判断和排除故障。1.6实验要求1.实验前的要求(1) 认真阅读实验指导书，明确实验目的要求，理解实验原理，熟悉实验电路及集成芯片，拟出实验方法和步骤，设计实验表格。(2) 完成实验指导书中有关预习的相关内容。(3) 初步估算(或分析)实验结果(包括各项参数和波形)，写出预习报告。 (4) 对实验内容应提前设计，并将有关数据写入预习报告中，设计电路在实验前一天上传到服务器中。2.实验中的要求(1) 参加实验者要自觉遵守实验室规则。(2) 严禁带电接线、拆线或改接线路。(3) 根据实验内容，准备好实验所需的仪器设备和装置并安放适当。按实验方案，选择合适的集成芯片，连接实验电路和测试电路。(4) 要认真记录实验条件和所得各项数据，波形。发生小故障时，应独立思考，耐心排除，并记下排除故障过程和方法。实验过程中不顺利，并不是坏事，常常可以从分析故障中增强独立工作的能力。相反，实验“一帆风顺”不一定收获大，能独立解决实验中所遇到的问题，把实验做成功，收获才是最大的。(5) 发生焦味、冒烟故障，应立即切断电源，保护现场，并报告指导老师和实验室工作人员，等待处理。(6) 实验前应检查实验仪器编号与座位号是否相同，仪器设备不准随意搬动调换。非本次实验所用的仪器设备，未经老师允许不得动用。若损坏仪器设备，必须立即报告老师，作书面检查，责任事故要酌情赔偿。实验做完后，应让指导老师检查签字，经老师同意后方可拆除线路，清理现场。(7) 实验要严肃认真，要保持安静，整洁的实验环境。3. 实验后的要求实验后要求学生认真写好实验报告（含预习内容）a) 实验报告（含预习内容）的内容(1) 实验目的。(2) 列出实验的环境条件，使用的主要仪器设备的名称编号，集成芯片的型号、规格、功能。(3) 扼要记录实验操作步骤，认真整理和处理测试的数据，绘制实验电路图和测试的波形，并列出表格或用坐标纸画出曲线。(4) 对测试结果进行理论分析，作出简明扼要的结论。找出产生误差的原因，提出减少实验误差的措施。(5) 记录产生故障情况，说明排除故障的过程和方法。(6) 写出本次实验的心得体会，以及改进实验的建议。b) 实验报告（含预习内容）的要求文理通顺、书写简洁、符号标准、图表规范、讨论深入、结论简明。第二部分 基 本 实 验实验一 门电路逻辑功能及测试一、实验目的1掌握了解TTL系列外形及逻辑功能。2熟悉各种门电路参数的测试方法。3. 熟悉集成电路的引脚排列，如何在实验箱上接线，接线时应注意什么。二、实验仪器及材料1. AEDK-DEC数字电路实验箱、双踪示波器、数字万用表。TTL器件：74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS02 二输入端四或非门 1 片74LS00二输入端四与非门 1片 74ls04 六反相器 1片三、预习要求和思考题 1预习要求1）复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。2）常用TTL门电路和CMOS门电路的功能、特点。3）熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。2思考题1）TTL门电路和CMOS门电路有什么区别？2）用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么？3）怎样判断门电路逻辑功能是否正常?四、实验内容及步骤选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc及GND不能连接错。线连接好后经检查无误方可通电实验。1. TTL门电路及CMOS门电路的功能测试。将CMOS或门CC4011,TTL与非门74LS00、和或非门74LS02分别按图1-2连线：输入端、接逻辑开关，输入端接发光二极管，改变输入状态的高低电平，观察二极管的亮灭，并将输出状态填入表1-1中：表1-1输 入A B输 出Y1CC4011输 出Y274LS00输 出Y374LS020 00 11 01 1逻辑表达式逻辑功能2. 与非门逻辑功能测试 输入端、接逻辑开关，输入端接发光二极管，改变输入状态的高低电平，观察二极管的亮灭，并将输出状态填入表1-2中：表1-2 74LS00逻辑功能表输入状态输出状态UAUBY000110110悬空1悬空悬空0悬空1悬空悬空3. 用与非门组成其它门电路并测试验证。(1) 组成非门用一片74LS00组成一个非门Y= =，画出电路图，测试并填表1-3。表1-3输入输出Y 理论值观测值(2) 组成或非门用一片74LS00组成一个与非门组成或非门，写出或非门转化为与非门表达式，画出电路图，测试并填表1-4。表1-4输入输出YAB理论值Multisim值观测值00011011(3) 组成异或门用74LS00组成一个异或门，写出异或门转化为与非门表达式，画出电路图，测试并填表1-5。表1-5输入输出YAB理论值观测值00011011(4)（选作）利用与非门控制输出。用一片74LS00按图1-7、图1-8接线，S接任一电平开关，用示波器观察S对输出脉冲的控制作用。图1-7图1-8五、实验报告内容1. 实验目的、内容、画出逻辑电路图。2. 在电路图上标明接线时使用的集成块名称和引脚号，作为实验接线图。3. 按照实验操作过程记录、整理实验内容和结果，填好测试数据。分析、确认实验结果的正确性，说明实验结论。4. 对门电路转换实验，要求写出设计过程(转换公式)。5. 在实验总结中写上实验中遇到的问题，解决办法，体会、建议等，要求简洁、务实，不用套话。实验二 三态门电路逻辑功能测试一、实验目的1、掌握集电极开路门的逻辑功能，使用方法涉及到OC门的不用写入。2、掌握三态门的逻辑功能及使用方法。二、实验设备及器件1、AEDK-DEC数字逻辑实验箱 1个 2、逻辑笔 1支 3、万用表 1 台4、74LS01二输入四集电极开路与非门 1片5、74LS125三态输出四总线缓冲门 1片6、74LS244 1片三、预习要求和思考题1、集电极开路门（OC门）图2-1 OC门内部电路图（a）和逻辑符号（b）T5的集电极是断开的，必须经外接电阻RL接通电源后，电路才能实现与非逻辑及线与功能。即在实际使用中，可直接将几个逻辑门的输出端相连，这种输出直接相连，实现输出与功能的方式称为线与。图2-2所示为实现线与功能的电路。&D?G74LSRLYABVcc&D?G74LSCD&D?A74LS&D?AABCDYU?A74LS08A图2-2 OC门线与2、三态门三态门：是指逻辑门的输出除有高、低电平两种状态外，还有第三种状态高阻状态（或称禁止状态）的门电路，简称TSL(Tristate Logic)门。 （1）三态门的电路图2-3 三态门电路及逻辑符号（2）三态门的种类 按逻辑功能分：三态与非门、三态缓冲门、三态非门、三态与门。 按控制模式分：低电平有效的三态门和高电平有效的三态门。3、思考题（1）三态门与OC门的区别（2）三态门的特点四、实验内容1、OC门逻辑功能测试123414131211567109874LS01逻辑开关（1）按引脚图和测试电路图接线 。123414131211567109874LS01Q1A1B1Q2A2B2GNDQ4A4B4Q3A3B3图2-4 OC门74LS01引脚图 图2-5 OC门逻辑功能测试电路（2）设VOH=2.8V，VOL=0.3V。调节输入信号先使电路能够输出逻辑高电平，再调电位计，测出此时保证输出大于0.3V的RL值为RLMAX；再调节输入信号先使电路能够输出逻辑低电平，调电位计，测出此时保证输出小于2.8V的RL值为RLMIN。讨论RL对输出的影响。（3）根据测试结果，选中间值接入电路，测试并记录电路的逻辑功能。用开关设A、B、C、D输入状态，借助指示灯和万用表观测输出端的相应状态并填入表2-1中 。表2-1输 入 输 出 ABCD逻辑状态00000001001000110100010101100111100010011010101111001101111011112、三态门的逻辑功能测试（1）按电路连接图连接74LS125。123414131211567109874LS125Q1A1Q2A2GNDQ4A4Q3A3VCCEN4EN3EN1EN2123414131211567109874LS125逻辑开关（控制信号）逻辑开关（数据信号）图2-6 三态门74LS125引脚图 图2-7三态门逻辑功能测试电路（2）利用开关分别改变控制端EN1、EN2状态，观察输出与输入数据端A2的逻辑关系，并将结果记入表2-2中。注意控制端不能同时为0！表2-2输入EN1/ EN20/11/0A100110011A201 010101输出Q00110101输入EN1/ EN21/1A10011A201 01输出高阻态（3）三态门74244的引脚图及逻辑图如图2-9和图2-10所示图2-9图2-10a) 三态门测试电路如图2-11所示，把测试结果记在表2-3上，并判断与分析结果是否相符?(G、A分别接电源)图2-11表2-3GAF(理论值)F（实际值）0V0V0V5V5V0V5V5V b) 用74244三态门构成二路4位数据传输总线的电路图如图2-12所示，把测试结果记录在表2-4上，并判断与理论分析是否相符。（K1、K2接开关）图2-12表2-4使能二路四位数据总线输出K1K2A1A2A3A4B1B2B3B4Y1Y2Y3Y401011010分析：K1K2=00、11的结果。五、实验注意事项1、OC门必须接入电源，并注意外接电源和负载的接入。2、三态门的输入端不能同时为0，否则出现输出端相连的情况，这是不允许的。六、实验报告内容1. 实验目的、内容、画出逻辑电路图。2. 在电路图上标明接线时使用的集成块名称和引脚号，作为实验接线图。3. 按照实验操作过程记录、整理实验内容和结果，填好测试数据。分析、确认实验结果的正确性，说明实验结论。4. 对门电路转换实验，要求写出设计过程(转换公式)。5. 在实验总结中写上实验中遇到的问题，解决办法，体会、建议等，要求简洁、务实，不用套话。实验三 触发器一、实验目的1熟悉基本RS触发器、D触发器、JK触发器、门控制锁存器的逻辑功能与特点。2掌握各功能端的作用。3学会使用双踪示波器波形和比较相位。二、实验仪器及材料a) AEDK-DEC数字逻辑实验箱 、双踪示波器、数字万用表、逻辑笔。b) 参考元件：与非门74LS00、D触发器74LS74、JK触发器74LS112。三、预习要求和思考题 1预习要求： 1）各种触发器逻辑功能及其表示方法及触发方式。 2）JK触发器若，J=K=1，问此时时钟信号频率与输出端Q的输出频率之间存在什么关系？2思考题 RS触发器为什么不允许出现两个输入同时为零的情况？四、实验原理174LS00、74LS74、74LS112各引脚功能图见附录。2在输入信号为单端的情况下，D触发器用来最为方便，其状态方程为，其输出状态的更新发生在CP脉冲的上升沿，故又称为上升沿触发的边沿触发器，触发器的状态只取决于时钟到来前D端的状态，D触发器的应用很广，可用作数信号的寄存，位移寄存，分频和波形发生等。使用时，查清所用集成块的型号、外型及引线排列。3在输入信号为双端的情况下，JK触发器是功能完善.使用灵活和通用性较强的一种触发器。本实验采用74LS76双JK触发器，是下降边沿除法的边沿触发器。J-K触发器使用时要查清引线排列，其特征方程为4在集成触发器的产品中，每一种触发器都有自己固定的逻辑功能。但可以利用转换的方法获得其它功能的触发器。五、实验内容及步骤 1基本RS触发器 按图3-1连线接成基本RS触发器,、为输入信号，输出和分别接发光二极 0 0 0 1 1 0 1 1管，改变输入，观察输出和端状态，并填表3-1表3-1图3-12.触发器: 1)验证D触发器逻辑功能。 将双D触发器74LS74中的一个触发器的，和D输入端分别接逻辑开关，CP端接单次脉冲，输出端和分别接发光二极管，根据输出端状态，填表3-2: 表3-2输 入输 出 CPD 0 1 1 0 1 1 11 1 02)观察D触发器的计数状态将D触发器的，端接高电平, 端与D端相连,这时D触发器处于计数状态,在CP端加入1KHZ连续脉冲,用示波器双踪观察并记录CP、Q端的波形,注意Q及CP端的频率关系和触发器翻转时间。3JK触发器： 1）验证JK触发器的逻辑功能。 将双JK触发器74LS112中的一个触发器的、 、J、K输入端分别接实验箱的逻辑开关，CP端接单次脉冲，、端接发光二极管，观察输出并填表3-3。 2)观察JK触发器的计数状态 将JK触发器的、和J、K输入端都接高电平这时触发器工作于计数状态，CP端加入频率为1KHZ的连续脉冲，用示波器双踪观察输出CP和输出Q端的波形并记录。观察Q与CP之间频率关系和触发器的状态和翻转的时间。 4JK触发器的应用。（选作）将J-K 触发器转换成T触发器并测试其功能。1） 分析J-K 触发器、T触发器各输入变量和输出变量之间的关系，再将两触发器分析对比看有何联系。 表3-3输 入输 出 CPJ K 0 1 1 0 1 10 0 1 11 0 1 10 1 1 11 11 1 1 J-K 触发器的特征方程为：T触发器的特征方程为： 2）由上可得将J-K触发器的J和K两输入变量做为一个输入变量就可成为T触发器。原理如下图3-4。3）通过实验列出真值表来验证所设计的电路是否将J-K触发器转换成T触发器。六、实验报告要求： 1实验目的、实验电路。2 K触发器和D触发器逻辑功能的验证结果，列出它们的功能表。3 触发器计数状态的连接方式，输入与输出的波形，并画出波形图。实验四 组合逻辑电路的设计一、实验目的1.掌握组合逻辑电路的设计方法及功能测试方法。2.熟悉组合电路的特点。二、实验仪器及材料a) AEDK-DEC数字电路实验箱、双踪示波器、数字万用表、逻辑笔。b) 参考元件：74LS86、74LS00。三、预习要求及思考题1预习要求：1）所用中规模集成组件的功能、外部引线排列及使用方法。2) 组合逻辑电路的功能特点和结构特点. 3) 中规模集成组件一般分析及设计方法.2.思考题 在进行组合逻辑电路设计时，什么是最佳设计方案？四、实验原理1本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录2.用集成电路进行组合逻辑电路设计的一般步骤是：1）根据设计要求，定义输入逻辑变量和输出逻辑变量，然后列出真值表；2）利用卡络图或公式法得出最简逻辑表达式，并根据设计要求所指定的门电路或选定的门电路，将最简逻辑表达式变换为与所指定门电路相应的形式；3）画出逻辑图；4）用逻辑门或组件构成实际电路，最后测试验证其逻辑功能。五、实验内容1用四2输入异或门（74LS86）和四2输入与非门（74LS00）设计一个一位全加器。1）列出真值表,如下表4-1。其中Ai、Bi、Ci分别为一个加数、另一个加数、低位向本位的进位；Si、Ci+1分别为本位和、本位向高位的进位。 表 4-1 全加器真值表Ai Bi CiSi Ci+1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 1 01 0 0 1 1 0 1 1 0 0 1 0 1 0 10 1 1 1 00 1 1 1 1 1 12）由表4-1全加器真值表写出函数表达式。 3）将上面两逻辑表达式转换为能用四2输入异或门（74LS86）和四2输入与非门（74LS00）实现的表达式。 4）画出逻辑电路图如图4-1，并在图中标明芯片引脚号。按图选择需要的集成块及门电路连线，将Ai、Bi、Ci接逻辑开关，输出Si、Ci+1接发光二极管。改变输入信号的状态验证真值表。 2.在一个射击游戏中，每人可打三枪，一枪打鸟(A)，一枪打鸡（B），一枪打兔子（C）。规则是：打中两枪并且其中有一枪必须是打中鸟者得奖（Z）。试用与非门设计判断得奖的电路。（请按照设计步骤独立完成之）六、实验报告要求1画出实验电路连线示意图，整理实验数据，分析实验结果与理论值是否相等。2设计判断得奖电路时需写出真值表及得到相应输出表达式以及逻辑电路图。3总结中规模集成电路的使用方法及功能。 实验五 数据选择器及应用一、实验目的 1.熟悉中规模集成数据选择器的逻辑功能及测试方法。 2.学习用集成数据选择器进行逻辑设计。二、实验仪器及材料 a) AEDK-DEC数字电路实验箱、双踪示波器、数字万用表、逻辑笔。 b) 参考元件：数据选择器74LS153一片。三、实验预习要求及思考题1预习要求：1）熟悉74LS153的工作原理及使用方法。 2）根据实验内容要求，写出设计的全过程，画出实验电路图。2.思考题 1) 用双四选一数据选择器74LS153怎样连接成八选一数据选择器? 2) 数据选择器74LS153的使能端有什么有好处?四、实验原理 1.74LS153的引脚功能图见附录。 2.数据选择器 数据选择器（multiplexer）又称为多路开关，是一种重要的组合逻辑部件，它可以实现从多路数据传输中选择任何一路信号输出，选择的控制由专列的端口编码决定，称为地址码，数据选择器可以完成很多的逻辑功能，例如函数发生器、并串转换器、波形产生器等。用数据选择器实现组合逻辑函数1） 选择器输出为标准与或式，含地址变量的全部最小项。例如四选一数据选择器输出如下： 而任何组合逻辑函数都可以表示成为最小项之和的形式，故可用数据选择器实现。N个地址变量的数据选择器，不需要增加门电路最多可实现N+1个变量的逻辑函数。 2）步骤： 写出函数的表准