SPC控制图使用步骤.ppt

SPC控制图使用步骤,1、收集数据2、建立控制限3、解释统计控制4、延长控制限以继续控制,控制图两种基本类型,1、计量型控制图：来自过程数据是连续的（如直径、长度）X（均值）-（极差）R图2、计数型控制图：来自过程数据是不连续的（如通过和不通过、接受和拒收）P图、NP图,SPC使用控制图准备工作,1、建立适合实施的环境2、定义过程3、基于以下内容确定控制的特性或特征顾客的需求现存和潜在的问题区域特性之间的相互关系,取样表,使用现有子组大小的计算c=R/D2R：子组极差的平均值n:一个子组内样本的数量D2:随样本容量n变化的常数,控制图典型特殊原因准则汇总,1、一个点距中心线超过3根标准差2、连续7点在中心线的同一侧3、6点连续上升或下降4、连续14点交替上升或下降5、连续3点中有2点距中心线大于2个标准差（同侧）6、连续5点中有4点距中心线大于一个标准差（同侧）7、连续15个点在距中心线一个标准差内（两侧）8、连续8个点距中心线大于1个标准差（两侧）,计量型控制图公式,子组均值：X=子组极差：R=XMAXXMIN每个子组内,X1+X2+.XN,N,N一个子组内样本的数量,计量型控制图公式,平均均值X1+X2+.XNX=K（确定过程平均和平均极差的子组数）平均极差：R1+R2+.RNR=K,计量型控制图公式,X的标准差的估计：C=R/D2X的标准差的估计X=C/N,计量型控制图公式,中心线CLX=XCLR=R控制限UCLX=X+A2RLCLX=X-A2RUCLR=D4RLCLR=D3R,不合格品率图（P图）,单个子组内不合格品率PI=NPI/NINI:被检零件的数量NPI：发现的不合格零件数量平均不合格品率：NPI+NP2.NPKP=NI+N2+.NKK：子组数量NI都相等,不合格品率图（P图）,中心线计算公式：CLP=P控制限计算：UCLPI=P+3P（1-P）/NILCLPI=P-3P（1-P）/NI如果样本容量是相等的（N),不合格品率图（P图）,当样本容量发生变化时前提条件是MINNI/MAXNI0.75使用恒定的控制限UCLP=n+3P（1-P）/nLCLP=P-3P（1-P）/nn：平均样本容量,附录E对照表,过程能力分析,CPK：ComplexProcessCapabilityindex的缩写，是现代企业用于表示制成能力的指标,汉语译作工序能力指数，也有译作工艺能力指数过程能力指数。工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。对于任何生产过程，产品质量总是分散地存在着。若工序能力越高，则产品质量特性值的分散就会越小；若工序能力越低，则产品质量特性值的分散就会越大。,cpk,CP：能力指数USL-LSLUSL-LSLCP=6C6（R/D2）CPKCP（双边公差）CPK等于CPU和CPL中的最小值。C：子组内变差，可以用R/D2或S/C4估计USL：公差上限LSL：公差下限,cpk,USL-XUSL-XCPU=3C3（R/D2）X-LSLX-LSLCPL=3C3（R/D2）,PPK,PP：性能指数USL-LSLUSL-LSLPP=6P6SPPKPP（双边公差）pPK等于PPU和PPL中的最小值。P：过程总变差，可以用S估计USL：公差上限LSL：公差下限,PPK,标准差S计算（XI-X）2P=S=N-1PPK等于PPU和PPL中的最小值。XI：单值读数，X：单值读数均值N：单值读数个数,PPK,USL-XUSL-XPPU=3P3SX-LSLX-LSLPPL=3P3S,CMK,机器能力指数CM=T/8MT：公差范围M：机器能力的标准偏差当质量标准为双边公差时TU-TLCM=8MTU：公差上限TL：公差下限,CMK,当质量标准为单向公差时TU-XCM=4MX-TLCM=4M,CMK,当数据分布中心与标准中心不重合时TU-TL-2CMk=8MCMK=（1-K）CM=（1-K）*T/8MK：偏移系数K=2/T为数据分布中心与标准中心的偏移量取绝对值,公差说明,单边规格：只有规格上限和规格中心或只有下限或规格中心的规格;如考试成绩不得低于80分，