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文档简介

深圳市昶宇电子有限公司文件编号：WI-PZ-039文件版次：A/O制定日期：2013-3-19文件标题：红外传感器来料检验规范制定部门：品质部页次：1/21.0目的：确定检验作业条件，确定抽样水准，明确检验方法，建立判定标准，以确保产品品质。 2.0.适用范围：本检验规范适用于我司IC检验作业。3.0权责单位：本检验规范由品质部制定，管理者代表核准后发行; 所制定之规格，如有修改时，须经原制定单位同意后修改之4.0应用文件： 国家标准GB/T2828.1-2003一般检查水平II）、工程图纸、工程样板。5.0检验标准: 5.1.1国家标准GB/T2828.1-2003一般检查水平II，正常检验、单次抽样计划，AQL订定为 CRI=0 、MAJ=0.65 、MIN=1.55.1.2相关抽样标准或判定标准，可视品质状况或客户要求等做修正。6.0定义6.1缺点分类：6.1.1.严重缺陷（CRI）：可能对机器或装备的操作者造成伤害；潜在危险性的效应，会导致与安全有关的失效或不符合政府法规；影响机械或电气性能，产品在组装后或在客户使用时会发生重大品质事件的。 深圳市昶宇电子有限公司文件编号：WI-PZ-039文件版次：A/O制定日期：2013-3-19文件标题：红外传感器来料检验规范制定部门：品质部页次：2/26.1.2主要缺陷（MAJ）：性能不能达到预期的目标，但不至于引起危险或不安全现象；导致最终影响产品使用性能和装配；客户很难接受或存在客户抱怨风险的产品 6.1.3 .次要缺陷（MIN）：不满足规定的要求但不会影响产品使用功能的；客户不易发现，发现后通过沟通能使客户接受的。7.0外观检验：7.1外观质量及结构质量7.2电气间隙及爬电距离8.0主要性能试验：8.1红外线传感器的外壳材料必须采用Q235材料。用洛氏硬度仪检测。出现负值的为合格。8.2金属外壳是否存在划痕、锈蚀，紧固件是否松动。8.3材料加工、处理及装配是否符合相关标准。8.4红外线传感器本安端子与外壳之间应能承受500V、
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