超声检测系统综合性能测试.doc

超声检测系统综合性能测试试验目的：1）掌握仪器综合性能测试方法及测试流程。 2）掌握探头综合性能测试方法。 3）掌握系统综合性能测试方法。 4）掌握熟知仪器设备的使用方法及过程中所注意的事项 试验系统：1） 模拟式超声检测仪 2）探头 3）藕合剂 4）尺子 5）CSK-IA试块 6）IB试块 7）DB-PZ20-2平底孔试块【仪器综合性能测试】垂直线性： 实验步骤：1） 准备好试验过程中所需的仪器设备及器材。2） 将直探头放置DB-PZ20-2平底试块表面，将探头压在试块保持耦合稳定，移动扫查孔的反射回波。3） 调节衰减器是回波高度为100%满屏，此时衰减应保留30dB余量，每次2dB增量调节衰减器。4） 记录高度值，分析数据。计算出垂直线性误差 ，整理试验设备。 试验示意图： ：试验数据记录:dB理论高度%实际高度%相对差01001000279.4800.6463.1640.9650.150-0.1839.8400.21031.6342.41225.1282.91420.02221615.8182.21812.5141.52010.0100227.980.1246.34-2.3265.02-3284.00-4303.20-3.2计算及分析结果: 根据计算垂直线性误差为6.9%小于8% 所以符合JB/T10061-1999的标准要求。动态范围：在上述垂直线性测试中，继续调解衰减器直至刚能辨认回波，总的衰减值即为动态范围，根据JB/T10061-1999标准要求动态范围应为26 dB水平线性测试：试验步骤；1） 准备好试验过程中所需的仪器试块。2） 将直探头在IB试块上并耦合稳定。3） 节出6个底面回波后，将始波往左移，调节仪器依次使B1和B6的波高为80%，第一次波对准时基线刻度0，B6对准时基线100%.4） 然后依次调节B2.B3.B4.B5.的波高为80%刻度，别读取前沿分别与20.40.60.80.的偏差a2.a3.a4.a5计算出水平线性.5） 结果分析。整理试验器材。试验示意图： 数据处理及结果分析： 分析： JB/T10061-1999标准要求水平线性误差应为小于2%.根据此测试结果是符合标准要求的。电噪声 将仪器的灵敏度和扫描范围调至最大，在无外界干扰的情况下，电噪声信号的平均幅度的满屏高的百分比所得电噪声小于10%。【探头综合性能测试】前沿距离试验步骤：1） 准备好试验过程中所需要的仪器设备及测量工具。2） 用K2斜探头放置CSK-IA试块上并耦合稳定后。3） 向R=100圆弧前沿辐射声波，观察R100圆弧面的反射回波。4） 在保持探头声束轴线与试块侧面平行时移动探头直到相应的反射回波达到最高。5） 用尺子量取探头前沿至试块边缘的距离，计算量取三次求平均值。试验示意图： 记录数据： 结果分析: 所测的前沿距离都在913mm之间，说明此探头性能符合标准要求。K值测试试验步骤：1） 将K2探头放置相应的位置，耦合稳定。2） 在保持探头声束轴线与试块侧面平行时移动探头，直到相应的反射回波达到最高。3） 量取距离L，则应根据测得有关距离，计算K值。（注意:要根据选用的不同公式计算）4） 测量三次求平均值，记录数据。5） 试验完成都整理仪器设备。试验示意图：试验数据： 结果分析： 根据测量的实际K值与理论K值比较，若相差极小，可视为符合要求。（根据标准）【 系统的综合性能测试】灵敏度余量直探头测试步骤：1） 选用试验过程中所需要的器材及测量工具。2） 仪器抑制于0或断开，其他调节取适当值。3） 将仪器的增益调制最大，调整衰减器，使电噪声电平达到10%满刻度，设此时衰减读数为a04） 把直探头稳定耦合后在DB-PZ20-2的试块上仔细扫查找到平底孔的最大回波，调节衰减使回波调到80%满刻度，舍此时衰减器读数a1则检测系统灵敏度余量为a=a1-a05） 记录数据，分析数据。6） 试验完成后整理试验设备。 斜探头测试步骤：1) 选用试验过程中所需要的器材及测量工具。2)仪器抑制于0或断开，其他调节取适当值。3)将仪器的增益调制最大，调整衰减器，使电噪声电平达到10%满刻度，设此时衰减读数为a04）把斜探头稳定耦合在CSK-IB试块仔细扫查R100圆弧的最大回波，找到后将调解衰减器调整到80%刻度，舍此时的衰减a1 5）整理数据两次取值计算灵敏度余量a=a0-a17） 试验完成后整理器材测试示意图：直探头和斜探头灵敏度数据计算结果：分辨率 直探头测试步骤:1) 仪器抑制至于0或断，调节适当值，直探头检测系统的远场分辨率在CSK-IA试块测试。2) 将探头压在试块上并耦合，移动探头找到85mm和91mm声程的反射波并使两波高度相等。（约为20%）3) 调节衰减器和增益使两波达到80%，二者分贝数之差，即为直探头检测系统的分辨率。斜探头测试步骤： 1）仪器抑制至于0或断，调节适当值，直探头检测系统的远场分辨率在CSK-IA试块测试 2）将