甘肃省200X年特种设备RT考试题草稿题库A、B、C卷.doc

甘肃省200X年下半年特种设备RT-级（取证）理论考试A试卷一、 是非题（对着画O，错着画X，每题1.5分，20题，共30分）1蒸锅规、热锅规对抽查焊缝的规定：经过部分射线探伤检测的焊缝，在探伤部位任意一端发现缺陷有延伸的可能时，应在缺陷的延长方向做补充射线探伤检查。 （O）2冷裂纹不仅仅发生在热影响区，也有可能发生在焊缝上。 （O）3X射线和射线都是电磁波，只是产生的方法不同，而波长相同。（X）4与Se75相比，Ir192放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数也更小些。 （X）5X射线机产生X射线的时候，主要的能量形式转换是热能而非X射线的能量。 （O）6X射线机中的焦点尺寸应尽量做大一点，可以防止靶面过热和增加发射的X射线的能量。 （X）7X射线机上的阳极罩主要用于吸收二次电子和散乱射线。 （O）8射线机中的屏蔽容器一般用贫化铀材料制作而成，比铅屏蔽体的体积、质量小许多。 （O）9潜影形成后，如果很长时间才显影，会产生潜影衰退的现象。 （O）10射线胶片的宽容度大，其的胶片梯度必然就小。 （O）11对同一种射线源，放射性活度大的源在单位时间内将辐射更多的射线源。 （O）12用像质计测定的射线照相灵敏度也称细节灵敏度，他完全等同于同样尺寸的自然缺陷可被发现的程度。 （X）13在实际透照中希望d值越小越好（即灵敏度高），检出缺陷的能力相对越强，Dd与Dmin差值越大越好，越能识别。 （O）14当使用铅增感屏，并使铅屏与胶片紧贴，此时Ui不会增大，反之Ui将会增大。 （O）15KV值200时，散射比随有效能量的降低而增大，而余高越高，散射比增大的越显著。 （O）16JB/T4730-2005标准规定，采用源在中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量的要求（黑度，灵敏度等），f值可以减小，但减小值不应超过规定值的25%。 （X）17在射线照相中，当采用铅箔增感或无增感的条件时，不遵守互易定律，E=It。 （X）18工艺卡适用对象可能是多个产品，或产品上的某一部件，或部件上的某一具体结构。 （X）19配液的容器应使用玻璃搪瓷或塑料制品，也可以用不锈钢制品，搅拌棒也应用上述材料制作，切忌使用铜、铁、铝制品。 （O）20高能射线照相的不清晰度主要是几何不清晰度，固有不清晰度的影响几乎可以忽略。 （X）二、 选择题（将正确答案的序号填入括号内，每题2分，20题，共40分）1在X射线与射线能量范围内，光子与物质作用的主要形式有：（D）A光电效应； B康普顿效应C电子对效应； D以上都是。2真空度不够，管电流不稳，导致X射线管被击穿，所以对新设备和大修或长期不用的设备必须进行X射线机的（C）。A换绝缘气体； B换冷却机油；C训机过程； D通风冷却。3影响射线照相主因对比度的因素有：（D）A缺陷高度和透照方向； B射线的波长；C显影条件； D以上A和B。4射线照相中随着透照厚度的增大，灵敏度相对有所下降，此时所说的灵敏度指的是：（A）A绝对灵敏度； B相对灵敏度；C以上都对； D以上都不对。5下列哪个不是影响射线照相灵敏度的因素公式（D）。ADd =-0434Gd/1+n； BDdDmin；Cd-23Dmin（1+n）/G；DI1 F12 = I2 F22。6灰雾度过大会损害影象（C），降低灵敏度。A对比度； B清晰度；C以上A和B； D以上都不是。7实际证明：要能识别细节，信噪比至少须达（C），甚至更高。A3-5倍； B3倍；C没有具体规定； D与信噪比无关。8随着管电压的升高，X射线的平均波长变短，有效能量（A），线质变硬，在物质中的衰减系数变小，穿透力增强。A增大； B减小；C不变； D以上都对。9采用射线源透照时，总的曝光时间应不小于输送源往返所需时间的（D）倍。A5； B6；C8； D10。10环焊缝外透法中的几何参数变化特点：当透照距离L1值减小时，若透照长度L3值不变，则K值和值（B）。A不变； B增大；C减小； D视情况而定。11采用内照法透照工艺时，在满足Ug值的前提下，焦点越靠近（C）能增加有效透照长度。AFR； BFR；C圆心位置； D没办法增加。12控制（D）的主要目的，是为了提高横向裂纹检出率。A减小几何不清晰度； B增大厚度宽容度；C提高底片对比度； D透照厚度比K值。13小径管透照时，由于辐射场的减小，必须采取工艺措施，其中：（D） A提高KV值； B降低n值；C进行有效的屏蔽等降低n值； D以上都是。14显影液活性对显影的影响，当补充液达到了原显影液体积（B）倍时，则要换显影液了。A1倍； B2倍；C3倍； D4倍。15胶片放进定影液开始到乳剂的乳白色消失为止的时间称为：（A）A通透时间； B定影时间；C显影时间； D停影时间。16一旦发生放射事故，首先必须采取的正确步骤是：（D）A报告卫生防护部门； B测定现场辐射强度；C制定事故处理方案； D通知所有人员离开现场。17直线加速器中，电子是以何种方式加速：（A）A高频电波； B加速磁铁；C中子轰击； D改变交流电磁铁磁场。18JBT47302-2005中规定，条形缺陷评定区是指与焊缝方向平行的、具有一定宽度的矩形区，当T25mm时，矩形区的宽度为：（B）A3mm; B4mm;C5mm; D6mm。19用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至：（C）A2.0 ； B2.5 ;C1.5; D4.0 。20JBT47302-2005中规定，AB级时，当焦距为700mm时，曝光量的推荐值为：（B）A10mAmin； B15 mAmin；C20 mAmin； D25 mAmin。三、 问答题（每题3分，6题，共18分）1 产生X射线需要哪些条件？答：应具备五个条件：1）发射电子；2）电子聚焦；3）加速电子；4）高真空度；5）高速电子被突然遏止。2简述X射线机训练的目的。答：新的或长期不用的X射线机使用前必须进行训练，其目的是为了提高X射线管的真空度，保证仪器工作稳定。3影响射线照相灵敏度的主要因素有哪些？答：影响射线照相灵敏度的主要有三个因素：对比度；清晰度；颗粒度。4为什么说像质计灵敏度不等于缺陷灵敏度？答：像质计灵敏度是评价射线照相技术质量的一种手段。一般说来，像质计灵敏度越高，发现的缺陷的能力越强，但像质计灵敏度和缺陷检测灵敏度之间不能划等号，后者情况复杂得多，是缺陷自身几何形状、吸收系数、位置及取向角度的复合函数。虽然人们设计了各种各样的像质计，但到目前为止，还没有一种可完美的像质计，能恰当反映出射线照相技术对各种自然缺陷的探测能力。5常用控制散射线的方法有哪些？答：1）使用铅薄增感屏，吸收部分前散射线和背散射线；2）暗袋后面衬铅版，进一步减小背散射线；3）使用铅罩和铅光阑，限制透照范围，减少散射源；4）采用铅遮板或钡泥屏蔽试件边缘，减少边蚀效应；5）采用滤板去除射线中线质较软的部分，减小边蚀效应；6）减小或去除焊缝余高，降低焊缝部位散射比。6场所辐射监测和个人剂量监测的目的是什么？答：场所辐射监测是一种预防性测量，通过测量被工作场所和环境的照射率或剂量率，可以预先估计出处于场所的人员在特定时间内将要受到的照射量和吸收剂量，从而能告戒有关人员尽可能避开危险区域，指出允许工作时间，并对改善防护条件提供有价值的资料。 个人剂量监测是一种控制性测量，通过测量被射线照射人的局部或整体的累积量，从而告诉工作人员到某一时刻以前所受到的照射量或吸收剂量，注意以后的照射量。如果被照射人受到超剂量照射，个人剂量监测不仅有助于分析超剂量的原因，还可以为射线病的治疗提供有价值的数据。四、 计算题（每题4分，3题，共12分）1用某一Ir-192射线源透照直径1m的环焊缝，曝光时间为24 min，得到的底片黑度恰好满足要求，60天后仍用该射线源透照同样厚度的直径为12m的环焊逢，问曝光时间应为多少？ 解：已知 t1 = 24 min，F1 = 500 mm，F2 = 600 mm，T=60， 求：t2 = ？ T1/2 = 75 ， A2 / A1 = （1/2）n， n = T/ T1/2 = 60/75 =08， A2 / A1 = 0574 A1t1/F12 = A2t2/F22 t2 = A1 t1 F22 / A2 F12 t2 = A1 24600600/ 0574 A1 500500 = 602 min 答：曝光时间应为602 min。2用焦点尺寸df=3mm的X射线机180KV的管电压透照5135的管子环焊缝，已知焊缝宽度b=10mm，试求（1）要求Ug=3Ui，椭圆开口间距q=5mm时的透照焦距F和透照偏移距离L0（设Ui=0.013V0.79，焊缝余高h=1.5）；（2）若透照距离L1=800mm，则此时Ug为Ui的几倍？解：已知：df=3mm，=51 mm，b=10mm，q=5mm,Ui=0.013V0.79=0.0786, Ug=3Ui=0.236, h=1.5 mm,L2=(2h)=54 mm;（1）F= dfL2UgL2=3(2h) Ug(2h)=740 mm;L0=FL2L2(bq) ; L2=h=52.5mm; L0=196mm;(2) 设Ug=X Ui;F= dfL2UgL2L1= dfL2UgL1= dfL2X UiX= dfL2L1Ui;X= dfL2L1Ui=3548000.0786=2.58倍。答：(1)要求Ug=3Ui，椭圆开口间距q=5mm时的透照焦距F=740mm和透照偏移距离L0=196mm; (2) 若透照距离L1=800mm，则此时Ug为Ui的2.58倍.3射线透照外径为D=4000mm 的筒形压力容器双面焊缝，容器壁厚T=30mm，加强高为h=2mm，射源焦点尺寸为df=33 mm，（透照厚度比K=11）。求：最短透照距离L1min=？，当L1=600mm时，最少曝光次数N=？(注：胶片长度为360mm)和有效评定长度Leff=？ 解：已知： T=30mm，h=2mm，K=11（max=24620），D=4000mm，df=33 mm ，L2 = T + 2h = 34mm 。求：1）L1=？K=11为AB级。 f10dfL22/3 L1 = 103342/3 315mm； 说明只要大于315mm的焦距时，Ug就能满足要求。则我们一般取L1=600mm；F=600+34=634mm； 符号FR 。 2）N=？ =Cos-11/K = Cos-11/1 1 = 24620 ； = Sin-1（D/D-2F Sin） = Sin-1 （4000/4000-2634 Sin24620 ）=3760 =- = 3760 - 24620 = 12980 N = 1800/ = 1800/ 12980 = 1387次，取 14次 （不管小数是多少，必须往前进一位） 就胶片来讲，一般最长为360mm，所以我们取的 L3MaX=320mm， Nmin = 40次 ； 3）Leff=？ Leff=L3，+L=320 + 2 L2tg = 320+ 234tg24620=352mm。 答：L1min=315mm；Nmin = 40次；Leff=352mm。甘肃省200X年下半年特种设备RT-级（复证）理论考试A试卷一、是非题（对着画O，错着画X，每题1.5分，20题，共30分）1容规中指出压力容器的焊接接头，应先进行形状尺寸和外观质量的检查，合格后，才能进行无损检测。有延迟裂纹倾向的材料应在焊接完成24h后进行无损检测；有再热裂纹倾向的材料应在热处理后再增加一次无损检测。（O）2热裂纹只有纵向的，没有横向的。 （X）3单壁透照中，像质计放置在源侧比放置在胶片侧只差一根丝，因此只要多显示一根丝就行了，无须进行对比试验。 （X）4JB/T4730-2005标准中规定仅允许A级以双片叠加观察，不允许AB级、B级采用双片叠加观察法。 （O）5JB/T4730-2005标准中规定“各级别的圆形缺陷点数可放宽1-2点。”就意味着评片人员对圆形缺陷评级可以放松。 （X）6JB/T4730-2005标准中规定：在采用源内透照方式时，允许焦距小于规定值。 （O）7在保证能穿透工件的前提下，使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低固有不清晰度。 （O）8试验证明，平板试件照相，底片最佳黑度值大约在2.5左右。 （O）9对于射线来说，穿透能力取决于放射源的居里数值的大小。 （X）10焦距对射线照相灵敏度的影响主要表现在几何不清晰度上。焦距F越小，Ug值越小，底片上的影象越清晰。 （X）11在底片黑度不变的前提下，提高管电压便可以缩短曝光时间，从而提高工作效率，但其代价是灵敏度降低。 （O）12较小的透照厚度和横向裂纹检出角不利于提高底片质量和裂纹检出率。（X）13.在大多数情况下，透照厚度比和横向裂纹检出角随一次透照长度的增加而增大，这对射线照相质量是不利的。 （O）14.曝光曲线必须通过试验制作，试验制作后，由于每台X射线机的曝光曲线形式都相同，所以都可通用。 （X）15底片上的影象应在适当条件下得以充分显示，以利于评片人员观察和识别，这于观片设备和环境条件有关。 （O）16电离辐射是不能够完全避免的，因此盲目增加防护成本是没有意义的。（O）17在射线照相中，当采用铅箔增感或无增感的条件时，不遵守互易定律，E=It。 （X）18只要严格遵守辐射防护标准关于剂量当量限值的规定，就可以保证不发生辐射损伤。 （X）19按ASME规范要求，透照双面焊缝使用的孔型像质计，应在孔型像质计下放垫板，垫板厚度应为上下焊缝余高之和。 （O）20暗室内的工作人员在冲洗胶片的过程中，会受到胶片上残余射线剂量的衍生的射线照射，因而白血球也会降低。 （X）二、选择题（将正确答案的序号填入括号内，每题2分，20题，共40分）1JBT4730-2005标准中所规定的射线照相技术适用下面（A）A对接接头对接焊缝； BT形接头对接焊缝；C角接接头角接焊缝； DT形接头角焊缝。2GB12337-1998钢制球形储罐对局部检测的焊接接头，如发现有不允许的缺陷时，应在该焊工所焊焊接接头缺陷两端的延伸部分（B）抽查。A一倍； B两倍；C三倍； D四倍。3随着管电压的升高，X射线的平均波长变短，有效能量（A），线质变硬，在物质中的衰减系数变小，穿透力增强。A增大； B减小；C不变； D以上都对。4采用内照法透照工艺时，在满足Ug值的前提下，焦点越靠近（C）能增加有效透照长度。AFR； BFR；C圆心位置； D没办法增加。5显影液活性对显影的影响，当补充液达到了原显影液体积（B）倍时，则要换显影液了。A1倍； B2倍；C3倍； D4倍。6影响射线照相主因对比度的因素有：（D）A缺陷高度和透照方向； B射线的波长；C显影条件； D以上A和B。7环焊缝外透法中的几何参数变化特点：当透照距离L1值减小时，若透照长度L3值不变，则K值和值（B）。A不变； B增大；C减小； D视情况而定。8一旦发生放射事故，首先必须采取的正确步骤是：（D）A报告卫生防护部门； B测定现场辐射强度；C制定事故处理方案； D通知所有人员离开现场。9如果不考虑光解银对感光乳剂显影的引发作用的差异，互易律可引申为底片黑度只与下面哪一条有关：（A）A总的曝光量相关； B辐射强度；C辐射时间； D周围环境。10源在外侧的透照方式与源在内的透照方式相比，对容器内壁表面裂纹有更高的检出率是哪个？（B）A源在内的透照方式 ； B源在外侧的透照方式；C以上都对； D以上都不对。11双壁透照的直透法比斜透法更容易检出（C）。A未焊透缺陷； B根部未熔合缺陷；C以上A和B； D不易检出。12产生散射线的物体称作散射源，在射线透照时，凡是被射线照射到的物体都成为散射源，其中最大的散射源是（D）。A暗盒； B墙壁；C空气； D试件。13大厚度比试件的透照的特殊技术措施是（D）。A提高管电压技术； B双胶片技术；C补偿技术； D以上都是。14在新的胶片分类标准中，用“胶片系统”取代“胶片”进行分类，所谓“胶片系统”包括了（D）。A胶片； B增感屏；C冲洗条件； D以上都是。15评片人员对观察到的影象应能做出正确的分析和判断，这取决于评片人员的（C）。A知识和经验； B技术水平和责任心；C以上A和B； D主要是眼睛。16在GB18771-2002防护标准对职业照射剂量限值中，对任何一年中的有效剂量控制在（B）以下。A20mSV; B50mSV; C150mSV; D500mSV。17加速器照相一般选择较大的焦距，其目的是（A）。A为保证有足够大的辐射照场； B减小几何不清晰度；C减小固有不清晰度； D以上都不是。18JBT4730.2-2005标准中对单壁透照规定像质计放置在源侧，无法放置时可以放置在胶片侧，但必须（A），并放置“F”铅字做标记。A进行对比试验； B多看一根钢丝；C无所谓； D以上都对。19在实际评片中发现了圆形缺陷为级，条形缺陷为级，按JBT4730.2-2005标准中综合评级规定，该缺陷组应综合评级为（D）。A级； B级；C级； D级。20用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至：（C）A2.0 ； B2.5 ;C1.5; D4.0 。三、问答题（每题3分，6题，共18分）1辐射防护的目的有哪两个方面？答：一方面是防止有害的确定性效应；另一方面是限制随机性效应的发生率，使之达到被认为可以接受的水平。2为什么JBT4730.2-2005标准：采用源内透照方式时，允许焦距值小于规定值？答：之所以这样规定，是为了使人们在单壁透照和双壁透照方式之间选择时，能尽可能多采用单壁透照；在源内单壁透照和源外单壁透照之间选择时，能尽可能多采用源在内单壁透照方式。单壁透照比双壁透照的灵敏度高得多，其灵敏度增量足以弥补焦距值减小，几何不清晰度增大造成的灵敏度损失。比较源在内单壁透照透照方式和源在外单壁透照方式，前者比后者有更小的横向裂纹检出角或更大的一次透照长度，底片上的黑度也更均匀。因此，将焦距值适量减小从而选择源在内单壁透照透照方式对照相灵敏度和缺陷检出是有利的。3应用射线双壁双影法透照100mm以下小径管环缝或双壁单影法透照100mm-400mm管子环焊缝应注意哪些问题？答：（1）严格执行标准中关于源的最小透照厚度的规定。当管子壁厚在透照厚度下限放宽的范围时，应按照有关附加规定，即：经合同各方同意，并采取保证像质计灵敏度的有效补偿措施。 （2）严格执行标准中关于射线源至工件表面的距离F的规定。采用3 mm3mm焦点的源双壁单影法透照219mm以下管子环焊缝，如果源紧贴管子表面，几何不清晰度偏大，f值不能满足标准的要求。 （3）可考虑选择更高等级的胶片。尤其应用Ir192源透照壁厚10mm-5mm的管子，或Se75源透照壁厚5mm-2.5mm的管子时，应选用T2或更高等级的胶片。 （4）应保证足够长的曝光时间。以3min-5min为宜，至少应不小于输送源往返所需时间的10倍。要避免用大活度源照薄壁管，曝光时间短到几秒或几十秒的情况。（5）应采取有效的散射线屏蔽措施。4JBT4730.2-2005标准中关于像质计选用的依据有哪些？答：像质计选用的依据有4个。（1）透照厚度；（2）透照方式；（3）像质计放置位置（源侧或胶片侧）；（4）射线照相技术等级。5任何的曝光曲线只适用于一组特定的条件，这些条件包括那些？答：（1.）所使用的X射线机；（2.）一定的焦距；（3.）一定的胶片类型；（4.）一定的增感方式；（5.）一定的的冲洗条件；（6.）一定的的基准黑度。6单壁透照中，像质计放置在源侧比放置在胶片侧只差一根丝，因此只要多显示一根丝就行了，无须进行对比试验，这一说法对不对？答：不对。虽然多数情况下像质计放置在源侧比放置在胶片侧差一根丝，但这种关系不是确定的。像质计放置在源侧和放置在胶片侧的显示至少受以下三个因素影响：（1）因透照几何条件改变对几何不清晰度的影响；（2）因透照几何条件改变对细金属丝影象对比度的影响；（3）散射线的影响。如果源的尺寸很大，或焦距F很小，或工件表面到胶片距离很大，或需要识别的线径很细，或散射比很大，都有可能导致像质计放置在源侧比放置在胶片侧差两根丝，甚至更严重。JBT4730.2-2005标准坚持，单壁透照中像质计放置在胶片侧必须进行对比试验。进行对比试验时，所使用的源、胶片系统、工件尺寸、透照几何条件应与实际一致，应以母材部位识别的线径作为灵敏度差异结果。四、计算题（每题4分，3题，共12分）1用某一X射线机透照某一试件，原透照管电压为200KV，管电流为5mA，曝光时间4min，焦距为600mm，现透照时管电压不变，而将焦距变为900mm，如欲保持底片黑度不变，问如何选择管电流和时间？ 解：已知i1 = 5 mA ，t1 = 4 min，F1 = 600 mm，F2 = 900 mm，求：t2 = ？ i2 =？ i1t1/F12 = i2t2/F22 i2t2 = i1t1 F22 / F12 i2t2 = 54900900 / 600600 = 45 mA min （一般X射线机的管电流是一定的，则i2 = 5 mA；） t2 = 9 min 答：第二次透照的曝光量应为45 mA min，可选择管电流5 mA，曝光时间9 min 。2用X射线透照某工件，黑度D0=20，用胶片A照相时，曝光量为12 mA min，现改为用胶片B照相，求此时所需曝光量为多少？（用胶片A对应的lgE1=a=38，胶片B时对应的lgE2=b=45） 解：已知： E1=12 mA min，用胶片A对应的lgE1=a=38，胶片B时对应的lgE2=b=45，求： E2 = ？ E2 = E1 10lgE2-lgE1 = E1 10（b-a） = 1210（45-38） = 60 mA min 答：曝光量为60 mA min。3源在外单壁透照环向对接接头，透照厚度比K1.1，根据JBT4730.2-2005透照次数曲线图求出直径为3200mm，厚度为160mm，焦距为1280mm的透照次数为多少？解：已知：K1.1、3200mm、T160mm、f1280mm；求：N？T16032000.05；又f320012802.5;查出是17次,又根据要求当交点在两区域的分界线上时,应取较大数值作为所需的最少透照次数,所以应取18次。答：透照次数为18次。 甘肃省200X年下半年特种设备RT-级（取证）理论考试B试卷一、 是非题（对着画O，错着画X，每题1.5分，20题，共30分）1GB150-1998钢制压力容器中规定：进行局部探伤的焊接接头，发现有不允许的缺陷时，应在该缺陷两端的延伸部位增加检查长度，增加的长度为该焊接接头长度的10%，且不小于250mm。 （O）2金属材料工艺性能包括力学性能、物理性能和化学性能等。 （X）3X射线和射线都具有辐射生物效应，能够杀伤生物细胞，破坏生物织。 （X） 4当X射线穿过4个半价层后，其强度仅剩下原来的18。 （X）5对不同的射线源，即使放射性活度相同，也不表示它们在单位时间内辐射的射线光量子数目相同。 （O）6胶片的颗粒度和Ui无直接联系概念（不能导出胶片的颗粒度越小，Ui越小的关系式）。 （O）7真空度不够，管电流不稳，导致X射线管被击穿，所以对新设备和大修或长期不用的设备必须进行X射线机的训机过程。 （O）8同一种放射性同位素源，放射性活度大的源其辐射的射线强度也大，不同种放射性同位素的源也是一样。 （X）9通常感光度高的胶片要比感光度低的胶片灰雾度要小。 （X）10增感屏表面有油污或有突出的部位，就形成了减感现象，使底片上产生白影。 （O）11像质计灵敏度越高，则表示底片影象的质量水平越高，因而也能直接地定性反映出射线照相对最小自然缺陷检出能力。 （X）12只有DdDmin时，才能发现最小线经尺寸，也就是Dmin越大越好。 （X）13一般说来，颗粒度随胶片粒度和感光速度的增大而减小，随射线能量的增大而增大，随曝光量和底片黑度的增大而减小。 （X）14当使用荧光屏，会产生一个附加不清晰度。 （O）15KV值200时，散射比随有效能量的降低而增大，而余高越高，散射比增大的越显著。 （O）16随着管电压的升高，X射线的平均波长变短，有效能量增大，线质变硬，在物质中的衰减系数变小，穿透力减小。 （X）17采用射线源透照时，总的曝光时间应不小于输送源往返所需时间的10倍。 （O）18工艺卡适用对象可能是某一具体产品，或产品上的某一部件，或部件上的某一具体结构。 （O）19环缝双壁单影照相，搭接标记应放在射源侧，底片的有效评定长度是底片上两搭接标记之间的长度。 （X） 20冲洗胶片时，只要使用安全灯，胶片就不会出现灰雾。 （X ）二、 选择题（将正确答案的序号填入括号内，每题2分，20题，共40分）1发生光电效应的前提条件是： （B）A电子的逸出能必须大于光子能量；B光子能量必须大于电子的逸出能；C光子能量必须等于电子能；Dh102MeV2X射线和射线的折射系数非常接近于（A），所以折射的方向改变不明显。A1； B2；C3； D4。3连续谱存在着一个最短波长min，其数值只依赖于（B），而与靶材无关。A管电流； B外加电压；C光子能； D电子能。4根据能量守恒定律，只有当入射光子能量h1.02Mev时，才能发生（C）。A光电效应； B康普顿效应；C电子对效应； D瑞利散射。5周向辐射X射线管的阳极靶的形式有（D）两种。A圆焦点和线焦点； B小焦点和大焦点；C阴极和阳极； D平面阳极和锥体阳极。6Se75射线源的平均能量是0.206MeV，半衰期是（B）。A74天； B120天；C53年； D33年。7目前锅炉、压力容器工业射线照相中所选择的胶片类型是（B）。A增感型胶片； B非增感型胶片；CA和B； D都不是。8对铅箔增感屏来说，散射线消除率是随铅箔厚度的变化而变化的，当铅箔厚度大，散射线消除率会（A）。A增大； B减小；C不变； D不确定。9在射线透照中，选择透照方向是很重要的，不仅影响（D），而且还影响到缺陷的检出。A胶片对比度； B几何不清晰度；C固有不清晰度； D主因对比度。10从（A）角度考虑X射线能量的选择的原则是：在保证穿透力的前提下，选择能量较低的X射线。A射线照相灵敏度； B几何不清晰度；C底片曝光时间； D底片的感光程度。11曝光量不只影响影像的黑度，也影响影像的对比度、颗粒度以及（D），从而影响底片上可记录的最小细节尺寸。A几何不清晰度； B固有不清晰度；C主因对比度； D信噪比。12对环焊缝的各种透照方式中，以源在内中心透照周向曝光法为最佳，该方法透照厚度均一，横裂检出角为（A），底片黑度、灵敏度俱佳，缺陷检出率高。A00； B900；C1800； D以上全对。13按散射的方向对散射线分类，可将来自暗盒正面的散射线称为（C）。A边蚀散射； B背散射；C前散射； D侧散射。14搅动对显影的影响是：（D）A可以使乳剂膜表面不断地与新鲜药液接触并发生作用；B加快显影速度，还保证了显影作用均匀；C搅拌的结果加速了感光多的部分的显影速度，从而提高了反差；D以上都是。15观察双壁单影透照纵焊缝的底片，其搭接标记以外应有附加长度L，才能保证无漏检区域。附加长度L的数值为（C）。AL L1L2L3； BL L2L1L3； CL L2 L3L1； DL L1L3L2 。 16厚板焊接结构消除应力处理过程中，当热影响区的粗晶存在不同程度的应力集中时，由于应力松弛所产生附加变形大于该部位的蠕变塑性，则发生（B）。A结晶裂纹； B再热裂纹；C延迟裂纹； D层状撕裂。17现场进行X射线检测时，应按照GB16357的规定划定控制区和管理区、设置（A）。检测工作人员应佩带个人剂量仪，并携带剂量报警仪。A警告标志； B透照计划；C设备信号； D入进区。18在射线底片上发现了一条长度为2mm的条形缺陷，按JBT4730.2-2005标准应评为（B）级。A级； B