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文档简介

仪器分析实验 教案实验题目:X射线粉末衍射分析教学目标:1、了解X射线粉末衍射仪的原理、结构及使用;2、掌握使用X射线衍射仪对单一成分定性分析。教学重点:掌握使用X射线衍射仪对单一成分定性分析。教学难点:X射线粉末衍射仪的原理、结构。仪器药品: XRD-6000粉末晶体衍射仪,二氧化钛,氧化锂,氧化钙,二氧化硅。教学方法: 讲授、演示教学时数:4学时教学过程: (教师授课思路、设问及讲解要点)一、实验原理晶体:原子、离子、分子在空间周期性排列而构成的固态物,三维空间点阵结构;点阵 + 结构基元;晶胞:晶体中空间点阵的单位,晶体结构的最小单位;晶胞参数:三个向量a、b、c,及夹角a、b、g ;r,s,t;1/r,1/s,1/t:晶面在三个晶轴上的截数和倒易截数1/r1/s1/t=hkl;晶面(110)与C 轴平行;x射线:波长位于0.001-10nm,与晶面间距d数量级相当,且有强的穿透能力,在x射线作用下晶体的散射线来自若干层原子面,除同一层原子面的散射线互相干涉外,各原子面的散射线之间还要互相干涉。这里只讨论两相邻原子面的散射波的干涉。过D点分别向入射线和反射线作垂线,则AD之前和CD之后两束射线的光程相同,它们的程差为AB+8C2dsin。当光程差等于波长的整数倍时,相邻原子面散射波干涉加强,即干涉加强条件为:二、仪器组成与工作原理1、单色X射线源循环冷却系统 高速运动的电子突然受阻,由于与物质的能量交换作用,从而产生了X射线。阴极由钨灯丝构成,灯丝被3-4A电流加热后,发出大量的热电子,电子经聚焦和5000-8000v的电压加速后撞击阳极金属靶(由Cu、Mo、Ni等熔点高而导热性好的金属组成),电子突然减速或停止运动,大部分能量以热辐射(约99.5以上)的形式耗散掉,少部分能量以X射线的形式向外辐射,产生X射线谱,为避免靶材长期受热熔解,加循环冷却水可使靶面迅速冷却。X射线与靶面约成6角处的强度最大,所以,在此角度上开一窗口(窗口材料由对X射线吸收很小的钹片组成),让X设想透过。大功率的衍射射仪采用专靶X射线管(靶面每分钟做几千次旋转,增强冷却效果)。 X射线管发出的X射线有两部分:一部分是连续波长的X射线,另一部分是由阳极靶材决定的特征X射线,称为特征谱,也成单色谱。特征谱是由靶材中原子内层电子跃迁产生的。高速运动的电子击靶时,具有高能量的电子深入到靶材料的原子中,激发出内层电子,原子处于不稳定的激发态,邻近层的电子立即自发地填入空穴,同时伴随多余能量地释放,产生波长确定的X射线。比如Cu Ka,由L层电子迁到K层产生X射线,L层有多个电子,分为不同能级,又产生Ka1、Ka2,Kb由M层电子跃迁到K层。 Ka产生的概率最大,因而强度最大,比Kb大4-5倍,比附近连续波长强度大90,当选择Ka为光源时,其他的辐射因强度小易被去除。波片的选择,它的K吸收波长介于X射线发出的Ka与Kb之间,大量吸收Kb线及大部分连续的X射线,而对Ka吸收很小,只让Ka通过。2、样品台粉末样品应有足够的晶粒参与衍射(晶粒的杂乱无章,使得每个晶面都参与了衍射,相当于x射线对晶面的扫描),需粒径足够小,脆性物质制备宜用玛瑙研钵研细,粉末粒度要求15m,定量分析约在0.1-2m,手搓无粒感,用量1-2g。3、检测器试样本身为衍射晶体,试样平面旋转2q;光源以q 角对试样进行扫描;工作前需把2 q 转过一个角度(约3-4),防止射线源直接进入计数器。 发射狭缝的作用在于控制入射X射线束的水平发射角,发射角越大,衍射线强度越大,入射线照到样品的宽度越大,平板样品的衍射聚焦程度越差,产生衍射峰宽化越明显,一般小于4。三、仪器与药品1、仪器:XRD-6000粉末晶体衍射仪2、药品:二氧化钛,氧化锂,氧化钙,二氧化硅。四、实验步骤1、开启冷却水。2、开启XRD电源(POWER指示灯亮)。3、启动计算机,在XRD稳定2分钟左右后,进入桌面Pmgr系统;将被测样品放置在测试架上。4、点击画面上Display & Setup,点击Close出现对话框后,再点击“确认”。5、点击画面上Right Gonio condition,双击空白处,出现Standard Condition Edit对话框,进行实验条件设定及对样品取名;同时点击画面上Right Conio Analysis。6、在实验条件设定后,点击Append、Start。进入Right Conio Analysis画面,点击Start。XRD开始测试。7、点击画面上Basic Process,进行数据处理(得到2、d值、半峰宽、强度数据等)。8、操作完成后,退出Pmgr系统。9、关闭XRD电源。10、冷却水应继续工作20分钟后方可关闭。11、关闭所有电源。12、做好运行记录。五、数据处理 查阅JCPDS卡或计算机检索JCPDS卡数据库分析。六、注意事项1、取供试品用玛瑙研钵研细,粉

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