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文档简介

拉曼光谱仪（Renishaw inVia）检定规程光谱稳定性与重复性repeatability， （重复性是考验仪器的最重要指标之一, 此检测条件与仪器设计无关）重复性：光栅动。 每次检测，光栅从0波数到最大波数移动，再回到检测位置（0波数）。使用表面抛光的单晶硅，扫描范围：100 4500 cm-1，（不能采用光栅先回到 -4000cm-1，再定位到0波数扫描的方式），重复不少于30次。观测硅一阶峰中心位置重复性好于 = ？cm-1 。 稳定性：光栅不动，（此试验较为容易），使用表面抛光的单晶硅，扫描范围：100 1000，重复不少于30次，观测硅一阶峰中心位置重复性好于 = ？cm-1 。仪器灵敏度：Sensitivity : 一般性实验条件：检测硅三阶峰，（信噪比越高越好）检测条件为：激光输出功率约为20mw，波长514nm 或532nm ，狭缝宽度50微米, 曝光时间60秒，累加次数5次，（或曝光时间100秒，累加次数3次，）光栅刻线为大于等于1800刻线。binning = 1，显微镜头为 X50 或 X100。高分辨或共焦实验条件：检测硅三阶峰（信噪比越高越好）检测条件为：激光输出功率约为20mw，波长514nm 或532nm，狭缝宽度 ( Renishaw 13,000 光子计数 / 秒)，检测 激光线强度与硅一阶峰强度的比值. 使用X50或X100倍物镜，狭缝大小为通常拉曼试验设置水平。 （狭缝 = 100um; 针孔 = 200um）光谱分辨率：Resolution样品为氖灯585nm线 线半高宽一般检测条件为：狭缝宽度 = 1800刻线光栅。binning = 1，显微镜头为 X50 或 X100。 使用灵敏度条件测分辨率: 测氖灯585nm线 线半高宽 = ？ cm-1 Renishaw : Slit = 20um, 光栅 = 1800 l/mm（或2400 l/mm）, （Horiba: Slit = 100um, 光栅 = 600 l/mm, ？） 去除等离子线：Plasma line blocking:在100 4000 cm-1内无等离子线。实验条件：10mW（必要时由功
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