试验操作指导.doc

江苏东大集成电路系统工程技术有限公司Jiangsu Dongda Integrated Co.,Ltd.文件编号：P22025文件类别：三级文件文件名称：试验操作作业指导版本号： V1.0发文时间：2014.6.9页码： 6/6版本号修订号修改内容描述发文科室生效日期编制人V1.00创建本文件质管科2014.5.26赵兴国 一，目的：本文件为产品试验操作提供指导，以规范试验的操作，保证试验的准确性、有效性、可靠性二，适用范围：所有需要进行试验的产品三，定义：试产产品：第一次试做的新产品，不包含物料的小批量试产主缺：可能会引起产品预定用途的失效或降低其本质上的可用性(功能、性能不良)次缺：与已建立的标准有背离却又对产品单元的有效作用或操作几乎无影响(外观不良)四，作业内容：1. 确定试验的产品数量 正式生产的产品（包含首产），根据GB/T2829-2002判别水平II的一次抽样方案，制定规则如下：主缺C=0，不允许出现主缺不良。次缺以下表中Ac,Re为准。批量N为当日生产计划中同一主型号产品的计划数量，若主型号下的产品种类较多，则优先抽取功能多的产品做试验。批次数量样本量CAc , ReN10全部00 ， 110N20100 ， 120N100201 ， 2100N500252 ， 3500N2000323 ， 42000N5000404 ， 5N5000506 ， 7 试产产品滚落、结构耐久性、性能耐久性试验各试验2台，按键寿命、耐摩擦、防水防尘、汗液测试、盐雾试验各试验1台，其余试验累积50台。 试验需求人指定的样本量 产品认证时出具的报告2. 确定试验的项目根据企业标准，制定项目如下：静电产品均需进行静电试验，参数不得低于企业标准振动产品均需进行振动试验，参数不得低于企业标准温度温度试验分为低温、高温、加湿三种，根据试验时间及方式的不同，可分为存储试验、冲击试验、常规试验。产品均需进行常规试验，进行低温、高温、加湿试验，参数不得低于企业标准试产产品加做温度冲击试验及存储试验，参数不得低于企业标准。跌落产品均需进行跌落试验，试验参数不得低于企业标准滚落试产产品需进行滚落试验，试验参数不得低于企业标准，企标无规定时，以600次为标准。雷击含电话线通讯的产品均需进行雷击试验，参数不得低于企业标准浪涌所有配电源适配器的产品，电源适配器均需进行浪涌测试，参数不得低于企业标准。按键寿命试产产品中，按键结构第一次试做的产品，需进行按键寿命试验，试验参数不得低于企业标准。耐磨擦试产产品，外注塑件第一次试做的产品，需进行耐摩擦试验，试验参数不得低于企业标准。耐压所有配电源适配器的产品，电源适配器均需进行耐压测试，参数不得低于企业标准。泄露电流所有产品均需进行泄露电流测试，参数不得低于企业标准防水防尘企标中规定有防水防尘要求的产品，需进行防水防尘试验，参数不得低于企业标准盐雾企标中规定有盐雾试验要求的产品，需进行盐雾试验，参数不得低于企业标准汗液测试试产产品，外注塑件需进行汗液测试，要求使用酸性（PH=2.6）或碱性(PH=8.8)溶液进行试验。结构耐久性试产产品，结构第一次试做时，需进行结构耐久性试验，如下：项目参数USB座、电源座插拔5000次线材折弯1000次电池连接器用电池拆装1000次电池盖锁扣拆装2000次耳机座插拔3000次SIM卡座拆装SIM卡1000次性能耐久性试产产品，性能第一次试做时，需进行性能耐久性试验，项目参数扫描连续48小时打印连续8小时刷卡、插卡连续10万次模块开关1000次外放播放48小时识卡1000次拍照连续8小时触摸屏点屏25万次，划线10万次电池1C电流充放电循环300次根据以上项目规定如下：1） 正式生产的产品，抽取后需全部进行静电、振动、跌落、耐压、接触电流、雷击、浪涌试验2） 正式生产的产品每月首次生产时进行一次温度试验，周期为每月一次。3） 试产产品需进行全部试验项目4） 由于防水防尘、盐雾、汗液试验暂无试验设备，所以暂不进行试验，有效期为一年。如遇设备到位，则进行试验。3. 确定检测的项目外观检查，试验后观察产品外观有无异常功能检测，试验后按照作业指导书进行功能检测特殊要求1）使用电池供电的产品，需检测低电量（10%以下）的情况下，产品工作有无异常。2）刷卡、插卡消费类产品，需检测强磁卡、弱磁卡、上偏卡、下偏卡使用时，快速、慢速刷卡的成功率（大于98%）以及刷卡、插卡的舒适度。3）含WIFI、GSM、CDMA射频类性能的产品，需检测产品在低温及高温的环境下，射频工作有无异常。4）产品能给电池充电时，检测低温、高温环境下充电状态有无异常5）含触摸功能的产品，检测高温环境下签字点屏有无异常6）客户使用时需插入SIM卡的产品，需在插入SIM卡后再检测产品功能。4. 输出试验报告按照试验报告格式书写试验报告，记录试验现象需描述准确，必要时可附图片说明。五，不良处理试验中出现主缺不良现象，或者次缺不良现象的总数量超出试验允收数Ac，则判此次试验为不合格。1. 首先需分析不良现象产生的原因，不管此次试验是否为合格，均需要对产生的不良现象进行分析。分析时，按照不合格品处理流程进行。2. 针对不合格的批次，若因为试验设备出故障或者操作上的错误造成的不合格，则允许重新进行抽样试验；若造成的不合格原因能马上纠正，允许用纠正不合格原因后制造的产品重新进行抽样试验；若造成不合格的产品能通过筛选剔除或者可以修复，