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文档简介

1. 透射电镜主要有几个系统构成?各大系统的关系?答,四大系统,电子光学系统,真空系统,供电控制系统,附加仪器系统,电子光学系统为核心,其他为辅助系统1. 基态:原子核外电子按照能量最低原理,泡利不相容原理、洪特规则分布于各能级上,此时系统处于能量最低状态,称为基态。2. 俄歇电子:当高能级的电子向低能级跃迁时,所释放出的能量被某个壳层电子所吸收,并促使该电子受激发逸出原子形成的二次电子称为俄歇电子。3. 物相分析:确定材料由哪些相组成和组成相的相对含量。4. 色差:由于入射电子的波长或能量的非单一性所造成的像差。5. 振动耦合:当两个频率相同或相近的基团在分子中靠得很近时,它们的振动可能产生相互影响,使吸收峰裂分为两个,一个高于原来的频率,一个低于原来的频率。6. 热重分析:在程序控温下,测量试样质量与温度或时间关系的动态技术。1. 对于X射线管而言,在各种管电压下的连续X射线谱都存在着一个最短的波长长值,称为 短波限 ,当管电压增大时,此值 减小的 。2. 由点阵常数测量精确度与q角的关系可知,在相同条件下,q角越大,测量的精确度 越高 。7. 根据底片圆孔位置和开口位置的不同,德拜照相法的底片安装方法可以分为:正装法 、 偏装法、反装法8.3. 两组相邻的不同基团上的H核相互影响,使它们的共振峰产生了裂分,这种现象叫自旋耦合(或者自旋干扰、耦合裂分)。德拜法测定点阵常数,系统误差主要来源于相机的半径误差、底片的伸缩误差、样品的偏心误差和样品的吸收误差4. 对于红外吸收光谱,可将中红外区光谱大致分为两个区:特征频率区和指纹区。特征频率区区域的谱带有比较明确的基团和频率对应关系。5. 衍射仪的测量方法分哪两种:连续扫描法和步进扫描法。6. DTA曲线描述了样品与参比物之间的温度差随温度或时间的变化关系。7. 在几大透镜中,透射电子显微镜分辨本领的高低主要取决于物镜。8. 紫外吸收光谱是由分子中电子能级(或价电子跃迁引起的。红外吸收光谱是由分子中 振动能级和转动能级跃迁引起的。9. 有机化合物的价电子主要有三种,即s电子、p电子和n电子。10. 核磁共振氢谱规定,标准样品四甲基硅d TMS 0 。11. 红外吸收光谱又称振-转光谱,可以分析晶体的结构,对非晶体却无能为力。此种说法正确与否?否 12. 透射电子显微镜以透射电子为成像信号,扫描电子显微镜主要以 二次电子为成像信号。14.氢核受到的屏蔽效应强,共振需要的磁场强度高(大),共振峰在高场出现,其d 值小。1 凡是满足布拉格方程的皆会产生衍射,这种说法正确与否?为什么?并写出布拉格方程的矢量表达式。(10分)提要:错误。产生衍射的充分必要条件是:“反射定律布拉格方程”布拉格方程的矢量表达式:(s-s0)/=r*HKL2 运动电子与固体作用产生的哪些信号?(5分)提要:运动电子与固体作用产生的信号有:二次电子、俄歇电子、特征射线、连续射线、背反射电子、透射电子等。3 简述扫描电镜粉末试样制备的方法。(10分)提要:粉末样品需要先黏结在样品座上,黏结的方法是先将导电胶或双面胶纸黏结在样品座上,再均匀地把粉末试样洒在上面;用洗耳球吹去未黏住的粉末;也可以将粉末制备成悬浮液;滴在样品座上,待溶剂挥发,粉末就附着在样品座上得;再镀上一层导电膜得。一、填空:(每题2分,共20分)1.X射线产生的三个基本条件是(产生自由运动的电子(热阴极)、(使电子高速定向运动(加速电场)、(在电子运动路径上设置障碍物使其减速(阳极靶)。2.电子显微分析可获得材料的(显微形貌)、(晶体结构)和(化学成分)方面的信息,并且可以将三者结合起来。3.X射线衍射的强度主要取决于(结构)因子、(多重性)因子、(角(或洛伦兹)因子、(温度)因子和(吸收)因子。4.(满足布拉格方程)是衍射的必要条件;(结构因子不为零)是衍射的充分条件。5.电子显微镜的分辨本领高是由于电子波的(波长短),其理论分辨本领是由(衍射效应)和(球差(或像差)综合作用的结果。6.透射电子显微像的衬度来源于质厚衬度和(衍射)衬度,其中衍射衬度主要用于解释晶体样品,(质厚)衬度主要用于解释非晶样品。7.在X射线衍射仪中,若X射线管固定,当样品转动q角时,X射线探测器应转动(2)角;若样品固定,当X射线管转动q角时,X射线探测器应转动()角。8.在透射电镜中,明场(BF)像是用(物镜)光阑挡掉(衍射)束,只允许(透射)束通过光阑成的像。9.电子探针利用的是高能电子与固体样品作用产生的(特征X射线)信号,按照对信号的色散方式不同分为(波谱仪)和(能谱仪)。10.俄歇电子能谱利用的是(高能电子)与固体样品作用所产生的(俄歇电子)信号,通过检测该信号的(能量)来确定所含元素的表面分析方法。1.分析多晶衍射花样时,若各衍射线对应的Sin2比(X射线衍射)或R2比(电子衍射)的序列为3:4:8:11:12,则可确定该物相结构为(C)。A、简单立方B、体心立方C、面心立方D、金刚石立方2.立方晶系111晶面的多重性因子为(C)。A、4B、6C、8D、123.在TEM中进行选区电子衍射操作时,中间镜又起衍射镜作用,这时中间镜的物平面与物镜的(C)重合;选区光阑与物镜的(D)重合。A、物平面B、主平面C、后焦面D、像平面4.扫描电镜形貌像的分辨率与(C)无关。A、检测信号的类型B、样品原子序数C、放大倍数D、入射束斑直径5.对某立方晶系样品进行TEM分析,在操作矢量1gg时观察到一条直线位错。倾动样品,在2gg时上述位错的衬度消失;再次倾动样品,在3ggv时上述位错的衬度仍消失,那么该位错柏氏矢量b的方向为(C)。A、21ggrrB、21ggrrC、32ggrrD、32ggr6.在下列材料成分分析仪器中,(B)可测试元素的范围最宽。A、俄歇电子能谱B、X射线光电子能谱C、X射线波谱仪D、X射线能谱仪7.X射线衍射宏观应力测定利用的是衍射线(B)改变;而微观应力测定利用的是衍射线(C(D))改变。A、强度B、位置C、宽度D、形状8.复型技术是将材料表面形貌复制下来进行电子显微分析的方法,其中(D)可用于金属与合金中析出相的分析。A、塑料一级复型B、碳一级复型C、塑料碳二级复型D、萃取复型9.根据分析测试内容选择适当的分析仪器

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