最新X射线荧光光谱仪主要技术指标对比.doc

最新X射线荧光光谱仪主要技术指标对比项目XRF型号S8 TIGERZSX Primus/ ZSX Primus IIAXIOS/（AXIOS-ADVANCED）ADVANTXP+XRF1800生产厂家德国布鲁克AXS公司（原德国西门子axs）日本理学公司荷兰帕纳科公司(原荷兰飞利浦公司)赛默飞世尔（原瑞士ARL公司）日本岛津公司推出时间20072003200420001997高压发生器最大功率4 kW4 kW4 kW4.2 kW4 kW最大电流170 mA150 mA125mA(160mA)120 mA(140mA选项)140 mA(150mA选项)最大电压60 kV60 kV60 kV60 kV（70Kv）60 kV电流、电压快速切换功能能，并且能等功率或非等功率切换，遇含量很高的样品时，可自由调节功率只能等功率切换，遇含量很高的样品时，需要使用衰减器只能等功率切换，遇含量很高的样品时，需要使用滤光片只能等功率切换，遇含量很高的样品时，需要使用滤光片只能等功率切换，遇含量很高的样品时，需要使用衰减器能否满功率运行能，并能长期满功率运行不能不能不能不能发生器类型固态式，模块化设计油箱式固态式，一体化设计固态式，一体化设计油箱式发生器稳定性外电压波动1%时为优于0.00005%外电压波动1%时为 0.0005%外电压波动1%时为 0.00006%外电压波动1%时为 0.0001%外电压波动1%时为 0.0005%X光管低温光管技术光管头部增加冷却回路，测量液体、低熔点样品非常安全。灯丝无挥发，光管发光强度不衰减无无无无铍窗厚度75m(50m可选）75m(30m可选)75m（50m可选）75m（50m可选）75m绝缘方式陶瓷玻璃陶瓷陶瓷玻璃光路设计样品照射方式下照式，可测液体下照式，可测液体/上照射下照式，可测液体下照式，可测液体上照式，不能测液体初级光路过滤器10位4位4位3位5位滤光片数量7块4块3块3块4块样品进出仪器时保护光管的污染防护屏11块无无无无样品进出仪器时保护光谱室的污染防护屏21块（选项）无无无无XRF型号S8 TIGERZSX PrimusAXIOSADVANTXP+XRF1800测量过程中保护光管的防污染铍隔离膜DuraberylliumTM高强度铍隔离膜(选项)无有有（选项），但必须去掉一块滤光片才能安装此铍窗无测量过程中保护光谱室防止污染以及在不同类型样品间快速切换、节约氦气消耗的真空封挡，有有无有无封挡材料高透光性、高强度的高分子材料低透光性铍窗无低透光性铍窗无准直器面罩尺寸34mm, 28mm, 23mm, 18mm,8mm, 5mm35mm, 30mm, 20mm, 10mm,1mm, 0.5mm37mm,30mm, 27mm, 20mm, 10mm, 6mm38mm, 29mm, 15mm30mm, 20mm, 10mm,3mm, 0.5mm准直器交换器位数最多可安装4个准直器（细、中、粗、超粗），共6种准直器规格可选购最多可安装3个准直器（细、中、粗）最多可安装3个准直器（细、中、粗）最多可安装4个准直器（细、中、粗、超粗）最多可安装3个准直器（细、中、粗）晶体交换器位数8位，16种晶体可选10位，14种晶体可选8位，14种晶体可选9位，10位，12种晶体可选弯晶Ge弯晶，PET弯晶无Ge弯晶，PET弯晶无无测量Al、Si、P、S元素具有最好的长期稳定性、没有PET容易潮解和老化现象，是水泥、矿物、玻璃、地质、铝业应用的专用晶体XS-CEM晶体无无无无光谱室温度稳定性0.050.10.050.30.3测角仪定位方式/2分别驱动，光学定位系统/2分别驱动，机械定位/2分别驱动，直接光学位置传感器DOPS系统/2分别驱动，莫尔条纹定位/2分别驱动，机械定位最小步长0.00050.0010.002XRF型号S8 TIGERZSX PrimusAXIOSADVANTXP+XRF1800角度准确度 +/-0.001+/- 0.005+/- 0.0025+/- 0.002角度重现性 +/-0.0001+/- 0.0005+/- 0.0001+/- 0.0002+/- 0.0003最大扫描速度1200/分240/分/分327/分300/分最大转角速度2400/分1400/分/分4800/分1200/分检测系统计数器类型流气正比FC、封闭正比SFC、闪烁SC流气正比FC、闪烁SC流气正比FC（可串联封闭正比SFC）、闪烁SC流气正比FC、闪烁SC流气正比FC、闪烁SC计数器窗膜厚度0.6m0.6m1.0m0.9m1.0m多道分析器512道512道512道FC &SFC线性范围大于3Mcps最大2Mcps最大3Mcps最大2Mcps最大2Mcps动态匹配TM技术大于10Mcps无无无无转动范围17 15213 14813 14817 1537 148SC线性范围大于2.0Mcps1.5Mcps1.5Mcps1.5Mcps1Mcps动态匹配TM技术大于10Mcps无无无无转动范围0 1155 1188 1040 1150 118进样系统 软件样品最大尺寸52x47mm52x47mm51x40mm52x30mm51x38mm样品自旋速度30转/分30转/分30转/分30转/分60转/分自动进样器样品放在样品盒中测量时，最多可放60个样品；直接将40mm直径的样品放在进样器上时，可放108个样品；样品盒和直接放样的混合进样器可放82个样；托盘式进样器可放75个样品。48位X-Y二维进样器最多可放8个进样条，当样品放在样品盒中测量时，最多可放64个样品；当直接将25mm直径的熔片样放置在进样条上时，最多可放168个样。1位手动；12位转盘进样器；98位X-Y二维进样器8位转盘进样器样品类型自动识别功能有无有有无XRF型号S8 TIGERZSX PrimusAXIOSADVANTXP+XRF1800定性、定量分析软件SPECTRAplusV2分析软件有SuperQWinXRF有无标样分析软件QUANT EXPRESSTM无标样软件包，有扫描测量模式、定点测量模式和结合测量模式SQX无标样分析软件，只有扫描测量模式，没有定点测量模式IQ+无标样软件，有扫描测量模式和定点测量模式QuantAS为扫描测量模式Uniquant为定点测量模式只有扫瞄测量模式无标样分析速度最快小于2分钟最快15分钟以上最快2分钟以上最快10分钟以上最快15分钟以上定量分析与无标样分析结合模式有无无无无动态匹配TM技术有无无无无理论系数法有有有有有经验系数法有有有有有变动理论系数法有无无无无厚度修正功能有有有有有制样方法修正有无无无无自诊断软件S8 Tools软件有有有有远程诊断远程服务-维护-支持软件有有有无多层膜分析软件MLPLUS有有有有氧化物分析软件GEO-QUANT M软件无WROXI氧化物软件包无无地质样品中微量元素专用分析软件GEO-QUANT T软件无Pro-trace软件无无水泥分析软件CEMENT-QUANT软件无无无无RoHS/WEEE软件RoHS-QUANT软件无有无无油品分析专用软件PETRO-QUANT软件无无无无金属材料分析软件METAL-QUAN软件无NiFeCo软件包，铜基软件包无无XRF型号S8 TIGERZSX PrimusAXIOSADVANTXP+XRF1800计算机主机戴尔计算机，四核，最新配置计算机国内供货戴尔计算机，双核，最新配置计算机国内供货计算机国内供货显示器19液晶19液晶19液晶19液晶17液晶常规操作第二控制计算机触屏控制TM无无无无安全标准质量及安全认证通过ISO9001及EN29001认证通过ISO9001认证通过ISO9001认证通过ISO9001认证