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二、开环增益的仿真测试开环增益能够在一定程度上反映出运放电路的好坏，那么就需要对开环增益进行相应的测试，以评估运放的性能，同时为运放的提出改进的方法。我就采用下面的电路对此参数进行测试。图4.2.1 开环增益输入激励测试图在上图的电路中，在VIN1端加交流信号，而其中VIN2端接上电阻呈现出一个负反馈，同时接上一个电容到地。采用理想运放的状态去分析。那么就根据虚短虚断，下面为数学分析Vin1=vin2，那么即增益为。两边同时确对数 当时，从中可以得到增益Avd的值接近于零。当时，,从中可以增益Avd近似的等于。从上述的分析中，我们发现Avd的值与RC的值有很大的关联。为了验证分析的正确性，就通过PSpice软件仿真得到来验证两者之间的关系。下图为仿真参数设置图图4.2.2 交流仿真参数设置图图3.2 Avd与RC之间的关系图图3.3 理论分析图（参考图）在仿真图与理论分析图来看，Avd与RC的呈现一定的反比关系，会随着RC的增大而增大，在实际的仿真过程中，改变R或C的值，那么增益在不同频率的会出现不同的值，且改变电容C的值，对增益的影响相对 R来说更大。为了能够得到相对正确的增益仿真图像，就接上一个大电容和一个相对大的电阻。下图就是采用此种方式得到的最终的增益的图形。图 开环增益在上图中我们得到增益的大小为83dB，这个结果与上图方正中的最高点的值相差不多，通说运放电路在理论分析中的
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