BST电气测试要求.doc

电气测试要求目录10 引言20 检测特性30 检测要求40 测试计划/报告格式 A 设计可靠性测试说明 A1热冲击 A2振动 A3跌落 A4碰撞 A5温度/湿度 A6盐雾 A7电源通/断 A8瞬时浪涌 A9电气快速瞬变/脉冲串A10灰尘污染A11高度加速寿命试验（HALT） 10 引言本文件是关于电气和电子产品可靠性测试的公司标准。可靠性测试是产品验收过程的一个方面。其他方面不在这里讨论。11 目的本标准规定为确定产品和过程可靠性而要求的测试。20 检测特性21 目的进行可靠性的测试，利用外界和运行中的受力，找出设计与制造方面的薄弱环节。此外，证实该产品符合的某些设计要求（如标准和安全）可以同时完成。除满足最低接收标准外，最好能超过要求进行测试直到发生故障，从而确定合格与不合格之间的边界条件。30 检测要求本节规定环境和进行测试的要求，测试程序，样品大小，功能测试及诊断。此外，还定义解决测试故障的要求。所有贝思特公司的电气产品必须遵守所有要求。331设计可靠性测试（DRT）这些测试必须在产品开发期间进行，某些测试在一个产品使用后再设计之后应重复进行。测试说明印刷电路板样品数量（注4）A1热冲击2A2振动1A3跌落1A4碰撞2或多于2A5温度/湿度PCB/模件：4个A6盐雾1A7电源能/断1A8瞬间冲击1A9电气快速瞬变/脉冲串1A1.0 热冲击 本试验的目的是确定一个产品是否包括潜在的制造的组装缺陷，如裂缝和薄弱焊点。A1.1 试验条件 试验条件不应用做为设计要求说明应力只加于PCB（印刷电路板）上。需要两个样品（可能被破坏）热冲击周期数目为个。产品不施加电源，在应力操作时间中，不进行功能测试。舱室低温为TL= -20C舱室高温为TH=+60C极端温度下的操作时间(t1)应当足够使实验下的样品在极端温度下处于稳定状态。这将由实验决定或设定为分钟。两个极端之间的转换时间不大于秒。A1.2 验收标准说明应力作用后不允许有故障或误差。故障包括不能满足任何全功能检测标准，误差包括虚焊和焊锡与器件插脚之间的间隙。A1.3 测试程序说明根据规定的条件，施加热冲击(环境)。应力作用后进行全功能试验。危险点处的PCB横截面，在放大倍的显微镜下观察断面部位，寻找虚焊和或焊锡和器件插脚间的间隙（）危险点包括具有许多插脚的接头和大的器件这些点应该在产品可靠性测试计划中明确说明A2.0 振动 本实验随机振动部分的目的是验证在振动应力作用下和作用后产品的性能。这些应力作用在将产品运至工作现场，也可能在正常的使用操作中产生。 A2.1检测条件 检测条件不应作为设计要求。摆动式正弦振动正弦振动有以下条件：说明所有产品处于受力状态。振动频率范围为赫兹。振动幅度将为：o.35mm （印刷电路板）摆动次数试验时间小时每一个产品取向都处于振动状态振动试验过程中，接通电源，进行有限功能测试。A2.2 验收标准有限功能试验和目测将证实在摆动正弦振动试验中和随机振动实验后没有出现故障：A2.3 试验程序说明1在进行有限功能试验时，施加正弦振动。2振动情况进行后，进行有限功能检测和目测。A3.0 跌落实验 本实验的目的是实验在产品组装，运输和安装中因粗心而引起的跌落之后产品的性能。A3.1 试验条件 测试条件可以作为设计要求。A3.1.1 控制跌落 # 说明1本测试部分只适用于PCB和模件，没有包装到位2测试中所有正常的机械封装，电缆，盖子等都应该到位3测试中样品不加电4所有的产品边缘都应有一个跌落实验5跌落高度为100mm6跌落在混凝土或金属表面上 A3.1.2 运输包装箱跌落# 说明1本部分实验是样品处于正常运输包装中进行的。因此，不加电压。所有产品将被测试。2跌落部位：顶面和底面，所有包装角部和边缘，包装重量小于或等于20Kg3跌落部位：包装底面，底面角部和边线，包装重量大于20Kg4跌落于混凝土或金属表面5跌落高度视产品/包装质量而定，参见图A3-1图A3-1 跌落高度产品/包装质量跌落高度（mm）113200A32验收标准一个有限功能测试和目测应证明没有故障发生。A40碰撞本试验的目的是验证碰撞某些产品不会发生安全事故。A41试验条件本试验的目的不应做为设计要求。#说明1仅仅是用于普通载客的产品才做这个实验2样品经预选处理，不带电储存，在环境舱室温度0中施加输入/输出信号3小时。3该碰撞将消耗6/75焦耳（1.3m跌落高度）或13.5焦耳（2.6m跌落高度）的能量碰撞物是一个金属球，碰撞部位直径501mm，总质量：0.53kg物体从1.3m高度跌落到产品上，产品具有一个25.8103mm2或小于25.8103mm2的表面积，或从2.6m高度跌落到具有一个大于25.8103mm2的一个表面的产品上。注：物体类型，参数和跌落高度的其他组合可被用于取得相同的碰撞能量。4碰撞实验中，样品不加电源5每一个样品应碰撞3次。并应碰撞样品的不同部位6碰撞后，如果可能，应进行一个有限功能测试A42验收标准该产品可能被破坏，但碰撞将不会产生安全事故或违反规定。A50 温度/湿度本实验的目的是验证在温度循环变化和高湿度环境中和以后,该产品可以有效运行。这些应力加速在正常现场操作中可以预期的故障过程。A51实验条件实验条件不应作为设计要求（例如减少额定值）。这些条件不能精确模拟预期的环境条件。#说明1对于所有产品施加应力：(A) 对于PCB/模件类产品，电子器件已从机械封装上拆下来以保证内部环境应力能均匀地施加。(B) 分系统级产品在正常封装内部测试，所有门都关闭，盖子到位。2高温极限规定如下：PCB/模件：TH=603实验进行24个周期，见下图4在温度/湿度实验期间有限功能试验应对所有样本继续进行。然后进行全功能测试5对于输入/输出口施加额定负载或周期负载。输入功率口施加额定电源。6样品在相同的环境舱内保存30分钟，环境舱内相对湿度75%，温度25，然后置于正常的实验室条件下。7全功能测试方案必须提供多个样品A52验收标准在实验中进行的有限功能测试和在实验后进行的全功能测试应该证明没有故障发生。A60盐雾本实验目的是验证产品暴露在盐雾环境后的性能A61实验条件#说明1如果可能，将所有级别的产品，拆卸下来的样品置于盐雾环境中，并应包括装置可能在其环境空间安装的地方。例如，印刷电路板（PCB）可能从模件和分系统拆卸下来。2盐溶液应为5%（重量）的氯化钠溶于蒸馏水中的溶液。PH值为6.850.35。3实验前不需要预选处理4有三种盐雾实验时间，每种两小时，环境温度2510。5在每种实验后，产品应储存在相同的环境中（40/93%相对湿度）21小时6最后的储存期后，进行一个有限功能测试。7在有限功能实验完成后才能清洁产品8盐雾试验前，所有接头插脚和接线孔都予以屏蔽A62验收标准一个有限功能实验和目测应证明在实验过程中和实验后没有发生故障。应进行一个内部的外观检查以检验渗入的盐可能导致的故障。A70电源接通/断开本实验的目的是验证主电源（交流或直流）重复接通/断开开关动作后产品的性能。A71测试条件测试条件不应该作为设计要求#说明1所有产品都必须做这个实验2拾次接通/断开过程组合一个完整的实验。任何通断循环之间不应有延迟现象3如可能，在实验中进行有限功能测试。实验后进行有限功能测试4在输入/输出口加入额定负载和周期负载5在输入电源口加入额定电压A72验收标准#说明1实验后产品应工作2实验中保护装置（如保险丝和回路断路器）不能开路3实验中不要错误地从储存装置消除数据或将数据写入存储装置A73测试程序执行以上所述电源接通/断开循环，选择的有限功能测试必须完全符合验收标准。A80 瞬间浪涌本试验的目的是验证在对大楼交流电源（AC干线）和产品信号/控制输入/输出口施加非直接的高能脉冲时产品的操作。这种脉冲冲击典型地由照明，负载转换和功率因数补偿引起。A81检测条件检测条件可以做为设计要求#说明1(a) AC主干线口必须连接所有的测试样品和AC干线之间的接口设备（例如变压器和电源等）(b) 输入/输出口（信号/控制线，使用中长度10m），对于输入/输出口的相似类型，则只对一个口或一部分口施加应力2对于AC主干线地（LG）口，冲击开路电压峰值应为1KV， 3对于各干线线（LL）口，冲击开路电压峰值应为500V4对于各输入/输出口（信号/控制）冲击峰值开路电压应为1000V（LG），和500V（LL）。5浪涌源阻抗为：2：AC干线LL口和信号/控制输入/输出口12：AC干线LG口6产品电源和输入/输出信号是能工作的，因而能进行有限功能的测试A82验收标准一个有限功能测试应证实以下各项：峰值电压（V）标准1KV允许出现故障和损坏，但不能发生安全事故。A83检测程序#说明1交流干线LL和LG口每个电压值, 相位值极性分别两次冲击2两次冲击之间的时间最少1分钟*，应能保证可进行有限功能测试A9.0 电气快速瞬变/脉冲串 （EFT/B） 本试验的目的是验证在中等能量转变瞬间产品性能。A9.1 测试条件 测试条件可被用做设计要求。#在所有交流干线和信号/控制输入/输出口上所引起的EFT脉冲。（只有在应用中导线长度3m）. 有必要使所有在AC干线和测试样品之间的正常设备(例如，变电压，电源等)在实验时联接起来。2EFT/B 脉冲将有以下特点：l 重复频率=5和15KHzl 上升时间5nsl 冲击持续时间：50nsl 脉冲串持续时间：50msl 脉冲串周期：300ms（与AC电源电压频率不同步）l 各脉冲的等式为1.27Vp(1-e-t/t1)e-t/t2l Vp=峰值开路电压（图AB-1中定义的应用电压）l exp：e为底l t1=3.5ns t2=55.6ns3脉冲冲击实验中和后进行有限功能测试.A9.2 验收标准一个有限功能测试应证明以下各项:(1) 信号/控制 输入/输出口峰值电压 标准500V不容许故障出现500V1KV实验时容许出故障，但该产品在应力（外来干扰）消失时应能自动继续工作。没有故障和安全事故。能满足适当的产品安全要求。(2) AC干线峰值电压（KV）标准1.5允许出现故障和损坏，但不能发生安全事故。A9.3 测试程序# 说明1给各口施加特别脉冲。持续时间是进行有限功能测试必须的时间，但是每步最少1分钟。进行实验直至发生故障或达到了测试要求的极限.A10.0 灰尘污染 这项试验的目的，是确定在现场安装的，在某些仓库内的和工厂装配区中的产品对灰尘的不敏感度。A10.1 试验条件 试验条件不得用作设计要求。#说 明1 将灰尘施放在PCB和微型组件类的产品上。如果需要向腔室内施放灰尘，可把产品拆卸。2灰尘的类型是“粗糙状”的洋灰尘土(如SEA J726)。也可用其它合适的类型的灰尘。3灰尘的数量是每立方米腔容6kg。4腔内温度是不受控制的。5腔内湿度是不受控制的。6在灰尘暴露期间，产品不带电或监控。7灰尘暴露周期见图A10-1所示。8全部连接器插头和外壳布线孔都应覆盖住。9产品要装在要求的现场方位的灰尘腔室内。图A10-1 灰尘暴露周期A10.2 验收标准 有限功能性试验要检查出在灰尘暴露后，产品不出现故障。A10.3 试验程序 试验程序根据 Ref、32。#说 明1 按上述规定的周期，进行灰尘试验。2有限功能性试验进行之后才能清洁样机。等产品从灰尘腔室内移出后的15分钟之内，进行有限功能性试验。A10.4 要求的试验计划资料#说 明1 说明产品是否需要拆卸。2灰尘的类型（如果与A19.1节中所规定的标准类型不同）。3规定有限功能性试验（或者检查哪一种产品性能）。A11.0 高度加速寿命试验（HALT） 高度加速寿命试验（HALT）是在设计或重新设计电子产品和电气产品期间，所采用的一种加速应力试验（AST）。产品和制造工艺两方面都可以采用HALT表示其特性。 这个HALT方法是利用一种“试验至失败”的概念来促使和检测不足之处。其目的是使产品和工艺设计更加耐用。A11.1 试验条件 试验条件不得用作设计要求。#说 明1 对PCB和微型组件类的产品施加应力。如果需要，可以从分系统类产品中拆除PCB和微型组件。从外壳上拆除电子器件，以便应力可以均匀的的作用在电子装置上。2HALT包括下列作用的应力： “冷”和“热”温度阶段应力（包括冷启动/运行）。 快速温度循环。 6个自由度（6DOF）振动分级应力。 组合温度循环和6DOF振动。3输入功率：