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一维面内位移相移电子散斑干涉仪 简介：电子散斑干涉术是继全息干涉术之后发展起来的一种实验力学新方法。它舍弃了传统的拍摄冲印照片复杂的湿处理过程，而直接依靠光学成像系统和计算机图像采集处理系统获得干涉条纹。这种方法在工程上已得到了较广泛的运用。用于解决工程中的强度和刚度问题，并可用于残余应力测量。一维面内位移相移电子散斑干涉仪能实时观察代表面内位移的干涉条纹，也可通过相移技术获得被测表面的全场位移分布，可满足实验室科研和教学的需要。配以稳定的悬臂梁加载实验装置，使得整个系统稳定可靠，易于调节，能获得很好的教学效果。 TS-SI-1XP型一维面内位移相移电子散斑干涉仪主要技术指标 光源：半导体激光器（绿光）,输出功率20mw， 波长532nm。 相机：12801024 USB2.0数字摄像头。 镜头：25mm定焦镜头（标配），可选配其它C接口镜头。 工作距离：400800mm。 相移器：10nm。 条纹分辨率：1/20级条纹 最大范围：150mm150mm主要配置：主机：1套532nm半导体泵浦固体激光器（内置）：1个C接口镜头（f25mm）AVENIR：1个TS-1000USB摄像头（内置）：1只600mm*900mm光学平台：1套悬臂梁加载装置：1套条纹实时显示软件、相移软件各一套原理示意应用范围可用于面内二维位移场的高精度测量：数字散斑位移检测技术已被广泛地应用于工业检测中,用以提高工业检测的质量和增强对复杂材料性能的认识: 可用来检测几厘米甚至几毫米样品的面内；检测复合生物材料的特性；检测高温物体的热变形；观察透明液体中的物理现象,如在水溶液或凝胶体中晶体形成过程时密度、浓缩梯度的变化等等。教学用于材料力学和实验力学课程的实验教学。科研用于材料和结构的无损检测等。TS-SI-1ZP型一维离面位移相移电子散斑干涉仪 一维离面位移相移电子散斑干涉仪能实时观察代表离面位移的干涉条纹，配以稳定的三点弯曲梁加载实验装置和圆盘受均布载荷（气压）或集中力实验装置，使得整个系统稳定可靠，易于调节，可以获得很好的教学效果。主要技术指标 光源：半导体激光器（绿光）输出功率20mw， 波长532nm 相机：12801024 USB2.0数字摄像头 镜头：25mm定焦镜头（标配），可选配其它C接口镜头 工作距离：4001000mm 相移器：10nm 条纹分辨率：1/20级条纹 最大范围： 250mm 相移控制精度：0.01V主要配置主机：1套20mW半导体泵浦固体激光器（内置）：1个C接口镜头（f25mm）AVENIR：1个TS-1000USB摄像头（内置）：1只600mm*900mm光学平台：1套圆盘受均布载荷（集中力）实验装置：1套条纹实时显示软件、相移软件：各一套原理示意应用范围可用于测量被测物体表面离面微位移分布
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