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文档简介

自对准工艺 n SiN 在硅片上淀积一层氮化硅膜 刻出S D 保留将作为栅的位置上的SiN 即栅 S D位置自动对准了 S D扩散 去除栅区以外的SiN 厚氧 自对准工艺以Al栅为例 p 去除栅区SiN 栅氧 淀积栅 栅光刻 实际栅光刻时 S D孔也开出 超自对准工艺的主要工序是用通常方法完成基区掺杂后 在硅片上淀积一层未掺杂多晶硅 氧化掉不必要的部分 在整个芯片上淀积氮化硅膜层和二氧化硅膜层 除发射区和集电极接触孔外 其他部位的二氧化硅膜全腐蚀掉 以二氧化硅膜作掩模 把硼注入到未掺杂多晶硅内 然后腐蚀掉氮化硅 稍微过腐蚀一点 再采用选择腐蚀法把未掺杂多晶硅腐蚀去 暴露的基区宽度小于1微米 采用热氧化 同时形成P 区 去掉氮化硅 不用掩模进行硼注入 自对准形成P 基区 再在多晶硅发射极中掺入砷 扩散形成发射区 自对准工艺以Si栅为例 SiN SiN

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