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文档简介

WT-WT-E003 手机分析维修手册 手机分析维修手册 拟 日 制 期 示例机型 页 数 WT-WT-E003 目 录 一 DL 工位: 1.DL 没反应-3 2. DL 下载变红-7 二 三 SN 工位-8 CFT 工位: 1.AFC 不良-9 2.EGSM APC 不良-11 3.EGSM AGC 不良-11 4.CALL 不良-11 5.EGSM TXP 不良-11 6.EGSM BER 不良-11 四 CIT 工位: 1. 不开机-11 2. 显示不良-11 3. 触摸屏无效-12 4. 开机声音不良 -13 5. 不识 SIM 卡-14 6. 不识 T 卡-14 7. 键盘灯不亮-15 WT-WT-E003 8. 按键无效 -16 9. 无振动 -16 10. 无回音-17 11. 耳机不良-18 12. 摄像不良-19 13. 蓝牙不良-20 14. FM 调频收音机不良-22 15. 七彩灯不良-23 16. 充电不良-25 17. 不能识别 USB-26 18. 附录-27 工位: 一 DL 工位:没反应: 1.DL 没反应: 没电流: 1.1 DL 没电流:、 现所用多为 USB 下载,故应先从电池连接器供电,按 POWER 键看开机电 流是否正常,若开机电流正常(一般为 2030MA)则说明是 USB 接口(J501) 有问题(US,SS 或 CD); WT-WT-E003 若从电池连接器供电开机电流仍为零,则应先检查 VBAT 是否经过 L201 供给电源管理芯片,再检查电源部分是否正常工作,加焊或更换电源管理芯片 (展讯平台都为 PMIC 和 CPU 集成,故要加焊或更换 BBIC(U101)。 小电流: 1.2 DL 小电流: 开机电流偏小(一般在 10MA 以下),此种情况说明手机部分电路没有正 常工作, 可以先检查各个供电电压是否正常, 处在开机激发状态时用万用表 (直 流电压 20V 档)或示波器测量下图所示的电压,看电压是否正常 若电压为零或者偏低则应先检查电源部分,后检查这几个电压所供给的部分,因 为后段电路的不良会拉低供电电压值的偏低; 若上图所示的电压值都正常,则应检查 26M 基准时钟信号是否正常, 处在开机激发状态时用示波器或频谱仪(中心频率调到 26MH)测量中频(U102) 第 35 脚是否有波形,若没有则应先测量中频第 31,32 脚的供电是否正常,若供 电正常则可以判定为 X101 或 U102 为 US 或者 CD; 若此两处波形正常则应检查 U102 第 33 脚是否有波形 (用示波器或频谱仪) 以此类推一步一步测量可以判定 U102 , 为 US 或 CD, C131 为 US 或 WP,或者为 U101US,CD 或 PCB 开路 电流正常: 1.3 DL 电流正常: 开机电流正常则说明手机逻辑部分已正常工作,此时应检查 USB 连接 部分的问题,用万用表或示波器测量 USB 接口(J501)第 5,7,8 脚信号是否正 WT-WT-E003 常 , 若 正 常 则 说 明 J501 为 CD ; 若 J501 第 8 脚信号不正常, 则应检查第 8 脚与 CPU 之间的电路, FV509 如 是否 RP,R506,R512 是否 WP,T501 是否 US 或 CD,U101 是否 US,CD 或 PCB 开 路 ; WT-WT-E003 若 J501 第 5,第 7 脚信号不正常,则应检查此两脚与 CPU 之间的电路, 如 FV501,FV502 是否 SS,U101 是否 US,CD,或 PCB 开路; 大电流: 1.4 DL 大电流: 此情况一般都为电路中某一个电压(VDDNF,VMEM,VDDIO,VDD,VCHG, VDRIVE,VRF,VCAMERA,VCAM-CORE)对地短路或对地阻值很小所造成的,用万 用表蜂鸣档,取红表笔接地,黑表笔接各个电压的的滤波电容上即可,若某一个 电压对地阻值很小或为零, 则检查此电压所供给的部分, 看是否有元件 SS 或 CD。 短路: 1.5 DL 短路: 此情况都为 VBAT 对地短路所造成的(测量方法同上),此时则应检查 与 VBAT 相连的有关电路,其它则可以不用考虑,以节省分析所用的时间,如下 图所示,此芯片不是 VBAT 直接对其供电,所以 DL 短路的主板不用考虑是此芯片 的不良引起的。 WT-WT-E003 同样,如 FLASH,蓝牙控制芯片,触摸控制芯片等都不会引起主板 DL 短路; 上电电流不归零( MA): 1.6 上电电流不归零(20 多 MA): 此种情况多为 32.768 没起振所造成,用示波器量 32.768 是否起振,若没 起振,应检查周边的电路(C209,C210,R205,R206 及 CPU),更换 X201,加焊或 更换 U101; 下载变红: 2. DL 下载变红 此项不良为程序下载到中途时出错,先应检查 VMEN 供电是否正常,而 多数情况为 FLASH 与 CPU 之间的数据(DATE)线或地址(ADDRESS)线通路有问 题,加焊或更换 FLASH,CPU; WT-WT-E003 其次如下图:FLASH 片选,SRAM 片选,读写信号,片选低八位,高八位,复位信 号等也是必须的,只是实际维修时此不良极少碰到; 工位: 二 SN 工位:此工位相对比较简单,首先应确认软件是否正确,重新下载软件,再到 WT-WT-E003 CIT 工位看是否能开机,其次,FLASH 硬件不良也会引起 SN 扫不进; 工位: 三 CFT 工位:不良: 3.1 AFC 不良: 中文解释为自动频率控制,综测仪检测并校准手机 AFC,记录 DAC 值, 写进手机 NV 参数表, 此项不良维修方法为: 用发射软件使主板处于发射状态 (先 使用 GSM900MH 频段,信道选择 62,功率等级选择 5),用频谱仪探针测量射频 头处的发射波形是否正常: 波形正常: 3.1.1 波形正常: 再测量 DCS1800MH 频段,信道选择 700,功率等级选择 0,看发射波形是 否正常,若波形不正常则应将波形修好(修法同 GSM900,下面有讲解),若波 形正常则应先检查手机 RX 部分 (因为接收不良也会引起 AFC 不良) 再更换 26M , (X101),因为 26M 本身的频偏用频谱仪很难直观地看出,还有,中频,射频头, CPU(少见)不良也可能引起 AFC 不良,最后,射频头后段的电阻电容也会引起 AFC 不良; 波形偏小: 3.1.2 波形偏小: 用频谱仪测量 C130 处波形正常,而 C105 处波形偏小或无波形,则应先 用示波器测量 C104 处的 VBS1 是否正常,若不正常则判定为 CPU 为 US 或 CD;若 正常则可判定天线开关(U103)为 US,SS 或 CD. 用 频谱仪测量 R107 处波形正常而 C130 处波形偏小,则可以判定射频功放 (U104)为 US,SS 或 CD,若 C130 处无波形则应先检查 VBAT 是否供电正常, 还有射频供电(VRF),PA 使能信号(TX-EN)PA 放大控制信号(RF-RAMP) 是否正常,若正常则可判定 U104 为 US 或 CD;若 不正常则应检查各电压, 信号相通的电路,看 CPU 是否 US,SS,CD 或与 CPU 之间是否开路; WT-WT-E003 用频谱仪测量中频第 15 脚, 若没有波形或者波形很偏很杂则应先检查中频第 11, 12,13,25,28,29 脚的供电电压是否正常,第 1,2,3,4,5,6,7,9,10 脚的时钟信号, 使能信号, 信号等是否正常 IQ (此几信号都可以用示波器测量) , 若不正常则应检查与其相连的电路(R101,R102,R103,RN101,R105,R106, CPU 等 ) , 若 正 常 则 可 以 判 定 中 频 ( U102 ) 为 US 或 CD ; WT-WT-E003 GSM不良: 3.2 GSM-APC 不良: 中文解释为自动功率控制,此项不良多为发射功率偏低引起,维修方 法可参考 AFC 不良的维修方法, 只是有必要时应逐一测量各个功率等级的波形是 否正常,若用频谱仪测量出的波形是正常的则可更换射频功放或天线开关; GSM不良: 3.3 GSM-AGC 不良: 中文解释为自动增益控制,手机从机站接收到信号经天线开关,RX 滤 波器,经中频转换成 IQ 信号输送给 CPU 进行调制解调,此项不良多为天线开关 (U103),RX 滤波器(U105),中频(U102)US 或 CD 引起,其次还有 U105 周 围的电容,电感; 不良: 3.4 CALL 不良 中文意思为呼叫建立失败,因之前已经对手机进行了严格的 TX,RX 校 准,故可以暂不考虑射频部分,多为 CPU 处理电路有问题,其次软件故障也会引 起该项不良; GSM不良: 3.5 GSM-TXP 不良: 中文意思为发射功率不良,该项是测试 900MH 频段的发射功率,若有不 良一般都为射频功放或 CPU 引起(此项 FAIL 较少); GSM不良: 3.6 GSM-BERR 不良: 中文解释为接收误码率偏差,此项不良多为 RX 滤波器(U105)及其相 关电路衰减过大所引起的。 工位: 三 CIT 工位:不开机: 1. 不开机: CIT 夹具有电池接口供电和 TP 供电,故应先检查 TP 是否接触不良,电 池接口是否 US;其次应检查开机键内圈是否有 VBAT 电压,若有可再检查开机触 发信号(PBINT)一路,如 R657,R658,D616 等; 显示故障: 2. 显示故障: 开机黑屏: 2.1 开机黑屏: 首先应检查 BACKLIGHT 控制芯片(U703)的供电(VBAT 直接供电)是否 正常,若不正常则多为 PCB 开路;使能信号(LCMBL-EN)是否正常,若不正 常则 CPU 为 US 或 CD 或 PCB 开路;若信号正常,则可判断 BACKLIGHT 控制芯 片(U703)为 US 或 CD,若更换 U703 仍无效,则应检查 PCB 是否开路; 开机白屏,花屏: 2.2 开机白屏,花屏: 开机状态下用示波器测量 LCD 接口 (J702) 20 至 24 脚的读写, 第 片选, WT-WT-E003 复位等各个信号是否正常,第 18,19 脚的电压是否正常,若不正常则应检查 FV702 是否 US 或 SS,CPU 为 US 或 CD,其次可用万用表检查第 117 脚与 CPU 之 间的数据线是否连接正常,检查 FV703FV706 是否 US 或 SS; 3. 触摸屏无效: 触摸屏无效: 该 触 摸 电 路 较 简 单 , 直 接 由 CPU 控 一 静 电 保 护 器 件 , 一 般 情 况 为 R704,R705WP,FV701SS 或者 CPU 为 US 或 CD; 制,经电阻到显示屏接口,另外还有 WT-WT-E003 开机声音不良: 4. 开机声音不良 开机无音: 4.1 开机无音: 响铃时用示波器量 C444 和 C445 处的是否有波形,若有波形则检查后 段的电路,看 L407,L408 是否 US 或 WP,FV405,FV406,FV416,FV417 是否 SS; WT-WT-E003 若波形正常则应检查 U401 (音频功放) 的使能信号, 放大信号是否正常, 若不正常, 则可判定 U101 为 US, 或 CD;若都正常, SS 则检查 U401 部分, VBAT 若 供电正常,可判定 U401 为 US,SS,或 CD; 4.2 开机杂音: 开机杂音: 杂音一般情况都是因为杂波引起的(可用示波器测量),CPU 性能不良, R413,R414 WP,U401 SS 或 CD 都会引起开机杂音问题; 5. 不识 SIM 卡: 首先检查 J663 第 2,第 4 脚有无 VSIM 电压,检查 FV601 是否 SS,再检查 第 1,5,6 脚的数据信号,复位信号,时钟信号与 CPU 之间的通路 6. 不识 T 卡: 首先检查逻辑电压 VDDIO 是否供到,R801,R802,R803,R820 有无 WP, FV801 是否 SS,然后再检查时钟信号,片选信号,输入输出信号是否正常,可用 万用表蜂鸣档快速判定 CPU 是否为 US 或者 PCB 开路; WT-WT-E003 键盘灯不亮: 7. 键盘灯不亮: 单个灯不亮: 7.1 单个灯不亮: 首先检查灯本身是否 OK,可用万用表蜂鸣档,红表笔接灯的正极,黑表 笔接灯的负极,灯亮则可排除灯的来料问题,再检查灯与 KP-LEN 信号之间的限 压电阻是否 US 或 WP,若 OK 则可判定灯的正极与 VBAT 之间开路或电阻与 T802 第 6 脚之间开路; WT-WT-E003 全部灯不亮: 全部灯不亮: 首先检查 VBAT 电压是否供到灯的正极,再检查 KP-LED 信号有无输出, 若无输出则检查 T802 第 2,3 脚是否有使能信号输入,若有可判定 T802 性能不 良,若无则应检查 R811 是否 WP,CPU 是否 US 或 CD 或 PCB 是否开路; 7.2 按键无效: 8. 按键无效: 单个按键无效: 8.1 单个按键无效 此种情况都为 PCB 开路所导致, 用万用表检查该按键的内圈与同一列的 其它按键的内圈的通路, 外圈与同一行的其它按键的外圈的通路, 定有一路不良; 一组按键无效: 8.2 一组按键无效: 一般手机按键部分的电路都为 N*N 形式分布,如下图若上键,#键,4 键无效,则应检查 R680 是否 US 或 WP,FV602 是否 SS,R680 与 CPU 的 P15 脚是 否断线,或者 CPU 是否为 US,其它以此类推; 9. 无振动: 无振动: 振动电路比较简单,VBAT 是否有,控制信号是否有; WT-WT-E003 无回音: 10. 无回音 测回音时用到 MIC 和 RECEIVER 两路电路,要想测试 MIC,首先应保证听 筒(RECEIVER)是 OK 的(可用拨打 112 或录音的方法来判断): 听筒无音: 10.1 听筒无音: 手机从基站接收到数字信号经 CPU 调制解调转换成模拟信号送到受话 器,RECEIVER 通路比较简单,直接由 CPU 输出经过俩电感(L411,L412)到接口 (XJ402) ,检查电感是否 US 或 WP, 其次耦合电容 C427, 防静电器件 FV403,FV404 也应注意; 无送话: 10.2 无送话: 送话器接收到模拟信号,输送到 CPU,在 CPU 内部进行调制解调,转换成 数字信号经过天线发射出去,首先检查 MIC 与 CPU 之间的通路(L401,L402), 再检查 VMIC 电压和 MICBIAS 信号,其次,耦合电容,静电防护器件也要注意; WT-WT-E003 耳机不良: 11. 耳机不良: 同回音测试一样,要想测试耳机送话,就必须保证耳机受话是 OK 的. 耳机无声音: 11.1 耳机无声音 首先看插上耳机后屏幕上方是否显示耳机模式的符号,若没显示,则应 检查J501第3脚的耳机检测信号HDETECT,若有则可判定J501为CD;若没有,则应 检查J501第3脚与CPU之间的通路,看R503是否WP,FV502是否SS,CPU是否US或 CD; 若上面所述都正常,则应检查J501第5,第7脚的耳机左右声道 (HEADL,HEADR)的电路,可播放MP3时插上耳机,用示波器量波形,先量J501 第5,第7脚,再量C431,C432处,一步一步量,可一次判定,R416,R417是否 WP,CPU(U101)是否US或CD; 耳机无送话: 11.2 耳机无送话: 在耳机送话时,用示波器量J501第9脚的波形,一步一步,依次量L403 处,R406处,C414,C415处的波形,若到此处没有波形,则检查C416处的电压 (VDDIO经R403降压后的VSIM-AUX)是否有;若C414,C415处的波形正常,则可 以判定CPU为US或CD,或者PCB开路; WT-WT-E003 耳机接听键无效: 11.3 耳机接听键无效: 主要检查逻辑电压VDDIO, 耳机按钮控制信号HEAD-BUTTON,及相关电阻, 摄像不良: 12. 摄像不良: WT-WT-E003 首先检查摄像头连接器(J602)有无US或SS现象,在J602连接良好的情 况下,量第11脚的逻辑电压VDDIO,第4脚的摄像头工作电压VCAMERA,第10脚的核 心电压VCAM-CORE,其次就是数据使能,时钟使能,复位信号,CPU输出的摄像开 关信号CAMERA-IOPWR,还有J602与CPU之间的数据线CCIR-D0CCIR-D7; 蓝牙不良: 13. 蓝牙不良: 蓝牙无法激活: 13.1 蓝牙无法激活: 首先检查蓝牙模块(J006)工作所需电压VDDIO,VDD-1V8是否供到,若电 压没有则可判定CPU为US或CD,或者PCB来料开路; 若电压正常,则先用频谱仪量C050处和C049处是否有26M波形,若没有 可判定U012为CD; WT-WT-E003 若波形正常,则应用示波器检查蓝牙激发信号WAKE_HOST_BT,脉 冲编码调制输出输入PCM-IN,PCM-OUT,脉冲编码耦合控制信号PCM-SYNC,脉冲 编码时钟信号PCMCLK,蓝牙复位信号BTRESET,因为蓝牙芯片J006是BGA,故测 量时可在各信号对应的测试点(TESTPOINT)上进行测量, 13.2 搜索不到蓝牙信息: 搜索不到蓝牙信息: 信息 该故障直接可判定是蓝牙的收发通路的不良,检查下图所示的RF-A 和RF-B通路, WT-WT-E003 14. FM调频收音机不良: 调频收音机不良: 调频收音机不良 U901第2脚接收到调频发射器发出的调频信号,经U901处理后输出两路信号 FM-LOUT,FM-ROUT,再经U903放大后输出FM-AOUT1,FM-AOUT2,最后经U401转换成模拟信号 从扬声器输出,或直接经HEADSET CIRCUIT处理后从耳机输出; 首先检查FM-AOUT1,FM-AOUT2两路信号是否从U903第1,第7脚输出,若正常输出 则可判定是C459和C450不良, 若U903第1,第7脚无信号输出,则首先应检查FM-LOUT,FM-ROUT有无输到U903 的第2,第6脚,若正常可再检查U903第8脚的工作电压(VBAT直接供电)有无,第5脚CPU输出 的开关控制信号SHUTDOWN是否有,若供电没有则应该是PCB开路了,若SHUTDOWN信号没有 则是CPU(U101)US,CD或PCB开路l ,若全部都正常则可判定U903为US或CD;另R932,R931是反 馈电阻,若不良则会引起杂波,但不会引起无波形输出; , WT-WT-E003 若 U903 第 2, 6 脚无波形则应先检查 R992,R934,C933,C940 有无 US 第 或 WP,再检查 U901 第 13,第 14 脚有无 FM-LOUT,FM-ROUT 信号输出,若有,则是 PCB 开路了,若没有,则首先检查 VBAT 和 VMEM 这两个电压是否有,再检查 CPU 输出的 FM 复位 信号,FM 使能信号,FM 时钟信号,可一次判定 R915R918 是否 WP,CPU 是否 US,CD 或者 PCB 是否开路; 若插上耳机听不到收音机的声音,则应检查 C476 和 C477,另外就是 PCB 开路了; 12 WT-WT-E003 七彩灯不良: 15. 七彩灯不良: 单个灯不亮: 15.1 单个灯不亮: 如下图,若 DHL10 不亮,先看 DHL10 本身有无不良(在第 15 页介绍 过测量方法),再检查 L904 与 DHL10 之间是否开路,DHL10 与 U904 第 26 脚之 间是否开路,或者 U904 第 26 脚是否 US,U904 是否 CD; 全部灯不亮: 15.2 全部灯不亮: 首先检查 L904 是否 US 或 WP,再检查 U904 第 3 脚的逻辑供电,若没 有可先检查 R902 是否 WP,CPU 输出的 LDO 使能信号,还有 VBAT; 若逻辑电压供给正常,则应再检查 CPU 输出的串行数据输入信号,时 钟信号,锁相使能信号,输出使能信号,可判定 CPU 是否 US,CD 或 PCB 开路; WT-WT-E003 充电不良: 16. 充电不良: 充电电路由 U205、T201 和充电接口(J501)组成,充电电压 VCHG 经 J501 第 2 脚从 U205 的 1、4、5 脚输入,从 6、7 脚输出送到 T201 的 3 脚,CPU 检测到充电信号 ISENSE 启动充电程序开始向电池充电,另外 T201 的 4 脚由 U101 “E10”脚来控制充电电流的大小: 不充电: 16.1 不充电: 首先应检查 U205 第 1,4,5 脚是否有 VCHG 电压输入(可用示波器 或万用表测量),若没有则可判定 J501 为 US 或 CD,VCHG 再经 U205 到 T201 第 3 脚,检查 T201 第 3 脚的充电检查信号 ISENSE,若没有量 R223 是否 WP,否则 CPU 为 US 或 CD,若都正常则可判定是 T201 性能不良或者 R203 为 WP; 充电电流不正常: 16.2 充电电流不正常: 如上图所示,T201 第 4 脚是经 CPU 来控制充电电流的大小,故该故障 应检查 C203 和 C204 是否

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