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文档简介

实验四 触发器参数与功能测试班级: 姓名: 学号: 实验台: 实验日期: -1、 实验目的1.熟悉基本R-S触发器、D触发器、J-K触发器的逻辑功能和测试方法。2.学会正确使用触发器集成芯片。3.掌握触发器逻辑功能的转换。2、 实验仪器及器件1.仪器:数字电路学习机,双踪示波器2.器件:74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS74 双D触发器 1片 74LS112 双J-K触发器 1片3、 实验内容1.基本R-S触发器逻辑功能测试: 用两个TTL与非门首尾相接构成基本R-SR-S触发器的电路如图4.1所示。操作顺序Q逻辑功能101211310411(1) 根据表4.1的要求,在、端加信号(必须严格按顺序执行),观察并记录R-S触发器的Q、端的状态。(2)当、都接低电平时,观察Q、非端的状态。当、同时由低电平跳为高电平时,注意观察Q、端的状态。重复35次,看Q、端的状态是否相同,以正确理解“不定”状态的含义。2.JK触发器功能测试:74LS112是一个双JK型下降沿触发器,每个器件包含两个相同的、相互独立的JK触发器。(1)异步置位端和异步复位端的功能测试。J、K、分别接逻辑开关,CP接单脉冲,Q和分别接发光二极管。按表格的要求给出输入信号,观察输出端的状态Qn+1,并将结果记录于表4.2a中。CPJKQnQn+1XXX00110101实验时, 先将、端都放在高电平的位置上,通过J、K、CP将Q置为初态Qn,再使、为表格要求的数值,观察Q的次态Qn+1,并记录在表格中。然后任意改变J、K、CP端状态,观察输出端状态是否改变?(2)逻辑功能测试。J、K、分别接逻辑开关,CP接单脉冲,Q和分别接发光二极管。按表格的要求给出输入信号,观察输出端的状态Qn+1,并将结果记录于表4.2b 中。JKQnCPQn+1110X01X011实验时, 先通过、端将Q置为初态Qn, 然后将、置“1”,然后再按表格给出J、K的状态,最后给出单脉冲,观察Q的次态Qn+1,并记录在表格中。3.D触发器功能测试:74LS74是一个双D型上升沿触发器,每个器件包含两个相同的、相互独立的D触发器。 (1)异步置位端和异步复位端的功能测试。D、分别接逻辑开关,CP接单脉冲,Q和分别接发光二极管。按表格的要求给出输入信号,观察输出端的状态Qn+1,并将结果记录于表4.3b 中。CPDQnQn+101XX011001 测量方法与JK触发器相同。 (2).逻辑功能测试。D、分别接逻辑开关,CP接单脉冲,Q和分别接发光二极管。按表格的要求给出输入信号,观察输出端的状态Qn+1,并将结果记录于表4.3b 中。DQnCPQn+111001101 测量方法与JK触发器相同。 4.触发器功能转换(答案可写在报告的背面,画出电路图即可。) (1).将JK触发器转换成D触发器、T触发器和T触发器,测试方法自定。 (2).将D触发器转换成JK触发器、T触发器和T触发器,测试方法自定。4、 实验报告 1.整理实验数据并填表

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