测试治工具定期校验规范.doc

測試治工具周期檢驗規范核 准審 核撰 寫周紅裕適用范圍:工廠內測試線和OQC所使用之測試工治具 文件編號本頁修改次數頁 次PCQM-03-AR60- 6 -文 件 修 訂 履 歷版次修 訂 內 容 與 理 由修訂頁次修訂日期V1.0初版發行1/6. 一.目的 避免廠內測試工治具使用時間過久，而造成不能正常測試,影響產品品質，特制訂工治具定期校驗規范加予管制,確保測試品質。二.適用範圍 工廠內測試線和OQC、CQC所使用之測試治工具皆屬之。三.定義 3.1 使用周期：這裡指測試工治具從發放開始使用日到報廢日所經歷的最大有效天數，它由測試工治具材料本身及使用頻率決定。 3.2 檢驗周期：這裡指測試工治具在使用周期內，指定日期對其進行校驗，校驗OK，可繼續使用；校驗FAIL,則進行維修。3.3 測試工具：由廠外購買回來，不需要加工，直接可以投入使用之測試物品。如CPU、HDD、K/B、DDR等。3.4 測試治具：由MTE自行制作，或由MTE提供規格委託外包廠加工之測試物品，如聲卡治具、LOOPBACK治具、線材等。四.權責 4.1 MTE治具維護課: MTE治具維護課人員負責測試治具制作,發放,維修和定期校驗之執行。4.2 ME設備維修課：負責測試工具購買,發放,維修和定期校驗之職責。 4.3 生產線和OQC、CQC:測試治工具之使用,並按照此檢驗規范定期對測試治工具進行相關校驗。 4.4 IPQC:稽核測試線及OQC是否按照此規范內容作業。 五.內容 5.1 測試治具的檢驗MTE治具維護課對所制作測試治具必須貼上制作日期和使用日期，填寫附件一測試治工具制作及檢驗標簽。5.1.1CPU腳座校驗 CPU腳座校驗標准請依照(文件編號：PCQM-03-T00I)第3.6項 CPU使用操作注意事項與保養及其風扇搭配。 2/65.1.2Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座檢驗Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座由生產線人員每班次自行檢驗一次，如出現FAIL,則送治具維修課進行修理，無法修復的則立即更換，並填寫(附件二)。檢驗內容如下：A. Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座金手指部分檢驗請按照5.3金手指檢驗標准檢驗。B. Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座功能檢驗則在OK板上對相應的功能測試三次，如均OK，表示該腳座功能正常,如三次測試均FAIL，則做不良治具送修，如測試不穩定則找MTE隨線技術員確認：Memory腳座檢驗核對Memory值，如正確則OK;AGP腳座檢驗插上AGP顯卡，在WINXP下測試如無花色擋機則OK;AMR(CNR)腳座則進行AMR(CNR)功能測試，如測試PASS則OK。C. Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座每個月上旬分批送MTE治具維修課進行檢驗，對以達到使用壽命周期的轉接腳座進行更換。檢驗標准請參照附件。AGP腳座檢驗標準1.）測量使用經過校驗合格的電子游標卡尺測量（如圖一）。2.）測量AGP腳座的部位:AGP保護腳座的金手指（如圖二）。3.）測量必須從不同部位測量測量時注意動作的正確與讀數的方法。3.1) 測量第一部位時,游標卡尺與金手指平行,且游標卡尺壓在金手指銅皮上(如圖三). 3.2) 測量第二部位時為AGP腳座的另一頭。 圖一圖二圖三3/63.3) 測量中間部位時可斜著測量但需注意游標卡尺與腳座接觸良好,中間無縫隙. 3.4) 以上部位均需測試三次后取最大值。 4.) 測量每個部位所得之最大值,必須在規定范圍內,則為良品,任何一部位測量值超過標准范圍則為不良品。5.）AGP腳座的可使用之標准范圍為1.62MM-1.68MM。6.）AGP腳座生產線使用的由生產線人員按照以上標准自行檢驗；倉庫庫存AGP腳座由ME設備維修課檢驗OK，貼上OK標簽後，再發給生產線使用。AGP腳座使用注意事項1.）所有帶AGP槽的主板測試時要使用對應的AGP腳座測試:即AGP 124PIN SOCKET主板只能使用124 PIN腳座測試，AGP 132PIN SOCKET主板只能使用132PIN腳座測試。2.）為區別132PIN腳座和124PIN腳座，請測試線列印出對應的LABEL標識貼在腳座正上方。5.1.3COM、PRINT、SOUND、GAME LOOPBACK治具檢驗COM、PRINT、SOUND、GAME LOOPBACK治具檢驗由生產線人員每班次自行檢驗一次. 如出現FAIL,則送治具維修課進行修理，無法修復的則立即更換，並填寫（(附件二)。檢驗內容如下： A.COM、PRINT、GAME LOOPBACK治具目驗金屬連接頭接口是否有氧化長有異物，如銹斑或霉斑等。如發現金屬接口銹斑或霉斑，則送治具維修課處理。B.COM、PRINT、SOUND、GAME LOOPBACK治具功能檢驗則在OK板上對相應的功能測試三次，如均OK，表示該LOOPBACK治具功能正常,如三次測試均FAIL，則做不良治具送修，如測試不穩定則找MTE隨線技術員確認：COM、PRINT、GAMELOOPBACK治具檢驗則進行I/O功能測試，如測試PASS且穩定則表示治具OK；SOUND治具檢驗則進行SOUND功能測試，如測試PASS則表示治具OK。C.COM、PRINT、SOUND、GAME LOOPBACK治具檢驗每個月中旬分批送MTE治具維修課進行檢驗，對以達到使用壽命周期的LOOPBACK治具進行更換。檢驗標准請參照附件三。5.1.4 測試磁片檢驗4/ 測試磁片檢驗由生產線人員每班次自行檢驗一次。如出現讀“A”測試FAIL或測試不穩定的磁片，直接交MTE治具維修課進行更換,並填寫好(附件二)。 每月01日-05日，MTE工程人員按照對生產線測試磁片進行殺毒和全面檢測，並在附件四上注明檢測結果。 5.1.5 USB、IEEE1394、PS/2、電源轉接線檢驗USB、IEEE1394、電源轉接線治具檢驗由生產線人員每班次自行檢驗一次. 如出現針腳歪斜,絕緣皮破損，接口松動之不良現象，則送治具維修課進行修理，無法修復的則立即更換，並填寫（(附件二)。PS/2鍵盤、鼠標轉接線在使用之前由生產線人員自行檢驗PS/2轉接線PIN是否有有歪斜，斷PIN等現象，如有斷PIN、截PIN之轉接線則須立即更換。如有PIN腳歪斜，則需用PS/2校正儀校正OK後方可使用。若校驗FAIL或彎PIN嚴重的轉接線則需更換。 對生產線所使用的PS/2轉接線要求每6小時使用PS/2校正儀進行校驗（如PS/2鍵盤、鼠標不帶轉接線則直接對CPU進行校驗）,校驗時必須做到直插直拔,不可歪斜,且力度要均勻.發現不良工治具立即隔離,並填寫見(附件二)。USB、IEEE1394、PS/2、電源轉接線治具檢驗每個月中旬分批送MTE治具維修課進行檢驗，對以達到使用壽命周期的轉接線治具進行更換。檢驗標准請參照附件三。 5.2 測試工具的檢驗5.2.1SDRAM(DDR)檢驗測試線及OQC測試使用SDRAM(DDR)需帶腳座測試，如不能使用腳座測試的機種，經MTE確認後，可不使用腳座測試。測試SDRAM(DDR)必須帶Memory散熱保護套使用。測試使用SDRAM(DDR)必須每班次由生產線人員自行檢驗，如出現掉件，則送ME設備維修進行修復。對部分掉件ME設備維護課無法修復的SDRAM(DDR),做如下方面處理：5/61.）CQC對掉件SDRAM(DDR)進行燒機1.5小時（Winstone 1H+3Dmark 0.5H）; 2.) 對於CQC燒機OK之掉件SDRAM(DDR)由CQC貼上“X月X日燒機OK”之打印標簽，發給生產單位繼續使用。3.）對於CQC燒機過程中出現異常之掉件SDRAM(DDR)保留,請CQC紀錄具體燒機時之不良現象，由ME輿MTE根據具體情況再做決定。4.）對於以後測試過程中新位置發生的掉件，則按照以上步驟處理。 測試SDRAM(DDR)金手指部分檢驗請按照5.2.金手指檢驗標准檢驗。以上測試SDRAM(DDR) 生產線人員檢驗完成後,填寫（附件二）。5.2.2 測試HDD、FDD檢驗測試HDD、FDD檢驗由生產線人員每班次自行檢驗一次。 如出現抓不到參數之HDD(FDD)或有明顯機構故障之HDD(FDD)直接交ME設備維修課進行維修；如測試時能抓到參數，但不能進行測試之HDD,生產線將此HDD交給MTE樓層負責人維修。並填寫好(附件二)。每月25日-30日，MTE工程人員按照對生產線測試HDD(FDD)進行殺毒和進行全面檢測，並在附件四上注明檢測結果。 5.2.3 測試CD_ROM檢驗 測試CD_ROM檢驗1.）測試CD_ROM檢驗由生產線人員每班次自行檢驗一次，並填寫好(附件二)。如出現以下不良狀況，直接交ME設備維修課進行維修：1.1）開機自檢抓不到CD_ROM參數或有明顯機構故障；1.2）開機自檢能抓到CD_ROM參數,但不能讀CD片;2.）測試CD_ROM每個月下旬分批送ME設備維修課進行檢驗，ME設備維修人員必須對送驗的CD_ROM進行全面的檢驗和清潔，保證CD_ROM工作在最佳狀態，對以達到使用壽命不能維修的CD_ROM進行更換，