标准解读
《JJF 1497-2014 偏光仪校准规范》是中国国家计量技术规范之一,旨在为偏光仪的校准提供统一的技术依据。该标准适用于各类用于测量物质光学性质的偏光仪器,包括但不限于岩石矿物鉴定、材料科学等领域使用的偏光显微镜等设备。
根据此规范,偏光仪的主要校准项目包括但不限于偏振度、消光比、视场均匀性等关键参数。其中,偏振度是指仪器能够有效区分或产生线偏振光的能力;消光比则是指在正交偏振状态下,通过系统后两垂直方向上光强度的比例关系;而视场均匀性则用来评估整个观察区域内图像质量的一致性。
对于具体的校准方法,《JJF 1497-2014》提供了详细的操作指南,包括使用标准光源、特定波长下的滤光片以及高精度的标准样品来进行测试。此外,还规定了不同类型的偏光仪可能需要采用不同的校准流程和技术手段,并且强调了环境条件(如温度、湿度)对校准结果的影响,建议在校准时予以控制以确保数据准确性。
该规范还明确了记录和报告的要求,要求所有参与校准过程的相关信息都必须被准确无误地记录下来,包括但不限于所用设备型号及编号、校准日期时间、环境条件参数值、具体测试步骤及其结果等。同时,对于不合格的情况也给出了处理意见,比如当发现某项指标不符合标准时,应重新调整或维修直至满足要求为止。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2014-11-17 颁布
- 2015-02-17 实施
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JJF1497-2014 偏光仪校准规范-免费下载试读页
文档简介
中华人民共和国国家计量技术规范 JJF14972014 偏光仪校准规范 CalibrationSpecificationforPolarimeters 2014-11-17发布 2015-02-17实施 国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布 JJF14972014 偏光仪校准规范 JJF14972014 CalibrationSpecificationforPolarimeters 归 口 单 位 全国光学计量技术委员会 : 主要起草单位 中国计量科学研究院 : 上海市计量测试技术研究院 参加起草单位 国家安全玻璃及石英玻璃质量监督检验中心 :本规范委托全国光学计量技术委员会负责解释 JJF14972014本规范主要起草人 : 冯国进 中国计量科学研究院 ( ) 郑春弟 中国计量科学研究院 ( ) 夏 铭 上海市计量测试技术研究院 ( ) 参加起草人 : 王精精 国家安全玻璃及石英玻璃质量监督检验中心 ( ) JJF14972014 目 录 引言 () 范围1 (1) 引用文件2 (1) 术语3 (1) 相位延迟3.1 (1) 偏光仪3.2 (1) 概述4 (1) 计量特性5 (1) 光源光谱半宽5.1 (1) 相位延迟零点5.2 (2) 相位延迟重复性5.3 (2) 相位延迟示值误差5.4 (2) 校准条件6 (2) 环境条件6.1 (2) 测量标准及其他设备6.2 (2) 校准项目和校准方法7 (2) 光源光谱半宽7.1 (2) 仪器零点调整7.2 (3) 相位延迟零点漂移7.3 (3) 相位延迟示值误差与重复性7.4 (3) 校准结果表达8 (3) 复校时间间隔9 (4)附录 偏光仪校准原始记录推荐格式 A (5)附录 校准证书内页推荐格式 B (6)附录 校准偏光仪示值误差测量结果的不确定度评定 C (7)附录 资料性附录 D (9) JJF14972014 引 言 光学辐射计量名词术语及定义 国家计量校准 JJF10322005 、JJF1071-2010 规范编写规则 测量不确定度评定与表示 共同构成支撑本规范 、JJF1059.12012 制定工作的基础性系列规范 。 本规范为首次制定 。 JJF14972014 偏光仪校准规范1 范围 本规范适用于利用偏振光测量材料相位延迟的各类偏光仪的校准 。2 引用文件 波片相位延迟测量装置的校准方法 GB/T268272011 凡是注日期的引用文件 仅注日期的版本适用于本规范 凡是不注日期的引用文 , ;件 其最新版本 包括所有的修改单 适用于本规范 , ( ) 。3 术语 相位延迟3.1 phaseretardation 当一束偏振光束入射到波片时 在波片中分解为沿原方向传播但振动方向相互垂直 ,的 光和 光 由于传播速度不同产生的相位差 o e , 。 偏光仪3.2 polarimeter 用于测量相位延迟的仪器 又称相位延迟测量仪 偏光应力仪 , 、 。4 概述 偏光仪是测量透明塑料 玻璃以及其他透明材料对光线的双折射特性 并以相位延 、 ,迟来定量表征的仪器 偏光仪主要由光源 起偏器 样品仓 检偏器 光电探测器和信 。 、 、 、 、号处理等部分组成 图 为偏光仪原理图 。 1 。 图 偏光仪原理图 1 图 中起偏器 试样 检偏器应互相平行放置并与光路垂直 起偏器 试样 检偏 1 、 、 。 、 、器至少有一个器件可以绕光轴中心旋转 具备测量延迟级次的设备 光源系统应当具备 。 ,可用于实际测量的两个及以上不同波长的光辐射输出 。 测量用光源符合
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