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文档简介

(1)质子数=核电荷数=核外电子数=原子序数(2)原子量=质子数+中子数(3)中子数=原子量质子数=原子量原子序数(4)电磁波的波长和频率v以及波速c(光速)的关系式为:=c/v(5)连续谱存在一个最短波长min 其数值只依赖于外加电压V而与靶材料无关E=eV=hv=hc/min 式中:h普朗克常数,h=6.626*10-34j.smin=hc/eV=12.4/V(KV) c光速,c=3.0*108m/s e电子电量,e=1.6*10-19C(库仑) V(KV)管电压单位(千伏)连续谱中最大强度对应的波长IM=1.5min(6)X射线的产生效率等于连续射线的总强度IT与管电压V和管电流i的乘积之比,即: =IT /Vi=KiZV 式中:Ki 比例常数 V 管电压 Z原子序数可见,X射线的产生效率与管电压和靶材料原子序数成正比。在其他条件相同的情况下,管电压越高,X射线产生效率越高;管电压的高压波形越接近恒压,X射线产生效率也越高。(7) 射线衰变规律:N=Noe-T 式中: N衰变后强度 No初始强度 比例系数(衰变常数) T时间半衰期:放射性同位素衰变掉原有核数一半所需时间。用T1/2表示,单位(年)T1/2=0.693/(8)窄束,单色射线的强度衰减规律:I= Ioe-uT 式中:I透射射线强度 Io初始射线强度 u材料的线衰减系数(cm-1) T透射厚度(cm)半价层:是指使入射射线强度减少一半的吸收物质厚度。用T1/2表示,单位(年)T1/2= 0.693/ u(9)宽束,多色射线的强度衰减规律:I=IP+IS=IP(1+IS/IP)=IP(1+n) 考虑总的强度衰减结果,可以归纳以下关系式:I= Ioe-uT(10)宽束多色射线强度衰减规律:I= Ioe-uT(1+n) 式中: I透射射线强度 Io初始射线强度 Ln(I/Io)=-uT u平均衰减系数(cm-1) T透射厚度(cm) n 散射比IS/IP(11)对斜靶定向X射线管,其有效焦点面积SO=Ssin式中:靶与垂直管轴线平面的夹角,一般=200 所以近似关系式:SO=S/3(12)黑度D定义为照射光强LO与透射光强L之比的常用对数值,即: D=lg(LO/L) L= LO/10D(13)射线胶片的感光特性主要有:感光度(S),灰雾度(DO),梯度(G),宽容度(L),最大密度(Dmax),这些特性可以在胶片特性曲线上定量表示。感光度(S):S=1/KS 式中:KS为曝光量梯度(G):可用胶片特性曲线上某一点切线的斜率表示,此斜率称为胶片梯度G或称为胶片反差系数平均梯度G=(D2-D1)/(lgE2-lgE1) 式中:E1产生D1所需曝光量E2产生D2所需曝光量宽容度(L):指胶片有效黑度范围相对应的曝光范围。 L=10 lgE2-lgE1=E2/E1(14)像质计是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。 以丝型像质计表示的射线照相的相对灵敏度K计算:K=d/T*100%式中:K丝型像质计的射线照相的相对灵敏度 T被检工件的穿透厚度,mm D射线照相底片上可以辨认到的最细线的直径,mm(15)射线照相对比度公式:D=0.434GuT/(1+n)(16)目前描述U,Ug和Ui比较广泛采用的关系式为:U=(Ug2+Ui2)1/2(17)几何不清晰度Ug Ug=df*b/(F-b) 式中:df焦点尺寸 F焦点至胶片距离 b缺陷至胶片距离最大几何不清晰度:Ugmax=df*L2/(F-L2)=df*L2/L1 式中:F焦点至胶片距离 L1焦点至工件表面距离 L2工件表面至胶片距离固有不清晰度:Ui=0.0013(Kv)0.79(18)选择焦距的一般规则:焦距对射线照相灵敏度的影像主要表现在几何不清晰度上。 据 Ug=df*L2/(F-L2)可知,焦距越大,Ug值越小,底片上的影像越清晰。在减小Ug值这点上,选择较小的射线源尺寸df,可得到与增大焦距F相同的效果,因此在实际透照中选择焦距时,焦点尺寸是同时考虑的相关因素。射线检测技术等级 透照距离f(L1) Ug值 A级f7.5dfb2/3Ug(2/15)b1/3 AB级f10dfb2/3Ug(1/10)b1/3B级f15dfb2/3Ug(1/15)b1/3最小焦距值Fmin=f+b(L1+L2)(19)利用曝光因子的曝光量修正计算:X射线:i1t1/F12=i2t2/F22 射线:A1t1/ F12= A2t2/F22(20)透照方式的选择和一次透照长度的计算:1,直缝透照:直缝即平板对接焊缝或筒体纵缝,即有: K=T/T=1/cos即=cos-1(1/K) L3=2L1tan 对A级,AB级:K1.03,则13.86O,L30.5 L1对B级:K1.01,则8.07O, L30.3 L1搭接长度L计算式:L= L2L3/ L1当L3=0.5L1时,L=0.5L2 ;当L3=0.3L1时,L=0.3L2底片有效评定长度Leff= L3+L2,环缝一次透照长度及有关参数计算: 由透照次数N可求得一次透照长度:L3= D/N 其中:外等分长度L3= DO/N ; 内等分长度L3,= Di/N 有效评定长度Leff= L3+L(源在内)或Leff= L3,+L(源在外) 源在内透照FR时,不需考虑搭接长度;源在内透照FR时,也可近似取源在外透照的数值。源在外透照时,搭接长度L的计算:L=2Ttan, =cos-1(1/K)K=1.06 =19.37o L=0.7TK=1.1 =24.62o L=1TK=1.2 =33.56o L=1.4T3,环缝单壁外透法的一次透照长度及有关参数:采用外透法100%透照环缝时,N=180/ =- =cos-1 =sin-1当DOT时,cos-1K-14,内透中心法(F=R)这种透照布置,透照厚度K=1 ,横向裂纹检出角00 ,一次透照长度为整条环缝长度。5,内透偏心法(FR)的一次透照长度及有关参数:6,内透偏心法(FR)的一次透照长度及有关参数:7,计算法确定双壁单影法的一次透照长度及有关参数:(21)小径管的透照技术,外径100mm的管子称为小径管,一般采用双壁双影法透照其对接焊缝。 LO=(b+q)L1/L2 =式中:h-焊缝余高 b-焊缝宽度 q-椭圆

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