EIA-364-21B(电子连接器的阻抗测试技术).doc

EIA STANDARDEIA-364-21B電子連接器的阻抗測試技術 電子工業協會工程部EIA-364-21B電子連接器的阻抗測試程序注意：EIA工程標準和刊物是為公共事業而設計的，它可以消除生產者和購買者間的誤解，促進產品間的可交替性和發展，幫助購買者在最短的時間內選擇到他們所特需的產品。這些標準和刊物的存在絕不妨礙這些不是成員的人自愿使用這些標準和刊物，不論這些標準是用在國內還是用在國外。所采用的標準和材料和美國國家標準委員會的專利政策一致。基于此，將不會對任何專利擁有者負任何責任，也不會對那些采用此標準和刊物的團體承擔任何責任。標準被認為和國際標準組織有所關連，但國際電子工業委員會仍對標準和文件之間可作的有效比較沒任何進展。這個標準并沒有表明其提出了和其應用或所有合适的調整條件有關的所有安全問題，因此，在用此標準之前，規定限制的适用性，以及建立合适的安全和健康措施是用戶自己的責任。（出自NO.3586推荐 標準，在EIACE-2國家連接器標準委員會監視下形成的。）由電子工業協會工程部1996年發行2500WILSON BOULEUARDARLINGTON VA 22201价格:參照當前市埸价EIA, JEDEG, TIASTANDARD 認及 ENGINEERING DUBLICATIONS或4稱全球工程文件,美國和加拿大(1-800-854-7179)國際(303-397-7956)保留所有版權美國印刷請不要違法此文件版權歸所有，未經許可，不得翻印。在得到書面同意之后方可受制一定數量的文件。聯系訊息：全球工程文件15 Inverness Wat EattEnglewood. CO 80112-5704-& CallM.S.A and canada 1-800-854-7179. Internatonal (303) 397-7956 第 5 頁，共 5 頁21B絕緣阻抗的測試技術電子連接器的測試技術1. TP-21B絕緣阻抗測試2. 目的： 此測試技朮的目的在於解釋一種用於確定電子連接器阻抗的標準測試 方法。3. 總述： 此測試用于測定由絕緣原材料和連接器上的不同隔离層產生的電阻，當處于 一個直流電壓工時，這些連接器的絕緣原材料和三種隔离層會在其表面產生一個 漏電流。此測試在決定損坏因素如熱量、濕度、污染或揮發性材料質量的減小， 對阻抗因素的影響范圍非常有限。4. 樣品準備：4.1 測試樣品將包括一個插頭插座或一個配對的插頭和插座以及指定用到的電接触材料和輔助設備。4.2 樣品應如正常使用一樣準備，樣品應避免接触那些會影響測試操作的外界因素，當需要一些特殊的準備工作或條件時，必須事先指明。4.3 若無特殊要求，測試樣品應在設定狀態下進行。如果測試導線被焊在被測物未端，焊接點及周圍部份須清洗，若清洗也被特指，測測試件應在适合的溶液中清洗，當其上仍有清洗液時應將其浸入蒸鎦水中，拿出后置于一個35+5的空氣循環爐中。小時后，從爐中取出在周圍環境中冷卻分鍾后再進行測試。5. 測試方法5.1 設備阻抗測量必須在一個适合測量零部件性質的裝置上進行，如高阻電橋、高阻測量議、阻抗測試裝置或其它合适的裝置。電源須為一恆定的直流電流，其值為500V+10%。對將要用到的測量范圍，測量設備刻度盤的限定測量數值之精度應在之內。和最終將得到結果能引入設備公差修值。5.2 測試程序:在最鄰近的兩接触點，連接器機殼或裝配台和其最鄰近之接觸點，進行阻抗測量特應分別進行。如在規范細節顯沒有特殊指定。每一次測試小應有六組測量（相鄰之點和或機殼上之點和或裝配面上之點）或測點數為總測點數的（無論有多少）。在進行多次電阻測試時，用到的應為給定連接器的相同觸點位置。若無特殊指定，提供直流電壓值應為500V+10%。5.3 通電時間：當通電時間是一個影響因素時，或需要多種數據時，若無特殊要求，當所用測試電壓在兩分鍾內部無任何干扰時，則在兩分鍾后即刻進行電阻測試。然而，當儀器讀數顯示電阻值達到規定終值時，且為穩定或增長值，則測試應在指定測試結束時間之前停止。5.4 警告：在測試過程中，應采取合适的預防措施夜防止變壓對人和機器機的損傷，同時應注意防止一個測試器機上直流短環流的產生使顯示裝置不受損失。5.5 最后測量結果：當指明結束環境或若無其他特殊指定，工作室的指定環境條件恆定達一小時才能進行最后數據測定。 6. 指定細節： 在個別規范顯必須指明以下細節。 6.1 試樣準備及條件，若需要的話（見4.2）。 6.2 直流測試電壓數值，若不為500V（見5.2） 通常直流測試電壓為100V、500V、1000V及1500V。 6.3 通電時間，若不為分鍾（見5.3） 6.4 若不同于5.2所指定的有關測試電壓所用點。 6.5 阻抗最小值(見應用注解)。 6.6 若不同于標準條件的測試環境條件(氣壓、氣溫及相關濕度)。 6.7 說明試樣（配對或未配對。6.8 每個試樣的讀數數目。 7. 測試報告：7.1 測試標題。7.2 樣品描述。7.3 所用測試設備。7.4 測試過程。7.5 數據和現象觀察。7.6 測試日期和操作人。絕緣阻抗應用注解阻抗測試的早的在於測試一個零部件同絕緣組成部份所產生的阻抗。當加在一個直流電壓上時，通過這些部份或在其表面上會產生一個偏電流。絕緣阻抗數值將是一個高阻抗回路設計的限制因素，其能干扰本為絕緣回路的工作，如：通過形成反鐀電路，過大的漏電流通過生熱或直流分解會導致絕緣材料變質。絕緣阻抗測量不同于絕緣材料而電壓或介質擊穿測試。既然不同成份組成不同材料以及各種材料的組合體配合使絕緣阻抗有本質的不同，絕緣阻抗的測量數字不能作為不洁度或無變質的直接測量，此測試在決定變質因素對絕緣材料的影響程序時特別有效。當擬定一個絕緣阻抗測試的條件時，以下情況必須考慮到使用測試電壓（電壓值