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文档简介

xps 数据分析纵坐标： intensity(cps)横坐标： binding energy（ev ）除了氢氦元素， 其他的元素都可以进行分析； 先进行宽扫，确定样品有何种元素， 再对该元素进行窄扫。 该元素的不同键接方式都对应不同的峰， 所以对元素窄扫的峰要进行分峰 （分峰之前要进行调整基线） 。如何分峰，不同的键接方式会对应不同的结合能。第一步：先把元素的窄扫峰用 origin 画出来； 纵坐标： intensity(cps)横坐标： binding energy（ev ）第二步：调整基线；选择 ceate baseline-next-next-add/modify添加（双击）或去除（delete ）基点， 保证基线水平finish精品资料最小化图，会出现调整基线后的坐标。插入一列，单机右键选择set column values输入 col（ b）-col（ d ）：即开始纵坐标减去调整基线后的纵坐标。再用横坐标与刚开始得到的纵坐标作图- 调整基线后的xps 窄扫图。第三步：对峰求积分面积；选择 integrate peaks-next-狂点完成即 area 为峰的面积。第四步：分峰较难（有专门的分峰软件，origin 也能分峰） 第五步：求组分元素比：元素比等于：窄扫峰面积/xps 灵敏度因子（每一个元素的灵敏度因子不一致）咱们这边的 xps 设备选择的是铝板（alk ）。wel
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