材料现代测试分析技术期末试卷(A)_第1页
材料现代测试分析技术期末试卷(A)_第2页
材料现代测试分析技术期末试卷(A)_第3页
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文档简介

;.试卷编号：( a)卷课程编号： h57010004 课程名称：材料现代测试分析技术考试形式：闭卷适用班级：姓名：学号：班级： 学院：专业：考试日期：题号一二三四五六七八九十总分累 分 人题分100签名得分考生注意事项： 1、本试卷共页， 请查看试卷中是否有缺页或破损。如有立即举手报告以便更换。2、考试结束后，考生不得将试卷、答题纸和草稿纸带出考场。一、填空题(每空 1 分，共 20 分)得分评阅人1、当波长为 的 x 射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl ）反射线的波程差为，相邻两个（ hkl）反射线的波程差为。2、x 射线管靶材的选择原则为，滤波片的选择原则为。3、在利用 x 射线衍射仪进行衍射实验时，时间常数的选择对实验的影响较大，时间常数的增大导致衍射线的，。这些变化给测量结果带来不利的影响。因此，为了提离测量的精确度，一般希望选用尽可能小的时间常数。4、透射电镜的物镜光栏装在物镜背焦面，直径20120um，由无磁金属制成。其作 用是：；。5、透射电镜的主要特点是可对试样进行与同位分析 .使中间镜物平面与物镜重合时，在观察屏上得到的是反映试样的图像；当中间镜物平面与物镜重合时, 在观察屏上得到的是反映试样花样。6、扫描电子显微镜通过接收试样表面发出的二次电子成像.试样表面凸出的尖棱或小颗粒、陡斜面处 ,二次电子产额,在荧光屏上这些部位的亮度而平面、凹槽底部处二次电子的产额, 荧光屏上相应部位的亮度。;.二、辨析并解释下列概念 (每题 5 分，共 20 分)得分评阅人1、光电效应、俄歇效应2、相干散射、非相干散射3、质厚衬度、衍射衬度4、二次电子、背散射电子三、问答题(共 40 分)得分评阅人1、物相定性分析的原理是什么？简述利用x 射线衍射仪法进行两相混合物物相分析的过程。（10 分）2、分析电子衍射和x 射线衍射有何异同？（ 10 分）3、说明透射电镜薄膜试样制造过程， 以明场或中心暗场为例说明电镜薄膜晶体的成像原理。（10 分）4、计算下列点阵的结构因子fhkl，并推导点阵的系统消光规则。 （ 10 分） 简单点阵，单胞中原子的位置只有1 种，其坐标为（ 0，0，0）体心点阵，单胞中原子的位置有2 种，其坐标为（ 0，0，0），（ 1/2 ， 1/2 ，1/2 ）四、应用题（ 20 分）得分评阅人1、请说明已知相机常数和样品晶体结构的单晶体电子衍射花样的标
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