电子元件抽样方案.doc

元器件的抽样方案1. 目 的本标准为制定计划及检验程序的基准, 并为未来抽样计划之多样化提供资上的支持,保留持续的文件适用性。2. 适用范围 本文件适用于公司范围内质量保证部所进的检验活动。3. 抽样水准：3.1除书面规定的厂商采用固定抽样检验计划外,其它,一般采用本文件给出的动态检验转换抽样表,抽样样本数通常以批数为准, 一个批的数通常为一个单据的记录数.这样的单据有: 进货验收单, 入库验收单等.3.2依据产品质量特性(含结构, 尺寸,电气特性,机械性能,功能等)决定抽验计划，抽验数及允收品质.水准(AQL).依据物料类别区分,各产品质量特性抽检数量3.3 新产品之初次(批)成品,贵重的进货品等,当无特别规定时,通常需全数检验.产品材料类别CRIMAJMIN备注电容00.25%0.65%三极管00.25%0.65%二极管00.25%0.65%芯片00.25%0.65%电阻00.25%0.65%4. 检验依据4.1 工程图纸4.2 检验指示43 产品规格书4.4 检验计划4.5 样品对照4.6 评估报告和承认书4.7 客户订单8 / 8五.检验转换：5.1 转换说明f NR 连续三批合格f RN 一批退货f TN 连续三批合格f NT 连续三批中有二批拒收f N- 正 常f T - 加 严f R 放 宽原则上采用上述检验秩序转换, 根据需要公司也可根据实际需求进加严,正常,放宽的转换程序.5.2 正常检验批量样本允收品质水准(AQL)0.50.250.40.6510.1.5Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2-829-15316-25526-5080 151-90130 191-150200 1151-280320 11 2281-500500 11 22 3501-1200800 11 22 33 41201-32001251 22 33 45 63201-100002001 22 33 45 67 810001-350003151 22 33 45 67 810 1135001-1500005002 33 45 67 810 1114 15150001-5000008003 45 67 810 1114 1521 22500001-12505 67 810 1114 1521 22备注:f Ac 允收数f Re 拒收数f : 采用箭头下第一个抽样计划,如样本大小超过或等于批则用 100%之检验.f : 采用箭头上第一个抽样计划.5.3 放宽检验批量样本允收品质水准(AQL)0.50.250.40.6510.1.5Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2-829-15216-25226-5030 151-9050 191-15080 1151-280130 10 2281-500200 10 21 3501-1200320 10 21 31 41201-3200500 21 31 42 53201-10000800 21 31 42 53 610001-350001250 21 31 42 53 65 835001-1500002001 31 42 53 65 87 10150001-5000003151 42 53 65 87 1010 13500001-5002 53 65 87 1010 13备注:f Ac 允收数f Re 拒收数f : 采用箭头下第一个抽样计划,如样本大小超过或等于批则用 100%之检验.f : 采用箭头上第一个抽样计划.f 如二个次数样本已超过允收数, 但尚未达到拒收数时, 可允收此批, 惟以后须恢复正常检验.5.4 加严检验批量样本允收品质水准(AQL)0.50.250.40.6510.1.5Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2-829-15316-25526-50851-90130 191-150200 1151-280320 1281-500500 11 2501-1200800 11 22 31201-32001250 11 22 33 43201-100002001 22 33 45 610001-350003151 22 33 45 68 935001-1500005001 32 33 45 68 912 13150001-5000008001 43 45 68 912 1318 19500001-12502 55 68 912 1318 19备注:f Ac 允收数f Re 拒收数f : 采用箭头下第一个抽样计划,如样本大小超过或等于批则用 100%之检验.f : 采用箭头上第一个抽样计划.6.0 C=0 抽样计划明: 本节内容变仅供参考, 作为其它文件的引用参考依据.指示数值(相关联的 AQLS).010 .015 .025040.065 .10 .15 .25.40 .55 1.0 1.52.5 4.0 6.5 10.0批量数样本数289152625* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 13 8* 20 13 85 3 2 25 3 2 25 3 2 22650519091150* * * * * * * * * * * * * * 80 50* 125 80 5032 20 13 832 20 13 832 20 13 125 5 5 37 6 5 411 7 6 51512802815005011200* * * * * * 315* 800 500315200 125 8050200 125 805032 20 20 1948 47 20 2173 47 34 2713 10 7 616 11 9 719 15 11 81201320032011000010001350001250 800 5003151250 800 500315200 125 120116200 192 18911673 53 42 3586 68 50 38108 77 60 4623 18 13 929 22 15 935 29 15 9350011500001500015000005000011250 800 5004901250 800 750715476 294 218170476 345 270200123 96 74 56156 119 9064189 143 10240 29 15 940 29 15 940 29 15 9备注:f “* 表示整批都须检验f 允收数均为零7.0 较完整 MIL-STD-105E 单次抽样计划摘录说明: 除非特别指出, 本章节为本公司抽样检验计划的基准, 为标准的抽样计划表.相关联的(AQLS)一般检验水准()批样本大 小允收品质水准(AQL)0.100.150.250.40.651.01.52.54.0Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2 89 1516 252350 10 126 5051 9091 150813200 10 10 11 21 22 3151 282815005011200325080 0 10 10 11 21 22 31 22 33 42 33 45 6 3 45 67 81201 32003201 1000010001 350001252003150 11 21 22 31 22 33 42 33 45 63 45 67 85 67 810 117 810 1114 1510 1114 1521 2235001 150000150001 500000500001 50080012501 22 33 42 33 45 63 45 67 85 66 710 117 810 1114 1510 1114 1521 2214 1521 2221 22备注:f Ac 允收数f Re 拒收数f :采用箭头下第一个抽样计划,如样本大小超过或等于批时则用 100%之检验.f :使用箭头上第一个抽样计划.f 本表摘自 MIL-STD-105E 抽样计划表.8.0 缺点定义说明: 本章节给出缺点定义的标准,作为所有相关文件的引用依据.8.1 严重缺点(CRITICAL DEFECT,简写为: CRI)缺陷,使产品在生产运输或使用过程中可能出现危及人身财产安全之缺点,称为严重缺点.8.2 主要缺点(MAJOR DEFECT. 简写为 MAJ) 缺陷,使产品失去全部或部分主要功能,或者相对严重影响的结构装配的,从而显著低产品使用性的缺点,称为主要缺点.8.3 次要缺点(MINOR