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文档简介

统计过程控制(SPC),课程内容,第一单元:SPC的发展史及重要性;,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,第三单元:SPC控制图的构建步骤;,第四单元:过程能力评价指标;,课程目标:,通过对SPC的介绍,使学员了解SPC的概念和原理;掌握如何构造SPC的控制图(计量型、计数型);掌握评价过程能力的指标及计算方法;,课程内容,第一单元:SPC的发展史及重要性;,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,第三单元:SPC控制图的构建步骤;,第四单元:过程能力评价指标;,SPC起源,第一单元:SPC的发展史及重要性;,20世纪20年代美国的休哈特提出,50年代日本广泛应用;80年代SPC在西方复兴,并列为高科技之一;,SPC的重要性:,第一单元:SPC的发展史及重要性;,事后检测,事前预防,1、,2、,使过程处于统计控制中;及时避免不良的产生;,何时应用SPC,评定测量系统,确定关键过程参数,测量系统能力,改进测量系统,NO,YES,1.0(D)定义范围了解过程,2.0(M)测量评估确定目标,3.0(A)分析过程确定重点,4.0(I)制定措施实施改进,5.0(C)效果控制持续改善,DMAIC,加强过程控制,过程稳定/能力,课程内容,第一单元:SPC的发展史及重要性;,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,第三单元:SPC控制图的构建步骤;,第四单元:过程能力评价指标;,2.1什么是控制图?控制图(controlchart)又称管理图。它是用来区分过程中性能特性值的波动,是由系统因素引起的异常波动,还是由偶然因素引起的正常波动的一种工具。,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,2.2控制图原理控制图原理是基于正态分布的重要特性。质量特性值在区间(-3,+3)内的概率为99.73%,1927年美国人休哈特就是根据这一结论,把正态分布图形转化为控制图.,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,2.3控制图基本图形控制图分为上控制限(UCL)、下控制限(LCL)和中心线(CL)三条线。,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,2.4控制图的作用:过程诊断:可以用诊断生产过程的稳定性,即生产过程是否处于稳定状态。过程控制:可以用来确定生产过程何时需要加以调整,何时应保持生产过程的稳定状态。改进确认:可以用来确定某过程是否得到了改进。,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,其它领域的应用:记帐(差错率)、运送时间、耗电量等,2.5控制图的种类(1)计量型数据控制图:种类:1)-R图均值-极差控制图2)-S图均值-标准差控制图3)-R图中位数-极差控制图4)X-RS图单值-移动极差控制图,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,2.5控制图的种类(1)计量型数据控制图:应用场合:,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,1、,图是最普通应用较广,观察样本均值的波动和散布;,2、,图也是观察样本均值的波动和散布;出现下列一种或多种情况时用S代替R图,数据由计算机按时序记录或使用计算器能简单算出;,子组样本容量较大(大于9);,3、,R图计算方便,但应用较少;,4、,XRS图用单值而不是子组来进行控制,用于测量费用很大时或只能得到一个数据(如时间、费用、化学溶液的PH值);,2.5控制图的种类(2)计数型数据控制图种类:1)p图不合格品率的控制图。2)pn图不合格品数控制图。3)c图缺陷数控制图。4)u图单位缺陷数控制图。,2.5控制图的种类(2)计数型数据控制图:应用场合:,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,1、,P图不合格品率控制图,样本含量可以不等,但计算量大,控制线凹凸不平;,2、,NP图不合格品数控制图,要求样本含量相等,3、,C图缺陷数控制图,要求样本含量相等(如每匹尼龙上的瑕疵,每平米玻璃上的气泡等;,4、,U图单位缺陷数控制图,样本量可以不等;,课程内容,第一单元:SPC的发展史及重要性;,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,第三单元:SPC控制图的构建步骤(计量型和计数型);,第四单元:过程能力的判稳准则;,第五单元:过程能力评价指标;,SPC控制图的构建步骤:1)选取控制图拟制的质量特性;2)根据质量特性选择合适的控制图类型;3)确定合适的样本组、样本大小和抽样间隔,4)收集并记录样本组的数据(数据相关性正态性验证)5)计算各组样本的统计量;6)计算控制界限,画控制图;7)分析控制状态,作出最终判断。,第三单元:SPC控制图的构建步骤(计量型和计数型);,控制图的选择,3.11、图(均值-极差图),3.1计量型,A.做图前的准备:定义过程;确定做图特性;定义测量系统;使不必要的变差最小化;,B.收集数据:子组大小(一般由4到5件连续生产的产品为1个样本)子组频率(一般每小时、每半日、每天、每周)子组数的大小(一般包含100个以上单值,组数大于25),3.11、图(均值-极差图),3.1计量型,C.计算每个子组的均值和极差R:,D.画图:选择控制图的刻度;将均值和极差画到控制图上;,3.11、图(均值-极差图),3.1计量型,E.计算控制线:,计算中心线:(K为子组数量),3.11、图(均值-极差图),3.1计量型,E.计算控制线:,计算控制线:X,3.11、图(均值-极差图),3.1计量型,E.计算控制线:,计算控制线:R,3.1计量型,用JMP做图?POWERSPC,控制图的选择,做控制图前的数据检验问题:,相关性检验:打开相关性检验模板,将数据粘贴到DATA列;,3.3做控制图前的数据检验问题:,Tablestranspose-deletecolumns,结论:r1r8均在-0.20.2之间,证明不相关;若r1r8有1个超出范围则相关;,做控制图前的数据检验问题:,正态性检验:analyzedistributionofytestdistisnormal,结论:prob9件产品为1个样本)子组频率(一般每小时、每半日、每天、每周)子组数的大小(组数大于25),3.12、图(均值-标准差图),3.1计量型,计算控制线:只是用S代替R,3.1计量型,练习2:用JMP做图?10分钟,POWERSPC,3.13、X-RS图(单值-移动极差图),3.1计量型,A.应用场合:,B.收集数据:子组大小(1)子组频率(一般每小时、每半日、每天、每周)子组数的大小(由于子组为1,组数要达到100以上才能很好的发现过程的变化),XRS图用单值而不是子组来进行控制,用于测量费用很大时或只能得到一个数据(如时间、费用、化学溶液的PH值);在检查过程变化时不如敏感,不推荐使用。,3.1计量型,C.计算控制线:,计算控制线:,3.13、X-RS图(单值-移动极差图),3.1计量型,练习:用JMP做X-RS图?(10分钟),STOCKPRICE,3.2计数型,3.21、P图(不良品率控制图),A.应用场合:,B.收集数据:子组大小(Np5)例:P为0.01,则N5/0.01=500子组频率(一般每小时、每半日、每天、每周)子组数的大小(组数要达到25以上),P图不合格品率控制图,样本含量可以不等,但计算量大,控制线凹凸不平;,3.2计数型,C.计算控制线:,计算控制线:,备注:1.当P很小或n很小时,LCL计算有时会为负,此时下控制线按0取;2.当n变化在25%以内时,上述公式可用代替n,避免控制线凹凸不平;,3.21、P图(不良品率控制图),3.2计数型,3.22、NP图(不合格品数控制图),A.应用场合:,B.收集数据:子组大小,足够大,确保每个子组都出现几个不合格品。子组数的大小(组数要达到25以上),不合格品的实际数量比不合格品率更有意义或更容易报告;各子组的样本容量相同,3.2计数型,C.计算控制线:,计算控制线:,3.21、NP图(不良品率控制图),3.2计数型,练习:用JMP做P,NP图?(10分钟),BEADBWL2,3.2计数型,3.22、U图(单位缺陷数控制图),A.应用场合:,U图单位缺陷数控制图,样本量可以不等;,B.计算控制线:,计算控制线:,3.2计数型,练习:用JMP做U图?(10分钟),WINGS,课程内容,第一单元:SPC的发展史及重要性;,第二单元:SPC的实现工具:控制图的概念和原理;,第三单元:SPC控制图的构建步骤;,第四单元:过程能力评价指标;,Cnpk,转化,正态性,YES,N,YES,N,YES,N,不要计算,计算CP、CPK、CPM,第四单元:过程能力评价指标;,过程稳定?,备注:过程稳定的判断根据控制图,4.1计数值:,备注:一般需要100个以上单值;,第四单元:过程能力评价指标;,4.2计量值:,Cp-表征工艺或设备的相对于允许规格的能力,允许宽度,实际工艺分布宽度,Cp=,(当n很大时),备注:I.一般需要100个以上单值;II.对于单边问题没有CP,4.21Cp:,第四单元:过程能力评价指标;,4.2计量值:,CpK-能表征实际过程相对于目标的偏移;,4.22CpK:,A.双边规格且加工目标为规格中心;(例:),Cpk=Cp(1-k),第四单元:过程能力评价指标;,B.双边规格且加工目标不是规格中心;(例:),第四单元:过程能力评价指标;,C.单边规格:(例:时间最长10小时,噪音最大30DB),I.有上规格线:,2.有下规格线:,第四单元:过程能力评价指标;,分散和趋中的影响,Cpk=2.0,Cpk=1.5,Cpk=1.0,Cpk=0.5,Cp=2.0,Cp=1.5,Cp=1.0,Cp=0.5,第四单元:过程能力评价指标;,CP和CPK的等级评价:,第四单元:过程能力评价指标;,6sigma过程要求什么?,3s,这是6Sigma过程,Cp=2,Cpk=1.5,第四单元:过程能力评价指标;,4.2计量值:,Cpm-当CP发生变化时,对过程的偏移更加敏感;,4.23Cpm:,备注:T代表目标,当T=u时,Cpm=Cp=Cpk,第四单元:过程能力评价指标;,4.2计量值:,Cpm、Cp、Cpk的比较,结论:当Cp和偏移K均增大时Cpk没有变化,而Cpm就比较容易的诊断出来;,第四单元:过程能力评价指标;,4.3、用JMP计算Cpm、Cp、Cpk,A.打开文件:SOLDERPASTE,第四单元:过程能力评价指标;,4.3、用JMP计算Cpm、Cp、Cpk,B.检查正态性:,第四单元:过程能力评价指标;,4.3、用JM

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