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精品文档上海科锐光电发展有限公司XPE失效分析报告申请单位： 北京市京电变电工程处申请代号： SH-FA-00311申请日期： 2011.07.11鉴定员： SA60019审核： SA60025批准： SA60028 一、基本情况收到客户-北京市京电变电工程处，1盏XPE 灯具（参见图-1），要求分析XPE 失效的原因。 送检XPE 灯具 图-1二、原因分析1、电学特性通过晶体管特性仪检测，所有XPE 均无法点亮，其电学特性为短路（参见图-2）。 送检失效XPE 电特性 图-2 2、显微镜检测取出二颗肉眼观察具代表性的LED 进行高倍显微镜观察，失效XPE-NO1金线周围的硅胶有膨胀现象（参见图-3“红圈”处），及芯片电极处有明显发黑现象（参见图-3）。膨胀现象说明：LED 的金线处过热，曾受到过电冲击；电极处发黑现象说明：LED 受到严重的过电冲击。从XPE-NO2中暂时无法观察到有明显的损坏痕迹，需进一步解剖（参见图-4）。 送检失效XPE-NO1放大图-3 送检失效XPE-NO2放大图-43、解剖 剥去失效XPE 的硅胶透镜后，XPE-NO1芯片电极处发黑，再次说明：该LED 曾受过电严重的过电冲击（参见图-5）。XPE-NO2金线端的电极处及芯片上的电极处，均发现部分发黑痕迹，此现象说明：该LED 受到过电冲击（参见图-6“红圈”处）。 送检失效XPE-NO1芯片图-5 送检失效XPE-NO2芯片图-64、驱动电源检测分析：连接方式为驱动电源+XPE灯板（灯板为客户寄来的完好的XPE 灯板），用示波器在0.1上监视得到开机后的冲击电流约在2.25A （50mV*4.5 / 0.1）以上（参见图-7）。检测纹波电流较大，超过50%（参见图-8）。该电源的纹波电流及瞬间的冲击电流可能是导致XPE 损坏的原因之一。 瞬间冲击电流图-7 纹波图-8三、结论从上述现象分析得：造成XPE 短路的主要原因是由于EOS 导致的LED 失效。四、免责声明本报告为CREE 非正式文档，任何正式报告仅由CREE 总部提供。本分析报告的目的旨在协助客户进行样品分析，仅供客户查找相关灯具失效原因所用。若客户将本报告适用于其他途径，所造成的任何损失均与CREE 无关。本报告最终解释
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