ICT测试原理及程式简介

ICT測試原理及程式簡介,EPDVIIIICTRandy.xiang,一.ICT的功能,ICT也叫在線測試儀，是一台靜態元件測試儀，它能准確，高速地測量PCB上已裝元件的不良問題，包括元件的漏件，錯件，裝反，空焊，來料不良，PCB上金道之間的開短路等。可測元件包括：電阻，電容，二極管，三極管，電感，變壓器，IC等絕大多數電子元件。,二.ICT的硬件結構,ICT包括ICT系統主機，電腦系統，壓床，測試治具。其中ICT系統主機包括：電源部分，量測控制板，I/O卡，DC量測板，AC量測板，開關板，HP-JET量測板，高壓量測板(選配件)。,公司:TRI(TestResearchInc.)德律科技產地:台灣,工作條件治具類型:真空治具.真空壓力:最小56cmHg.外部真空管2根.氣壓:4kg/cm26kg/cm2.氣壓管1根.操作溫度:0。C30。C.環境濕度:25%RH-75%RH.最小工作空間:深：1.5公尺。寬：2.0公尺。高：2.0公尺。,TRI8001測試畫面,公司:TRI(TestResearchInc.)德律科技產地:台灣,工作條件電源:3AC220V-245V,50/60Hz5%氣壓:46KGFCM2,TRI518測試操作畫面,相匹配的治具簡介,相匹配的治具必需為真空治具,即治具下壓的動力為真空.真空治具根據繞線長度分為:長線治具,短線治具和無線治具.我們現在使用的治具為長線治具.治具內部結構如下:,探針,彈簧,密封墊,Interface,IntroductionofAgilent3070,Agilent3070Family,307X,upto5200nodes,327X,upto1300nodes,317X,upto2600nodes,AnatomyoftheAgilentMedalist3070,Agilent3070Hardware,Agilent3070,ElectronicsCabinet,DUTpowersuppliesExternalInstruments,TestFixture,MotherBoard(oneperbank),ModulepowerSupplies,Agilent3070測試畫面,AnatomyoftheAgilentMedalisti3070Fixture,ProbetoPinWiring,TestProbe,SupportPlate,ProbePlate,PersonalityPin,AlignmentPlate,PrintedCircuitBoard,FixtureFrame,VacuumGasket,R1,AnatomyoftheAgilentMedalist3070,Agilent3070TestHead,Bank2Bank1,Module2Module0Module3Module1,Slot1:ASRUSlot6:ModuleControlCardAllothers:PinCards,Pin78-1,Pin1-78,FixtureNumbering,AnatomyoftheAgilentMedalist3070TheModuleControlCardsTheAnalogStimulus-ResponseUnit(ASRU),Agilent3070Module,Mothercard,ASRUcard,Controlcard,Pincard,Slot1,Slot2,Slot3,Pincard,Slot4,Slot8,Slot6,Slot7,Slot5,Slot9,Slot10,Slot11,Pincard,Pincard,Pincard,Pincard,Pincard,Pincard,Pincard,Modulecardconfiguration,ASRUCard,提供模拟激励信号使用测量运算放大器进行反馈信号的测量提供上电测试的电源通道配在每个模块第1号插槽,ModuleControlCard,控制实际的测试过程2个rcvc,测试频率带有8个通用开关(GPRelay)配在每个模块的第6号插槽,MUX,SIABLG,MOA,Detector,Aux,Source,HybridDoubleDensity,ChannelA,ChannelB.,ChannelH,PinCard,X1.X8XGXL,AnalogSubsystem,DigitalSubsystem,9:2,ASRU,Hybrid32Card,ICTTEST程式与夾具命名規則,1.ICT程式命名規則設備型號T(TR8001,TR518),A(Agilent3070)T,A+P/N+EC+夾具套數2.ICT夾具命名規則設備型號T,A+P/N+夾具套數,MHS机种为例：,P/N：69Y4784EC:N31078RICT程式命名:A90Y4784N31078R_01ICT程式命名:A90Y4784_01,三.ICT的基本測試原理,1.隔離量測原理ICT其實是一台高級的萬用表，但它具有隔離(GUARDING)功能，這是它不同于萬用表的最大特點。GUARDING的作用是使一個被測元件在測試時不受旁路元件的影響，而萬用表做不到這一點。在ICT內部電路中利用一顆OP放大器當做一個隔離點（最多可有五個隔離點），如果是:,source:,AnOverviewof3070Test,Part3,PinsTest,Pins测试概述,ICT测试的原理要求夹具的探针和电路板的测试点(testpad)要有良好的电气接触.Pins测试就是在测试正式开始前验证探针和测试点有无接触的工序.Pins测试只定性验证有无接触，pinspass是最低要求，并不能保证接触良好.(绕线出现错误；pins接触不好，阻抗大，但依然有currentflow;隔离点无法测),PinsTest,“A”,“B”,“C”,“D”,“E”,“F”,“G”,“Node_Names”,S,NodeEhasnocurrentflow.ItiscapacitivelyisolatedandcannotbetestedinPinsTest.,PinsTest-Syntax,nodesAnodesBnodesCnodesD!nodesE”!nodecapacitivelyisolatednodes”Fnodes”G,PinsTestCalledfromtestplan,Pinstest的预定义subSet_Custom_OptionglobalOff,Pretest,Failure！设置全局常量globalChek_Point_ModeChek_Point_Mode=Pretest!chooseOff,Pretest,Failure！选择pins测试模式，off不进行pins测试！pretest在其它测试前进行pins测试！failure其它测试fail后，进行pins测试endsub,Pins测试的调试,Pins测试中的节点排列顺序不影响测试结果Pins测试中没有其他测试选项所以pins测试只有node的取舍哪些节点pins不可测?电容阻隔的点（capacitivelyisolated）IPG自动注释只连到IC的NC脚的IPG自动注释所连器件在板上都没有放(nopop)的手动确认,Part4,ShortsTesttestpins1testpins2.,TurnOnAutoDebugforiVTEP+VTEP,AutoDebugcalculatesthethresholdlimit,BeforeADB,AfterADB,TheTestJetTest-AfterDebug,defaultthresholdlow20high10000device“u1”;thresholdlow15high10000testpins1testpins2,3;thresholdlow350high10000testpins4,5,6;thresholdlow450high10000!testpins7!GroundpinscommentedbyIPGtestpins8!testpins13!Testmeasures9testpins8testpins14!FixedpinscommentedbyIPGdevice“u2”bottom;testpins1;thresholdlow15high10000testpins2testpins3;thresholdlow40High10000.,Part10,OverviewofBoundary-Scan,TypicalICwithBoundary-Scan,BoundaryCells,CoreLogic,TestDataIn(TDI),TestDataOut(TDO),TestModeSelect(TMS),TestClock(TCK),TESTACCESSPORTCONTROLLER(TAP),ThedevicecanbecontrolledandtestedthroughTDI,TCK,TMS,&TDO,Arrowsdenoteaccesspoints,BasicTestofICwithBoundary-Scan,TheBoundary-ScanTestDevelopmentProcess,StartwiththeBSDLfileBSDLmeansBoundary-ScanDescriptionLanguage”Alanguagefordescribingthedevicespecificcharacteristicsof1149.1devicesLanguagesubsetofVHDLWhowillwriteBSDLASICdesignersSemiconductorvendorsTestengineers,TypicalICwithBoundary-Scan,TestDataIn(TDI),CoreLogic,TMS=Serial,TestClock(TCK),TESTACCESSPORTCONTROLLER(TAP),0101