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文档简介

WireBondExcursion(CABGA/SCSP),ATCPEGroupSep.23th.05,键合衬垫损坏,客户:ATi(CABGA)不良:键合衬垫损坏并与相邻衬垫短路.失效模式:测试失效(短路)原因:特殊设计的键合衬垫!如果键合金球偏出键合区域,键合金球可能损坏键合衬垫.,键合衬垫损坏,客户:ATi(CABGA)不良:键合衬垫损坏并与相邻衬垫短路.失效模式:测试失效(短路)原因:特殊设计的键合衬垫!如果键合金球偏出键合区域,键合金球可能损坏键合衬垫.,引脚键合翘起,客户:ATi(CABGA)不良:引脚键合翘起失效模式:测试失效(断路)原因:1)引脚表面氧化.2)键合参数未优化,金线与接地引脚短路,客户:Atheros(CABGA)不良:金线与接地引脚短路失效模式:测试失效(短路)原因:线弧参数未优化.,金线与金线短路,客户:Atheros(CABGA)不良:金线与金线引脚短路失效模式:测试失效(短路)原因:线弧高度设置错误.,键合球与相邻球短路,客户:Broadcom(CABGA)不良:键合球与相邻球短路失效模式:测试失效(短路)原因:1)键合参数未优化2)键合球尺寸,厚度未优化.,键合球与相邻键合衬垫短路,客户:Broadcom(CABGA)不良:键合球与相邻衬垫短路失效模式:测试失效(短路)原因:1)换好劈刀后未调整OFFSET.2)PRTEACH错误/未优化.,引脚键合翘起,客户:Intel(CVBGA)不良:引脚键合翘起失效模式:测试失效(断开)原因:引脚键合位置设定错误.,SolderMaskArea,上层线弧与下层线弧短路,客户:Intel(SCSP)不良:上层线弧与下层线弧短路失效模式:测试失效(短路)原因:线弧参数设定错误.,上层线弧下塌/损坏,客户:Intel(SCSP)不良:上层线弧下塌损坏失效模式:测试失效(短路)原因:上层线弧被压板损伤(OnlyforKnS8028).,压碎的键合球/针脚,客户:Phili

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