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文档简介

探針基礎知識介紹,1,一、探針的用途,电流或电压信号通过探针的传输来测试线路板的开路（Open）或短路（Short）I=U/R如果是开路（Open）电阻：如果是短路（Short）电阻0,2,二、探針測試原理,參數測試系統將電流或電壓輸入被測器件，然後測量該器件對于此輸入信號的響應。信號傳輸的路徑:從測試儀通過電纜束至探針套管，然後通過探針針頭至待測的焊點，到達被測器件，并最後沿原路返回測試儀器。,3,三、探針的構造与套管的連接方式,4,四、探針的各部分組成分析,探針的各部分（針頭、內管、彈簧）在組裝前，要經過特殊的電鍍處理，來決定其導電性、持久性、硬度及磨損阻抗等特性。,5,1、針管内壁鍍層分析,6,2、彈簧材料分析,通常彈簧没有鍍層，因为彈簧電鍍可以降低阻抗的同时也有可能使彈簧變脆。目前一些廠商為了提高産品的競爭力已經完全掌握了彈簧的電鍍技術，找到了彈簧電鍍的臨界值，在确保其韌性的同時也大大的降低了彈簧的阻抗。,7,3、針尖中軸分析,針头尾部伸入彈簧，测试時彈簧整体受力，并且確保壓力可以垂直用于彈簧。采用這種結構，針頭運動穩定，彈簧壽命延長长,8,五、探針的分類,根據探針的用途不同，探針可以分爲：PCB測試用探針，ICT測試用探針，高電流探針，開關針，同軸探針，電池探針，汽車探針，半導體探針等。根據探針最小值中心間距不同可以分爲：39mil、75mil、100mil、125mil等探針。根據探針的頭型不同可以分爲：尖針、爪針、圓頭針，平頭針，杯型針等。,9,六、探針頭型的應用,1、A-頭型為45o三麵錐-Pyramid3sides45o,10,2、B-星頭-Star,3、C-圓頭-Sphericalradius,4、D-傘型頭-Conical,11,5、E-杯型頭-Cup,6、F-尖頭-Sharp,7、G-平頭-Flat,12,8、H-四瓜皇冠頭-4PointCrown,9、I-鋸齒頭-Sarrated9points,13,10、J-45o四麵錐-Pyramid4sides45o,11、L-六爪皇冠頭-PiontedCrown,12、N-高碳鋼尖針頭-NeedleHardenetSteel,14,13、R-高碳鋼尖針頭-NeedleHardenetSteel,14、T-七爪皇冠頭-Tulip（中心針較突出）,15、刀削針-Dagger,15,16、X-皇冠頭-TaperedCrown,17、Z-八爪皇冠頭-8PointsCrown,18
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