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文档简介
胡俊杰2005.3,数字电路实验,实验一门电路逻辑功能测试与组合,实验一门电路逻辑功能测试与组合,实验目的熟悉电子实验箱的功能及使用方法。认识集成电路的型号、外形和引脚排列学习在实验箱上实现数字电路的方法。掌握逻辑门电路逻辑功能的测试、使用的基本方法。掌握逻辑门电路的替换方法。,实验一门电路逻辑功能测试与组合,实验原理逻辑门电路是最基本的逻辑元件,它能实现最基本的逻辑功能,即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。实验中提供的集成块为74LS系列的低功耗肖特基TTL电路和74HC系列高速CMOS电路,它们在逻辑上兼容,但具体物理参数不同,在实验中采用统一电源5V;经实际测定可以直接互接,但有些条件下要通过接口互接,在74LS门电路驱动74HC门电路时,要测量输出高电平电压是否够高,实际测量值要3.5V。而74HC门电路驱动74LS门电路时,扇出系数较小,小于10。本次实验是在门电路的输入端输入不同的电压时,表示输入不同的逻辑电平。输出端输出不同电压,表示输出不同逻辑电平。测量输入、输出电压变化与逻辑电平的对应关系,根据输出电平与输入电平关系,以确定门电路的逻辑功能。,实验一门电路逻辑功能测试与组合,表1-2双极型与CMOS一般特性比较,74LS芯片在负载少时,实际输出高电平的电压是3.6V,可以直接驱动74HC芯片,但负载高和频率高时会出错。,实验一门电路逻辑功能测试与组合,注意事项在实验箱上会遇到各种实际问题,比原理上复杂,操作不当会引起实验结果不正确,还会损坏仪器设备和元器件,要注意以下事项。实验开始前,清理实验箱上引线后,打开电源,如电源指示有问题,向教师报告。,电源指示,电源指示,电源线接法,实验一门电路逻辑功能测试与组合,注意事项接线时仔细检查是否有电源短路、正确接地,检查接线正确后才可开启电源,如发现电源指示灯灭掉,立即关掉电源,检查是否电源短路。禁止带电接线:新接电路和对线路进行重新接线时,应关掉实验箱的电源,以防损坏元件和实验箱。插、拔连线时,要抓住导线的插头,不可以拉线,以免损坏导线,开始接线前,需要先测量导线内部是否导通。,实验一门电路逻辑功能测试与组合,注意事项门电路的输出端的处理:(由于门电路输出阻抗很小,负载过小时会被烧坏。)输出端不可以直接并联(短接)使用,需经过门电路并联,但可以悬空,OC门和三态门除外。不能直接接地或接电源,须加几百以上的电阻作为负载,具体数值需根据实际电路计算。接指示灯时,最好经1k电阻由三极管放大后驱动指示灯。,实验一门电路逻辑功能测试与组合,注意事项闲置输入端的处理:(不要悬空,不然会产生干扰,影响实验结果,对CMOS电路输入引脚悬空时容易损坏。)对于与门/与非门:应接高电平,也可并联(不可超出前一级门的扇出能力),不可以接低电平。A=A1对于或门/或非门:应接低电平,也可并联(不可超出前一级门的扇出能力),不可以接高电平。A=A+0对于其他类型电路,以不影响逻辑关系为原则接不同电平,建议少用并联法,以防止前级电路驱动能力不够。在实验箱上接线时,先画出原理图,标上接线的引脚号,按图接线。做完实验,需经老师检查实验结果,最后关闭电源,将实验箱整理好,才可离开。上实验课前,必须预习并写好预习报告,实验时记录好原始数据,实验完成后认真写好实验报告,做下次实验前交上,一份也不能少。,实验一门电路逻辑功能测试与组合,实验内容与非门逻辑功能测试。用与非门控制信号输出。组合电路逻辑功能测试。利用与非门组成其它逻辑门电路。2输入与非门组成或门。用2输入与非门组成与门Y=AB用2输入与非门组成同或门Y=AB2选1用2输入与非门组成异或门Y=AB设计一个4位二进制数为密码的数字密码锁。,实验箱介绍,电源输出,单脉冲源,电平指示,电平输入,各种引脚数的集成块插座,数码显示,连续脉冲源,电源输入,插分立元件,插分立元件,接地输出,实验一门电路逻辑功能测试与组合,实验箱使用,各档固定连续脉冲,1k10kHz频率可调连续脉冲。,电平(数据)开关,电平指示,单脉冲源分正、负单脉冲。,实验一门电路逻辑功能测试与组合,与非门逻辑功能测试接线准备,找到集成块74HC20或74LS20,其引脚图如左图。缺口或标志第一脚的小点朝左,则左下方是第1脚,引脚号逆时针数。,第1脚,第7脚,第8脚,第14脚,实验一门电路逻辑功能测试与组合,实验箱使用,导线插孔和集成块座集成块插座与导线插座号码一致则相通。,1号脚,实验一门电路逻辑功能测试与组合,实验箱使用,导线插孔和集成块引脚集成块引脚数与集成块插座一致时,引脚号导线插座号码一致则相通,1号脚,7号脚,实验一门电路逻辑功能测试与组合,实验箱使用,导线插孔和集成块引脚集成块引脚数与集成块插座一致时,引脚号导线插座号码不一致。,1号脚,7号脚,8号脚,插座的8、9号脚未使用,实验一门电路逻辑功能测试与组合,与非门逻辑功能测试接线过程演示,第一步找到74LS20或74HC20集成块,实验一门电路逻辑功能测试与组合,实验内容一、与非门逻辑功能测试目的:通过对四输入与非门的逻辑功能测试,学习实验箱使用,利用集成块在实验箱上实现电路的方法、注意事项。实验步骤选用元器件74LS20或74HC20集成块一片。按图1-3门电路测试原理图接线。测试并将结果记录到4输入与非门测试表(表1-1)中。体会电平与电压关系,对比其它同学的测试数据,了解COMS与TTL区别。操作提示逻辑输入接电平开关,接通5V电源为高电平(指示灯亮),接通“地”为低电平。逻辑输出接发光二极管,指示灯亮时输出高电平,灭时输出低电平。测量输出不同电平的电压,记录到表1-1,电压值在输出引脚处测量。原理图中发光二极管上接的电阻和“地”,在实验箱内部已接好,不需要接。,实验一门电路逻辑功能测试与组合,与非门逻辑功能测试接线过程演示,第二步接上集成块的电源,如用到多个集成块,每块集成块都要接上电源。注意:电源包括5V和“地”,缺一不可。,实验一门电路逻辑功能测试与组合,与非门逻辑功能测试接线过程演示,第三步接输入A:引脚1连线到电平开关A。,&,&,实验一门电路逻辑功能测试与组合,与非门逻辑功能测试接线过程演示,第四步接输入B:引脚2连线到电平开关B。,&,&,实验一门电路逻辑功能测试与组合,与非门逻辑功能测试接线过程演示,第五步接输入C、D:引脚4连线到电平开关C。引脚5连线到电平开关D。引脚3为空脚。,&,&,实验一门电路逻辑功能测试与组合,与非门逻辑功能测试接线过程演示,第六步接输出Y:引脚6连线到电平指示。在实验箱内部已接好相关电路,我们只要接到电平指示的输入即可。,&,&,实验一门电路逻辑功能测试与组合,与非门逻辑功能测试接线过程演示,第七步1、打开电源2、根据表1-1的输入值,拨动电平开关,观察电平指示灯,并记录。3、在输出端测量不同输出电平的电压,并记录。,&,&,实验一门电路逻辑功能测试与组合,与非门逻辑功能测试接线过程演示,第七步4、根据表1-1的输入值,拨动电平开关,观察电平指示灯,并记录。5、在输出端测量不同输出电平的电压,并记录。第八步分析测试数据,得出结论。,实验一门电路逻辑功能测试与组合,2.用与非门控制信号输出(数字开关),操作步骤找到7400集成块。接好电源。接S输入空闲输入引脚接1。第1门电路输出接第2门电路的输入。,接5V得到逻辑1,通过串接减少引线长度。,输出引脚直接接通到输入引脚。,&,&,实验一门电路逻辑功能测试与组合,2.用与非门控制信号输出(数字开关),操作步骤接1Hz脉冲输入。接输出到电平指示。检查电路。打开电源。S开关置0时观察输出。S开关置1时观察输出。,&,&,实验一门电路逻辑功能测试与组合,2.用与非门控制信号输出(数字开关),操作步骤S开关置1时观察输出。,&,&,实验一门电路逻辑功能测试与组合,2.用与非门控制信号输出(数字开关),操作步骤为了便于观察脉冲输入和输出之间的同步关系,可以将原来接脉冲输入的导线接到开关,用开关手动产生脉冲。体会S开关所起的作用。根据指导书的问题,改变电路,验证自己设计的电路。,&,&,3.组合电路逻辑功能测试,4,2脚接+5V,找到内有2输入与非门的7400集成块,每块集成块内部有4个与非门,共需2片。原理图中的门电路与集成块内的门电路建立对应关系。根据原理图和集成块引脚图画出接线图。可以在原理图上标上引脚号作为简易接线图。先接每块集成块的电源。按图从输入到输出、从左到右接线。根据输入的不同组合测试电路的逻辑功能。,3,2,4,2,1,1,+5V,4,Z,Y,B,A,&,&,&,&,&,4.利用与非门组成其它门电路,4,用2输入与非门74LS00(或74HC00)集成块组成非门。写出转换公式:Y=画出如下原理图:,=,=,用2输入与非门组成或门转换公式如下:Y=A+B=画出原理图,接线验证,填写真值表,分析结果。,=,实验一门电路逻辑功能测试与组合,表1-3用与非门组成门,&,&,&,&,&,5.设计一个4位二进制数为密码的密码锁,4,实验一门电路逻辑功能测试与组合,两个输入是否相同(00或11),直接使用异或门。多个电平输入中只要有一个电平有效时就输出一个指示的方法。1、多个输入正常为高电平,只要有一个是低电平时就输出一个指示,使用与门。2、多个输入正常为低电平,只要有一个是高电平时就输出一个指示,使用或门。,&,0,0,X,X,X,1,1,1,X,X,X,7486中有4个异或门,异或门的非是通或门。7404中有6个非门。7432中有4个或门。二输入或门扩展:Y=(A+B)
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