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文档简介

,AP,Bxo,Bxa,Bxa,二轴晶Bxa切面干涉图,AP,二轴晶Bxa切面干涉图,OA切面干涉图,1.4透明矿物的系统鉴定,利用正交偏光显微镜对透明矿物薄片进行系统的光学性质测定，以鉴定未知矿物。包括单偏光、正交偏光和锥光下矿物的所有主要光性。,1.4.1鉴定内容,晶形观察晶体的完整程度、结晶习性。根据各方向切面形态，初步判断晶体形态及可能晶系；解理观测解理的完整程度。根据不同方向切面上的解理，判断解理的组数。若为两组，则需测定解理夹角；突起观察突起程度，结合贝克线的移动规律，估计矿物折射率的大致范围；颜色和多色性观察矿片有无颜色；如有颜色，则观察有无多色性，如有多色性，则在定向切面上测定多色性公式和吸收性公式；,干涉色和双折率消光类型及消光角延性双晶观察有无双晶，确定双晶类型。轴性光性,1.4.2鉴定步骤,（1）区分均质体和非均质体矿物(?)（2）均质体矿物的鉴定在单偏光下观察矿物的颜色、晶形、解理、突起等级等特征。（3）非均质体矿物的鉴定在不同光学条件下，尽可能全面地观察和测定矿物的各种光学特征。,思考题,1.简要说明进行矿物光性鉴定采用的试样形式和仪器条件。2.简要说明下述问题的解决步骤（注意清晰和完整）：（1）如何区分均质体和非均质体；（2）如何确定矿物的轴性和光性；（3）如
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