质量管理体系五大工具培训课件.ppt

TS16949五大工具简介,TS16949标准培训,ISO/TS16949:2009,五大技术手册,五大技术手册-高附加价值产业特性,更重要的：质量管理体系五大工具,AdvancedProductQualityPlanning先期产品质量策划,什么是？APQP是用来确定和制定确保产品满足顾客要求所需步骤的结构化方法。-结构化、系统化的方法；-使产品满足顾客的需要和期望；-团队的努力（横向职能小组是重要方法）；-从产品的概念设计、设计开发、过程开发、试生产到生产，以及全过程中的信息反馈、纠正措施和持续改进活动。1.1.APQP的功能：为满足产品、项目或合同规定,在新产品投入以前,用来确定和制定确保生产某具体产品或系列产品使客户满意所采取的一种结构化过程的方法。为制订产品质量计划提供指南，以支持顾客满意的产品或服务的开发。,系统把握团队精神高瞻远瞩面面具到,2.产品质量策划循环的目的:前期策划:循环的前三个阶段为产品/过程确认中的前期产品质量策划;实施行动:循环的第4阶段为输出评价阶段,其重要性表现在两个功能上:决定顾客是否满意;支持追求持续改进.,3.多方论证小组：APQP即，D-FMEA在设计(图纸、规范)完成之前，P-FMEA在过程设计确定之前。全面的事先FMEA分析，可容易、经济地进行早期更改。即对产品规范/过程方案和控制进行较容易、低成本地修改，减轻事后修改的浪费，和对进度的影响。FMEA是一个永不停止、相互作用的持续改进的过程。,设计FMEA,_系统_子系统,FMEA潜在的失效模式和影响分析,过程FMEA,FMEA潜在的失效模式和影响分析,MeasurementSystemsAnalysis测量系统分析,什么是？测量系统分析（MSA）是对每个零件能够重复读数的测量系统进行分析，评定测量系统的质量，判断测量系统产生的数据可接受性。的目的：了解测量过程，确定在测量过程中的误差总量，及评估用于生产和过程控制中的测量系统的充分性。MSA促进了解和改进（减少变差）。,失之毫厘谬之千里,1如何进行测量系统分析？评定一个测量系统的第一步是验证该系统一直在测量正确的变量，如果一直在测量错误的变量，那么无论该测量系统多么准确或精密，都将是徒劳无益的。评定一个测量系统的第二步是确定该测量系统必须具有什么样可接受的统计特性，为了做出上述确定，知道怎么使用数据是重要的，不了解这一点是不能够确定恰当的统计特性的，在已确定统计特性之后，必须评定该测量系统实际上是否具有这一特性。2测量系统变差的类型分哪几种？经常假定测量准确的，而且分析及结论也常常基于这种假设，一个人也许设有意识到测量系统中存在着影响单次测量结果的变差，它进而又影响基于这些数据的理论，测量系统误差可以分成五种类型：偏倚，重复性，再现性，稳定性以及线性。,%R&RResults30%测量系统需要改进,重复性和再现性GageR&R判断原则,计量型数据的MSA,MSA测量系统分析,NO-GO,GO,计数型数据(AttributeData)的R&R,MSA测量系统分析,StatisticalProcessControl统计过程控制,什么是？是一种制造控制方法，是将制造中的控制项目，依其特性所收集的数据，通过过程能力的分析与过程标准化，发掘过程中的异常，并立即采取改善措施，使过程恢复正常的方法。实施SPC的目的：对过程作出可靠的评估；确定过程的统计控制界限，判断过程是否失控和过程是否有能力；为过程提供一个早期报警系统，及时监控过程的情况以防止废品的发生；减少对常规检验的依赖性，定时的观察以及系统的测量方法替代了大量的检测和验证工作,在线监控异常预警系统分析持续改进,QCC、SPC+brainstorming(头脑风暴),TQM、QCC、SPC,SIXSIGMA、ISO9000、TQM、QCC、SPC,ISO9000、TQM、QCC、SPC,SPC的起源与背景,SPC统计过程控制,统计过程控制（SPC）概述检测与预防通过质量控制来检查最终产品并剔除不符和规范的产品，为检测的方法。检测方法是浪费的。因为允许将时间和材料投入到无增值的生产和服务中（自我提高的过程）。通过控制生产各相关要素，保证避免无效的输出，为预防的方法。预防方法要求尽可能第一次就完成工作，以避免浪费。统计过程控制是控制人员、设备、材料、方法和环境等方面达到最佳水平，防止不合格发生的重要方法，。,统计过程控制概述,控制图种类(以数据來分)计量型控制图平均值与极差控制图平均值与标准差控制图中位数图单值与移动极差图,计数型数据控制图不合格率的p图不合格数的nP图不合格数的c图单位产品不合格数的u图,统计过程控制,5.1.1操作人首先处取得控制图，按技术人员要求的时间间隔从机床上连续取5个样品为1个子组，共取25个子组。测量并完成每个表格记录后，计算是否上控制限和下控制限正确，是否目标在正确位置。5.1.2在控制图上计算所有平均值的平均值和所有极差的平均值，然后按下公式计算：5个样品平均值上限：UCLx=+（0.58）5个样品平均值下限:LCLx=-（0.58）个样品极差上限：UCLR=（2.11）个样品极差下限：LCLR=05.1.3将算出的平均值在控制图上画成水平实线，各控制限（UCLx，LCLx，UCLR，LCLR）画成水平虚线。然后在控制图上描点。5.1.4对下列特殊原因进行分析并采取措施:任何超出控制限的点连续7点全在中心线之上或之下,7点连续上升或下降,明显非随机的图形,0,0.05,0.1,0.15,0.2,0.25,1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11,12,13,14,15,16,17,18,19,20,UCL,p,UCL,p,CL,p,参见X-R控制图表,统计过程控制,控制图用于控制生产过程的步骤：与现有规格进行比较：1.如果有超出控制界限的控制点，则应作以下工作；对此异常点进行分析并加以处置，并要有预防措施。X控制图有超界限点时，表示过程平均发生变化或变异增大。R控制图有超界限点时，表示过程变异增大。2.如果过程控制要项发生变化，如设备、人员、原料等因素。此时应对控制界限重新进行计算。重新收集数据进行计算，找出客观的控制界限。,一定了解控制图两种基本用途！,五大工具回顾-高附加价值产业特性,时间与进度:APQPFMEA稳定的好产品:SPCMSA一致的好产品:CPPPAP持续完整的全员质量保证体系:TS16949,新产品开发的过程,设计开发计划,生产计划,反馈信息的评估及改正措施,批量生产,产品的设计开发,制造过程的设计开发,产品和过程的批准,APQP,FMEA,PPAP,MSA,SPC,输入,输出,*,实施,计划,行动,分析,持续改进,技术和概念开发,产品/工艺的开发及样件的验证,产品确认及工艺验证,反馈,评估和整改措施,产品和工艺的认证,计划与确定