纳米材料的检测分析技术ppt课件

纳米材料的检测与分析技术简介，1，电子与材料的相互作用，1，电子显微镜的电子光学基础，2，高能入射电子束轰击样品表面时，入射电子束与样品表面之间存在相互作用，入射电子能量的99%以上将转换为样品热，其余入射电子能量的约1%将从样品中产生各种有用的信息。主要是1)二次电子-来自样本表面大约l00深度的低能电子。K线)(MK=kb，ML=L)，波长色散谱，图，58，2)线分析：将光谱或光谱仪固定在特定元素特性x线信号(波长或能量)的位置，以获得此元素沿该线的浓度分布曲线。59，3)表面分析：电子束在样品表面上执行光栅扫描，将x射线固定在特定元素的特性x射线信号的位置，此时荧光屏可以获得该元素的面分布图像。聚合物中Ti元素的分布，60，4)定量分析：定量分析是根据样本发射的特性x射线强度和已知成分的标准样品发射的x射线强度的比例进行的。准确度：电子束激发的微区约为10m3。密度为10g/cm3时，分析区域的重量只有10-10g。探测灵敏度为1万分之一时，分析区域的绝对重量为10-14g，因此是微区域分析设备。61，基本原理：加速惰性气体等一次离子，集中在小高能粒子束冲击样品表面(几KeV)上，对二次离子进行激发和溅射、加速和能谱分析。分析面积可以减小到12m直径和小于5nm的深度。通过质谱检测，得到了元素组成和含量。分析深度、灵敏度、分析范围、时间优于电子探针。氧通常用作一次离子。探测限度10-19克相当于数百个原子。分析深度0.005微米。9，离子探针(IonMicroprobeMassAnalyzer，IMMA) -离子探针质谱，62，离子探针图，63，基本原理是通过10-500eV能量的电子入射，通过弹性背散射电磁波，通过表面原子层相互干扰的衍射图案通过分析表面的1-5个原子层，可以得到晶体的表面原子排列。10，低能电子衍射，64，低能电子衍射计主要由电子光学系统、记录系统、超真空系统和控制电源组成。低能电子衍射图1-电子枪阴极2-焦杯3-样品4-接收器，65，低能电子衍射的模式特性1。低能电子衍射通过半球荧光屏幕接收信息。荧光屏幕上显示的衍射图案由多个衍射斑点(衍射线和荧光屏幕的交点)组成。3.每个斑点对应于样本表面一个晶体列的衍射。换句话说，它对应于逆点，因此低能电子衍射图案是采样曲面的二维反光栅投影图像。4.与荧光屏的逆周期原点对应的衍射斑点(000)位于入射光线的镜面反射方向。66，2d b-brafion及其反击，67，基本原则：原子内层(壳)电子因电离发生而留下空位，则更外层的电子会转移到此能量水平上，在原子释放能量的过程中释放具有特性能量的x射线光子，或将此能量的一部分传递给其他外部电子，从而释放具有特性能量的俄里什电子，并检测其能量和强度适用于Na以下的轻原子。分析深度为0.005微米，测试限制为10-18克。11，oshey电子光谱仪，68，osher electrical(AE)，osher electrical，caused byde-energizationiofthinghenceyieldsur