材料分析方法概述

第01次材料现代分析方法概要、材料分析方法和应用、2、衍射分析方法概要光谱分析方法概要光谱、质谱和电化学分析方法概要、3、第1节衍射分析方法概要、x射线衍射分析XRD衍射分析电子衍射分析ED中子衍射分析、4、1、x射线衍射分析(XRD ) device法(device-sheller法)照相法聚光法多晶体衍射法针孔法衍射计法(岛津7000/brook d8)液体法单晶衍射法旋转结晶法四元衍射计法(四元单晶衍射计)， 设备照相机和实验技术(多晶体)示于图6-2中，其示出了设备照相机的结构图、衍射仪(多晶体)、7 Intensity强度计数器、样本编号、纵轴衍射强度CPS(countspersecond )或a.u.(arbitraryunit ) 横轴2衍射方向(衍射线的空间分布的方位)、8，2、(a )透射法、(b )背光法、晶片实验装置图及通过衍射图案负片的中心的椭圆上，椭圆为相同带，分布在双曲线上，双曲线为相同带，晶片法(单晶)、旋转结晶法(单晶)对旋转的单晶照射单色的x射线光束四圆：(音器 )、二圆：绕放置结晶轴旋转的圆； 圆：安装测量头的垂直圆。 测量可在该圆上运动的圆：使垂直圆绕垂直轴旋转的圆，即使结晶绕垂直轴旋转的圆，四圆衍射仪(单晶)是近年来综合衍射仪法和旋转结晶法发展起来的单晶衍射方法，成为单晶结构分析的最有效方法。 四圆衍射仪由光源、试样台、检测器等部件构成，其特征是实现试样空间的3个方向的圆运动(旋转)和检测器的圆运动(旋转)，前3个圆运动都调节晶体试样的方向，后者保证衍射线进入检测器。 12、XRD的应用、单一物质相的鉴定或验证物质相定性分析物质相分析(物质相鉴定)混合物相的鉴定物质相定量分析晶格常数(单位晶格参数)晶体结构分析晶体对称性(空间群) 的测定等效点系的测定结晶方位非晶结构分析结晶粒度测定宏观应力分析固溶体研究等(XRD课件的演示)、13、2、电子衍射分析高能量电子衍射依赖于入射电子的能量的大小的低能量电子衍射透过型电子衍射， 是电子衍射(在透射型电子显微镜上进行，是高能量透射型电子衍射)，是一种常见的依赖于电子束是否透过试样的反射型电子衍射的电子衍射方法反射高能量电子衍射(reflectonhighenergyelectrondiffraction，RHEED )低能量电子衍射(LowEnergyElectronDiffraction，LEED )、上图是选择电子衍射的例子，图a是单纯的亮场像，图b是表示选择电子衍射的例子16、x射线衍射与电子衍射TEM上分析方法的比较，17、电子衍射分析方法的应用集成于薄膜制造设备中，18、第二节光谱分析方法概述原子发射光谱分析(AtomicEmissionSpectrometry ) 原子吸收光谱分析(AtomicAbsorptionSpectrometry )原子荧光光谱分析(atomicforosilescenceroscope )紫外可见(分子)吸收光谱分析(ultravioletandvisiblespectroscopy， UV-VIS红外(分子)吸收光谱分析(IR )分子荧光光谱分析(Fluorescencespectrum )分子磷光光谱分析(x-rasyreforlesecenceespectrometry ) 核磁共振光谱分析(nuclearmagneticresonancespectroscopy )拉曼(Raman )光谱分析，19，光谱方法，主要研究不同波长的电磁波与被测物质相互作用的吸收和释放现象，得到原子和分子水平特性的相关信息。美国热电镍钴合金5700型傅里叶变换红外吸收分光器，360FT-IR，岛津EDX-720型x射线荧光光谱分析，23，光谱分析方法的应用： (或者XRF )、25、固体样品也可以直接分析，发光材料、纳米材料、光电子材料、半导体材料、固体带结构分析，现在可以添加特殊附件直接分析的发光材料、纳米材料、光电子材料、半导体材料、固体样品也可以直接分析，26、固体样品也可以直接分析，27、 第三节电子能谱分析方法概要、x射线光电子能谱(XPS )光电子能谱紫外光电子能谱(UPS)X射线激发俄歇电子能谱(XAES )俄歇电子能谱电子激发俄歇电子能谱(AES )、最初是以化学领域的应用为主要目标、 XPS : x-rayphotoelectronspecttroscopyesca : electronspecttroscopyforchemicalanalysisups : ultravioletphotoemissisonpectro e daugerelectronspectroscopyaes : augeerelectronspectroscopy，28，电子光谱分析方法，29，光电子光谱和俄歇电子光谱分析方法的应用，30，电子光谱分析可以使用固体样品、气体样品和液体样品、x射线光电子能谱仪(XPS)/俄歇谱仪(AES )、32、第四节电子显微镜分析方法概要透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscopy )扫描电子显微镜(ScanningElectronMicroscopy ) 电子探针x射线显微镜分析简称电子探针(ElectronprobeX-rayMicroalyzer， EPA/EPMA ) :谱仪(波长色散谱仪) wavelengthdispersivex-ray spectrometer，WDS )和分光器(能量色散分光器，EnergyDispersiveSpectrometer，EDS ) 的电子激发俄歇电子能谱简称俄歇电子能谱(AugerElectronSpectroscopy，AES )、33、电子显微镜分析方法、分光探针、扫描电子显微镜、35、现代固体表面分析方法不是电子显微镜分析方法。 36、第五节色谱、质谱和电化学分析方法概述，一、色谱(GasChromatography，GC )液相色谱(LiquidChromatography，LC )离子色谱IC )元素或