EMC及浪涌相关测试测试简介PPT课件

.,1,EMC及浪涌相关测试测试简介,.,2,EMC基本定义,电磁兼容性(Electro-MagneticCompatibility,简称:EMC)装置、整组设备或整套系统，在它本身的电磁环境中，能圆满地动作，而且不会产生让其它在此环境中的设备难以忍受的电磁干扰。EMC测试目的是检测电器产品所产生的电磁辐射对人体、公共电网以及其他正常工作之电器产品的影响。EMC包含两大项：EMI（干扰）和EMS(敏感度，抗干扰）,.,3,常见干扰源,.,4,EMI基本定义:,1.EMI（Electro-MagneticInterference）-电磁骚扰测试,装置、整组设备或整套系统动作时所产生一种电磁噪声，或装置本身不需要的信号。EMI测试主要内容：RadiatedEmission辐射骚扰测试ConductedEmission传导骚扰测试Harmonic谐波电流骚扰测试Flicker电压变化和闪烁测试,.,5,EMS基本定义:,2.EMS（Electro-MagneticSusceptibility）-电磁抗扰度测试，。此测试之目的为：在一个电磁干扰的环境中，装置、整组设备或整套系统不会因处于此环境而减损其功能的能力。EMS测试主要内容：ESD静电抗扰度测试RS射频电磁场辐射抗扰度测试CS射频场感应的传导骚扰抗扰度测试DIP电压暂降，短时中断和电压变化抗扰度测试SURGE浪涌（冲击）抗扰度测试EFT电快速瞬变脉冲群抗扰度测试PFMF工频磁场抗扰度测试,.,6,辐射骚扰测试(RE),辐射骚扰测试(Radiateddisturbance,简称RE)，包含空间辐射和磁场辐射测试。辐射骚扰主要是指能量以电磁波的形式由产品发射到空中，或能量以电磁波形式在空间传播对周边产品的影响。辐射骚扰超标的产品可能引起周围装置、设备或系统性能降低，干扰信息技术设备或其他电子产品的正常工作，并对人体造成一定危害。电磁辐射分两个级别，其中工频段的单位是T，如果辐射在0.4T以上属于较强辐射，对人体有一定危害，长期接触易患白血病。如果辐射在0.4T以下，相对安全。而射频电磁波的单位是W/2。,.,7,谐波电流测试(Harmonic),谐波电流测试(Harmoniccurrentemissions,简称Harmonic)，又称谐波测试。谐波电流主要是指当产品工作时，与所加的电压不呈线性关系，就形成非正弦电流，即电路中有谐波产生。谐波电流超标的产品可能使电气设备过热、产生振动和噪声，并使绝缘老化，使用寿命缩短，甚至发生故障或烧毁。谐波电流测试使用的标准为EN61000-3-2。,.,8,电源端子传导骚扰测试(CE),电源端子传导骚扰测试(Conducteddisturbanceatthemainsports,简称CE)，又称传导测试。传导骚扰主要是指产品的电源端子对整个公共电网的影响。传导骚扰超标的产品可以引起在同一电网的电子设备性能降低，干扰电子设备的正常工作。,.,9,骚扰功率测试（PE）,骚扰功率测试（Disturbancepower，简称PE),又称功率骚扰。骚扰功率主要是值能量不能以电磁波的形式由产品发射到空中，只能通过对外的较长引线向外辐射对周边产品的影响，设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。骚扰功率超标的产品可能引起周围装置、设备或系统性能降低，干扰信息技术设备或其他电子产品的正常工作，并对人体造成一定危害。,.,10,电压变化与闪烁测试(Flicker),电压变化与闪烁测试(Voltagefluctuationsandflicker,简称Flicker)，又称闪烁测试。电压变化与闪烁主要是指产品工作时，所加的电压不呈线性关系从而造成的电压变化。电压变化与闪烁超标的产品可能使电气设备发生故障或烧毁，并会引起照明灯具的灯光闪烁。电压变化与闪烁测试使用的标准为EN61000-3-3。目的：为了保证产品不对与其连接在一起的照明设备造成过度的闪烁影响(灯光闪烁)。,.,11,静电放电抗扰度测试(ESD),静电放电抗扰度测试(Electrostaticdischargeimmunitytest，简称ESD)，又称静电测试。静电放电是普遍存在的自然现象（当充有电荷的物体靠近或接触一个导体时，电荷就要发生转移，这就是静电放电）。静电放电抗扰度测试主要是模拟人体带电直接接触被试物品或者靠近被试物品，所进行的接触放电或空气放电。静电放电抗扰度测试不通过的电子产品在实际使用中可能会死机，复位，发生故障或烧毁等。静电放电抗扰度测试使用的基础标准为IEC/EN61000-4-2.,.,12,射频电磁场辐射抗扰度(RS),射频电磁场辐射抗扰度(Radiated,radio-frequency,electromagneticfieldimmunitytest，简称RS)，又称辐射抗扰度测试.射频电磁场辐射是由电磁辐射源（电子设备）产生的有意发射或者无意发射电磁波，射频电磁场辐射抗扰度主要是模拟电磁波通过空间传递对电子产品产生的射频辐射干扰.射频电磁场辐射抗扰度测试不通过的电子产品在实际使用中可能会死机，复位，发生故障等。射频电磁场辐射抗扰度使用的基础标准为IEC/EN61000-4-3。,.,13,射频场感应的传导骚扰抗扰度(CS),射频场感应的传导骚扰抗扰度(Immunitytoconducteddisturbances,inducedbyradio-frequencyfields，简称CS),又称传导抗扰度测试.射频场感应的传导骚扰是由电磁辐射源（电子设备）产生的无意发射电磁波，射频场感应的传导骚扰测试主要是模拟电磁能量通过连接线缆（电源线等）对电子产品产生的干扰.射频场感应的传导骚扰抗扰度测试不通过的电子产品在实际使用中可能会死机，复位，发生故障等。射频场感应的传导骚扰抗扰度使用的基础标准为IEC/EN61000-4-6,.,14,电快速瞬变脉冲群抗扰度测试(EFT),电快速瞬变脉冲群抗扰度测试(Electricalfasttransient/burstImmunitytest,简称EFT),测试波形为5/50nS电压波。又称快速脉冲测试.电快速瞬变脉冲群是由电路中来自切换瞬态过程（切断感性负载、继电器触点弹掉等）产生的能量，电快速瞬变脉冲群抗扰度测试主要是模拟上述能量通过连接线缆（电源线等）对电子产品产生的干扰.电快速瞬变脉冲群抗扰度测试不通过的电子产品在实际使用中可能会死机，复位，发生故障或烧毁等.电快速瞬变脉冲群抗扰度测试使用的基础标准为IEC/EN61000-4-4.目的：考察单个设备或系统抗快速瞬变干扰的能力,.,15,浪涌(冲击)抗扰度测试(Surge),浪涌(冲击)抗扰度测试(Surgeimmunitytest,简称Surge),又称雷击测试.浪涌(冲击)是由设备组合对地系统的短路和电弧故障和外界雷电耦合，或直接击于外部（户外）电路，注入的大电流流过接地电阻或外部电路阻抗而产生的能量，浪涌(冲击)抗扰度测试主要是模拟上述能量通过连接线缆（电源线等）对电子产品产生的干扰.浪涌(冲击)抗扰度测试不通过的电子产品在实际使用中可能会死机，复位，发生故障或烧毁等。浪涌(冲击)抗扰度测试使用的基础标准为IEC/EN61000-4-5,.,16,电压暂降,短时中断和电压变化抗扰度测试(DIPs),电压暂降,短时中断和电压变化抗扰度测试(Voltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariationsimmunitytests,简称DIPs),又称电压跌落测试.电压暂降,短时中断和电压变化抗扰度测试主要是模拟产品经历电压下降后的干扰.电压暂降,短时中断和电压变化抗扰度测试不通过的电子产品在实际使用中可能会死机，复位，发生故障或烧毁。电压暂降,短时中断和电压变化抗扰度测试使用的基础标准为IEC/EN61000-4-11。目的：考察EUT抗电压跌落和暂降的能力。,.,17,工频磁场抗扰度测试(PFMF),工频磁场抗扰度测试(Powerfrequencymagneticfieldimmunitytest,简称PFMF).工频磁场是由工频