SPC统计制程管制[001].ppt

,SPCTraining,SPC統計製程管制,簡介,SPC簡介何謂統計SPC迷思SPC不是SPC的優點統計的製程管制製程能力指標製程能力分析簡介結語,SPC簡介,費雪(SirRonaldFisher)發展出的統計理論經1924年修華特（Dr.W.A.Shewhart）博士於貝爾實驗室繪製了第一張的SPC圖，並於1931年出版了製造品質的經濟控制（EconomicControlofQualityofManufacturedProducts）之後，SPC應用於各種製造過程改善便就此展開。由此可知，修華特博士將影響產品品質的變異分為不可歸咎變異和可歸咎變異等兩類因素：不可歸咎變異因素是在製程中隨時都會影響到產品。(但需在控制內)可歸咎變異因素則是在某種特定條件下的製程中才會影響到產品。,SPC迷思,1.有管制圖就是SPC?2,有抽樣計劃就是SPC?3,有計算Ca/Cp/CPK就是SPC?4,有製程參數就是SPC?,SPC不是,1.只有成品檢驗,而無製程檢驗。2.有製程檢查,而無優先順序。3.有優先順序,但無“合理的”管制範圍。4.有管制範圍,但未定期執行。-5.有未定期執行,而無追蹤分析。6.有追蹤分析,而無有“有效的”改善措施。7.有改善措施,但未成為規範(標準化)。,SPC的優點,1.SPC是一個方法,也是一個系統,從統計評估的資料中以管制製程並改善之。2.SPC可以減少變異並控制成本。3.SPC可以增加產品的壽命。4.在討論製程績效時,SPC提供了一個共同的語言,統計的製程管制,1.是不是有“數據”就是統計?2.是不是有“計算”就是統計?3.那麼統計到底是什麼“碗糕”。4,“製程”件主管之任務是什麼?5,如何降低製程中的變異,提高命中率?6,衡量製程能力有那些指標?,製程能力指標,Ca(準確度)Ca=(樣本平均值-規格中心)/(規格公差/2)Cp(精確度)Cp=規格公差/6倍標準差Cpk(綜合指標)Cpk=(1-Ca)xCp,製程能力指標,製程能力,只有當製程處於”統計管制狀態”下，估計製程能力才合理，因為當製程處於”統計管制狀態”下，製程沒有可歸咎的非自然因素存在，此時才可以顯示製程真正的變異。此部份已於管制圖介紹中詳細介紹過。製程是否具有產出符合工程規格零件的能力，在於製程變異範圍是否介於工程規格之內，一邊而言可能有下列三種情況：1.製程變異小於規格間差異。2.製程變異等於規格間差異。3.製程變異大於規格間差異。,製程能力分析,當製程能力在規格中間偏離至一邊凡在規格內一定較好嗎Ca/Cp/CPK的公式與說明,Q&A,A-*B*-C-*-D-*-,製程能力指標,統計製程管制的定義,經由製程中去收集資料，而加以統計分析，從分析中得以發現製程的異常，並經由問題分析以找出異常原因，立即採取改善措施，使製程恢復正常。並透過製程能力解析與標準化，已不斷提升製程能力,製程能力定義,製程能力是指各種能力均標準化，製程在管制狀態下所呈現之質與量的能力。故製程能力可以是產量、效率的表示，也可以是成品、半成品、零件等之品質特性來表示，也可以不良率或缺點數來表示。當在考量製程績效之前，必須先討論兩個重要的問題1.製程是否有維持良好“統計管制狀態”的能力2.是否具有產出符合工程規格的製程能力,製程能力調查步驟,1、確切瞭解要調查的品質特性與調查範圍並收集數據2、計算製程能力指數3、判斷製程能力是否足夠，如果不足時，則加以改善,製程能力調查的方法,1、數值法：以Ca值(製程準確度)、Cp值(製程精密度)、Cpk值(製程能力指數)表示之2、圖示法：以次數分配圖、直方圖、管制圖表示之,QC七大手法,數值法製程能力分析,製程準確度：Ca(CapabilityofAccuracy)Ca值：在衡量製程實際平均值與規格中心值之一致性(1)Ca之計算方式T=Su(規格上限)SL(規格下限)單邊規格因沒有規格中心值，故不能算Ca值,實際中心值規格中心值,Ca=,規格容許差,=100%=,=100%,T2,x-u,數值法製程能力分析,(3)處理原則A級：維持現狀B級：改進為A級C級：立即檢討改善D級：採取緊急措施，全面檢討，必要時停止生產,數值法製程能力分析,製程精密度：Cp(CapabilityofPrecision)Cp值：在衡量製程之變異寬度與規格公差範圍相差之情形(1)Cp之計算方式,Cp=,規格公差,6個標準差,=雙邊規格,上限x或x下限,=單邊規格,3個標準差(3),Cp=,=,T,6,數值法製程能力分析,(2)Cp之等級判定Cp值愈大，品質愈佳。依Cp值大小分為五級,數值法製程能力分析,(3)處理原則A+級：考慮管理的簡單化或成本降低地方法A級：維持現狀B級：改進為A級C級：須全數選別，並管理、改善工程D級：進行品質的改善，探求原因，需要採取緊急對策，並且重新檢討規格,製程能力指數：Cpk,數值法製程能力分析,綜合Ca與Cp兩值之指數,(1)Cp之計算方式,Cpk=(1-K),T,6,K=,X-U,T/2,=Ca,=(1-Ca)CP,當Ca=0時Cpk=Cp單邊規格時，Cpk即以CP值計,數值法製程能力分析,(2)Cpk之等級判定Cpk值愈大，品質愈佳。依Cpk值大小分為五級,(3)處理原則A+級：考慮管理的簡單化或成本降低地方法A級：維持現狀B級：改進為A級C級：須全數選別，並管理、改善工程D級：進行品質的改善，探求原因，需要採取緊急對策，並且重新檢討規格,數值法製程能力分析,管制圖定義,一種用於調查製程是否在穩定狀態下，或者維持製造呈現在穩定狀態上所用之圖,數據分類,1、計量值：一種品質特性之數值，可用連續量計量者(尺寸、厚度、色差等有範圍之數據)2、計數值：一種品質特性之數值，可用以計數者(不良率、不良缺點.等之數量分析用),管制圖實施步驟,1、選擇品質特性2、決定管制圖之種類3、決定樣品大小4、抽樣頻率與抽樣方式5、收集數據6、計算管制圖之參數，一般包括含中心線與上下管制界限7、收集數據，利用管制圖監控製程,使用管制圖之原因,1.管制圖是一改善生產力之有效工具2.管制圖是預防不合格品之有效工具3.管制圖可預防不需要之製程調整4.管制圖可提供診斷之資訊5.管制圖可提供有關製程能力之資訊,管制圖的種類,計量值管制圖X-RChart(平均值與全距管制圖)X-RChart(中位值與全距管制圖)X-RmChart(個別值與移動全距管制圖)X-SChart(平均值與標準差管制圖),計數值管制圖PChart(不良率管制圖)NPChart(不良數管制圖)CChart(缺點數管制圖)UChart(單位缺點數管制圖),管制圖的種類,數據資料,計量值分析,直方圖散佈圖X-R管制圖X-S管制圖X-Rm管制圖,計數值分析,柏拉圖分析,P管制圖NP管制圖C管制圖U管制圖推移圖,柏拉圖,直方圖,散佈圖,X-RChart(平均值與全距管制圖),適用製程：1、可用以管制分組之計量數據，即每次同時取得幾個數據之工程2、是把握工程狀態最有效的一種管制圖,X-RChart(平均值與全距管制圖),X-RmChart(個別值與移動全距管制圖),適用製程：1、耗用時間很多方能完成測試2、屬極為均勻一致之產品3、破壞性試驗或量測不易4、產品非常貴重之物品5、量產不大，批量很小6、爭取時效時,X-RmChart(個別值與移動全距管制圖),PChart(不良率管制圖),適用製程：1、產品依規格分合格/不合格、可以/不可以、通過/不通過2、不良/缺點數必須小於檢驗數,NPChart(不良數管制圖),適用製程：1、基本上與P管制表一樣，惟其每組樣本必須相同2、計算較P管制圖簡單，適用於班長、組長或作業員自行繪管制圖3、