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文档简介
北京大学透射电子显微镜F20和F30操作规程I .着陆检查1.登录帐户用户名和密码。2.检查之前的实验室笔记本,并报告任何异常情况。3.检查电子显微镜的状态。CCD打开(绿灯亮,左屏幕上有三个窗口,右屏幕上有一个窗口。在菜单中打开左屏幕窗口真空概览,GUN=1,COLUMN=6-12,CAMERA40。枪列摄像机背景为浅绿色,列阀为黄色,其他为灰色。电压300千伏,黄色操作,提取电压=38000-45000伏,电流30-155毫安。如果列30,加入液氮。盖上黑色挡板,将毛巾固定在手术台上。在操作电子显微镜前等待10分钟。二。样本插入1.检查冷却的colvalves(黄色关闭,Turbo on为灰色,并将样品棒的位置设置为零(搜索台支架)。加入液氮,液氮一般使用3-4小时。2.样品棒的前表面是平的。注意用别针固定它。加载样品时,将微电网面朝下。然后盖上固定夹。向后旋转180度,轻轻敲击样品棒,确保样品牢固。不要触摸黄色金属零件!3.确认列12,样品棒的位置为零。确认红色指示灯未亮起。分子泵关闭了。首先连接电缆插座,然后单击计算机的相应驱动程序,首先回答问题。然后插入准关闭标记的限制。如果不能插入限制,它将停止。红灯会亮,分子泵也会亮。打开真空抽吸真空概述,并开始抽真空3分钟。插入过程中不要转动样品棒。当红灯亮时,样品棒不能插上或拔出。4.红灯熄灭后,立即围绕轴线逆时针旋转至OPEN线,将销与小孔对齐,并将样品棒插入最里面的部分。三。样本观察1.连接上部和下部。设置-列实际上是空的。打开COL VALVES。如果气罐已满,将首先泵送气罐。应观察束斑。关灯。2.聚光透镜定心和消色散:的左屏进入柱头,按下condenser,使用左右多功能按钮将光斑变圆,按下像散键,退出调节。用“强度”聚焦光点,并将其转移到荧光屏的中心。按BRIGNITY顺时针分散电子束,用聚光镜的前、左旋钮对中同心圆。重复这个步骤。(调整光斑大小,最后观察同心圆。3.粗略调整样本的高度,首先找到要观察的样本,将其乘以10K,然后用强度调整光照,直到样本最透明。放置一个小的聚焦屏,插入一根针来调节目镜,将按钮聚焦在一起,聚焦20,000到80,000次(正交步长为3到4,100,000以上的步长为1到2。在设置-搜索-阶段-设置中记录除雾值,Z值填写散焦值,单击“转到”,然后按“重心高聚焦”。定位样本记录位置以避免丢失。4.拍摄过程中的注意事项:插入电荷耦合器件时,小心不要用腿接触电荷耦合器件。光点应该很大。如果焦距太小,光线太强的话,CCD很容易损坏。不使用时,请务必将其关闭。摄影倍数应该在M模式,而不是LM。当不使用电荷耦合器件时,必须关闭电荷耦合器件。L2起床了。其中,F20电荷耦合器件可以记录视频。5.踏在带轴:上(1、2和6组合成焦点)。(2,86000X,找到一个具有易于记忆特征的薄区域(样品将在皮带轴上移动,以便识别感兴趣的区域)。(3)将光点聚焦到一点。(4)按衍射找到菊池线。菊池线会聚的焦点通常是正的带轴。菊池线越会聚,晶体带指数越低。再次按压衍射来散射光点。使用左键盘左上角的四个按钮调整样品的位置,并连续按下衍射键,查看皮带轴是否正确步进。连续调节直到踩下,踩下后衍射点的中心在屏幕中心的小黑点上,周边点的亮度要平衡。6.物镜像散调整(当观察高分辨率时,有必要调整像散:以找到7.衍射图像:具有大约200纳米的衍射面积。如果太小的样品或小晶体混合在一起,很难形成好的衍射图样。(移出选择膜片,选择膜片3为800纳米,选择膜片4为200纳米。选择感兴趣的区域,调整高度和焦距,放大倍率约为100Kx(添加选择光阑,用强度散射电子,按衍射获得衍射图案,并调整强度观察方向。调整AB以将衍射图案调整到中心(左上角A增加,左下角B增加。你需要找一个老师给电子衍射照相。衍射光太强,很容易损坏CCD,所以不要特别注意!再次按衍射。再次按“衍射”退出衍射模式。(移出选择停止点。8.高分辨率图像:(1)选择样本。首先,样本应该很薄。最好的样品应该悬浮在微网格孔的中间。碳膜将具有高分辨率的非常严重的基底,并且高分辨率不能被清楚地区分。选择样本,然后单击添加以记录样本的位置。F20点击轨道还可以记录移动位置,以防止在重复位置发现样本。(2)你先观察火炬花园吗?如果圆不是圆的,聚光镜需要先消除散光!再次调整Z轴。首先,粗略调整。在一定的步长下将样品调整到最透明的状态(聚焦,记录此时的散焦值,并在设置-搜索-载物台-设置中填入散焦值和Z值(F20电子显微镜需要加上10-15个绝对值,点击“转到”到相应的Z坐标位置,然后按“远心高聚焦”,此时根据Z值的左侧进行聚焦校正。在高倍率下再次调整,例如甲乙如果除雾值再次改变,记录此时的除雾值加上原始z值,然后输入,点击“转到”到相应的z坐标位置,然后按“远心高焦距”,根据此时的z值坐标进行焦距校正。在最佳聚焦状态之前,散焦值在高放大率下上下波动,越接近0,电子显微镜的性能越好。(3)为了调整纳米线的取向,衍射点需要对称,并且晶体带轴平行于电子束。如果是纳米粒子,你可以找到更多的样品,找到最好的。然后,当放大倍率约为500Kx时,按L2打开挡板,打开CCD观察高分辨率图像。打开场效应管并按下柱头(小灯变红,然后调整XY来调整物镜的像散。必须将实时场效应晶体管环和光斑调整得非常圆,然后以高放大率聚焦,直到出现非常清晰的高分辨率条纹(使用多功能键XY散光,首先使用一个键调整,直到环相对处于最佳状态,然后使用另一个键调整到最佳状态)。对于具有良好晶相的区域,将会有没有圆形斑点的斑点。此时,可以在欠聚焦状态下调节圆形光斑和散光。当电荷耦合器件打开时,不要调整放大率。请关闭电荷耦合器件并切换到屏幕模式进行调整。Iv .样本EDX1.将A调至15-18度,找到要测量的样品,大约17,000次,调整到聚焦位置,调整高度Z,并按下欧几里德高聚焦。可以用小屏幕观察到。(对于F20,EDX是直接在亮场下进行的,而不是使用纳米模式进行观察。F30也可以使用明场光谱学(纳米模式:按下R2键切换到纳米模式,在位置上会有一些漂移来找到样品)。根据样品尺寸和厚度选择光斑尺寸=6-9(光斑尺寸越大,光强度越弱,样品厚度不能太厚,否则太厚很容易掉出图表。2,然后poINt in加入检测器。点分析中的视图号应该小于40。如果大于40,请增加现货大小,直到满足条件。满足后,ACQURIE收集光谱。如果超过1000就停下来,储存起来并指出来。(退出纳米模式。3.如果行扫描步骤为:将A调整到15-18度,找到要测量的样品,大约17000次,调整到正交位置,调整高度Z,并按下欧几里德高焦距。然后在菜单中打开STEM。如果下面没有打开,单击TIA,单击STEM,如果是50纳米,使用7,如果是200纳米,使用9。倍数大约是20,000,点击惯性导航系统搜索,插入RTEM,点击进入,然后按下焦点,在搜索,然后放大适当的倍数。然后在STEM中获取。在分析中,expei单击第一个项目的第二个,右侧菜单选择数据点的数量。然后拉电缆。点击查看,然后点击系统获取确认你没有逃跑。然后在EXP中获取。最后,先出去,然后点击INSHAADF,最后点击STEM。数据分析,右键单击添加边界,元素分析,进程额外的地图,右键单击。V.样本移除1.将倍数调整到10,000-20,000倍,并将电子束调整到中心。2.关闭Colvalves Cold并变成黄色(上面有红色方框)。将样品棒的位置设置为零(搜索台支架)。将样品棒拉出到限位孔的位置,顺时针旋转120度,然后拉出样品棒。拔下样品棒的插头。六.检查结束1.填写实验笔记本并注销。用液氮装满它,然后关灯。2.瞬变电磁法将在晚上结束时完成。完成后,需要真空循环。单击用户-低温栏中的低温循环。从杜瓦瓶中回收剩余
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