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文档简介

1. EDS的谱峰有很多峰位对应于同一个元素，是不是说明这个元素含量很高？看了EDS的原理这个问题就会明白，EDS是一个电子壳层的电子被外来粒子或者能量激发，留下一个空位，然后外层电子跃迁至这个空位，同时就会放出特征X射线，这样不同壳层之间的电子转移导致的能量差就会有不同的谱线，EDS谱线就是把这些特征X射线脉冲的累积分开得到的。这样就能理解谱线越多，说明外面的电子占有壳层越多。而定量分析时是根据不同元素来选择不同线系的谱峰强度以及这个元素的响应值来做计算的，所以谱峰多跟元素含量没有关系。峰的多少与元素含量的高低没有直接关系，对于原子序数较大的元素，其外层电子数目多，受激发的K、L、M、N等线系的特征谱线就多。2. EDS的谱峰里面看不到前面的谱峰（比如8keV），是不是说明所选微区里前面的轻元素压根没有或很少？对于超轻元素，若选用过高的加速电压，由于吸收增加，X射线强度将会明显减小，若关注超轻元素（Z20%wt），定量结果相对误差一般优于2%，探测限为0.1%-0.5%;原子序数越小，含量越低，定量误差越大，最高可达50%;3%wt含量20%wt的元素，相对误差10%以内1%wt含量3%wt的元素，相对误差30%以内0.5%wt含量1%wt的元素，允许的相对误差50以内。因为EDS分析并没有那么精确，所以尽管分析报告的结果会有两位小数，但只取一位小数就够了。8. EDS的测量深度？EDS实际上是利用电子束激发样品的特征X射线来进行元素分析，一般激发深度为0.5微米至5微米深度9. EDS的谱峰里面看不到前面的谱峰（比如8 keV），是不是说明所选微区里前面的轻元素压根没有或者很少？这个就要注意是否选取的样品位置周围有大颗粒或者其他厚介质的存在，吸收了本来产率就低的轻元素X射线，对谱峰结果产生了严重干扰。当有这种现象时，可以选择其他区域的样品比较一下一些过渡元素的K线系和L线
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