D8 discoverX射线衍射仪ppt课件

.D8discoverX射线衍射原理和应用技术交流。x射线衍射的晶体学知识简介D8discoverXRD主要结构D8discoverXRD主要功能和分析方法，主要内容，晶体学基础-晶体，晶体的基本特性：粒子(结构单位)沿三维空间周期性排列(晶体定义)，具有对称性。空间网格：实际决策的几何点与称为空间光栅的物理环境位于同一物理环境中。晶体结构=空间晶格结构基元。单位单元：晶体的空间晶格单位，晶体结构的最小单位两个因素：单位单元大小、类型(三维空间的矢量大小、方向)和内容(单位单元的原子或分子种类和分布)单位单元参数：三个矢量a，b，c的长度和它们之间的角度，基于确定的知识-空间网格，Bravais网格：在空间光栅中，选择反映空间网格周期性和对称的单个单元，需要的单个单元素和角度最多。14个Bravais晶格4个类别：p:简单c:基底中心I:体心f:面心，晶体学基础-晶系，晶胞形状，大小决定七大立方a=b=c，=90四方体a=bc，=90六角形晶系a=，晶体学基础-晶面，晶体方向，晶体方向：等周期晶格线群。确定方向指数uvw:原点与阵列点相关联的确定轴方向的投影。结晶面：相互平行、等距和面的光栅分布均为hkl。晶面指数(hkl):晶面顶点轴的倒数，乘以表示晶面垂直特征的最小公倍数。晶体学基础-晶面间距，正面间距：相邻两平行正面之间的垂直距离立方体：正方体：正方体：正方体：正方体：晶体学基础-逆点，晶体学基础-逆点，晶体晶格的倒数，数学抽象。晶体晶格晶面(hkl)对应于反点Phkl。反湿性质：反湿向量h=h=h a * kb * LLC * h，k，l均为整数时，hhkl)，/hhkl/=1/dhkl表示3360 a(hhkl，x射线物理学概论，1895年W.C.Roentgen研究阴极射线管时，发现了被称为x射线的肉眼看不见的射线。x射线是电磁波，具有波的性质。x射线波长范围约为0.10到100e。原子和分子对x射线的散射和衍射能传递非常丰富的微结构信息。x射线衍射法、德拜法(debye-Xie)照片聚焦多晶衍射法针孔衍射法劳(Laue)单晶衍射法旋转晶体法4元衍射法、晶体x射线衍射原理，晶体中每个电子的散射波相互干扰。散射波周围的一致互增强方向称为衍射方向。布喇格公式：本质：光照差是波长的整数倍(主匹配)，晶体x射线衍射原理，厄瓦德图：Ewald球上的点滴的晶面，多晶衍射图案的形成，结构系数，x射线散射的强度和晶体细胞的结构相关F是结构振幅，|F|2称为结构元素|F|2=0衍射线消失|F|20衍射线消失无，晶体x射线衍射先决条件，布拉格公式：晶体生成衍射的方向只与单位单元参数相关，与晶体结构无关。F2hkl:确定衍射强度的重要因素，确定衍射线是否存在。衍射先决条件：2dhklsinkhkl=nF2hkl0，衍射图案-x射线和物质作用。衍射图案三要素：峰值位置、峰值强度、峰值形状；数据光谱分析：发展粉末衍射数据处理的根本变化。物体图像识别，相识别原理：衍射方向，单位单元参数的函数；衍射强度是结构因子函数(取决于晶体细胞内原子的种类、数量和排列方式)。结晶物质都具有特定的结晶结构(结晶类型、晶胞大小和粒子类型、数量、分布)和组件。任何物质相都有d-I特征值和衍射谱集。因此，对多相共存系统的整体分析是可行的。一种物质与自身独特的衍射谱相对应，多相物质的衍射谱是互不相关的，物质上衍射谱的简单叠加是独立存在的。在进行相定量分析、多相物质定性分析后，要进一步了解各成分的相对含量，必须进行x射线相定量分析，根据x射线衍射强度公式，特定物质的相对含量增加，其衍射线的强度也增加，因此，相关物质的相对含量可以通过衍射线强度的数值来确定。由于各物质对x射线吸收的影响不同，所以x射线衍射强度与该物质的相对含量不成比例，必须修改。由于与2角度相关的吸收因子与2角度相关，因此x射线相定量分析经常用衍射计进行。定量分析方法，多种定量分析方法内部标准方法(在要测试的样品中添加一定量的标准物质)k值方法(矩阵洗涤法)非标准方法(在样品中所有的奖项都知道)绝热方法(样品的一个相用作内部标准物质，不能存在非晶物质)直接比较法(基于测定淬火炉残余奥氏体的两相衍射强度比)，主要结构，光源：高压发生器和x射线管精密测角仪光学系统检测仪，光源-高压发生器和x射线管，x射线产生条件：电子、高压、真空室、靶面、104、105、v、x射线管、阴极、阳极(对阴极，导管闭合，X射线管：陶瓷X射线目标：Cu目标，x射线角度测量仪、x射线角度测量仪结构图C系数管D-范例E-支架F-接收(狭缝)光热G-大转盘(角度测量仪圆)H-范例表M-入射光热O-角度测量仪中心S-管目标焦点点，测角系统，精密光学系统，Bragg-Brentano衍射几何设计原理：R1=R2，样品旋转角度，探测器旋转2角度(2/耦合)或样品固定，光管旋转，探测器旋转 (/)，探测器，样品衍射线(光子)信号转换为接收(瞬时脉冲)信号。NaI闪烁计数器包括低背(0.4cps)、高线性范围2 x 106 CPS；新型YAP晶体闪烁计数器的线性范围最大1x107cpsSi(Li)实体探测器的能量分辨率很高。可以选择特定能量的光子进行反应。背景小于0.01cps。配置附件，组织附件高温附件薄膜扫描附件，组织，单晶金属材料：各向异性多晶金属材料：各向同性组织：粒子方向多晶分布冲床冲击金属零件时，往往由于良好的取向，废料高温超导体YBa2Cu3O7-x的超导特性(001)面，即ab面可以承载大电流密度的此(001)，组织分析方法，表示组织空间方向的极坐标投影：极坐标，逆极图图形表示示例中每个粒子之一(hkl)晶面极的外观坐标系中的方向分布。逆极表示粒子相对于确定坐标系的特定外观方向分布。方向分布函数(ODF)方法：表示三维晶体学方向空间中样品的轧制表面垂直、轧制和水平三位一体。高温附着，高温条件下试样相结构直接热，上升冷却速度高达200/分钟；温度最高可达1600 。样品平整，安全性能好。高温测试样品要求，非液体(原则上)在粉末样品高温下与加热片(铂和铑合金)反应加热后，最好不要产生腐蚀性气体，薄膜附件、衍射设备上有掠附着物(0.35平行光缝)，薄膜和多层相分析入射光束以低扫描角度入射，增加薄膜衍射信息，并将基板反射最小化，功能，相分析(相识别和定量分析，测定结晶度)晶体结构分析(粒度，点阵参数确定，相结构等)组织和残余应力分析高温下的相变分析薄膜分析(膜的相识别和定量分析)，应用软件功能，DiffracPlusMeasurementPackageDiffracPlusEVA本机数据处理软件；除了常规化学因子、I/d值3基准作物相位自动搜索方法外，DiffracPlusSearch还考虑了从测量中获取的所有信息，包括峰值(峰值宽度、峰值不对称、肩峰)和弱峰值，并扣除后水平全光谱数据进行检索。在多相样品中，可以有效地检索重叠峰、优选方向、微量相。应用软件功能、EVA软件中包含的DiffracplusDquant可以使用作物阶段的定量分析进行编程，包括内部标准方法、外部标准方法、直接比较方法、铝电解槽分析等多种常见的定量分析方法。DiffracPlusTOPASP将x射线衍射线与函数模拟和基本参数拟合，从仪器几何参数和样例特性拟合线型，具有准确的物理意义，提供了非标准粒度和微变形测量的解决方案，可以用作光栅参数微调和结晶度测量等。DiffracplusSTRESS(用作软件功能应用、样例和物理组件的残余应力测量)包含Omega模式和Psi模式，用于提供选定方向的应力、剪切应力和应力张量。DiffracplusODF orientation distribution function(ODF)组织定量分析软件基于DiffracPlusTEXEDIT数据处理，提供完整的极度或不完整的极度数据，提供用于ODF分析的球形谐波系列扩展方法，计算奇数项，选择后缀项，x射线衍射实验测试，样品准备要求：粉末或块状样品均可，表面平整粉末颗粒为5 15 m最佳块样品钳位方向50mm，平行光线发射方向(20mm和60mm)。计数测量方法和测量参数选择、多晶衍射系数测量方法有连续扫描和步进(阶梯)扫描两个测量参数：狭缝光热宽度、扫描速度、时间常数等。数据频谱收集，搜索/匹配，在Search/Match框中单击“Search”，以确认计算机搜索/匹配。Ni44Fe56合金薄膜电镀和退火处理后微