SPC统计制程管制培训.ppt

、证明产品的质量精度是否足够。 在生产过程中，主要影响工艺路线能力的因素有：人，机械、材料、法、环、测量、基本统计公式，表示集中趋势，表示整体水平，表示分布中心，xi，测定所有数据变异的累积，3.s:样品标准偏差，s=，s，n-1，基本统计公式变异， 测定发生变异的过程对平均值的变异，反映技术(s )水平的是机器精度、工艺路线精度Cp，它按规定的标准标准和工艺路线能力的比，标记为Cp，Cpk工艺路线能力指数Cpk=Cp*(1-K )，基本统计公式反映技术(s )水平，管理(k )水平工程能力的判断标准也反映了K(Ca )的评价等级，变异大，变异小，偏差大，偏差小，过程能力分析判断图表，枪法的好坏，如SPC的基本理念，1 .完全不一样-变异.2.产品和过程内的变异变异的原因有：人，机械、材料、法、环、测定3 .异常原因引起的变异是正态分布的变形、SPC的作用，1 .贯彻预防原则的统计过程控制的重要工具。 2 .区分老化的特殊原因和一般原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。 3、直接控制过程，确保过程稳定、可预测。 1984年名古屋工业大学对日本各行业的115家中小工厂进行了调查，发现每个工厂平均采用了137张管制图。 我们没有追求管制图数量的多少，但是使用管制图的张数在某种意义上反映了管理的现代化、科学化的程度。 因为规制图越多，被控制的因素就越多，参与科学控制的人就越多，组织的质量意识就越强。 变异统计规则：的常态分布、常态分布两个重要参数：的平均值:描述了品质特性值的集中位置标准偏差3360的品质特性值的分散程度，偶然的原因(偶然性、难以识别、难以消除、大量)例如是工具的正常磨损、操作者的微细不稳定等。 (可容许的偏差)异常原因(系统、容易识别、可消除) :设备的不正确调整、工具的磨损、偏离操作者的操作指导等-对质量的变异的影响度大，生产失控、异常原因(不可容许的偏差排除)、2种、变异、过程控制(消除了特殊的原因) 时间范围不受控制(存在特殊原因)，过程能力受到控制，能力规范(由于普通原因的劣化减少)的下限规范的上限时间范围受到控制，但是能力不符合规范(由于普通原因的劣化太大)、局部措施和系统措施通常是劣化的通常，与过程直接相关的人员，对于通常能修正约15%的过程问题的系统，通常需要管理措施来修正劣化的一般原因，能修正约85%的过程问题的问题类型和SPC、SQC的区分方法、SPC、DOE、On-line， 离线过程控制系统有反馈过程控制系统模型，过程的声音是设备材料方法产品和环境服务的输入过程/系统输出顾客的声音，我们的工作方式/资源的融合、统计方法、顾客、持续变化的需求量和期待监视进程的性能会发生什么样的错误呢？ 寻找不好的特殊原因，在这个过程中做什么？ 采取措施。达到统计控制状态了吗？ 能力计划实施计划实施措施研究计划实施3，通过确定改善过程措施研究改善过程，可以更好地理解一般原因的恶化减少的一般原因的恶化1，收集数据，画出图3，分析、改善一般原因的恶化的大小，采取减少的措施2， 根据过程数据识别实验控制限制差的特殊原因，采取对策，4，通过重复这3个阶段来改进过程，规范边界和控制边界的差异，规范边界：区分良品和不良品的控制边界：区分偶数波和异波，精品资料网的计量型限制图的平均值和全距离限制图(Xbar-RChart 在计量值限制图中，在X-R限制图系中最常用，平均值和全距离限制图是并用了平均值限制图(Xbar-Chart )和全距离限制图(RChart )双方的图将其作为收集记录跟踪的依据，按照样品大小一致的方式进行采样，每次样品通常包含2-5件连续的产品，包含周期性的提取子组。 1-1子组的大小、频率和数据a )子组的大小：通常是5个连续的产品，表示单一刀具/冲孔/工艺流程等。 注意：数据表示单个工具、冲孔、模具等生产的零件，即单个生产流程。 (b )子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这种组可以反映潜在的变化，这种变化的原因可能是移位/运营商的交换/材料批次的差异等。 监视生产中的产品的子组的频率为每个班2次，或每小时1次等。 c )子群数：子群越多，越有恶化的机会。 通常是25组，首先使用管制图选择和调整35组数据。 生成1-2控制图表，记录原始数据(参照下图)，1-3，对于计算每个子组的平均值(x )和极差r的每个子组，在X=(X1 X2 Xn)/nR=Xmax-Xmin式中，X1，x2是子组内的各测定值n将子组的采样容量1-4、选择控制图表的刻度4-1这两个控制图表的纵轴分别用于x和r的测量值。 4-2刻度选择：在x图表中，坐标上的刻度值的最大值和最小值之差至少是子组平均值(x )的最大值和最小值之差的2倍，r图表坐标上的刻度值的最大值和最小值之差是初始阶段遇到的最大极差(r )的2倍。 注意：将r图的刻度值设定为x图的刻度值的2倍是有用的提案。 例如，平均值图的1刻度表示0.01英寸，极差图的1刻度表示0.02英寸，在控制图上画出1-5，平均值和极差，a )在画出x图和r图的点之后，立即用直线连接，调查各点是合理的还是高的还是低的，计算和绘图是正确的注：在还没有计算控制限制的初始操作的控制图上，请注明“初始研究”。 为了计算控制限制，首先计算极差的控制限制，计算平均值的控制限制。 计算2-1平均差(r )和处理平均值(X)R=(R1 R2 Rk)/k(K表示子组的数量) X=(X1 X2 Xk)/k，2-2控制限制计算控制限制是为了表示仅存在劣化的一般的原因时的子组的平均值和极差的变化和范围控制界限由子组的样本容量和极端恶劣的子组内的劣化量决定。 公式： uclx=xaruclr=d4 RLC LX=x-a2 RLC lr=d3r、a2、d3、D4是常数，取决于子组的采样容量。 注意：如果样品容量小于7，LCLR在技术上可能为负值。 在这种情况下，没有下限意味着对于一个样本数目为6的子组，有六个“相同”测量结果可能成立。绘制、规制图中常用的系数表、2-3平均和极差控制界限，用实线绘制平均差和过程平均。 各控制限制用虚线描绘。 在初期研究阶段，必须写明试验控制限制。，限制界限，x限制图，进程控制分析控制图的目的是识别进程不稳定的证据。 (其中一方或双方未被控制)采取进一步的适当措施。 注1:R图和x图需要分别分析，但可以比较，以了解影响过程的特殊原因。 注2 :子群的极端差异和子群的平均能力取决于零件间的劣化，所以首先分析r图。 分析用Xbar-R规制图描绘了a在第一次重新评价过程研究和过程能力时，在失控的原因被识别、消除后，为了排除失控时期的影响，重新计算控制限制，重新计算新的平均偏差r和控制限制，使所有的点都处于控制状态。 b由于特殊原因从r图中排除的子组也必须从x图中排除被修改的r和x可用于重新计算平均值的测试控制。 注：排除表示不稳定条件的子组不仅仅是“丢弃坏数据”。 排除已知特殊原因的影响。 并且，为了不将特殊的原因作为过程的一部分来再现，必须改变过程。 然后重新计算控制限制(平均图表)，重新计算并绘制流程平均x和控制限制，以控制所有的点。 控制用Xbar-R规制图在子组的容量发生了变化的情况下，必须调整中心限制和控制限制(例如，减少采样容量，增加采样频率)。 方法： 1推定过程的标准偏差(用表示)用现有的子组容量计算：=R/d2式中r是子组的极差的平均(极差控制期间)，d2是根据样本容量变化的常数，下表：最初的数据全部在试验控制限制内(即控制限制确定后)。根据新的子组容量表得到系数d2、D3、D4和A2，计算新的极差和控制限制： r新=d2UCLR=D4R新LCLR=D3R新UCLX=X A2R新lclx=x-a2r新将这些控制限制绘制在控制图表上。 流程能力分析说明，如果一个流程已经处于统计管理状态，则流程存在是否有能力满足客户需求的问题时，一般来说，控制状态稳定，没有特殊原因引起的劣化，能力反映了一般原因引起的劣化，几乎总是对系统采取措施计算处理能力的=R/d2处理能力是指，用z表示以标准偏差单位记述的处理平均和规格界限的距离。 对于单边公差，Z=(USL-X)/或Z=(X-LSL)/注：公式中的SL=规范边界，X=测量的过程平均值，=估计的过程标准偏差。 关于精品资料网，双边公差，计算如下。 a对于单侧公差，直接使用z值来查看正态分布表，并将其转换为百分比。 b关于双边容许误差，根据Zusl和Zlsl的值调查正态分布表，分别算出Pzusl和plzl的比率并相加。 为了估计不良率，标准正态分布表，p规制图p图测量检查项目中不良品项目的百分比。 选择收集数据：个子组的容量、频率和数量子组的容量：子组的容量足够大(最好是固定的)，包括几个不合格品。 分组频率：根据情况，兼具大容量和信息反馈的快速要求。 子组数：收集足够的时间来找到可能影响进程的所有劣化源。 通常是25组。 计数型数据控制图是计算按组检查了各组内的不良率(P)P=np/nn的产品数的np或按组发现的不良品数。 控制图表的坐标刻度一般在纵轴上没有良品率，以子组(时间/日)为横轴，纵轴的刻度必须从0到初步研究数据读取值中最大不良率值的1.5到2倍。 把不良率画在控制图上的a点上，连接线发现异常的模式和倾向。 在b控制图的“注释”部分记录过程的变化和可能影响过程的异常。计算过程平均不良率(P)P=(n1p1 n2p2 nkpk)/(n1 n2 nk )式中： n1p1； nkpk分别是子组内不合格数n-1，nk是每个子组的检查总数，上下控制限制(USL； lsl ) uslp=p3p (1- p )/nls LP=p-3p (1- p )/NP平均不良率n为一定的样品容量注： 1，由上述公式可知，如果各组的容量不同，控制限制会发生变化。 2 .在实际操作中，如果各组的容量不超过其平均容量的25%，则可以用平均采样容量n来计算控制USL而不是n的LSL。 方法： a，确定可能超过平均值25%的样品容量范围。 b .分别找到样本容量超过此范围的子组和没有超过此范围的子组。 用上式计算样品容量为n和n时点的控制限制，划上UCL、LCL=P3P(1-P)/n=P3p(1-p)/n线使工艺平均(p )为水平实线，控制限制(USL； LSL )是虚线。 (在初期研究中，这些被认为是试验控制界限。 在，a被控制的管制图中，平均值两侧的点的数量几乎相同。 b一般而言，各点和平均值之间的距离约2/3的描绘点位于控制界限的中央的1/3区域，约1/3的描绘点位于其之外的2/3区域。 在控制图的分析中，C:的多馀2/3以上的描绘点接近平均值(在25个子组中，C:用于控制图的分析，例如，明显的倾向周期性子组内的数据之间有规则关系)，并找到不稳定的证据非随机的模式示例。 如果超过90%的点在控制限制的1/3区域中，则1、控制限制或图计算错误2、过程或采样方法被分层，并且每个子组包含来自两个或多个不同平均性能的过程的测量值(例如，两条平行线的混合输出)。 3 .如果数据被编辑(明显偏离平均值的值被替换或删除)，d显着较少的2/3以上的点在接近平均值的位置(在25个子组的情况下，只有40%的点在控制界限的1/3的区域)，则为1、控制界限或者点计算错误如果通过过程或采样方法的连续分组中包含来自两个以上不同平均性能的过程的测量，则必须立即进行分析以识别条件并防止复发。 控制图发现的劣化一般是由特殊原因引起的，希望操作者和检查员有能力发现并纠正劣化原因。 在备考栏详细记录。 重新计算控制限制是第一次研究，必须排除坏的子群，重新计算控制限制。 判定规则1:(1界外)在a区以外。 控制图的判定规则、判定规则2:(2/3A)3点中，2点为a区或a区以外。 判定规则3:(4/5B)5点中4点为b区或b区以外。 判定规则4:(6连)连续6点持续上升或下降者。 判定规则5:(8缺c )中心线两侧有8点，但c区没有创意者。 精品资料网，判定规则6:(9单侧)连续9点为c区或c区以外的情况。 判定规则7:(14升降)连续14点每升交替下车者。 判定规则8:(15C )中心线上下两侧连续15点的c区者。 推进统计工艺路线规定的准备，1、建立适合实施的环境a，提供排除残疾人的要素b，提供相应的资源c管理者支持，定义流程，根据加工过程和前后工序之间的关系，分析各阶段的影响因素。 3、要确定应控制的特性，要考虑顾客需求的现在和潜在问题区域的特性之间的相互关系，4、确定测量系统a测量的人员、数量、频率、