标准解读

《JJG 117-2005 平板》与《JJG 117-1991》相比,在多个方面进行了修订和完善。首先,在适用范围上,《JJG 117-2005》明确了其适用于工作面长度不大于3米的平板检定,而1991版的标准对此没有特别指出。

其次,对于术语和定义部分,《JJG 117-2005》增加了对“平面度”、“表面粗糙度”等关键概念的具体描述,使得标准更加科学合理。同时,新版本还细化了平板等级划分,由原来的四个等级调整为七个等级,并且每个等级都有更详细的技术要求说明。

再者,在技术要求方面,《JJG 117-2005》提高了某些参数的要求值,比如平面度误差限值有所降低,这意味着对平板质量提出了更高标准。此外,新版还增加了关于材料选择、加工工艺等方面的具体指导性意见,有助于提高产品质量一致性。


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  • 2005-03-03 颁布
  • 2005-09-03 实施
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JJG 117-2005 平板检定规程_第1页
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文档简介

中华人民共和国国家计量检定规程JJG1172005平板SURFACEPLATES2005一03一03发布2005一09一03实施国家质量监督检验检疫总局发布JJG1172005飞心。心。平板检定规程产00000000000000VERIFICATIONREGULATIONOFSURFACEPLATESJJG1172005代替JJG1171991一0000O00OP。乙、本规程经国家质量监督检验检疫总局于2005年3月3日批准,并自2005年9月3日起施行。归口单位主要起草单位参加起草单位全国几何量工程参量计量技术委员会北京市计量科学研究所山东省计量测试研究所青岛前哨精密机械公司本规程委托全国儿何量工程参量讨一量技术委员会负责解释IIG1172005本规程主要起草人刘振幅马桂茹徐庆渤吴迅参加起草人张五庭北京市计量科学研究所北京市计量科学研究所山东省计量测试研究所北京市计量科学研究所青岛前哨精密机械公司JJG1172005目录1范围12引用文献13概述。14计量性能要求。141工作面平面度最大允许误差。142工作面平面度测量结果不确定度143重复测量变动量。144局部工作面平面度245表面粗糙度446侧面夹角,。,45通用技术要求。451外观。,。452表面质量。56计量器具控制。561检定条件。,562检定项目。563检定方法。664检定结果的处理。1265检定周期。12附录A平板工作面平面度测量数据处理示例一13附录B平面波动量检具。19附录C平板工作面平面度测量结果不确定度评定。20附录D检定证书和检定结果通知书内页格式。24JJG1172005平板检定规程范围本规程适用于铸铁平板和岩石平板的首次检定、后续检定和使用中检验。2引用文献本规程引用下列文献JJF10011998通用计量术语及定义JJF10591999测量不确定度评定与表示JJF10942002测量仪器特性评定JB/T79741999铸铁平板JB/T79751999岩石平板使用本规程时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。3概述平板是用于工件检验或划线的计量器具。平板按材料分为铸铁平板和岩石平板按结构型式铸铁平板分为筋板式、箱体式,见图1中A,B,岩石平板分为有凸缘和无凸缘,见图1中。、DO平板按准确度级别分为00级、0级、1级、2级和3级,其中2级以上为检验平板,3级为划线平板。4计,性能要求41工作面平面度最大允许误差平板工作面平面度最大允许误差见表1的规定。在表2规定的距离内可不计算平面度,且任意一点都不得高出工作面。42工作面平面度测量结果不确定度工作面平面度测量结果不确定度应满足公式1要求。U9S、合FM1式中UG,I平面度测量结果的不确定度,FCMFM平板平面度最大允许误差,FMO43重复测量变动量各截面测量点重复测量变动量应满足公式2的要求。二_1F6M2式中。各截面测量点与对角线中点重复测量变动量,FTJJG1172005工作面侧面侧面非加工面非加工面厂工作面0000支点丫手柄A筋板式铸铁平板B箱体式铸铁平板工作面侧面侧面工作面C有凸缘岩石平板D无凸缘岩石平板图1平板结构示意图F,平板平面度最大允许误差,NM044局部工作面平面度441局部工作面平面度是指300MMX300MM范围内平板工作面平面度。平板对角线长度566MM时,应测量其局部工作面平面度。442局部工作面平面度最大允许误差见表1规定。局部工作面平面度也可用平面波动量判定,工作面的平面波动量见表3的规定。443刮制铸铁平板的局部平面度除应按442的要求外,还应满足接触点数的要求,见表40对接触点数的测量结果有争议时,应测量接触点面积比率,并以此作为测量结果,应符合表4的规定。在表2规定距离内可不计算接触点数或接触面积比率,且任意一点都不得高出工作面。2I1G1172005表1平板工作面平面度最大允许误差规格长X宽MM对角线长度/MM平板准确度级别00级0级1级2级3级平面度最大允许误差/1160X10018925501020160X160226200X100224200X200283250X16029730551122250X250354601224300X200360300X300424400X250472400X300500400X400566356513256270142G70气R600X450750630X粼10746630X63089140801630753278800X50094390173牛_85800X80011311835871000X63011824536一901000X75012501000X10001414501002039961250X1250176860110224411145112巧00X1000180312023461151600X100018871600X160022636513026521302000X150025007014028561402500X160029688016032641583000X200036069018037741844000X2500471711523046922285000X3000583113527056109273注1表中平面度最大允许误差是在标准温度20条件下给出。2表中平面度最大允许误差的计算公式/_D、_,1,D、00级2“1与盖拓1,M0A4X1000111级8L儡I400X400、1600X1600101600X1600巧表3平板工作面的平面波动F平板准确度级别00级0级1级2级3级工作面的平面波动量/GYM48163280表4刮制铸铁平板工作面接触点数和面积比率平板准确度级别00级0级1级2级25MMX25MM的面积中接触点数2520X12任意两个25MMX25MM的面积中接触点数之差5单位面积上接触点面积的比率_201610任意两个单位面积上接触点面积比率之差54545表面粗糙度非刮制的铸铁平板工作面和侧面的表面粗糙度见表5的规定。表5非刮制的铸铁平板工作面与侧面的表面粗糙度R,平板规格工作面侧面平板准确度级别00级0级1级2级3级各级400MMX400MM04X08400MMX400MMX08落16_1600X1600MM铸铁平板8H12H岩石平板弃12H24H检定工具4H2检定设备主要检定设备见表80检定项目检定项目见表80JAS1172005表8检定项目和主要检定设备序号检定项目主要检定设备首次检定后续检定使用中检验1外观及表面质量十十2工作面及侧面的表面粗糙度表面粗糙度比较样块或表面粗糙度测量仪十3侧面夹角分度值为2的万能角度尺十4工作面平面度00级平板分度值为02“的自准直仪或分度值为0001MM/M自准直仪、电子水平仪0级平板分度值为1”或分度值为0005MM/M自准直仪、电子水平仪1、2级平板分度值为OOLMM/M电子水平仪或合象水平仪3级平板分度值为002MM/M水平仪尺寸小于400X400MM的研磨平板0级刀口尺和4等或2级量块十5局部工作面平面度平面波动量检具00级平板使用分度值为0001MM扭簧比较仪,其余准确度级别平板使用分度值为。001MM指示表或同上。6刮制铸铁平板的接触点数平板或平尺准确度级别不低于被检平板详见表8注表中“十”表示应检项目“一”表示可不检项目。63检定方法631外观及表面质量目力观察、试验。632工作面及侧面的表面粗糙度用表面粗糙度测量仪测量。测量时,在三个不同部位进行,取三个位置测量值的算术平均值作为被测面的表面粗糙度。也可用表面粗糙度比较样块比较测量。仲裁检定时,用表面粗糙度测量仪测量。633侧面夹角用分度值为2,的万能角度尺测量。634工作面平面度测量前,应调整平板工作面使其基本处于水平状态。JJG11720056346342平板工作面测量点数见表10的规定。平板工作面测量点采用对角线分布时,测量点位置分布见图2中的A,B、。A2A3A4AS/瓦|几/B,一B2一B3/C一C2一C3B2B,C2处/E,内E,A,“一“一“一“夕B2”一”一6S66B7一一一“一又/一一_D2一“A夕E一7一E4B|CL|DL|乙了几尸一厂一八一一火G,G293G4G一一G6一97图2测量点位置分布、在平面度测量结果不确定度满足公式1的条件下,允许采用其他测量点分布形式。6343节距法将被测截面分成若干段,用角度测量仪器测量其相对于测量基准自然水平或光轴的倾角变化,再经计算求得被测截面各测量点对两端点连线的偏差,然后根据平面度评定方法,计算求得工作面各截面测量点对评定基准的偏差。测量时,应考虑角度测量仪器的测量方向。7JJG1172005根据被检平板规格分别按式3,4和5选取检定平板长边、短边和对角线的桥板跨距LA,LG,LA、1/气、4气了、了、了月气LA_ANLBNL、二式中A,B,D分别为被检平板长边、短边和对角线减去按表2规定的边缘距离后的长度,MMN系数,。丫万一1N为平板工作面测量点数。如当测量点数N为9点时,N2O测量时,将桥板放置在平板各被测截面的一端,反射镜或水平仪固定在桥板上,根据所选跨距依次将桥板沿直线从平板的长边或短边、对角线的一端移至另一端,在自准直仪或水平仪上读取每个位置的读数。每次移动桥板时,必须首尾衔接。在桥板移动过程中,反射镜或水平仪与桥板不得有相对位移。根据自准直仪或水平仪在各截面每个测点位置的读数,按平面度评定方法进行数据处理,计算出平板工作面平面度。6344刀口尺法对于尺寸小于400MMX400MM研磨平板可用刀口尺和量块以比较法进行测量。测量时,在平板被测截面两端放置两块尺寸相同的量块如IMM,将刀C7尺放在量块上,用量块在截面测量点处向刀口尺与平板之间的间隙试塞,则量块刚刚塞人时的尺寸与两端量块尺寸之差,即为测量点对两端点连线的偏差。根据平面度评定方法进行数据处理,计算得出平板工作面平面度。6345工作面平面度的数据处理63451对角线布点评定以通过平板工作面的一条对角线且平行另一条对角线的平面为理想平面评定基准,以工作面上各测量点对理想平面偏差值中最大值与最小值之差,作为平板工作面平面度。评定步骤1根据被测截面上各点读数A格数,可按式6或7换算成线值A,TM。仪器分度值用线值MMLM表示时,A1000RLA几2M6仪器分度值用角值”表示时,A0005RLA几UM7式中二仪器分度值L桥板跨距,MMOD1G11720052当用角度测量仪器获得各被测截面上各测量点的读数线值,可用式8求出各截面上各测量点对两端点连线的偏差。ZA一骼AOML8式中A仪器在各测量点的读数,UM,根据理想平面评定基准的建立条件,求出两个对角线截面上各测量点对此平面的偏差再根据其余截面上两端点连线与此平面的相对位置,分别求出其余截面上各测量点对此平面的偏差。任一被测截面上各测量点对理想平面的偏差S线值按式9计算880青8一8,9式中I,0,N某一被测截面上各测量点的序号8第I点对理想平面的偏差第点对其两端点连线的偏差SO起始端点对理想平面的偏差8终止端点对理想平面的偏差。全部测量点对理想平面的偏差中,最大值与最小值之差,即为被检平板工作面平面度。实际测量时,可按上述公式以表格计算法评定平板工作面平面度。应用表格计算平板工作面平面度的数据处理方法示例见附录A21,3用刀口尺和量块获得各被测截面上各测量点对两端点连线的偏差后,可用式9求得任一被测截面上各测量点对理想平面的偏差8,其最大值与最小值之差即为被检平板工作面平面度。63452“最小条件原则”评定以包容平板实际工作面且距离为最小的两平行平面间的距离为平板工作面平面度。该平面度可按对角线评定的测量结果进行“基面转换”求得。经基面转换后,平板工作面上最高点数值与最低点数值之差作为测量结果。出现争议时,按“最小条件原则”评定的测量结果作为平面度仲裁的最终评定结果。7符合“最小条件原则”平面度的判别准则当进行“基面转换”,出现下述情况之一,就不再转换。这时最高点与最低点的差值就是符合最小条件原则的平面度。A三角形准则一个最低高点的投影位于由三个等值最高低点所组成的三角形内,如图3所示。B交叉准则两个等值最低高点的投影位于两个等值最高低点连线的两侧,如图4所示。直线准则一个最低高点的投影位于两个等值最高低点的连线上,如图5所示。2“基面转换”的步骤与方法JJG11720051】0一最高点I二二二最低点图3三角形准则示意图图4交叉准则示意图图5直线准则示意图A将对角线评定的结果标在示意图A2中。B旋转原始理想平面位置,改变各测量点的偏差值,使其符合判别准则之一,如果旋转一次不行,可进行多次,一般方法是选择有利于减小平面度数值的任一行、列或斜线不在行和列方向的任意两点连线为转轴,如有可能应同时选定先后两次旋转的转轴。决定高点和低点的旋转量QD,在不出现大于原有最高点值或小于原有最低点值的情况下,尽量减小平面度数值。如有可能应同时先后两次旋转时高点和低点的旋转量,并规定理想平面旋转时,使某点数值增加,则平面在该点的旋转量Q。为正值,反之为负值。测量点数量较少时,可直接决定高点和低点的旋转量Q。及各行列或斜线的旋转量Q测量点数量较多且旋转轴位于斜线时,旋转轴两侧的高点和低点的旋转量按式10,11计算。L01LDD口DI口。D,D2D,D2式中口DI平面在旋转轴一侧高低点处的旋转量,NMQD2平面在旋转轴一侧低高点处的旋转量,TMM旋转轴两侧高点值和低点值之差的绝对值,AMIRC1172005D,DZ计算各行意图中。高低点至旋转轴的间隔数低高点至旋转轴的间隔数。列或斜线上各点的旋转量Q或QJ,并标记在示意图一侧或另一示平面绕一根轴旋转时,各点的旋转量Q按12式计算。Q序号为I的行列或斜线12刹式中QLQD上各点的旋转量,M高低点处的旋转量,FMD高低点所在行列或斜线至旋转轴的间隔数I各行列或斜线的序号以转轴为00平面分别绕两根轴旋转时,只要某行列或斜线上有两点旋转量已知若已求得相邻两点差值后只需有一点已知就可用比例内插的方法或按式13计算该行列或斜线上其他各点的旋转量亿QAJ一AQ。一QA13式中QN一Q某行列或斜线上第J点的旋转量,LXMQ已知离旋转轴较远点。的旋转量,11MQA已知离旋转轴较近点A包括旋转轴。点在内的旋转量,TANJ所求点在该行列或斜线上的序号以转轴为0QA一某行列或斜线上相邻两点旋转量的差值,拌计算理想平面转换后各点的偏差值。各点对原始理想平面的偏差与各点的旋转量口或Q对应相加就得到各点新的偏差值。对理想平面转换后各点新的偏差值进行判别,如果符合判别准则之一时,最高点值与最低点值之差即是被检平板工作面符合“最小条件原则”的平面度。如果不符合判别准则应重复上述步骤,直到符合判别准则为止。按“最小条件原则”评定平面度的示例见附录A22O635局部工作面平面度6351局部工作面平面度的测量按634的方法进行。6352采用平面波动量判定时,将平面波动量检具见附录B放在平板工作面上,沿任意方向移动检具,移动距离为平板对角线的一半且不小于200MM,观察检具上的指示表变化,该变化的最大值与最小值之差作为平板的平面波动量。当平面波动量不符合表3规定时,在平面波动量变化最大的位置,按6351的方法进行测量,确定该平板局部工作面平面度。6353刮制平板采用接触点数判定时,使用规格符合表9要求且准确度级别不低于被检平板的研磨工具进行涂色对研,涂层厚度以0002一0004MM为宜。着色对研11JJG1172005时,不能对研磨工具施加垂直方向的外力,研磨工具不允许拖出被检平板工作面之外,当对研工具与被检平板规格尺寸相同时,允许拖出,但不得超出自身面积的1/5。计算刮制平板上任意一个25MMX25MM正方形内接触点数和任意两个25MMX25MM正方形内接触点数之差作为测量结果。表,研磨工具的规格MM平板规格研磨工具平板规格平尺规格落400X400400X4005洲400X4仪一1000X1000630X400501一15001000X1000一1600X1600630X630150025001600X16001000X10002500表10平板工作面测F点数平板规格MM受检点数400X400_9630X400一1600X1000今251600X1000496354刮制平板采用接触点面积比率判定时,经着色对研后,被检平板上显示出明显的接触点,然后用一个50MMX50MM范围内刻有400个25MMX25MM小方格的透明薄板如有机玻璃板,置于被检平板工作面的任意位置上,依次观察并估算出每个小方格内接触点所占面积的比例以1/10为单位。计算上述比例之和,再除以4即为被检平板工作面接触点面积比率的测量结果。64检定结果的处理平板准确度级别的判别根据工作面平面度、局部工作面平面度和表面粗糙度的测量结果确定,取其中级别最低的作为检定结果。经检定符合本规程要求的平板,出具检定证书,并注明平板准确度级别不符合本规程要求的平板出具检定结果通知书,并注明不合格项目。65检定周期平板根据使用的具体情况确定检定周期,一般最长不超过1年

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