TYPEC数据线规格书

1、TYPE C数据线规格书V1.0关键词：TYPE C数据线摘 要：本文介绍了数据线的规格，性能及测试规范。缩略语：1范围标准适用于 TYPE A TO C数据线需求规格书， 未尽规格描述以TYPE C协会规范V1.1 为准。2编写依据序号No.文件编号Doc No.文件名称 Doc Title1GJB1217电连接器试验方法2MIL-STD-202GTest method sta ndard electr onic and electrical comp onent parts3GB/T 3048电线电缆电性能试验方法4GB4098射频电缆试验方法5EIA-364-101Atte nu ati

2、 on Test Procedure for Electrical Conn ectors, Sockets, Cable Assemblies or In terc onnection Systems6EIA-364-106Sta ndi ng Wave Ratio (SWR) Test Procedure for ElectricalConn ectors7EIA-364-108Impeda nee. Reflect ion Coefficie nt, Retur n Loss, and VSWR Measured in the Time and Freque ncy Doma in Te

3、st Procedure for Electrical Conn ectors, Cable Assemblies orIn terc onnection Systems8GB5441.2工作电容试验-电桥法9EIA-364-103Propagati on Delay Test Procedure for Electrical Conn ectors,Sockets, Cable Assemblies or In terc onnection Systems10IEC 68-2-1基本环境试验规程试验A :寒冷11GB/T 2423.1电工电子产品基本环境试验规程试验A :低温试验方法12IE

4、C 68-2-2基本环境试验规程试验A :干热13GB/T 2423.2电工电子产品基本环境试验规程试验B :高温试验方法14IEC 68-2-10电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验J和导则：长霉0020的15GB/T 2423.16电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验J和导则：长霉16ASTM G 21Stan dard Practice for Determi ning Resista nee of Syn thetic序号No.文件编号Doc No.文件名称 Doc TitlePolymeric Materials to Fungi17IEC 61587-1Mecha n

5、i cal structures for electro nic equipme nt Tests for IEC60917 and IEC 60297 Part 1 Climatic mecha nical tests andsafety aspects for cab in ets racks subracks and chassis18GR 487Gen eric Requireme nts for Electro nic Equipme nt Cabin ets19IEC 68-2-30基本环境试验规程试验Db及导则：交变湿热（12 + 12h循环）20GB/T 2423.4电工电子产

6、品基本环境试验规程试验Db :交变湿热试验方法21IEC 68-2-52电工电子产品环境试验第2部分：试验 试验Kb :盐雾，交变（氯化钠溶液）22GB/T 2423.18电工电子产品环境试验第2部分：试验 试验Kb :盐雾，交变（氯化钠溶液）23IEC 529Degrees of protecti on provided by en closure(IP code)24GB 4208外壳防护等级（IP代码）25EIA-364-38BCable pull-out test procedure for electrical conn ectors26EIA-364-41CCable flex i

7、ng test procedure for electrical conn ectors27IEC 60950Safety of in formati on tech no logy equipme nt28EN 60950Safety of in formati on tech no logy equipme nt29UL 60950Safety of in formati on tech no logy equipme nt30GB 4943信息技术设备的安全31IEC60332Tests on electric cabies under fire conditions32GB/T1838

8、0电缆在火焰条件下的燃烧试验33UL1581Refere nee sta ndard for electical wires,cables,a nd flexible cords34GR 1217Gen eric requireme nts for separable electrical conn ectors used in telecom muni cati ons hardware35GR 950Gen eric Requireme nts for Optical Network Un it (ONU) Closures36USB Type-C Cable and Co nn ecto

9、r Specificatio nV1.13数据线正常工作和存储条件3.1数据线应能在下列条件下正常工作：3.1.1工作环境温度：-20 C+55 C;（仅作单体验证目的，与整机匹配时以整机试验 环境为准）；3.1.2 相对湿度：5%95% ;3.1.3 大气压力：86 kPa 106kPa;3.1.4数据线的存储温度：-40 C+85C;4数据线主要参数4.1数据线连线规格详细尺寸以及工艺要求以3D图档为准1、type C金属插头，要求必须是整体拉伸成型，不能是折弯成型，不接受接缝；2、 金属插头部分，要求做不锈钢原色，表面喷砂处理：50u”150u” MATT NICKELPLATING O

10、VER ALL3、保证至少3A通流能力整条线缆产品详细规格（BOM清单，包括端子图纸2D &可拆解版本的3D）要有确认才能 认可（认证时必须提供以上文件 ）。4.2线材主体信息：4.2.1 外观5V/3A A plug TO C plug, cover式，白色半雾面，素材细咬花处理，MT110064.2.2主体结构项目规格说明长度16mm不含金属插头部分颜色白色半雾面材质Overmold& Cable &Housing &其他辅料NON-PVC无卤满足ROSH,且无如下有害物质添加：溴系阻燃剂 Brominated Flame Retardants 氯系阻燃剂 Chlorinated Flam

11、e Retardants 聚氯乙烯 Polyvinyl Chloride (PVC) 邻苯二甲酸酯 Phthalates三氧化锑 Antimony Trioxide铍及其化合物 Beryllium (Be) and its compounds接口USB 卩 B receptacletoTYPE C plug满足5V 3A其他应符合5.2节测试标准Voltage Rating:30VAC/DC导体材质规格如下:材质：镀锡铜Signal NameWire Gauge (AWG)VBUS /GND端到端阻抗不大于80m Q绝缘材质NON-PVC，须满足5.2章节测试性能要求423关键尺寸423.1U

12、SB2.0 B plug参考协会规范LT 41寻03srcrnH上亡un屯0猛ri：t0ONMrrrsq朝的廿2J75WAU锄也 TEJi PG制!1Qfis.l I hfi.MggBLlL2g.列1V9b pH rascnrwiLML CLHMI 3C ACbP HhCf Q/ntTT 鬥”用吟 已：期005 5Jf：Tk：! aaWHDMT Rqk.REMF5 N 顶FH.门工讯啊注弼!i.2旳斷CEAMCE 0 102bl叮屮卩4V9K1 1 %心iiq ur W 2QI 誑JKlLE M RUkH MU. J H* ” BU PUHI M low MJ. ui wi Mon -wnr.

13、jnw nnu.1I 1 -I3E-ttr E 1 厂利 - 5U:a TAtfb I-* . LNLtHVirW tJMJHMI.4.2.3.2 TYPE C plug1. 红圈标示尺寸为重点尺寸，其余尺寸依据协会规范要求2. 各组件BOM LIST原材料信息需明确到具体牌号3. 应满足TYPE C 2.0规格3ETA L 0.0234X I .M|.ZX 1.74 M；H(CD絢菟尺寸0位/!2.80 :0.0&(RtTCMf ION SWINGSl36SECTION A ADETAIL EQ AND BOTTOM CONTACTSSHALL NOT TOUCH4X 0.81需富(GND

14、SPR1N6)间距尺寸和位Jtt度-4X 0. 18 MIN. (T)IGND SPR1NCS5间距尺寸和位査废L|2X 027 MIN (SIGNAL CONTACTS)(SIGNAL CONTACTS)*:-0*800 *0.025I TONGUE OPENING!: 3C0TaTrZX C C d 005 X 5* (BOTH SIDES7ZX 1.570 +0.0Z5(0,25 MN,I5HARP EDGES ARE NOT PERMIT ：3_ERADUS OR 匚HAMFER ALL AROUND REQUIREDDETAIL G-GE吕0SECTION OC423.3 镀层厚度测

15、试区域规定关于镀层测试区域和方法：TYPE C/A : TYPE C/A产生接触的关键区域为PIN针头部触点，因此镀层工艺为考虑成本一般只覆盖 PIN针触点位置，其他区域为flash Au,所以镀层的量测范围定义在PIN针触点弧顶的最高处厂镀层厚度为在触点弧顶最高点 0.5mm的范围内进行测量，同一触点在 0.5mm范围内测量三次取平均424线序Table 3-20 USB Type-C to USB 2.0 AMWiring USB Type-C PlugUSB 2.0 AMPinSignal NamePinSignal NameA1, B1, A12, B12GND4GNDA4, B4,

16、A9, B9VBUS1VBUSA5CCA6Dpi3D+A7Dni2D-ShellShieldShellShieldNotes:1. Pin A5 (CC) of the USB Type-C plug shall be connected to VBUS through a resistor Rp. See Section 4.5.3.2.2 and Table 4-13 for the functional description and value of Rp.2. Contacts B6 and B7 should not be present in the USB Type-C plu

17、g.3. All Vbus pins shall be connected together within the USB Type-C plug. Bypass capacitors are not required for the V bus pins at this cable.4. All Ground return pins shall be connected together within the USB Type-C plug.5. All USB Type-C plug pins that are not listed in this table shall be open

18、(not connected).DRPStandard-A plug QMicro-B receptacle -Table 4-13 DFP CC Term in ati on (Rp) Requireme nts DFP Advertiseme ntCurre nt Source to1.7 -5.5 VResistor pull-up to4.75 -5.5 VResistor pull-up to3.3 V 士 5%Default USB Power80A 20%56 k Q 士 20%te 1)36 k Q 士 20%1.5 A 5 V180 卩 A 8%22 k Q 士 5%12 k

19、 Q 士 5%3.0 A 5 V330 卩 A 8%10 k Q 士 5%4.7 k Q 士 5%Notes:1. For Rp when implemented in the USB Type-C plug on a USB Type-C to USB 3.1Standard-A Cable Assembly, a USB Type-C to USB 2.0Standard-A Cable Assembly, a USB Type-C to USB 2.0 Micro-B Receptacle Adapter Assembly or a USB Type-C captive cable co

20、nnected to a USB host, a value of56 k Q s5%ll be used, in order to provide tolerance to IR drop on Vbus and GND in the cable assembly.5技术要求5.1 线材外观要求5.1.1 线材外观要求如下:外观金属插头/pin脚检查1、参照样品和PDM图纸检验，线缆两端插头的结构外型（型号） 要求与样品一致；2、插头不允许氧化/生锈、残缺、变形；3、用干布（无尘布）能擦除的脏污，允许；用干布（无尘布）不 能擦除的脏污，不允许；【注：金属插头脏污不良超出 1% （不 良数/样

21、本数）时，提交不合格电子流确认】4、插头上不允许有油渍；5、划痕L 2mmW 0.1mm,用手触摸无深度感，允收一条；6、USB A公插头内不允许有溢胶的现象；7、USB A公插头内的连接器 PIN脚不允许氧化/生锈、翘高、变形、PIN脚内陷/断裂不良；8、金属插头（USBA公以及TYPE C公）与注塑部分匹配正常， 不允许歪斜，夹角 90o 2.5o标签检查1、参照样品和 PDM图纸检验，标签上的印刷图案和字体要求一 致；2、标签不允许破损、漏贴；注塑部位1、注塑部位（USB A公外膜、DC插头外膜、磁环外膜）不允许 缺胶、破损；2、合模线（毛边）H 0.2mm3、水口位（毛边）在不刺手的前

22、提下，H 1mm可接收；4、 压痕L 5mm, W 0.2mm, USB A公外膜每面允收一条，DC 外膜允收一条；5、 点状压痕D 1.5mm , USB A公外膜每面允收一条， DC外膜允 收一条；线材外观1、线材不允许有破损、漏铜；2、线材上不允许有脏污；3、点状压痕D 25mm允收6个；4、线状压痕L 5mm W 25mm允收3条；扎带下的压 痕允许；5、 有感刮伤：L 25mm允收2条；无感刮 伤：L w 30mmW w 1mm DS 30mm 允收 3 条；未尽事宜参考终端数据线检验通用操作指导书 5.2 线材性能要求Test con diti onTemperature： 15C

23、 to 35CAir pressure : 86 to106 kPaRelative humidity : 25% to 85%NOTest descripti onTest procedurePerforma neeRelated sta ndard1插拔耐久测试数据线插头无破损，配件插头尺 寸在规格内，接触良好，电气性能正 常。测试前，测试后插拔力应满足要求， 样品外观结构、功能及电气性能应正 常，允许端子接触点表面有正常磨 损，但不允许有物理损坏测试速度为12.5mm/分钟以插入力和拔出力测试 标准为依据，测试TYPEC 端子插拔次数10000次(正反方向各 5000次， 每2500次换

24、一个方向) 做元25次插拔之后，插 拔力变化不能超过 33%A公插拔1500次测试结束后端子外观无 异常、插拔力需要满足 要求EIA364-092插入力EIA364-131. 插拔力测试仪器2. 测试速度为12.5mm/分钟3. 单位为N插拔耐久测试前后：Type C:插入力520N ;USB AM: 35N(MAX)EIA364-133拔出力EIA364-131. 插拔力测试仪器2. 测试速度为12.5mm/分钟3. 单位为N插拔耐久测试前后：Type C:拔出力820NUSB AM: 10N(Mi n)EIA364-134滚筒测试跌落高度1米，跌落次数150次，每 50检查一次，跌落速度参

25、考值10-12 次/分次(以跌落在滚筒铁板中心位置为准)测试后，样品外观、机 械结构应正常，功能和 电气性能正应常的5端子强度测试1.F1/F2(+/-Y) =50N，做到 75N 观察 损坏情况F3,F4 (+/-X) =50NF5(+Z) =100N上下左右4个方向力量 要求大于5.0Kg ,插入方 向要求大于10Kg，连接 器不允许有失效，接口F1和F2方向的测试均米用新样品测 试，F3-F5方向视情况进行互用 施力点为接口到 SR处15mm （从外 壳平面量起15mm ；如SR不足 15mm，以SR的末端为施力位置， 如SR末端刚性不足以施加力， 则以 刚性位置的末端为施力位置）测试速

26、度：5mm/mi n允许有可恢复的变形， 数据线电气性能正常； 结构无松脱，无断裂6壳体抗拉脱器件选型标准：公头铁壳上挂重 10kgf，持续时间1分钟进料检验标准：公头铁壳上挂重6kgf，持续时间1分钟两端壳体都需要测试抗 拉脱力，测试后两端壳 体不应有脱落现象7端子强度耐久测试测试力：F仁F2=2kgf测试次数：2000次/方向；施力点为接口到 SR处15m（从靠近 金属头尾部量起 15mm如SR不足 15mm以SR的末端为施力位置，如 SR末端刚性不足以施加力，则以刚 性位置的末端为施力位置）；测试速度：10-15次/min数据线外观结构、功能 及电气性能应正常，端 子不应有损坏或严重变

27、形8端子镀层膜厚膜厚测试仪。Type C端/ uB母座。 取少样品数量：每个端子3pcsType C /B plug Plating gold Au 不小于 30,Plati ng Ni不小于8 09成品电阻测试1、C TO A测试2、屏蔽层测试壳对壳3、寿命前后均要满足阻抗要求4、满足协会规范1.1要求25 C时实验室测试标准：Vbus: 0.135 Q最大GND 0.135 Q最大线材规格1M,电源22AWG10温升测试TYPEC Vbus/GND通电 5A（4 对 pin），USB AM单 VBUS/GND!电 3ATYPE C/USB AM非电源pin脚通流 0.25A ;利用shie

28、ld/GND回流，通流不低于3A25 C时测试温度稳定30分钟后测试 针对plug单体和cable 组件整体的两项测试均 需满足任意点温升不允许超过30度USB Type-C Cable and Conn ector Specificat ion11接触阻抗LLCR是從REC焊接點的尾部到Plug焊點,包括Plug端和Rec所有VBUS/GND初始接触阻抗30mQ ,其他pin初始接触阻抗连接器內部的端子和 Paddle Cards*使用四線測試法*測試電壓20mV最大，電流100mA.40mQ Max最大,所有Pin环境測試后LCCF最大增量爲10mQ13耐压测试两两pin之间打（含外壳）认

29、证测试：100VAC/60s/0.5mA产线测试：100VAC/0.1s/0.5mA14绝缘电阻两两pin之间打（含外壳）认证测试：300VDC 60s100MQ产线测试：300VDC/0.1S/10M ?15高温存储转接头：（70 2）C ,24H完成后返回常温停留24小时以上，进行测试连接器：（105 2）C ,120H完成后返回常温停留24小时以上，进行测试部品外观无损坏； 线缆电气性能正常16低温存储（-40 2 ）C ,120H完成后返回常温停留 24小时以上，进行测试样品外观无损坏； 线缆电气性能正常17温度冲击米用两箱法，低温-40 C,高温70 C, 高低温各停留不少于 20分

30、钟，最大 转换时间为20秒，10个循环。测试后，样品外观、机 械结构应正常，功能和 电气性能应正常18盐雾测试5%NaCI,35 C ,连续喷雾48小时（针 对pin针，uB铁壳部分应可承受至 少24H连续喷雾），喷雾时接口需斜 向下放置，确保盐雾能进入，但冋时 不能在接口中形成积水。然后移出进 行2小时晾干。试验后，样品外观应无 明显锈蚀、变色、及镀 层剥落等现象。VBUS/GND初始接触阻抗30mQ ,其他pin初始 接触阻抗40mQ Max最 大,所有Pin环境測試后LCCR最大增量爲 10 mQ（仅针对连接器）EIA 36419咼温咼湿试验温度（70 2 ）C，湿度（85 3）%RH进

31、行168小时样品外观无损坏；主要考察胶料和线料20交变湿热2555C,相对湿度（95 3）%,测试后，样品外观、机主要考察端168小时械结构应正常，功能和电气性能应正常子21混合气体腐蚀 测试测试时间：7天，产品状态：5天非配插，5天配插， 温湿度：70%RH 30 C ,气体种类：CI2 : 10+/-3 ppb, N02: 200+/-50 ppb, H2S: 10+/-5 ppb, SO2: 100+/-20 ppb试验后，样品外观应无 明显腐蚀、变色、及镀 层剥落等现象，功能应 正常。VBUS/GND初始接触阻抗30mQ ,其他pin初始 接触阻抗40mQ Max最 大,所有Pin环境

32、測試后LCCR最大增量爲 10 mQ（仅针对连接器）连接器22耐化学溶剂测 试将家用化学物品（1护手霜；2防晒 乳液；3口红；4.化妆粉底；5驱虫 冻胶；6食用油，所用化学用品型号 或配方为我司终端现有用品） 涂在线 缆、SR、壳体上。放置72小时后用 水清洗掉家用化学品再放置两个小 时后检查2将以下溶剂（1汽油；2. 酒精；3人工汗液；4.5%食盐水，所 用化学用品型号或配方为我司终端 现有用品）涂在线缆、SR、壳体上。 放置72小时（汽油放置24小时）后 用水清洗掉溶剂再放置两个小时后 检查线缆、SR壳体不会有 明显腐蚀、开裂23耐UV辐射测试耐UV辐照进行1个循环为24小时的测 试，具体

33、为在干热 40C下， 太阳辐射强度为 1120W/ m2, 保持20小时，再关闭太阳辐 射源4小时，试验持续循环 96小时24EMC参考终端产品 USB数据线充电线可 靠性测试规范V1.2EMC class A 标准CE/FCC25Differe ntialImpeda neeThis test en sures that the D+/D-lines of the cable assembly have the proper impeda nee.For the en tire cable assembly.75 ohms min and 105 ohms max.400 ps rise t

34、ime(20%-80%).EIA364-10826Propagati onDelayThe purpose of the test is to verifytheen d-to-e ndpropagationof the D+/D- lines ofthe cable assembly.20 ns max.400 ps rise time (20%-80%).EIA364-10327In tra-pairSkewThis test ensures that the signal on both the D+ and D- lines ofcable assembly arrive at the

35、 receiver at the same time.100 ps max.400 ps rise time(20%-80%).EIA 364-103D+/D -PairAtte nu ati onThis test en sures the D+/D- pairof a cable assembly is able to provide adequate signal strength to the receiverin order tomai nta in a low error rate. -1.02 dB 50 MHz -1.43 dB 100 MHz -2.40 dB 200 MHz -4.35 dB 400 MHzEIA 364-1015.3 安全性要求USB数据线的安全性能应能满足CC