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文档简介
1、1,快闪存储器(Flash Memory) 为提高集成度,省去T2(选通管) 改用叠栅MOS管(类似SIMOS管,7.2 只读存储器(ROM,为克服UVEPROM擦除慢,操作不便的缺点, 采用FLOTOX(浮栅隧道氧化层MOS管,SIMOS(stacked-gate Injuction Mos)叠栅注入MOS管,2,EPROM :光擦除(紫外管曝光),电改写(热电子) 优点:耐久性好、结构简单、集成度高、适于低成本大容量应用 缺点:擦除慢、编程功耗大,不适于频繁改写,E2PROM :电擦除( FN 隧穿,逐管),电改写( FN 隧穿) 优点:耐久性好、编程可逆(改写时加反向电压即可擦除) 缺点
2、:阈值电压难以精确控制,需加选通管,故面积大、工艺成本高 Flash ROM :电擦除(FN 隧穿,成块),电改写(热电子) 优点:结构简单、擦除快(成块擦除);面积和灵活性介于EPROM 和 E2PROM 之间,V 位,线,VI,字线,可擦除可编程 ROM 小结 V DD,为什么可编程还叫ROM? 事实上,只有掩模ROM是只读的,其它都可以编程写,所以,叫法不准确; ROM共同特点是,掉电后,所存储的数据不会消失,所以可以归类为非易失性存储器(即Non-Volatile Memory,3,7.3 随机存储器RAM,随机存储器(Random Access Memory)的分类 一、静态随机存储
3、器(Static Random Access Memory) 靠锁存器的自保功能存储数据。 二、动态随机存储器( Dynamic Random Access Memory) 利用MOS管栅极电容可以存储电荷的原理制成,结构简单 需要刷新电路,操作复杂,4,7.3 随机存储器RAM,7.3.1 静态随机存储器(Static Random Access Memory) 一、结构与工作原理,随机存储器,可随时读出或写入数据; 优点是读、写方便,使用灵活; 缺点:数据易失性,断电则数据丢失,5,1024X4位RAM(2114)实例,字线选行,位线选列,双向数据传输,A9,6,二、SRAM的存储单元,六
4、管N沟道增强型MOS管,7,7.4 存储器容量的扩展,7.4.1 位扩展方式 适用于每片RAM,ROM字数够用而位数不够时 方法:将各片的地址线、读写线、片选线并联即可,例:用八片1024 x 1位 1024 x 8位的RAM,8,7.4.2 字扩展方式,适用于每片RAM,ROM位数够用而字数不够时,例:用四片256 x 8位1024 x 8位 RAM,7.4 存储器容量的扩展,28=256,210=1024,9,7.4 存储器容量的扩展,10,方法:片内地址信号并联;多余地址端通过译码器接至各片的片选端;I/O同名端并联,11,小结:位扩展方式,需要片数N=8,例:用1024字1位RAM构成
5、1024字8位RAM,方法:所有输入信号都并联(地址信号、片选信号和读写信号)。输出并列,7.4 存储器容量的扩展,12,小结、字扩展方式,需要片数N=4,例:用256字8位RAM组成1024字8位存储器,7.4 存储器容量的扩展,13,方法:片内地址信号并联;多余地址端通过译码器接至各片的片选端;I/O同名端并联,7.4 存储器容量的扩展,14,7.5 用存储器实现组合逻辑函数,一、基本原理 从ROM的数据表可见: 若以地址线为输入变量,则数据线即为一组关于地址变量的逻辑函数,15,二、举例,7.5 用存储器实现组合逻辑函数,16,ROM的每个输出都是由地址输入的最小项之和的形式给出的,因此
6、可以用来实现组合逻辑函数,例:用ROM实现由8421-BCD码到七段显示器的译码器,七段显示LED数码管 (a) 外形图 (b) 共阴型 (c) 共阳型,公共阴极,公共阳极,7.5 用存储器实现组合逻辑函数,17,4.3 常用组合逻辑电路部件,七段显示译码器7448的功能表,18,输入变量,注意非门,节省器件,因为0比1少,19,例: 试将4片2114A扩展成16位的存储器。 解:即将10244扩展为102416,需要10244RAM的片数为,20,7.1 ROM有多少种?各自的特点都是什么? 7.2 RAM分为哪两种?各有何特点? 7.3 ROM和PROM、EPROM及E2PROM有什么相同
7、和不同之处。 7.4 现有容量为10248RAM一片,试回答: (1)该片RAM共有多少个存储单元? (2)RAM共有多少个字?字长多少位? (3)该片RAM共有多少条地址线? (4)访问该片RAM时,每次会选中多少个存储单元? 7.5 RAM2114(10244位)的存储矩阵为6464, 它的地址线、行选择线、列选择线、输入/输出 数据线各是多少? 7.6 用ROM实现下列逻辑函数,21,作业,P. 383-385 7.1,7.2,7.4,7.7,22,FLASH原理-U盘存储方式 经典物理学认为,物体越过势垒,有一阈值能量;粒子能量小于此能量则不能越过,大于此能量则可以越过。例如骑自行车过
8、小坡,先用力骑,如果坡很低,不蹬自行车也能靠惯性过去。如果坡很高,不蹬自行车,车到一半就停住,然后退回去。 量子力学则认为,即使粒子能量小于阈值能量,很多粒子冲向势垒,一部分粒子反弹,还会有一些粒子能过去,好象有一个隧道,称作“量子隧道(quantum tunneling)”。 可见,宏观上的确定性在微观上往往就具有不确定性。虽然在通常的情况下,隧道效应并不影响经典的宏观效应,因为隧道击穿的几率极小,但在某些特定的条件下宏观的隧道效应也会出现,最新式存储器: FLASH MEMORY,23,发现者 1957年,受雇于索尼公司的江崎 玲於奈(Leo Esaki,1925)在改良高频晶体管2T7的
9、过程中发现,重掺杂锗和硅在增加电压时,参杂了含有大量不纯物质的PN接合二极管中的电流反而减少的负阻现象。江崎博士认为这种现象是由电子空穴直接穿透结区而产生的。1958年江崎博士发表了关于隧道二极管的论文。这种固体内部的隧道效果后被叫做“隧道分光学”,开拓了新的固体内部电子的研究领域。同时以江崎博士名字命名的“江崎二极管”的电子素子的开发研究也得以广泛进行。从此金属和超导体的隧道现象的研究有了飞跃发展。由于这一成就,江崎博士与B.D.约瑟夫森和I.贾埃佛共同获得1973年度诺贝尔物理学奖,24,1960年,美裔挪威籍科学家加埃沃(Ivan Giaever,1929)通过实验证明了在超导体隧道结中
10、存在单电子隧道效应。在此之前的1956年出现的“库珀对”及BCS理论被公认为是对超导现象的完美解释,单电子隧道效应无疑是对超导理论的一个重要补充,25,1962年,年仅20岁的英国剑桥大学实验物理学研究生约瑟夫森(Brian David Josephson,1940)预言,当两个超导体之间设置一个绝缘薄层构成SIS(Superconductor-Insulator-Superconductor)时,电子可以穿过绝缘体从一个超导体到达另一个超导体。约瑟夫森的这一预言不久就为P.W.安德森和J.M.罗厄耳的实验观测所证实电子对通过两块超导金属间的薄绝缘层(厚度约为10埃)时发生了隧道效应,于是称之
11、为“约瑟夫森效应,26,闪存的存储单元为三端器件,与场效应管有相同的名称:源极、漏极和栅极。栅极与硅衬底之间有二氧化硅绝缘层,用来保护浮置栅极中的电荷不会泄漏。采用这种结构,使得存储单元具有了电荷保持能力,就像是装进瓶子里的水,当你倒入水后,水位就一直保持在那里,直到你再次倒入或倒出,所以闪存具有记忆能力,与场效应管一样,闪存也是一种电压控制型器件。NAND型闪存的擦和写均是基于隧道效应,电流穿过浮置栅极与硅基层之间的绝缘层,对浮置栅极进行充电(写数据)或放电(擦除数据)。而NOR型闪存擦除数据仍是基于隧道效应(电流从浮置栅极到硅基层),但在写入数据时则是采用热电子注入方式(电流从浮置栅极到源
12、极,27,闪存的工作原理: 在源极和漏极之间电流单向传导的半导体上形成贮存电子的浮动棚。浮动栅包裹着一层硅氧化膜绝缘体。它的上面是在源极和漏极之间控制传导电流的选择/控制栅。 数据是0或1取决于在硅底板上形成的浮动栅中是否有电子。有电子为0,无电子为1。 闪存就如同其名字一样,写入前删除数据进行初始化。具体说就是从所有浮动栅中导出电子。即将有所数据归“1”。 写入时只有数据为0时才进行写入,数据为1时则什么也不做,28,写入0时,向栅电极和漏极施加高电压,增加在源极和漏极之间传导的电子能量。这样一来,电子就会突破氧化膜绝缘体,进入浮动栅。 读取数据时,向栅电极施加一定的电压,电流大为1,电流小则定为0。 浮动栅没有电子的状态(数据为1)下
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