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文档简介

1、钢板超声波检测复验作业指导书2.1适用范围:适用于板厚 6-250mm的碳素钢、低合金钢板 材的超声波检测。奥氏体不锈钢、镍及镍合金板材及双相不 锈钢的超声波检测,也可参照本条执行。2.2检测工艺卡检测工艺卡的编制应与本检测作业指导书要求相符。2.2.1超声波检测工艺卡由具有II级UT资质人员编制,2.2.2检测工艺卡由具有 UTIII资质人员或UT检测责任师审 核批准。2.3检测器材2.3.1选用数字式超声波检测仪或 A型脉冲反射式超声波检 测仪,其工作频率范围为 0.5-10MHZ,水平线性误差不大于 1%,垂直线性误差不大于 5%。2.3.2探头钢板厚度为6-20mm时,选用双晶直探头,

2、公称频率为5MHz,晶片面积不少于150mm2,钢板厚度为 20mm-40mm时,选用单晶直探头,公称频率为5MHz,圆晶片直径为14-20mm,钢板厚度为40mm-250mm时,选用单晶直探头,公称频率为2.5MHz,圆晶片直径为 20-25mm。2.3.3试块a、 用双晶直探头检测壁厚小于或等于20mm的钢板时,采 用JB/T4730.3-2005规定的CBI标准试块。b、 用单晶直探头检测壁厚大于20mm的钢板时,采用JB/T4730.3-2005规定的CBII标准试块。2.4耦合剂:浆糊或机油等透声性好,且不损伤检测表面的 藕合剂。2.5工艺参数2.5.1检测频率一般采用2.5MHz或

3、5MHz,根据板厚选定。2.5.2扫描时基线调节厚度小于或等于20mm时,应使荧光屏出现 5次底波, 厚度大于或等于20mm时,应是荧光屏出现至少 2次底波。 2.6检测灵敏度:2.6.1钢板厚度小于或等于 20mm时,用阶梯试块调节灵敏度,将试块上与工件等厚部位的第一次底波高度调整到满刻度 的50%,再提高10dB作为检测灵敏度。262壁厚大于20mm时,用平底孔试块调节灵敏度,将$ 5平底孔第一次反射波波高调整到满刻度的50%作为检测灵敏度。263壁厚不小于探头的3倍近场区时,也可取无缺陷的完好 部位的第一次底波调节灵敏度,但其结果应与2.6.2条的要求一致。2.6.4表面补偿:应用灵敏度

4、试块与检测的等厚钢扳(无缺陷部位)测定其表面补偿(一般为 6dB )。2.6.5检测面:钢板的任一轧制平面。2.7验收标准:除非设计文件另有规定,应按JB/T4730-2005标准进行评定验收。2.8检测操作2.8.1执行超声波检测工艺卡的规定。2.8.2连接仪器和探头,在试块上调节检测灵敏度。2.8.3在工件上涂布耦合剂,探头沿垂直于钢板的压延方向作 间距为100mm的平行线扫查。在钢板剖口预定线两侧 50mm(板厚超过100mm时,以板厚的一半为准)内作 100%扫查 检测。扫查方法见下图:0m100mm2.9缺陷记录2.9.1发现下列三种情况之一者即判定为缺陷:a缺陷的第一次反射波波高大

5、于或等于满刻度的 50%,既F1 50%者。b、第一次底波未达到满刻度,但缺陷的第一次反射波波高与第一次底波波高之比大于或等于 50%,即B1 50%者。c、第一次底波波高低于满刻度的50%,即B1 V 50%者2.9.2缺陷边界或指示长度的测定方法 a检出缺陷后应在它的周围继续检测,以确定缺陷的延伸。b、用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头的移动 方向与探头的隔声层相垂直,并使缺陷波下降到基准灵敏度条件下荧光屏满刻度的 25%。或使缺陷的第一次反射波高与 底波第一次反射波高之比为50%。此时探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度,探头的中心点即为缺陷的边界点。两 种方法测得的结果以较严重

6、者为准。c、 用单直探头确定缺陷的边界或指示长度时,移动探头并使 缺陷波第一次反射波高下降到基准灵敏度条件下荧光屏满 刻度的25%,或使缺陷的第一次反射波与第一次底面反射波高之比为50%。此时探头中心的移动距离即为缺陷的指示长 度,探头的中心点即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果 以较严重者为准。d、确定2.9.1c的缺陷边界或指示长度时, 移动探头使底面第 一次反射波升高到荧光屏满刻度的 50%。此时探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度,探头的中心点即为缺陷的边界 点。e、当采用二次缺陷波和第二次底波评定缺陷时,基准灵敏度应以相应的第二次反射波来校准。293检测时应记录缺陷反射波情况,缺陷指示长度或指示面积,并绘制缺陷位置示意图。2.10缺陷评定除非设计文件另有规定,缺陷评定应按JB/T4730-2005标准执行。2.11检测报告检测报告内容应包括:工程名称、工件名称、工件编号、工件材质、工件规格、仪器型号、探头、探头前沿、斜探头K值、试块型号、耦合剂种类、扫描调节方式、检测灵敏度、

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